用于检测荧光灯的寿命末期的电路

摘要

提供了一种用于检测荧光灯的寿命末期的电路。在该电路中，整流器对从镇流器检测的电压信号进行整流。相位检测器检测所述电压信号的相位并输出至少一个相位检测信号。信号分离器响应于所述相位检测信号，在相位的基础上分离整流电压以生成第一和第二电压信号。第一最大电平检测器检测第一电压信号的最大电平。第二最大电平检测器检测第二电压信号的最大电平。第一比较单元比较第一和第二最大电平，并检测其差是否高于预定允许电平。控制器响应于来自第一比较单元的检测而确定荧光灯是否处在寿命末期。

权利要求

1.一种用于检测荧光灯的寿命末期的电路，所述电路包括：整流器，用于对从镇流器接收的电压信号进行整流并输出整流电压；

相位检测器，用于检测所述电压信号的相位，并且输出相位检测信号；

信号分离器，用于响应于所述相位检测信号，在相位的基础上分离从所述整流器接收的所述整流电压，以生成第一电压信号和第二电压信号；

第一最大电平检测器，用于检测所述第一电压信号的最大电平；

第二最大电平检测器，用于检测所述第二电压信号的最大电平；

第一比较单元，用于将由所述第一最大电平检测器检测的所述第一最大电平和由所述第二最大电平检测器检测的所述第二最大电平相比较，并且检测所述第一和第二最大电平之间的差是否高于预定允许电平；以及控制器，用于响应于来自所述第一比较单元的所述检测结果而确定所述荧光灯是否处在寿命末期。

2.根据权利要求1所述的电路，进一步包括：

缓冲器，用于缓冲从所述镇流器检测的所述电压信号，所述缓冲器耦合在所述镇流器和所述整流器之间。

3.根据权利要求2所述的电路，其中，所述缓冲器被配置成进行所述电压信号的反相缓冲。

4.根据权利要求3所述的电路，其中，所述缓冲器包括：比较器，用于通过反相端接收所述电压信号，通过非反相端接收接地电压，并且进行比较运算；以及电阻器，其提供在所述比较器的所述反相端和输出端之间。

5.根据权利要求2所述的电路，其中，所述整流器包括：第一比较器，用于接收由所述缓冲器缓冲的所述电压信号和所述接地电压，并进行比较运算；

第一二极管，其提供在所述第一比较器的输出端和第一节点之间；

第二二极管，其提供在所述第一比较器的所述输出端和第二节点之间；以及第二比较器，用于接收来自所述第一节点的信号和来自所述第二节点的信号，并且进行比较运算以输出所述整流电压。

6.根据权利要求5所述的电路，其中，所述第一比较器通过反相端接收所述电压信号，并且通过非反相端接收所述接地电压。

7.根据权利要求6所述的电路，其中，所述第二比较器通过反相端接收来自所述第一节点的信号，并且通过非反相端接收来自所述第二节点的信号。

8.根据权利要求7所述的电路，其中，所述整流器进一步包括：第一电阻器，其耦合在所述第一比较器的所述反相端和所述第一节点之间；以及第二电阻器，其提供在所述第二比较器的输出端和所述反相端之间。

9.根据权利要求5所述的电路，其中，来自所述第一比较器的所述输出端的反向电压被施加到所述第一二极管，并且来自所述第一比较器的所述输出端的正向电压被施加到所述第二二极管。

10.根据权利要求2所述的电路，其中，所述相位检测信号包括：第一相位检测信号，其与所述电压信号的正相位的检测相关联；以及第二相位检测信号，其与所述电压信号的负相位的检测相关联。

11.根据权利要求10所述的电路，其中，所述相位检测器包括：比较器，用于接收由所述缓冲器缓冲的所述电压信号和接地电压，并且进行比较运算以输出所述第一相位检测信号；以及反相器，用于对所述比较器的输出进行反相以输出所述第二相位检测信号。

12.根据权利要求11所述的电路，其中，所述比较器通过反相端接收所述缓冲的电压信号，并且通过非反相端接收所述接地电压。

13.根据权利要求1所述的电路，其中，所述第一比较单元包括：第一比较器，用于通过非反相端接收所述第一最大电平，通过反相端接收所述第二最大电平，并且进行比较运算；

第二比较器，用于通过反相端接收所述第一最大电平，通过非反相端接收所述第二最大电平，并且进行比较运算；以及逻辑单元，用于在所述第一比较器的输出信号和所述第二比较器的输出信号之间进行逻辑运算。

14.根据权利要求13所述的电路，其中，所述逻辑单元被配置成进行“逻辑和”运算。

15.根据权利要求1所述的电路，进一步包括：

第二比较单元，用于将所述第一和第二最大电平与预定基准电压相比较，并且检测是否所述第一和第二最大电平中的至少一个高于所述预定基准电压，其中，所述控制器响应于来自所述第二比较单元的所述检测而确定所述荧光灯是否处在寿命末期。

16.根据权利要求15所述的电路，其中，所述第二比较单元包括：第一比较器，用于通过反相端接收所述第一最大电平，通过非反相端接收所述基准电压，并且进行比较运算；

第二比较器，用于通过反相端接收所述第二最大电平，通过非反相端接收所述基准电压，并且进行比较运算；以及逻辑单元，用于在来自所述第一比较器的输出信号和来自所述第二比较器的输出信号之间进行逻辑运算。

17.根据权利要求16所述的电路，其中，所述逻辑单元被配置成进行“逻辑积”运算。

18.根据权利要求1所述的电路，其中，所述镇流器被配置成通过在所述荧光灯的电极之间进行分压来生成所述电压信号。

19.根据权利要求1所述的电路，其中，所述控制器被配置成如果确定所述荧光灯处在寿命末期则关断所述镇流器。

说明书

用于检测荧光灯的寿命末期的电路

[0001] 相关申请的交叉引用

[0002] 本申请要求2006年5月30日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请No.10-2006-0048769的优先权及其权益，其整体内容通过引用结合于此。

技术领域

[0003] 本发明涉及用于检测荧光灯的寿命末期(end of life)的电路，并且更加具体地，涉及用于在寿命末期的早期检测荧光灯的寿命末期以便对荧光灯的镇流器、插座和相关电路进行有效保护的电路。

背景技术

[0004] 如果长时间使用荧光灯，则在荧光灯的末端处的每个阴极上涂敷的用于热电子发射的辅助发射体的材料钡(Ba)或锶(Sr)，被吸收到其管的内壁或外壁中，并且灯丝上涂敷的材料的量逐渐减少。当一根灯丝上涂敷的材料的量减少到一定水平以下时，电流也减少。这样一来荧光灯的电压和电流就变得不对称。如果涂敷的材料完全消失，则灯不再接通。

[0005] 可容易地识别其灯丝已断或荧光材料已完全消失的灯，因为这样的灯不再接通。然而，在灯的荧光材料完全消失之前，难以在视觉上确定灯寿命是否处于末期。这样一来，一般用户就持续使用灯，即使该灯处在其寿命末期时。

[0006] 当灯处在其寿命末期时，由于增加的灯丝热阻和不变的电极电流，在热电子发射材料减少的电极处生成热。随着灯接近其寿命末期，电极的温度逐渐增加。如果电极生成强烈的热，则热可能熔化连接到电极的灯座，从而造成危险的状况。这在下面参考附图更加详细地描述。

[0007] 图1图示了所谓的电子镇流器的构造。控制器IC10可交替地驱动两个晶体管开关M1和M2，以在输出端VA处生成方波。该方波然后传递通过产生正弦波的包括元件L、Cs和Cp的滤波器而到达荧光灯。诸如荧光灯之类的放电灯可具有负阻特性。这意味着在接通灯之后，电流持续增加。为了补偿这种特性，放电灯需要这样的电路，其防止放电灯的灯电流持续增加并且将灯电流稳定在基本不变的水平。这种电路被称为镇流器。

[0008] 为了提供并维持适当的灯电流，一些设计使用具有非常高的电感的电感器，因为常规的镇流器直接使用60Hz电源。所以镇流器需要大尺寸的线圈以提供足够的阻抗。已开发了电子镇流器以克服这个问题。

[0009] 存在各种类型的电子镇流器。常用的镇流器之一是如图1所示的半桥谐振逆变器。电子镇流器可通过使用开关M1和M2接通和关断电压VDC以生成高频AC电压来减小电感器的尺寸。

[0010] 在接通灯之前，灯的电极之间的电阻非常高。一旦灯接通，灯的电极之间的电阻就减少到几百欧姆。在接通灯之前和之后，图1的包括L、Cs、Cp和电极之间的电阻器的谐振电路的特性变化如图2所示。符号“fr”表示图1中显示的元件L、Cs和Cp所具有的谐振频率。符号“fo”表示图1中显示的开关M1和M2所具有的工作频率。在图2中，“点火之前”部分表示在灯接通之前元件L、Cs和Cp所具有的谐振特性曲线。另外，“点火之后”部分表示在灯接通之后元件L、Cs和Cp所具有的谐振特性曲线。如图2所示，包括L、Cs和Cp的谐振电路的特性根据灯是否被接通而变化。

[0011] 然而，如果长时间使用荧光灯，则涂敷在荧光灯阴极上的电子发射材料被逐渐吸收到其管上，从而减少了从电极发射到管中的热电子的量，所述热电子是从高温金属发射的电子。这种现象是灯的电极上涂敷的诸如Ba或Sr之类的材料附着到管的内表面上的荧光材料所造成的。因此，长时间使用的荧光灯的电极可变黑：这个过程有时被称作黑化(darkening)。

[0012] 由于从电极发射的热电子的量减少，黑化减少了从电极提供到管中的电流的量。另外，荧光灯的电极上的电子发射材料的量可被减少到不同的水平。随着从荧光灯的电极流入到其管中的灯电流下降，灯电压增加到不同的水平。而且，随着灯电流下降，灯的亮度也下降。这些迹象有时被称为荧光灯寿命末期现象。通常，在荧光灯寿命末期的早期，不可能在视觉上确定其亮度是否已减小。

[0013] 如果荧光灯的特定电极(灯丝)的寿命到了末期，那么从电极流向相对电极的电流量减少。灯电压与灯电流相反地变化，如图4所示。

[0014] 如果寿命末期现象继续，则荧光灯的电流和电压的不对称程度增加。如果灯电流减少到保持灯接通所需的最小电流以下，则灯将不会保持在接通状态，而是将交替地接通和关断。最后，如果电子发射材料从荧光灯的电极完全释放，则灯永久保持在关断状态。

[0015] 另外，如果荧光灯的电极上的电子发射材料的量减少，则电极的热阻增加。如果图1中的上电极变黑，则方向 上的电流(Ia)减少，同时方向 的电流(Ib)增加。由于电极的增加的热阻和增加的电流Ib，在荧光灯的电极中生成高热。这种热可熔化连接到灯的电极的塑料插座。

[0016] 图3图示了用于确定灯是否接近其寿命末期的常规方法。在这种常规方法中，对通过灯的电极之间的分压而获得的电压进行检测，并且如果检测到的电压高于预定基准电平，则确定灯处在其寿命末期，并且镇流器被去激励。

[0017] 尽管这种方法的有利之处在于它可容易地检测灯的寿命末期，但是它具有下述问题：取决于如何选择无源元件，保护电路可能操作异常。另外，如果在图3中是第一阴极而不是第二阴极变黑，则黑化造成的电压增加不能单独用通过分压检测的电压来检测，从而无法正确地检测出灯的寿命末期。

发明内容

[0018] 简短而概括地说，本发明的一些实施例包括用于检测荧光灯的寿命末期的电路，其不仅有效地检测荧光灯的两个电极都已变黑的情况，而且还有效地检测两个电极中的一个已变黑的情况，以在寿命末期的早期检测荧光灯的寿命末期，从而有效地保护荧光灯的镇流器、插座和相关电路。

[0019] 一些实施例包括用于检测荧光灯的寿命末期的电路，该电路包括：整流器，用于对从镇流器检测的电压信号进行整流并输出整流电压；相位检测器，用于检测所述电压信号的相位，并且输出至少一个相位检测信号；信号分离器，用于响应于所述至少一个相位检测信号，在相位的基础上从所述整流器分离所述整流电压，以生成第一电压信号和第二电压信号；第一最大电平检测器，用于检测所述第一电压信号的最大电平；第二最大电平检测器，用于检测所述第二电压信号的最大电平；第一比较单元，用于将由所述第一最大电平检测器检测的所述第一最大电平和由所述第二最大电平检测器检测的所述第二最大电平相比较，并且进行关于所述第一和第二最大电平之间的差是否高于预定允许电平的检测；以及控制器，用于响应于来自所述第一比较单元的所述检测而确定所述荧光灯是否处在寿命末期。

[0020] 在一些实施例中，用于检测荧光灯的寿命末期的电路进一步包括缓冲器，用于缓冲从所述镇流器检测的所述电压信号，所述缓冲器提供在所述镇流器和所述整流器之间，并且所述缓冲器优选地进行所述电压信号的反相缓冲。

[0021] 在一些实施例中，所述缓冲器包括：比较器，用于通过反相端接收所述电压信号，通过非反相端接收接地电压，并且进行比较运算；以及电阻器，其提供在所述比较器的所述反相端和输出端之间。

[0022] 在一些实施例中，所述整流器包括：第一比较器，用于接收由所述缓冲器缓冲的所述电压信号和所述接地电压，并进行比较运算；第一二极管，其提供在所述第一比较器的输出端和第一节点之间；第二二极管，其提供在所述第一比较器的所述输出端和第二节点之间；以及第二比较器，用于接收来自所述第一节点的信号和来自所述第二节点的信号，并且进行比较运算以输出所述整流电压。

[0023] 在一些实施例中，所述第一比较器通过反相端接收所述电压信号，并且通过非反相端接收所述接地电压，而所述第二比较器通过反相端接收来自所述第一节点的信号，并且通过非反相端接收来自所述第二节点的信号。

[0024] 在一些实施例中，所述整流器进一步包括：第一电阻器，其提供在所述第一比较器的所述反相端和所述第一节点之间；以及第二电阻器，其提供在所述第二比较器的输出端和所述反相端之间。

[0025] 在一些实施例中，来自所述第一比较器的所述输出端的反向电压被施加到所述第一二极管，并且来自所述第一比较器的所述输出端的正向电压被施加到所述第二二极管。

[0026] 在一些实施例中，所述至少一个相位检测信号包括：第一相位检测信号，其与所述电压信号的正相位的检测相关联；以及第二相位检测信号，其与所述电压信号的负相位的检测相关联。

[0027] 在一些实施例中，所述相位检测器包括：比较器，用于接收由所述缓冲器缓冲的所述电压信号和接地电压，并且进行比较运算以输出所述第一相位检测信号；以及反相器，用于将所述比较器的输出反相以输出所述第二相位检测信号。

[0028] 在一些实施例中，所述比较器通过反相端接收所述缓冲的电压信号，并且通过非反相端接收所述接地电压。

[0029] 在一些实施例中，所述第一比较单元包括：第一比较器，用于通过非反相端接收所述第一最大电平，通过反相端接收所述第二最大电平，并且进行比较运算；第二比较器，用于通过反相端接收所述第一最大电平，通过非反相端接收所述第二最大电平，并且进行比较运算；以及逻辑单元，用于在所述第一比较器的输出信号和所述第二比较器的输出信号之间进行逻辑运算。

[0030] 在一些实施例中，所述逻辑单元进行逻辑和运算。

[0031] 在一些实施例中，所述用于检测荧光灯的寿命末期的电路进一步包括第二比较单元，用于将所述第一和第二最大电平与预定基准电压相比较，并且进行关于是否所述第一和第二最大电平中的至少一个高于所述预定基准电压的检测，其中，所述控制器响应于来自所述第二比较单元的所述检测而确定所述荧光灯是否处在寿命末期。

[0032] 在一些实施例中，所述第二比较单元包括：第一比较器，用于通过反相端接收所述第一最大电平，通过非反相端接收所述基准电压，并且进行比较运算；第二比较器，用于通过反相端接收所述第二最大电平，通过非反相端接收所述基准电压，并且进行比较运算；以及逻辑单元，用于在来自所述第一比较器的输出信号和来自所述第二比较器的输出信号之间进行逻辑运算。在一些实施例中，所述逻辑单元进行逻辑积运算。

附图说明

[0033] 从结合附图进行的以下详细描述中，将会更加清楚地理解本发明的上述以及其它的目的、特征和其它优点。

[0034] 图1图示了电子镇流器的构造。

[0035] 图2图示了在荧光灯接通之前和之后电子镇流器的谐振特性的变化。

[0036] 图3是图示用于检测荧光灯的寿命末期的常规方法的示意图。

[0037] 图4图示了当荧光灯处在寿命末期时其电压和电流的变化。

[0038] 图5图示了根据本发明一实施例的用于检测荧光灯的寿命末期的电路的构造。

[0039] 图6图示了根据一实施例的用于检测荧光灯的寿命末期的电路中包括的缓冲器、整流器和相位检测器的构造。

[0040] 图7图示了根据一实施例的用于检测荧光灯的寿命末期的电路中包括的信号分离器的构造。

[0041] 图8A图示了根据一实施例的用于检测荧光灯的寿命末期的电路中包括的第一比较单元的构造。

[0042] 图8B图示了根据一实施例的用于检测荧光灯的寿命末期的电路中包括的第二比较单元的构造。

[0043] 图9A图示了当荧光灯处在其寿命末期时根据一实施例的用于检测荧光灯的寿命末期的电路中包括的整流器所整流的电压的波形。

[0044] 图9B图示了在所述实施例中通过从电压信号中分离正相部分和负相部分而获得的第一电压信号和第二电压信号的波形，所述电压信号是从镇流器检测的。

具体实施方式

[0045] 现在将参考附图来详细地描述本发明的实施例。本发明的实施例仅仅是为了示意性的目的被公开，而不应当被解释为对本发明的范围进行限制。

[0046] 图5图示了用于对荧光灯的寿命末期进行检测的电路50的一个实施例。

[0047] 电路50可包括镇流器100、缓冲器200、整流器300、相位检测器400、信号分离器500、第一最大电平检测器600、第二最大电平检测器650、第一比较器单元700、第二比较器单元750以及控制器800。缓冲器200可缓冲从镇流器100检测的电压信号Vdet。整流器
300可对从缓冲器200接收的电压信号Vdet1进行整流，并且输出整流电压Vrec。相位检测器400可检测电压信号Vdet1的相位，并且输出至少一个相位检测信号。信号分离器500可接收所述整流电压Vrec和所述至少一个相位检测信号。信号分离器500可使用所述至少一个相位检测信号的相位信息来分离所述整流电压Vrec，并且生成第一电压信号SWA和第二电压信号SWB。第一最大电平检测器600可检测第一电压信号SWA的最大电平SWA1。
第二最大电平检测器650可检测第二电压信号SWB的最大电平SWB1。第一比较单元700可比较第一和第二最大电平SWA1和SWB1，并且检测第一和第二最大电平之间的差是否高于预定允许电平。第二比较单元750可将第一和第二最大电平SWA1和SWB1与预定基准电压相比较，并且检测是否第一最大电平SWA1和第二最大电平SWB1中的至少一个高于预定基准电压。控制器800可响应于来自第一比较单元700的检测结果和来自第二比较单元750的检测结果而确定荧光灯是否处在其寿命末期。

[0048] 现在将参考图5至9B来详细地描述电路50的操作。

[0049] 镇流器100可生成电压信号Vdet，如图6所示。电压信号Vdet可通过经由电阻器R31和R32在荧光灯20的电极之间进行分压而生成，并且可在电阻器R31和R32之间的节点处输出。

[0050] 缓冲器200可缓冲电压信号Vdet并输出电压信号Vdet1。具体地，如图6所示，电压信号Vdet可输入到缓冲器200中包括的比较器210的反相端。比较器210可将输入的电压信号Vdet与接地电压相比较，并且生成电压信号Vdet1。如果电压信号Vdet为正(+)，则比较器210可将其反相并输出负电压。如果电压信号Vdet为负(-)，则比较器210可将其反相并输出正电压。这样一来，缓冲器200就进行了电压信号Vdet的反相缓冲。

[0051] 整流器300然后可接收电压信号Vdet1并对其进行整流，并且输出整流电压Vrec。更加具体地，如图6所示，电压信号Vdet1可通过电阻器R7输入到比较器310。比较器310然后可将电压信号Vdet1与接地电压相比较，并且向节点A输出正或负电压信号。如果电压信号Vdet为正且因此通过进行电压信号Vdet的反相缓冲而产生的电压信号Vdet1为负，则比较器310可向节点A输出正电压信号。节点A的电压信号可通过二极管D4而提供给比较器320的非反相端。比较器320可将输入的电压信号与其反相端的电压信号相比较，并且以与节点A的电压信号相同的相位来输出整流电压Vrec。

[0052] 另一方面，如果电压信号Vdet为负且因此通过进行电压信号Vdet的反相缓冲而产生的电压信号Vdet1为正，则比较器310可向节点A输出负电压信号。节点A的电压信号可通过二极管D1而提供给比较器320的反相端。比较器320可将输入的电压信号与其非反相端的电压信号相比较，并且以与节点A的电压信号相反的相位输出整流电压Vrec。

[0053] 因此，通过缓冲器200和整流器300生成的整流电压Vrec是来自镇流器100的电压信号Vdet的全波整流形式，如图9a所示。

[0054] 相位检测器400可检测电压信号Vdet1的相位，并且输出相位检测信号PHA和相位检测信号PHB。具体地，如图6所示，如果电压信号Vdet为正且因此通过进行电压信号Vdet的反相缓冲而产生的电压信号Vdet1为负，则相位检测器400中包括的比较器410可将电压信号Vdet1与接地电压相比较并输出正电压信号，从而生成“高”相位检测信号PHA。因此，在电压信号Vdet为正的间隔中，生成“高”或“使能的”相位检测信号PHA以检测正电压信号Vdet。

[0055] 另一方面，如果电压信号Vdet为负且因此通过进行电压信号Vdet的反相缓冲而产生的电压信号Vdet1为正，则比较器410可将电压信号Vdet1与接地电压相比较并输出负电压信号，从而生成“高”相位检测信号PHB。因此，在电压信号Vdet为负的间隔中，生成“高”或“使能的”相位检测信号PHB以检测负电压信号Vdet。

[0056] 响应于相位检测信号PHA和相位检测信号PHB，信号分离器500可在相位的基础上分离从整流器300接收的整流电压Vrec，以生成第一电压信号SWA和第二电压信号SWB，如图5所示。更加具体地，如图7所示，信号分离器500中的第一采样器510可通过以下来生成第一电压信号SWA：分离整流电压Vrec中对应于相位检测信号PHA被使能的间隔(亦即电压信号Vdet为正的间隔)的那个部分。因此，第一电压信号SWA可具有如图9B所示的形式。第二采样器520可通过以下生成第二电压信号SWB：分离整流电压Vrec中对应于相位检测信号PHB被使能的间隔(亦即电压信号Vdet为负的间隔)的那个部分。因此，第二电压信号SWB可具有如图9B所示的形式。

[0057] 可通过采样将相应相位的信号从其它信号分离的其它类型的采样电路，同样可用于信号分离器500和第一与第二采样器510与520。

[0058] 图5进一步图示出，第一最大电平检测器600可检测第一电压信号SWA的最大电平并输出第一最大电平SWA1，并且第二最大电平检测器650可检测第二电压信号SWB的最大电平并输出第二最大电平SWB1。检测输入信号的最大电平、输出检测到的电平并且在特定的间隔中维持该电平的任何类型的最大电平检测电路都可用作第一和第二最大电平检测器600和650。

[0059] 图5进一步图示出，第一比较单元700可将第一最大电平SWA1与第二最大电平SWB1相比较，检测SWA1和SWB1之间的差是否高于预定允许电平，并且输出其检测信号寿命末期EOL。

[0060] 图8A图示了第一比较单元700的详细操作。第一比较单元700中的比较器710可通过非反相端接收第一最大电平SWA1，并且通过反相端接收第二最大电平SWB1。比较器710可分别比较第一和第二最大电平SWA1和SWB1，并且输出作为结果的比较。如果第一最大电平SWA1比第二最大电平SWB1高出多于预定允许电平，则比较器710可输出高电平信号，否则可输出低电平信号。

[0061] 比较器720可通过反相端接收第一最大电平SWA1，并且通过非反相端接收第二最大电平SWB1。比较器720可分别比较第一和第二最大电平SWA1和SWB1，并且输出比较的结果。如果第二最大电平SWB1比第一最大电平SWA1高出多于预定允许电平，则比较器720可输出高电平信号，否则可输出低电平信号。

[0062] 逻辑单元730可计算来自比较器710的信号和来自比较器720的信号的OR门并输出检测信号EOL。如果第一和第二最大电平SWA1和SWB1之间的差高于允许电平，则通过逻辑单元730输出高检测信号EOL，否则输出低电平信号。

[0063] 响应于来自第一比较器单元700的检测结果EOL，控制器800可确定荧光灯是否处在其寿命末期。具体地，如果检测信号EOL为高，则控制器800可确定荧光灯处在其寿命末期，且因此关断镇流器100。

[0064] 如上所述，用于对荧光灯寿命末期进行检测的电路的实施例可将与电压信号Vdet为正的间隔中的电压信号Vdet的最大电平相对应的第一最大电平SWA1和与电压信号Vdet为负的间隔中的电压信号Vdet的最大电平相对应的第二最大电平SWB1相比较，然后如果第一和第二最大电平SWA1和SWB1之间的差高于预定允许电平，则确定荧光灯处在其寿命末期。如果在图6中只有荧光灯20的第一阴极变黑，则常规方法不能检测所述黑化，因为常规方法仅检测电压信号为正的间隔中的电压信号的最大电平。然而，上述实施例通过比较第一和第二最大电平SWA1和SWB1，不仅可检测上电极的黑化，而且还可检测下电极的黑化。因此，这些实施例使得可以在寿命末期过程的早期检测荧光灯性能的衰退，并且可以有效地保护荧光灯的镇流器、插座和其它相关电路。

[0065] 另外，第二比较单元750可将第一和第二最大电平SWA1和SWB1与预定基准电压VREF相比较，并且检测是否第一最大电平SWA1和第二最大电平SWB1中的至少一个高于预定基准电压VREF，并且输出其检测信号过电压保护OVP。

[0066] 图8B图示了第二比较单元750的详细操作。第二比较单元750中的比较器760可通过反相端接收第一最大电平SWA1，通过非反相端接收基准电压VREF，将第一最大电平SWA1与基准电压VREF相比较，并且输出比较的结果。如果第一最大电平SWA1高于基准电压VREF，则比较器760可输出低电平信号，否则可输出高电平信号。

[0067] 比较器770可通过反相端接收第二最大电平SWB1，通过非反相端接收基准电压VREF，将第二最大电平SWB1与基准电压VREF相比较，并且输出比较的结果。如果第二最大电平SWB1高于基准电压VREF，则比较器770可输出低电平信号，否则可输出高电平信号。

[0068] 逻辑单元780可计算来自比较器760的信号和来自比较器770的信号的AND门并输出检测信号OVP。因此，如果来自比较器760或770的任一信号为低，则逻辑单元780可输出低电平检测信号OVP。这样一来，如果第一最大电平SWA1或第二最大电平SWB1高于基准电压VREF，则检测信号OVP为低。

[0069] 响应于从第二比较单元750接收的检测结果OVP，控制器800可确定荧光灯是否处在其寿命末期。具体地，如果检测信号OVP为低，则控制器800可确定荧光灯处在其寿命末期，并因此关断镇流器100。

[0070] 用于检测荧光灯寿命末期的电路的上述实施例可将与电压信号Vdet为正的间隔中的电压信号Vdet的最大电平相对应的第一最大电平SWA1和与电压信号Vdet为负的间隔中的电压信号Vdet的最大电平相对应的第二最大电平SWB1与预定基准电压VREF相比较，然后如果第一或第二最大电平SWA1和SWB1高于基准电压VREF，则确定荧光灯处在其寿命末期。因此，即使当在图6中由于荧光灯20的上和下电极两者的黑化而导致第一和第二最大电平SWA1和SWB1之间的差很小时，通过将第一和第二最大电平SWA1和SWB1与基准电压VREF相比较并且检测两个电极的黑化，也可在寿命末期过程的早期检测出荧光灯性能的劣化。

[0071] 上述实施例提供了用于检测荧光灯寿命末期的电路。实施例不仅有效地检测荧光灯两个电极的同时黑化，而且还检测两个电极中只有一个已黑化的情形。所述实施例足够灵敏以在寿命末期过程的早期检测荧光灯性能的衰退，从而有效地保护荧光灯的镇流器、插座和其它相关电路。

[0072] 尽管为了示意性的目的已公开了本发明的实施例，但是本领域技术人员将会意识到，在不脱离仅由所附权利要求来限定的本发明的范围和精神的情况下，各种修改、添加和替换都是可能的。