PCB测试中实现四八密度共用的连线方法

摘要

本发明公开一种PCB测试中实现四八密度共用的连线方法，用于连接八密度网格和四密度测试通道组，将八密度网格均分为第一区域、第二区域、第三区域及第四区域，第一区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与第二区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，第三区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与第四区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，相对应的两列上的测试点一一对应连接，相连接的两个测试点连接于所述四密度测试通道组中的一个测试通道。本发明用于连接八密度设置的网格与四密度设置的测试通道组，而实现测试通道组以四密度设置的测试机可以进行四密度测试和八密度测试两种测试，从而降低PCB测试的成本。

权利要求

1.一种PCB测试中实现四八密度共用的连线方法，用于连接八密度网格和四密度测试通道组，其特征在于：将所述八密度网格均分为第一区域、第二区域、第三区域及第四区域，所述第一区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与所述第二区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，所述第三区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与所述第四区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，相对应的两列上的测试点一一对应连接，相连接的两个测试点连接于所述四密度测试通道组中的一个测试通道。

说明书

【技术领域】

本发明属于印刷电路板(Printed Circuit Board；PCB)测试领域，尤其是指一种网格与测试通道组的连线方法。

【背景技术】

随着PCB高密度化的发展，要求使用更高密度的测试机来对PCB进行测试，例如四密度测试机、八密度测试机等，其中，四密度测试机所使用的四密度网格每平方英寸有400个测试点，两个测试点的间距为50mil；八密度测试机所使用的八密度网格每平方英寸有800个测试点，两个测试点的间距为30mil。常见的四密度测试机是配置四密度网格和与之配合的四密度测试通道组的，网格上的测试点与测试通道组中的测试通道一一对应连接，一个测试点连接一个测试通道，而在现有测试中，撒针的最大斜率可做到400mil，则能测的PCB的最大密度为808点/平方英寸，超过此密度的PCB则不能在四密度测试机上进行测试，而必须另外购置密度更高的测试机(例如八密度测试机)才能进行有效测试，这就导致了PCB测试成本的升高。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种PCB测试中实现四八密度共用的连线方法，用于连接八密度设置的网格与四密度设置的测试通道组，以实现测试通道组以四密度设置的测试机可以进行四密度测试和八密度测试两种测试。

本发明的目的是这样实现的：一种PCB测试中实现四八密度共用的连线方法，用于连接八密度网格和四密度测试通道组，将所述八密度网格均分为第一区域、第二区域、第三区域及第四区域，所述第一区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与所述第二区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，所述第三区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与所述第四区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，相对应的两列上的测试点一一对应连接，相连接的两个测试点连接于所述四密度测试通道组中的一个测试通道。

上述PCB测试中实现四八密度共用的连线方法中，所述第一区域、第二区域、第三区域及第四区域上相对应的两个测试点列，前一列的测试点与后一列的测试点按照测试点的列顺序依次一一连接。

上述PCB测试中实现四八密度共用的连线方法中，所述第一区域、第二区域、第三区域及第四区域上相对应的两个测试点列，前一列的奇数测试点与后一列的偶数测试点顺次一一连接，前一列的偶数测试点与后一列的奇数测试点顺次一一连接。

本发明的有益效果在于：本发明所公开的PCB测试中实现四八密度共用的连线方法基于现有的四密度测试机而对其进行改造，将其四密度网格更换成八密度网格，并按照本发明所述将八密度网格与四密度测试机的四密度测试通道组连接，进行PCB四密度测试时，选用八密度网格上的奇数测试点列，而偶数测试点列悬空，所有的奇数测试点列构成了四密度网格，且使每个测试通道对应检测一个测试点，故可进行四密度测试，进行PCB八密度测试时，选用八密度网格上的第二区域和第三区域，而第一区域和第四区域悬空，第二区域和第三区域上的测试点构成了八密度网格，且使每个测试通道对应检测一个测试点，故可进行八密度测试，从而实现测试通道组以四密度设置的测试机可以进行四密度测试和八密度测试两种测试，降低了PCB测试的成本。

【附图说明】

下面结合附图及实施例对本发明做进一步说明。

图1是本发明的网格与测试通道组的连线示意图。

图2是本发明的网格与测试通道组的部分连线示意图。

图3是本发明的另一实施例的网格与测试通道组的连线示意图。

图4是本发明的与图3同一实施例的网格与测试通道组的部分连线示意图。

【具体实施方式】

本发明所公开的PCB测试中实现四八密度共用的连线方法，其用于连接八密度网格和四密度测试通道组，可对现有的四密度测试机进行改进，将其四密度网格替换设置为八密度网格，使经过改进后的四密度测试机既可执行四密度测试，也可执行八密度测试。

参考图1和图2所示，本发明提供有一八密度网格10及一四密度测试通道组20，将八密度网格10均分为第一区域12、第二区域14、第三区域16及第四区域18等四个区域，每个区域上所设置的测试点100的数目相同。第一区域12上的奇数测试点列与第二区域14上的偶数测试点列顺次对应，即第一区域12上的第1测试点列121、第3测试点列123、第5测试点列125、......分别对应于第二区域14上的第2测试点列142、第4测试点列144、第6测试点列146......，相对应的两列上的测试点按照测试点的列顺序依次连接，即第一区域12的第1测试点列121上的第一个测试点与第二区域14的第2测试点列142上的第一个测试点连接，第1测试点列121上的第二个测试点与第2测试点列142上的第二个测试点连接，......，依此类推，而实现所对应的两列上的测试点的一一对应连接，相连接的两个测试点连接于四密度测试通道组20中的一个测试通道200；第一区域12上的偶数测试点列与第二区域14上的奇数测试点列顺次对应，即第一区域12上的第2测试点列122、第4测试点列124、第6测试点列126、......分别对应于第二区域14上的第1测试点列141、第3测试点列143、第5测试点列145、......，相对应的两列上的测试点按照测试点的列顺序依次连接，即第一区域12的第2测试点列122上的第一个测试点与第二区域14的第1测试点列141上的第一个测试点连接，第2测试点列122上的第二个测试点与第1测试点列141上的第二个测试点连接，......，依此类推，而实现所对应的两列上的测试点的一一对应连接，相连接的两个测试点连接于四密度测试通道组20中的一个测试通道200。

按照第一区域12与第二区域14的连线方法，以实现第三区域16与第四区域18的连接，第三区域16上的奇数测试点列与第四区域18上的偶数测试点列顺次对应，相对应的两列上的测试点按照测试点的列顺序依次连接，相连接的两个测试点连接于四密度测试通道组20中的一个测试通道200；第三区域16上的偶数测试点列与第四区域18上的奇数测试点列顺次对应，相对应的两列上的测试点按照测试点的列顺序依次连接，相连接的两个测试点连接于四密度测试通道组20中的一个测试通道200。

基于现有的四密度测试机，将其四密度网格更换成八密度网格，使用本发明所阐述的连线方法将八密度网络连接于四密度测试机上的四密度测试通道组，进行PCB四密度测试时，选用八密度网格上的奇数测试点列，而偶数测试点列悬空，所有的奇数测试点列构成了四密度网格，且使每个测试通道对应检测一个测试点，故可进行四密度测试，进行PCB八密度测试时，选用八密度网格上的第二区域和第三区域，而第一区域和第四区域悬空，第二区域和第三区域上的测试点构成了八密度网格，且使每个测试通道对应检测一个测试点，故可进行八密度测试，从而实现测试通道组以四密度设置的测试机可以进行四密度测试和八密度测试两种测试，降低了PCB测试的成本。

结合图3和图4，以说明本发明的另一实施例，提供有一八密度网格30及一四密度测试通道组40，将八密度网格30均分为第一区域32、第二区域34、第三区域36及第四区域38等四个区域。第一区域32上的奇数测试点列与第二区域34上的偶数测试点列顺次对应，相对应的两列上，前一列的奇数测试点与后一列的偶数测试点顺次连接，前一列的偶数测试点与后一列的奇数测试点顺次连接，即第一区域32的第1测试点列321的第1个测试点、第3个测试点、......分别与第二区域34的第2测试点列342的第2个测试点、第4个测试点、......连接，第一区域32的第1测试点列321的第2个测试点、第4个测试点、......分别与第二区域34的第2测试点列342的第1个测试点、第3个测试点、......连接，......，依此类推，实现所对应的两列上的测试点的一一对应连接，相连接的两个测试点连接于四密度测试通道组40中的一个测试通道400；第一区域32上的偶数测试点列与第二区域34上的奇数测试点列顺次对应，相对应的两列上，前一列的奇数测试点与后一列的偶数测试点顺次连接，前一列的偶数测试点与后一列的奇数测试点顺次连接，相连接的两个测试点连接于四密度测试通道组40中的一个测试通道400。按照第一区域32与第二区域34的连线方法，以实现第三区域36与第四区域38的连接，第三区域36上的奇数测试点列与第四区域38上的偶数测试点列顺次对应，相对应的两列上，前一列的奇数测试点与后一列的偶数测试点顺次连接，前一列的偶数测试点与后一列的奇数测试点顺次连接，相连接的两个测试点连接于四密度测试通道组40中的一个测试通道400；第三区域36上的偶数测试点列与第四区域38上的奇数测试点列顺次对应，相对应的两列上，前一列的奇数测试点与后一列的偶数测试点顺次连接，前一列的偶数测试点与后一列的奇数测试点顺次连接，相连接的两个测试点连接于四密度测试通道组40中的一个测试通道400。此实施例所描述的连线方法，其对于四密度测试机的改造，相同于上一实施例所述。