一种对触摸屏进行检测的方法及装置转让专利

申请号 : CN200810111920.5

文献号 : CN101271374B

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法律信息:

相似专利:

发明人 : 谢律由海

申请人 : 北京中星微电子有限公司

摘要 :

本发明公开了一种对触摸屏进行检测的方法及装置,用以检测4线制电阻式触摸屏上的两个触摸点的运动趋势。本发明提供的一种对触摸屏进行检测的方法包括:对触摸屏上的触摸点进行定位,得到所述触摸点的第一坐标轴位置信息和第二坐标轴位置信息;根据所述第一坐标轴位置信息和所述第二坐标轴位置信息,计算得到由于所述触摸点对所述触摸屏的触摸所产生的接触电阻的第一计算值以及第二计算值;根据所述第一计算值与所述第二计算值的差值,确定所述触摸点在第一坐标轴方向或者第二坐标轴方向上的运动趋势信息。通过本发明提供的技术方案,实现了对4线制电阻式触摸屏上的两个触摸点的运动趋势的检测,从而可以丰富用户体验,简化用户操作。

权利要求 :

1.一种对触摸屏进行检测的方法,其特征在于,该方法包括:

对触摸屏进行触摸点定位,得到第一坐标轴位置信息和第二坐标轴位置信息;其中,所述触摸屏为四线制电阻式触摸屏;

根据所述第一坐标轴位置信息和所述第二坐标轴位置信息,计算得到由于所述触摸屏被触摸所产生的接触电阻的第一计算值以及第二计算值;

将所述第一计算值减去所述第二计算值,得到所述第一计算值与所述第二计算值的差值;

当所述差值小于零时,判定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第一坐标轴方向上,并且,当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变小时,确定所述两个触摸点在所述第一坐标轴方向上的距离变大;当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变大时,确定所述两个触摸点在所述第一坐标轴方向上的距离变小;

当所述差值大于零时,判定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第二坐标轴方向上,并且,当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变大时,确定所述两个触摸点在所述第二坐标轴方向上的距离变大;当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变小时,确定所述两个触摸点在所述第二坐标轴方向上的距离变小。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,该方法还包括:

当所述差值等于零时,判定所述触摸屏上的触摸点为一个触摸点。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述差值小于零时,并且进一步判定当所述差值小于预先设定的小于零的第一阈值时,判定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第一坐标轴方向上;

当所述差值大于零时,并且进一步判定当所述差值大于预先设定的大于零的第二阈值时,确定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第二坐标轴方向上。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,当所述差值大于或等于所述第一阈值,并且,小于或等于所述第二阈值时,确定所述触摸屏上的触摸点为一个触摸点。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述差值小于零,并且所述差值变小时,进一步将上一次测得的差值减去预先设定的第三阈值,当所述差值小于上一次测得的差值与所述第三阈值的差值时,确定所述触摸屏上的两个触摸点之间的距离增大,所述触摸屏上的两个触摸点在所述第一坐标轴方向上作扩张运动;

当所述差值变大时,进一步将上一次测得的差值加上预先设定的第三阈值,当所述差值大于上一次测得的差值与所述第三阈值的和时,确定所述触摸屏上的两个触摸点之间的距离减小,所述触摸屏上的两个触摸点在所述第一坐标轴方向上作收缩运动。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述差值大于零,并且所述差值变大时,进一步将上一次测得的差值加上预先设定的第三阈值,当所述差值大于上一次测得的差值与所述第三阈值的和时,确定所述触摸屏上的两个触摸点之间的距离增大,所述触摸屏上的两个触摸点在所述第二坐标轴方向上作扩张运动;

当所述差值变小时,进一步将上一次测得的差值减去预先设定的第三阈值,当所述差值小于上一次测得的差值与所述第三阈值的差值时,确定所述触摸屏上的两个触摸点之间的距离减小,所述触摸屏上的两个触摸点在所述第二坐标轴方向上作收缩运动。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述第一坐标轴位置信息和所述第二坐标轴位置信息,计算得到所述接触电阻的第一计算值以及第二计算值的步骤包括:在所述触摸屏的第一导电层的负极上接负电压,在所述触摸屏的第二导电层的正极上接正电压;

根据所述第一导电层的总电阻、所述第一坐标轴位置信息以及所述第二导电层的正极上所接的正电压的电压值,计算得到所述触摸屏上的触摸点与所述第一导电层的负极之间的电阻值;

根据所述触摸屏上的触摸点与所述第一导电层的负极之间的电阻值、所述第一导电层的正极电压以及所述第二导电层的负极电压,计算得到所述接触电阻的第一计算值;

根据所述第二导电层的总电阻、所述第二坐标轴位置信息以及所述第二导电层的正极上所接的电压值,计算得到所述触摸屏上的触摸点与所述第二导电层的正极之间的电阻值;

根据所述触摸屏上的触摸点与所述第一导电层的负极之间的电阻值和与所述第二导电层的正极之间的电阻值,以及所述第一导电层的正极电压值和所述第二导电层的负极电压值,计算得到所述接触电阻的第二计算值。

8.一种对触摸屏进行检测的装置,其特征在于,该装置包括:

位置确定单元,用于对触摸屏进行触摸点定位,得到第一坐标轴位置信息和第二坐标轴位置信息;其中,所述触摸屏为四线制电阻式触摸屏;

接触电阻计算单元,用于根据所述第一坐标轴位置信息和所述第二坐标轴位置信息,计算得到由于所述触摸屏被触摸所产生的接触电阻的第一计算值以及第二计算值;

运动趋势判定单元,用于将所述第一计算值减去所述第二计算值,得到所述第一计算值与所述第二计算值的差值;当所述差值小于零时,判定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第一坐标轴方向上,并且,当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变小时,确定所述两个触摸点在所述第一坐标轴方向上的距离变大;当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变大时,确定所述两个触摸点在所述第一坐标轴方向上的距离变小;当所述差值大于零时,判定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第二坐标轴方向上,并且,当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变大时,确定所述两个触摸点在所述第二坐标轴方向上的距离变大;当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变小时,确定所述两个触摸点在所述第二坐标轴方向上的距离变小。

9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述运动趋势判定单元包括:

坐标轴单元,用于将所述第一计算值减去所述第二计算值,得到所述第一计算值与所述第二计算值的差值;当所述差值小于零时,判定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第一坐标轴方向上;当所述差值大于零时,判定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第二坐标轴方向上;

运动趋势单元,用于当所述坐标轴单元确定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第一坐标轴方向上时,如果所述第一计算值与所述第二计算值的差值变小,则确定所述两个触摸点在所述第一坐标轴方向上的距离变大;如果所述第一计算值与所述第二计算值的差值变大,则确定所述两个触摸点在所述第一坐标轴方向上的距离变小;当所述坐标轴单元确定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第二坐标轴方向上时,如果所述第一计算值与所述第二计算值的差值变大,则确定所述两个触摸点在所述第二坐标轴方向上的距离变大;如果所述第一计算值与所述第二计算值的差值变小,则确定所述两个触摸点在所述第二坐标轴方向上的距离变小。

10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述坐标轴单元包括:

差值单元,用于将所述第一计算值减去所述第二计算值,得到所述第一计算值与所述第二计算值的差值;

第一坐标轴单元,用于当所述差值小于零时,判定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第一坐标轴方向上;

第二坐标轴单元,用于当所述差值大于零时,判定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第二坐标轴方向上。

11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述坐标轴单元还包括:

单点单元,用于当所述差值等于零时,判定所述触摸屏上的触摸点为一个触摸点。

12.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,当所述差值小于零时,所述第一坐标轴单元,进一步判定当所述差值小于预先设定的小于零的第一阈值时,确定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第一坐标轴方向上;

当所述差值大于零时,所述第二坐标轴单元,进一步判定当所述差值大于预先设定的大于零的第二阈值时,确定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第二坐标轴方向上。

13.根据权利要求12所述的装置,其特征在于,所述坐标轴单元还包括:

单点单元,用于当所述差值大于或等于所述第一阈值,并且,小于或等于所述第二阈值时,确定所述触摸屏上的触摸点为一个触摸点。

14.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述运动趋势单元包括:

第一单元,用于当所述坐标轴单元确定所述所述触摸屏上的两个触摸点触摸点位于所述第一坐标轴方向上时,如果所述第一计算值与所述第二计算值的差值变小,则确定所述两个触摸点在所述第一坐标轴方向上的距离变大;

第二单元,用于当所述坐标轴单元确定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第一坐标轴方向上时,如果所述第一计算值与所述第二计算值的差值变大,则确定所述两个触摸点在所述第一坐标轴方向上的距离变小;

第三单元,用于当所述坐标轴单元确定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第二坐标轴方向上时,如果所述第一计算值与所述第二计算值的差值变大,则确定所述两个触摸点在所述第二坐标轴方向上的距离变大;

第四单元,用于当所述坐标轴单元确定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第二坐标轴方向上时,如果所述第一计算值与所述第二计算值的差值变小,则确定所述两个触摸点在所述第二坐标轴方向上的距离变小。

说明书 :

一种对触摸屏进行检测的方法及装置

技术领域

[0001] 本发明涉及电子技术领域,尤其涉及一种对触摸屏进行检测的方法及装置。 背景技术
[0002] 触摸屏技术是未来人机交互的一种主要输入方式,会逐渐淘汰键盘和鼠标等输入工具,而多点触摸(Multitouch)技术又是这一领域更具有吸引力的一个亮点,但这一技术大多使用光学对触摸屏进行检测的技术,成本太高,是目前大多数用户所不能接受的。 [0003] 传统的4线电阻式触摸屏包括X层和Y层两层面板,其使用模式如图1所示,其中,R1和R3表示X导电层被分成的两部分的等效电阻,R4和R6表示Y导电层被分成的两部分的等效电阻。通过4次或3次的测量方式可以得到电阻R3、R6和Rz的值,其中,Rz表示由于触摸所产生的电阻值。
[0004] 所述的4次测量方式如下:
[0005] 测量一、Xp接正电压Vref+,Xn接负电压Vref-,Yp和Yn浮空,测量Yp的电压值V3,则可得R3=V3/4096*Rxplate,其中,Rxplate是X导电层的总电阻,4096表示12bit精度的模拟数字(AD)转换器的测量等级。如果精度是10bit,则可以区分1024个等级。 [0006] 测量二、与测量一同理,接Yp正电压Vref+,Yn接负电压Vref-,Xp和Xn浮空,测量Xp的电压值V1,则可得R6=V1/4096*Ryplate,其中,Ryplate是Y导电层的总电阻。 [0007] 测量三、Yp接Vref+,Xn接Vref-,Xp和Yn浮空,测量Xp的电压值V5。 [0008] 测量四、Yp接Vref+,Xn接Vref-,Xp和Yn浮空,测量Yn的电压值V6。 则可得Rz=R3*(V6/V5-1)。
[0009] 所述的3次测量方式如下:
[0010] 测量一、Xp接Vref+,Xn接Vref-,Yp和Yn浮空,测量Yp的电压值V3,则可得R3=V3/4096*Rxplate。
[0011] 测量二、同理,Yp接Vref+,Yn接Vref-,Xp和Xn浮空,测量Xp的电压值V1,则可得R6=V1/4096*Ryplate。
[0012] 测量三、Yp接Vref+,Xn接Vref-,Xp和Yn浮空,测量Xp的电压值V5,则可得Rz=R3*(4096/V5-1)-R4。
[0013] 也就是说,传统的4线制电阻式触摸屏系统是通过在X方向(X导电层)的电极对上施加一确定的电压,而Y方向(Y导电层)电极对上不加电压时,在X平行电压场中,触点处的电压值可以在Yp电极上反映出来,通过测量Yp电极对地的电压大小,便可得知触点的X坐标值Xposition。同理,当在Y电极对上加电压,而X电极对上不加电压时,通过测量Xp电极的电压,便可得知触点的Y坐标Yposition。即由于X导电层和Y导电层的电阻是线性分布的,因此可以得到触摸点的位置。
[0014] 但是,现有技术仅支持对4线制电阻式触摸屏的单点触摸的检测,无法实现对4线制电阻式触摸屏的多点触摸的检测。
[0015] 发明内容
[0016] 本发明实施例提供了一种对触摸屏进行检测的方法及装置,用以检测4线制电阻式触摸屏上的两个触摸点的运动趋势。
[0017] 本发明实施例提供的一种对触摸屏进行检测的方法包括:
[0018] 对触摸屏进行触摸点定位,得到第一坐标轴位置信息和第二坐标轴位置信息;其中,所述触摸屏为四线制电阻式触摸屏;
[0019] 根据所述第一坐标轴位置信息和所述第二坐标轴位置信息,计算得到由于所述触摸屏被触摸所产生的接触电阻的第一计算值以及第二计算值;
[0020] 将所述第一计算值减去所述第二计算值,得到所述第一计算值与所述第二计算值的差值;
[0021] 当所述差值小于零时,判定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第一坐标轴方向上,并且,当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变小时,确定所述两个触摸点在所述第一坐标轴方向上的距离变大;当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变大时,确定所述两个触摸点在所述第一坐标轴方向上的距离变小;
[0022] 当所述差值大于零时,判定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第二坐标轴方向上,并且,当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变大时,确定所述两个触摸点在所述第二坐标轴方向上的距离变大;当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变小时,确定所述两个触摸点在所述第二坐标轴方向上的距离变小。
[0023] 本发明实施例提供的一种对触摸屏进行检测的装置包括:
[0024] 位置确定单元,用于对触摸屏进行触摸点定位,得到第一坐标轴位置信息和第二坐标轴位置信息;其中,所述触摸屏为四线制电阻式触摸屏;
[0025] 接触电阻计算单元,用于根据所述第一坐标轴位置信息和所述第二坐标轴位置信息,计算得到由于所述触摸屏被触摸所产生的接触电阻的第一计算值以及第二计算值; [0026] 运动趋势判定单元,用于将所述第一计算值减去所述第二计算值,得到所述第一计算值与所述第二计算值的差值;当所述差值小于零时,判定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第一坐标轴方向上,并且,当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变小时,确定所述两个触摸点在所述第一坐标轴方向上的距离变大;当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变大时,确定所述两个触摸点在所述第一坐标轴方向上的距离变小;当所述差值大于零时,判定所述触摸屏上的两个触摸点位于所述第二坐标轴方向上,并且,当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变大时,确定所述两个触摸点在所述第二坐标轴方向 上的距离变大;当所述第一计算值与所述第二计算值的差值变小时,确定所述两个触摸点在所述第二坐标轴方向上的距离变小。
[0027] 本发明实施例,通过对触摸屏上的触摸点进行定位,得到所述触摸点的第一坐标轴位置信息和第二坐标轴位置信息;根据所述第一坐标轴位置信息和所述第二坐标轴位置信息,计算得到由于所述触摸点对所述触摸屏的触摸所产生的接触电阻的第一计算值以及第二计算值;根据所述第一计算值与所述第二计算值的差值,确定所述触摸点在第一坐标轴方向或者第二坐标轴方向上的运动趋势信息。从而实现了对4线制电阻式触摸屏上的两个触摸点的运动趋势的检测,在不需要改变硬件设备的前提下,使得传统的4线制电阻式触摸屏也可以支持双点触摸的功能,具有成本低的优点;并且,这一功能可以广泛应用在使用触摸屏的嵌入式领域,丰富了用户体验,简化了用户操作。
[0028] 附图说明
[0029] 图1为现有技术中4线电阻式触摸屏的使用模式示意图;
[0030] 图2为本发明实施例提供的一种对触摸屏进行检测的总体方法流程示意图; [0031] 图3为本发明实施例提供的一种对触摸屏进行检测的具体方法流程示意 图; [0032] 图4为本发明实施例提供的一种对触摸屏进行检测的装置结构示意图。 具体实施方式
[0033] 本发明实施例提供了一种对触摸屏进行检测的方法及装置,用以检测4线制电阻式触摸屏上的两个触摸点的运动趋势。
[0034] 本发明实施例通过获取的两个触摸点的运动趋势,例如两个手指在触摸屏上的收缩或弹开动作,可以给应用程序带来很有趣的功能,比如对触摸屏上显示的图片进行放缩、拉伸等操作,从而丰富用户体验,方便了用户操作。
[0035] 下面结合附图对本发明实施例进行详细介绍。
[0036] 参见图2,本发明实施例提供的一种对触摸屏进行检测的方法总体包括步骤: [0037] S201、对触摸屏上的触摸点进行定位,得到所述触摸点的第一坐标轴位置信息和第二坐标轴位置信息。
[0038] S202、根据所述第一坐标轴位置信息和所述第二坐标轴位置信息,计算得到由于所述触摸点对所述触摸屏的触摸所产生的接触电阻的第一计算值以及第二计算值; [0039] S203、根据所述第一计算值与所述第二计算值的差值,确定所述触摸点在第一坐标轴方向或者第二坐标轴方向上的运动趋势信息。
[0040] 下面对上述总体方法进行详细的解释说明。
[0041] 首先介绍一下AD转换器。如果AD转换器的精度是12bit,那么理论上可以区分4096个等级,如果精度是10bit,则可以区分1024个等级。也就是说触摸屏的x方向和y方向的位置可以精确到4096个等级,假设触摸屏上x方向和y方向上的总长度均为4096(该值和液晶显示屏LCD的长宽没有关系,只是表示可以细分的程度)。Xplate表示实际LCD的x方向的总电阻,可以直接测试出来,一般大约300Ω左右,Yplate表示实际LCD的y方向的总电阻,一般大约为700Ω左右。用P1和P2分别表示x方向和y方向的线性电阻率, 则P1=Xplate/4096,P2=Yplate/4096,x方向上x长度对应电阻值为Rx=P1*Xposition,Xposition表示相对距离,Xposition∈[0,4095];同理,y方向上y长度对应的电阻值为Ry=P1*Yposition,Yposition表示相对距离,Yposition∈[0,4095]。假设外加电压是
4096(满量程的示数),那么AD转换器的测量值就代表了电压值。
[0042] AD转换器除了测量单个触摸点的坐标,还可以测量单点触摸的压力,参见图1,通过在Yp和Xn电极上加正向电压,测量Xp和Yn的电压值分别为V5和V6,通过公式(1): [0043] Rz=(Rxplate)*(Xposition/4096)*(V6/V5-1)
[0044] 或者公式(2):
[0045] Rz = (Rxplate*Xposition/4096)*(4096/V5-1)-Ryplate*(1-Yposition/4096)利用触摸电阻Rz与触摸压力成反比的关系,可以求出触摸点的压力大小的相对值,即用电阻Rz的值表征触摸点的压力值。其中,Rz表示由于触摸所产生的电阻值;Rxplate是X导电层的总电阻;Ryplate是Y导电层的总电阻;4096表示12bit精度的模拟数字(AD)转换器的测量等级;Xposition是触点的X坐标值;Yposition是触点的Y坐标值。 [0046] 公式(1)的推导原理如下:
[0047] 从Yp经R4、Rz、R3到Xn,电流处处相等,电压比等于电阻比,可知:V6/V5=(Rz+R3)/R3,根据该式解得Rz=R3*(V6/V5-1),其中,R3=(Rxplate)*(Xposition/4096),从而得到公式(1)。
[0048] 公式(2)的推导原理如下:
[0049] 从Yp经R4、Rz、R3到Xn,电流处处相等,电压比等于电阻比,可知(4096-V5)/V5=(R4+Rz)/R3,解得Rz=(4096/V5-1)*R3-R4,其中,R3=(Rxplate)*(Xposition/4096),R4=Ryplate*(1-Yposition/4096),从而得到公式(2)。
[0050] 本发明实施例就是基于这种压力测量方式,通过不同的计算公式(1)和 公式(2)去求触摸点对触摸屏造成的接触电阻的电阻值,然后,比较用两种公式算得的差值。 [0051] 公式(1)和公式(2)都是用于单点触摸情况下计算接触电阻的电阻值,如果用这两个公式来计算两点触摸情况下的接触电阻的电阻值,则必然存在一定误差。而本发明实施例将两点触摸情况等效为单点触摸,运用公式(1)和公式(2)来计算两点触摸情况下的接触电阻的电阻值,从而根据计算误差来判定两个触摸点的运动趋势。 [0052] 通过统计得到如下规律:
[0053] 如果只有一个点按下(单点触摸),则公式(1)的计算值减去公式(2)的计算值所得到的差值deta接近于0,因为单点触摸的计算值误差很小。
[0054] 如果在X方向上有两点按下(双点触摸),则deta<0,并且,两个触摸点的距离越大,差值deta的绝对值|deta|越大,因为,两个触摸点的距离越大,计算值越不准确,导致误差越大,因此,差值的绝对值也越大。
[0055] 如果在Y方向上有两点按下,则deta>0,并且,两个触摸点的距离越大,差值deta的绝对值|deta|越大。
[0056] 本发明实施例基于上述规律,即可根据差值deta的正负来判定两个触摸点处于X方向还是Y方向上,并进一步根据差值deta的绝对值的大小变化来判定两个触摸点之间的距离是扩张还是收缩。
[0057] 本发明实施例采用公式(1)的计算值与公式(2)的计算值作差,会使得Rz的计算值与实际值的误差放大,那么采用该误差对两个触摸点的运动趋势进行测量的结果就越准确。
[0058] 在实际应用中还要考虑测量误差和压力抖动等因素,因此,参见图3,本发明实施例提供的一种对触摸屏进行检测的方法具体包括步骤:
[0059] S301、当触摸屏上有按下事件发生后,Yp接正电压,Xn接负电压,启动AD转换器测量触摸点在X方向上的位置Xposition和在Y方向上的位置Yposition,并测量Xp处的电压值V5和Yn处的电压值V6,可测量多次(如 三次),然后取各个参数的平均值,以去除抖动。
[0060] S302、判断Xposition和Yposition是否超出边界值,如果是,则说明用户抬起手或笔,离开触摸屏,则进行步骤S303;否则,说明用户在作触摸操作,进行步骤S304。 [0061] S303、释放资源或保持状态不变。
[0062] S304、根据公式(1)和公式(2)分别计算得到接触电阻的第一计算值和第二计算值,并计算得到两者的差值deta。
[0063] S305、判断deta是否大于或等于负方向的经验阈值minus_limit(负值),并且,小于或等于正方向的经验阈值plus_limit(正值),如果是,则说明deta在0值附近作小范围的波动,即属于单点触摸情形,那么进行步骤S306;否则,说明当前用户操作属于双点触摸情形,需要执行步骤S307。
[0064] S306、判定当前用户操作为单点触摸操作。
[0065] S307、判断deta满足deta<minus_limit还是满足deta>plus_limit,如果判定deta<minus_limit,则说明触摸点处于X方向上,需要进行步骤S308;如果判定deta>plus_limit,则说明触摸点处于Y方向上,需要进行步骤S312。
[0066] S308、对当前计算得到的差值deta与上一次计算得到的差值(用deta’表示)进行比较,
[0067] 如果deta<deta’-deta_limit,则执行步骤S309;
[0068] 如果deta>deta’+deta_limit,则执行步骤S310;
[0069] 否则,即deta为其他值,则执行步骤S311。
[0070] 其中,deta_limit表示防止反复颠簸的迂回区间,即本发明实施例中,如果前后两次计算的差值deta的差值(绝对值)如果小于deta_limit,则认为是扰动。 [0071] S309、确定两个触摸点在X方向上的作扩张运动,即两个触摸点之间的距离在增加。
[0072] S310、确定两个触摸点在X方向上的作收缩运动,即两个触摸点之间的距 离在减小。
[0073] S311、确定为扰动。
[0074] S312、对当前计算得到的差值deta与上一次计算得到的差值deta’进行比较, [0075] 如果deta>deta’+deta_limit,则执行步骤S313;
[0076] 如果deta<deta’-deta_limit,则执行步骤S314;
[0077] 否则,即deta为其他值,则执行步骤S315。
[0078] S313、确定两个触摸点在Y方向上的作扩张运动,即两个触摸点之间的距离在增加。
[0079] S314、确定两个触摸点在Y方向上的作收缩运动,即两个触摸点之间的距离在减小。
[0080] S315、确定为扰动。
[0081] 参见图4,本发明实施例提供的一种对触摸屏进行检测的装置包括: [0082] 位置确定单元41,用于对触摸屏上的触摸点进行定位,得到所述触摸点的第一坐标轴位置信息和第二坐标轴位置信息。
[0083] 接触电阻计算单元42,用于根据所述第一坐标轴位置信息和所述第二坐标轴位置信息,计算得到由于所述触摸点对所述触摸屏的触摸所产生的接触电阻的第一计算值以及第二计算值。
[0084] 运动趋势判定单元43,根据所述第一计算值与所述第二计算值的差值,确定所述触摸点在第一坐标轴方向或者第二坐标轴方向上的运动趋势信息。
[0085] 较佳地,所述运动趋势判定单元43包括:
[0086] 坐标轴单元431,用于将所述第一计算值与所述第二计算值的差值与零进行比较,确定所述触摸点位于第一坐标轴方向或者第二坐标轴方向;
[0087] 运动趋势单元432,用于将所述第一计算值与所述第二计算值的差值与上一次计算得到的差值进行比较,确定所述触摸点在所述第一坐标轴方向或者第二坐标轴方向上的运动趋势信息。
[0088] 较佳地,所述坐标轴单元431包括:
[0089] 差值单元4311,用于将所述第一计算值减去所述第二计算值,得到所述第一计算值与所述第二计算值的差值。
[0090] 第一坐标轴单元4312,用于当所述差值小于预先设定的小于零的第一阈值时,判定所述触摸点位于所述第一坐标轴方向上。
[0091] 第二坐标轴单元4313,用于当所述差值大于预先设定的大于零的第二阈值时,判定所述触摸点位于所述第二坐标轴方向上。
[0092] 较佳地,所述坐标轴单元431还包括:
[0093] 单点单元4314,用于当所述差值大于或等于所述第一阈值,并且,小于或等于所述第二阈值时,判定所述触摸点为一个触摸点。
[0094] 较佳地,所述运动趋势单元432包括:
[0095] 第一单元4321,用于当所述第一计算值与所述第二计算值的差值小于上一次测得的差值时,确定所述触摸点在所述第一坐标轴方向上作扩张运动。
[0096] 第二单元4322,用于当所述第一计算值与所述第二计算值的差值大于上一次测得的差值时,确定所述触摸点在所述第一坐标轴方向上作收缩运动。
[0097] 第三单元4323,用于当所述第一计算值与所述第二计算值的差值大于上一次测得的差值时,确定所述触摸点在所述第二坐标轴方向上作扩张运动。
[0098] 第四单元4324,用于当所述第一计算值与所述第二计算值的差值小于上一次测得的差值时,确定所述触摸点在所述第二坐标轴方向上作收缩运动。
[0099] 显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。