互补式金氧半导体元件及其制造方法转让专利
申请号 : CN200710167311.7
文献号 : CN101312158B
文献日 : 2011-05-25
发明人 : 余振华 , 姚亮吉 , 林正堂
申请人 : 台湾积体电路制造股份有限公司
摘要 :
权利要求 :
1.一种半导体元件的形成方法,其特征在于包括以下步骤:
形成一N型金属层于一基板的一表面上,该N型金属层适用作为一N型金属半导体元件上的一栅极电极;
转换部分该N型金属层成P型金属层部分,P型金属层适用作为一P型金属半导体元件上的栅极电极;以及形成N型金属半导体元件和P型金属半导体元件,这些N型金属半导体元件使用该N型金属层的未转换区,该P型金属半导体元件使用该P型金属层部分;
其中该转换过程包含在N型金属层添加至少一碳(C)或氧(O),用来将该N型金属层的该部分转换成P型金属层部分。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述的N型金属层包括碳化钽或氮化钽。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述的N型金属层具有一功函数值为4.4电子伏特或小于4.4电子伏特。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于所述的转换过程包括该P型金属层部分具有一功函数值4.8电子伏特或大于4.8电子伏特。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述的添加方法包括离子注入法、扩散法或气体团簇离子束法其中之一。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述的转换过程包括在该N型金属层上形成一已图刻可移除层,该P型金属层部分包括未受该已图刻可移除层覆盖的该N型金属层部分,更进一步包括在转换之后,移除该已图刻可移除层。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于所述的可移除层包括光阻层、多晶硅层、氮化硅和氧化层其中之一。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于其中形成这些N型金属半导体元件和P型金属半导体元件包括同时蚀刻该N型金属层的这些未转换部分和这些P型金属层部分。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述的N型金属层包括碳化钽和经过转换的这些P型金属层部分包括氧碳化钽、氮氧碳化钽(TaCON)和氮碳化钽其中之一。
10.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述的N型金属层包括以XY表示的二元材料以及经过转换的这些P型金属层部分包括XY氧化物或XY氮氧化合物其中之一。
11.根据权利要求1所述的方法,其特征在于其中形成这些N型金属半导体元件包括至少形成一N型金属栅极金氧半场效晶体管,和这些P型金属半导体元件的形成包括至少一P型金属栅极金氧半场效晶体管的形成。
12.根据权利要求1所述的方法,其特征在于其中形成一N型金属层包括在该表面上形成具有一高介电系数的该N型金属层,形成该N型金属半导体元件和形成该P型金属半导体元件包括利用该高介电系数介电材料作为栅极介电材料和该N型金属半导体元件与该P型金属半导体元件各自包括金属栅极晶体管。
13.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述的N型金属层包括钌和这些转换部分包括将该钌氧化成氧化钌。
14.一种位于基板上的互补式金氧半导体元件,其特征在于包括:
至少一NMOS半导体元件包括一碳化钽层的一部分;以及
至少一PMOS半导体元件包括该碳化钽层的进一部分,该进一部分包括至少一氧(O)或碳(C)杂质的添加。
15.根据权利要求14所述的互补式金氧半导体元件,其特征在于其中该部分至少包括一功函数值等于4.4电子伏特或小于4.4电子伏特,和该进一部分包括一功函数值等于或大于4.42电子伏特。
16.根据权利要求14所述的互补式金氧半导体元件,其特征在于所述的NMOS半导体元件包括一NMOS金属栅极晶体管,具有在该碳化钽层的该部分形成的该NMOS金属栅极晶体管的金属栅极且配置于在该基板的一表面上形成的一高介电系数栅极介电材料上;以及该PMOS半导体元件包括一PMOS金属栅极晶体管,具有在该碳化钽层的该进一部分形成的该PMOS金属栅极晶体管的金属栅极且配置在该高介电系数栅极介电材料上。
17.一种位于基板上的互补式金氧半导体元件,其特征在于包括:
至少一NMOS晶体管有一栅极在二元材料层的一部分形成,有一功函数值等于4.5电子伏特或小于4.5电子伏特;和至少一PMOS晶体管,有一栅极形成于二元材料层的进一部分,有一功函数值等于4.7电子伏特或大于4.7电子伏特;该进一部分包括至少一氧(O)或碳(C)杂质的添加。
18.根据权利要求17所述的互补式金氧半导体元件,其特征在于所述的二元材料的该层的该部分包括碳化钽和该二元材料的该层的该进一部分包括氧碳化钽、氮氧碳化钽和氮碳化钽其中之一。
19.根据权利要求17所述的互补式金氧半导体元件,其特征在于其中每一该NMOS晶体管和该PMOS晶体管包括一高介电系数栅极介电材料。
说明书 :
互补式金氧半导体元件及其制造方法
技术领域
背景技术
当程度上的复杂性和集积性,借此达到以最小的制造成本达到最大的生产量。
时,须在P型金氧半导体PMOS和N型金氧半导体NMOS晶体管的栅极电极上使用不同的适
当金属。在习知惯例上,不同材料需要分开进行制造和图刻操作。换言之,如果进行单一图
刻,即,在两不同的材料上,要进行相同的蚀刻操作时,则其中至少有一材料会因为蚀刻进
行过度或不足,而使元件的功能受到损害或元件完全失效。
N型金属的功能。这样的目的在于,使具有N型金属和P型金属元件在同一基板上的CMOS
元件有效地的制造出来,并在制程操作上能提升经济产量。
以期创设一种新型的高介电系数金属栅极元件和制造方法,能够改进一般现有的互补金氧
半导体CMOS元件,使其更具有实用性。经过不断的研究、设计,并经过反复试作样品及改进
后,终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
CMOS元件原有复杂的制造流程。
型半导体元件上的材料,从而更加适于实用。
部分N型金属层转换成P型金属层,作为P型金属半导体元件的栅极电极。本方法更提供
利用N型金属层的未转换区形成N型金属半导体元件,利用P型金属部份的区域形成P型
金属半导体元件。
一步包括一部分的碳化钽(TaC)层,这些进一步的部分包括至少添加一种氧、碳、氮和硅的
杂质。
至少一种PMOS晶体管,在二元材料层的另一部位形成一栅极,其功函数值约等于或大于
4.7eV。此二元材料层的另一部位包括至少添加一种氧、碳、氮和硅的杂质。
N型金属层适用作为一N型金属半导体元件上的一栅极电极;转换部分该N型金属层成P型
金属层部分,P型金属层适用作为一P型金属半导体元件上的栅极电极;以及形成N型金属
半导体元件和P型金属半导体元件,这些N型金属半导体元件使用该N型金属层的未转换
区,该P型金属半导体元件使用该P型金属部分其中该转换过程包含在N型金属层添加至
少一碳(C)、氧(O)和硅(Si),用来将该N型金属层的该部分转换成P型金属部分。
后,移除该已图刻可移除层。
晶体管的形成。
数介电材料作为栅极介电材料和该N型金属半导体元件与该P型金属半导体元件各自包括
金属栅极晶体管。
一碳化钽(TaC)层的一部分;以及至少一PMOS半导体元件包括该碳化钽(TaC)层的进一部
分,该进一部分包括至少一氧(O)、氮(N)、碳(C)和硅(Si)杂质的添加。
4.42电子伏特(eV)。
成的一高介电系数栅极介电材料上;以及该PMOS半导体元件包括一PMOS金属栅极晶体管,
具有在该碳化钽层的该进一部分形成的该金属栅极且配置在该高介电系数栅极介电材料
上。
材料层的一部分形成,有一功函数值等于4.5电子伏特(eV)或小于4.5电子伏特(eV);和
至少一PMOS晶体管,有一栅极形成于二元材料层的进一部分,有一功函数值等于4.7电子
伏特(eV)或大于4.7电子伏特(eV);该进一部分包括至少一种氧(O)、碳(C)和硅(Si)杂
质的添加。
碳化钽(TaCN)其中之一。
的功能。如此一来,具有N型金属和P型金属元件在同一基板上的CMOS元件能被有效地的
制造出来,并在制程操作上能提升经济产量。
更明显易懂,以下特举较佳实施例,并配合附图,详细说明如下。
附图说明
显示,所附图式的详细说明如下:
具体实施方式
方式、结构、特征及其功效,详细说明如后。
由N型金属材料转换成P型金属材料区域。
表面6向下形成于半导体基板2内。绝缘元件4可以是一浅沟渠隔离(shallow trench
isolation;STI)元件或其他适合元件,用来将基板区彼此之间电性隔离。由各种适合的高
介电系数介电材料所形成的高介电系数介电层8覆盖在基板2的表面6之上。在其他实施
例中,适合的高介电性材料包括但不局限于各式的氧化硅、氮化硅和氮氧硅,或高介电系数
的材料例如镧氧化物:三氧化二镧(La2O3)、铝氧化物:三氧化二铝(Al2O3)、铪氧化物:二氧化铪(HfO2)、氮氧铪化物(HfON)或锆氧化物:二氧化锆(ZrO2),或在相对于自由空间的介
电常数大于5的高介电系数介电材料所形成的其他适合的栅极介电材料亦可运用于其他
实施例上。高介电系数介电层8的尺寸依照元件的需求而定。高介电系数介电层8能形成
一薄层适合用在NMOS和PMOS半导体元件,例如N型和P型金氧半导体场效晶体管(metal
oxide semiconductor field effect transistors)。
管,亦即膜层10具有4.3电子伏特(eV)或4.4电子伏特(eV)的功函数值。膜层10可为
钌(ruthenium)、TaC、氮化钽(TaN)或各种适合的二元N型金属材料。膜层10的厚度约为
1.0到2.0奈米(nm),但在其他实施例中则有不同厚度。
阻材料、多晶硅、氧化硅或其他适合的氧化物或其他材料,例如氮化硅(silicon nitride)。
可利用传统的方法将完全覆盖于膜层10的上表面12的可移除层形成一图刻区16。图刻
区16在N型金属区18中形成,其中的N型金属区18可形成N型元件,且位于此N型金属
区18的膜层10会留下一不转换的N型金属材料。P型金属区22代表图刻区16形成的孔
洞区域,在此区域可形成P型元件,而膜层10在此转换成P型金属层。通过位于N型金属
区18的图刻区16,可利用多种方法将膜层10的曝露部分从N型金属材料转换成为P型金
属材料。
一实施例中,可利用气体团簇离子束(gas cluster ionbeam;GCIB)注入技术,还有在其他
实施例中,利用扩散作用将所需要的添加物/杂质驱入膜层10的曝露部分,并配合图刻区
16防止添加物/杂质进入N型金属区18的膜层10。添加剂的加入可使膜层10的功函数
值由沉积时约等于4.3或4.4eV或小于的数值,转换成等于或大于4.7或4.8eV。其他功函
数值可利用在其他实施例上,但本发明的目的是使原始膜层18成为一种部分具有不同(相
对高/相对低)功函数的膜层,其中已转换的P型金属区域具有增加的功函数值。
于或小于4.3或4.4eV时,在P型金属区22内的转换区10A为P型金属材料并具有相对地
高功函数值约等于或小于4.7或4.8eV。依照一实施例,其中原始膜层10是碳化钽(TaC),
转换区10A可为碳氧化钽(TaCO)、碳氮化钽(TaCN)或碳氮氧化钽(TaCON),而未转换区10B
为剩余的碳化钽(TaC)。依照另一实施例,其中膜层10是钌(ruthenium),转换区10A可为
氧化钌(RuO),而未转换区10B为剩余的钌。依照另一实施例,其中原始膜层10为氮化钽
(TaN),转换区10A可为氮氧化钽(TaON)或氮硅化钽(TaSiN)。这些薄膜层的细部在此为一
举例,在其他实施例中可使用其他材料。依照习知描述,膜层10是由XY组成的二元材料,
为一般的N型金属材料具有功函数值约等于或小于4.3或4.4eV,且经过转换后可得到一
转换区10A。此转换区10A是由氧、氮或二元材料的氮氧化合物变化如XYON,XYN或XYO所
组成。依照另一实施例目的,其中碳作为杂质添加在膜层10中,此添加的碳成份可将原始
N型金属转换成具有高功函数值的P型金属。
刻区26和28在P型金属区22内的转换区10A上和在N型金属区18内的未转换区10B上
同时分别形成。
晶体管的N半导体元件的栅极电极。由转换区10A的P型金属材料所形成的不连续区域48
可作为半导体元件中的P型金属结构,作为PMOS晶体管的栅极,例如是P型金氧半场效晶
体管。通过这些方法可形成各自具有高介电系数栅极介电材料的P型金属栅极晶体管和N
型金属栅极晶体管。这些应用在此仅作为实施范例,且在其他施实例中,转换区10A和未转
换区10B可同时通过图刻形成各自的P型金属和N型金属结构,然后在各种不同的应用上
使用。
条件可作为一教学目的并有助于操作者了解本发明的原理和对本发明概念进一步的延伸。
更甚之,本发明所有的步骤、原理细节、目的和其相关的发明实施例皆包括等效的结构与功
能。此外,与此相同的等效性亦包括现今经验和未来发展,即开发任何与其相同功能或构造
的元件。
位进行操作。关于其他专有名词像是“耦合”、“邻接”、“连接”、“内部连接”用以表示在构造中,相邻两物的稳定性和附属性,而非指直接或间接介于结构中间。
员,在不脱离本发明技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰
为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术实质
对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。