状态检测装置及状态检测方法

摘要

本发明提供了一种状态检测装置，包括：探针组、处理器以及显示模块。探针组具有多个探针，用以探测待测电压。处理器用以监测探针组所探测到的待测电压的电平变化，并根据监测到的待测电压的电平变化来判断待测电压是否为正常工作状态。显示模块用以显示出各个待测电压的相对时序图及工作状态信息。本发明的状态检测装置可同时对多个电压进行测试，并可在显示幕上显示出直观的时序图。

权利要求

1.一种状态检测装置，用以对多个待测电压进行检测，该状态检测装置包括：一探针组，具有多个探针，用以探测该些待测电压；

一处理器，其具有多个I/O介面，且一个探针与一个I/O介面相连，该处理器用以监测该探针组所探测到的每一待测电压的电平变化，且记录每一待测电压的电平变化时间点，并判断每一待测电压是否为正常工作状态；

一显示模块，与该处理器相连，用以接收该处理器监测到的每一待测电压的电平变化信息及处理器对每一待测电压工作状态的判断结果，并显示出该些待测电压的时序信息及工作状态信息；以及一输入模块，与该处理器相连，用于输入提供该些待测电压的设备的配置信息，以使该处理器根据监测到的该待测电压的电平变化与该输入模块输入的配置信息来比较判断该待测电压是否为正常工作状态。

2.如权利要求1所述的状态检测装置，其特征在于，该显示模块还包括：一显示幕，用以显示各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息；

一驱动单元，连接于该显示幕，用以驱动该显示幕并使其显示各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息；以及一显示控制单元，连接于该驱动单元，用以接收该处理器监测到的该待测电压的电平变化信息及处理器对该待测电压工作状态的判断结果，并通过该驱动单元使该显示幕显示出各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息。

3.如权利要求2所述的状态检测装置，其特征在于，该显示模块还包括一存储单元，用以存储各个待测电压的相对时序信息，以供后期分析。

4.如权利要求1所述的状态检测装置，其特征在于，该状态检测装置还包括一电位转换模块，该电位转换模块连接于该处理器与该探针组之间，用以对该探针组探测到的超出处理器测量范围的待测电压进行分压，以满足该处理器对电压测量的要求。

5.如权利要求1所述的状态检测装置，其特征在于，该状态检测装置还包括一保护模块，该保护模块连接于该处理器与该探针组之间，用于当该探针组中的一探针与该处理器一I/O介面间的电压过大时，切断该探针与该I/O介面间的路径。

6.如权利要求1所述的状态检测装置，其特征在于，该处理器为一单片机或一ARM微处理器。

7.一种状态检测方法，用以对多个待测电压进行检测，该状态检测方法包括以下步骤：向状态检测装置输入设备的配置信息；

将该些待测电压接上探针并监测每一待测电压的电平变化；

根据监测到的上述每一待测电压的电平变化与该配置信息来比较判断该待测电压是否为正常工作状态；以及若电平变化正常则显示出各个待测电压电平变化的时序信息，若电平变化错误则显示出各个待测电压电平变化的时序信息及错误发生的具体情况与时间。

8.如权利要求7所述的状态检测方法，其特征在于，在显示出各个待测电压的时序信息后存储该时序信息。

9.如权利要求7所述的状态检测方法，其特征在于，还包括：对超出测量范围的待测电压进行分压处理后再判断待测电压是否为正常工作状态。

10.如权利要求7所述的状态检测方法，其特征在于，还包括：当一被测电压过大时切断该被测电压所在路径。

说明书

状态检测装置及状态检测方法

技术领域

[0001] 本发明是有关于一种电压测试工具，且特别是有关于一种可以同时测试多个电压信号的电压测试工具。

背景技术

[0002] 在服务器硬件测试过程中，对于电压时序(PowerSequence)的检测通常包括采用测试仪器去改变电压的上电时间关系来看系统是否能承受允许范围内的误差，以及通过示波器去测量实际的电压时序，以检测其电压信号是否在规范之内。

[0003] 中国台湾专利号为TW00564957的发明专利公开了一种主板电性测量治具，通过发光二极管(LED)来识别其线路的导通情形，再利用芯片组(CHIPSET)的保护二极管特性以及回路原理，透过主板电性测量治具，使直流电源，LED状态显示单元和待测主板依测量需要形成各种回路，后依LED的发光情形来判别其回路的开路/短路情形。同时，可将维修参考的各脚位一电气特性分类安排于面板上，以利于进一步的检修工作。

[0004] 上述发明的主板电性测量治具依据发光二极管的发光情形来判别各个部件的工作状态，并不能直观地通过时序图反应出电压的时序变化，从而也不容易对不同回路的电压时序进行比对。并且上述发明的测量治具只适用于主板电性的测量，并不适用于其他设备的电压时序测试。

[0005] 然而，直接通过示波器去测量设备实际的电压时序，检测状态是否在规范之内的这种常用的测试电压时序的方法，虽然采用示波器可以直观地看到电压时序图，且对不同时序的电压进行比对较为容易，但是若需要测试的电压数量较多，则采用示波器实现测试较为麻烦，因为示波器只具有四个频率显示，所以需要分别测量每对或者某几个电压间的关系才能完整反映整个上/下电的时序关系，因此其测试效率较低。

发明内容

[0006] 本发明提供一种状态检测装置，以解决现有测试技术无法同时测试多个电压及直观显示电压变化情况的技术缺陷。

[0007] 本发明提供一种状态检测方法，以解决现有测试技术无法同时测试多个电压及直观显示电压变化情况的技术缺陷。

[0008] 本发明提出一种状态检测装置，用以对多个待测电压进行检测，此状态检测装置包括探针组、处理器、显示模块以及输入模块。探针组具有多个探针，用以探测待测电压。处理器具有多个I/O介面，且一个探针与一个I/O介面相连，此处理器用以监测探针组所探测到的每一待测电压的电平变化，且记录每一待测电压的电平变化时间点，并判断每一待测电压是否为正常工作状态。显示模块与处理器相连，用以接收处理器监测到的每一待测电压的电平变化信息及处理器对每一待测电压工作状态的判断结果，并显示出待测电压的时序信息及工作状态信息。输入模块与处理器相连，用于输入提供待测电压的设备的配置信息，以使处理器根据监测到的待测电压的电平变化与输入模块输入的配置信息来比较判断待测电压是否为正常工作状态。

[0009] 依照本发明的较佳实施例所述状态检测装置，上述的显示模块还包括显示幕、驱动单元以及显示控制单元。显示幕用以显示各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息。驱动单元连接于显示幕，用以驱动显示幕并使其显示各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息。显示控制单元连接于驱动单元，用以接收处理器监测到的待测电压的电平变化信息及处理器对待测电压工作状态的判断结果，并通过驱动单元使显示幕显示出各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息。显示模块还包括存储单元，用以存储各个待测电压的相对时序信息，以供后期分析。此状态检测装置还包括电位转换模块，电位转换模块连接于处理器与探针组之间，用以对探针组探测到的超出处理器测量范围的待测电压进行分压，以满足处理器对电压测量的要求。此状态检测装置还包括保护模块，保护模块连接于处理器与探针组之间，用于当探针组中的探针与处理器I/O介面间的电压过大时，切断探针与I/O介面间的路径。处理器为单片机或ARM微处理器。

[0010] 本发明还提出一种状态检测方法，用以对多个待测电压进行检测，此状态检测方法包括以下步骤：首先，向状态检测装置输入待测设备的配置信息，将待测电压接上探针并监测每一待测电压的电平变化。其次，根据监测到的每一待测电压的电平变化与配置信息来比较判断待测电压是否为正常工作状态。然后，若电平变化正常则显示出各个待测电压电平变化的时序信息，若电平变化错误则显示出各个待测电压电平变化的时序信息及错误发生的具体情况与时间。

[0011] 本发明因采用状态检测装置，因此可以同时对多个待测电压进行检测。并且可以显示出各个待测电压的电平变化相对时序图及工作状态信息，无须如示波器那样受测试数量的限制，提高了测试效率及减小了测试工具的工作量。

[0012] 为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

[0013] 图1绘示为本发明实施例的一种状态检测装置的结构图。

[0014] 图2绘示为本发明另一实施例的一种状态检测装置的结构图。

[0015] 图3绘示为本发明实施例的一种状态检测方法的流程图。

[0016] 图4绘示为本发明另一实施例的一种状态检测方法的流程图。

具体实施方式

[0017] 请参见图1，其为本发明实施例的一种状态检测装置的结构图。

[0018] 本发明提出一种状态检测装置101，用以对多个待测电压进行检测，例如在服务器硬件测试过程中，对多个不同电源的电压时序进行检测，此状态检测装置101包括：探针组105、处理器103以及显示模块109。探针组105具有多个探针107，用以探测待测电压。待测电压可以是如电源电压等输入电压，也可以是设备工作后的输出电压，如经设备内部升压或降压的输出电压等。待测电压也可以是连接于一个设备上的电压或连接于不同设备的电压。处理器103具有多个I/O介面111，且一个探针107与一个I/O介面111相连，此处理器103用以监测探针组105所探测到的每一待测电压的电平变化，且记录每一待测电压的电平变化时间点，并判断每一待测电压是否为正常工作状态。处理器103可以是单片机或ARM微处理器等。显示模块109与处理器103相连，用以接收处理器103监测到的每一待测电压的电平变化信息及处理器103对每一待测电压工作状态的判断结果，并显示出待测电压的时序信息及工作状态信息。

[0019] 请参见图2，其为本发明另一实施例的一种状态检测装置的结构图。

[0020] 本实施例的状态检测装置219，用以对多个待测电压进行检测，此状态检测装置219包括：探针组105、处理器215、显示模块217、输入模块201、保护模块211以及电位转换模块213。探针组105具有多个探针107，用以探测待测电压。待测电压可以是如电源电压等输入电压，也可以是设备工作后的输出电压，如经设备内部升压或降压的输出电压等。待测电压也可以是连接于一个设备上的电压或连接于不同设备的电压。处理器具有多个I/O介面111，且一个探针107与一个I/O介面111相连，此处理器215用以监测探针组
105所探测到的每一待测电压的电平变化，且记录每一待测电压的电平变化时间点，并判断每一待测电压是否为正常工作状态。处理器215可以是单片机或ARM微处理器等。显示模块217与处理器215相连，用以接收处理器215监测到的每一待测电压的电平变化信息及处理器215对每一待测电压工作状态的判断结果，并显示出待测电压的时序信息及工作状态信息。显示模块217还包括显示幕203、驱动单元205、显示控制单元207以及存储单元
209。显示幕203用以显示各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息。驱动单元205连接于显示幕203，用以驱动显示幕203并使其显示各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息。显示控制单元207连接于驱动单元205，用以接收处理器215监测到的待测电压的电平变化信息及处理器215对待测电压工作状态的判断结果，并通过驱动单元205使显示幕203显示出各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息。存储单元209用以在显示模块217接收处理器215监测到的待测电压的电平变化信息后，存储各个待测电压的相对时序信息，以供后期分析。输入模块201与处理器215相连，用于输入提供待测电压的设备的配置信息，以使处理器215根据监测到的待测电压的电平变化与输入模块201输入的配置信息来比较判断待测电压是否为正常工作状态。本实施例中配置信息用于定义设备的待测电压正常工作状态时的时序特性，即定义状态检测装置219如何检测待测电压。电位转换模块213连接于处理器215与探针组105之间，用以对探针组105探测到的超出处理器215测量范围的待测电压进行分压，以满足处理器215对电压测量的要求，其分压方法可以采用电阻分压等。保护模块211连接于处理器215与探针组105之间，用于当探针组105中的探针107与处理器215的I/O介面111间的电压过大时，切断探针
107与I/O介面111间的路径，以起到保护处理器215的作用。

[0021] 请参见图3，其为本发明实施例的一种状态检测方法的流程图。

[0022] S301、接上探针并探测电平变化。将一个或多个设备的多个待测的待测电压与多个探针相连，探针用以探测设备的待测电压的电平。待测电压可以是如电源电压等输入电压，也可以是设备工作的输出电压，如经设备内部升压或降压的输出电压等。

[0023] S303、检验每一待测电压的工作状态是否正常。根据探针读取的待测电压的电平，监测其电平变化且记录下其变化时间点。并且判断待测电压是否为正常工作状态。若待测电压工作状态正常，则进入步骤S305，若待测电压工作状态错误，则进入步骤S307。

[0024] S305、显示相对时序图。根据监测到的多个待测电压的电平变化信息，将每个电压的时序及所有关系电压间的相对时序汇整为统一的数据格式，并在液晶荧幕上显示出各个电压的相对时序图。

[0025] S307、显示相对时序图及错误发生的情况与时间。根据监测到的多个待测电压的电平变化信息以及工作状态信息，将每个电压的时序及所有关系电压间的相对时序汇整为统一的数据格式，并在液晶荧幕上显示出各个电压的相对时序图及电压的错误发生情况与时间。

[0026] 请参见图4，其为本发明另一实施例的一种状态检测方法的流程图。

[0027] S401、输入设备适当的配置信息。除此之外，也可以预先存储各种型号设备的配置信息，而向输入模块输入设备的型号，再读取设备的配置信息。本实施例中配置信息用于定义设备的待测电压正常工作状态时的时序特性，即定义如何检测待测电压。

[0028] S403、对超出范围的待测电压进行分压。在监测待测电压的电平变化时，因为测量只需要电平的变化，所以可以对待测电压或探针组探测到的过大的电压进行分压，以符合测量工具的测量范围，其分压方法可以采用电阻分压等。

[0029] S405、切断过大电压所在的路径。当探测到过大的电压时，切断其所在路径，以起到保护测量工具的作用。

[0030] S407、接上探针并探测电平变化。将一个或多个设备的多个待测的待测电压与多个探针相连，探针用以探测设备的待测电压的电平。待测电压可以是如电源电压等输入电压，也可以是设备工作的输出电压，如经设备内部升压或降压的输出电压等。

[0031] S409、检验状态是否正常。检验过程可以由单片机或ARM微处理器等处理器来完成。检验每一待测电压的工作状态是否正常。根据探针读取的待测电压的电平，监测其电平变化且记录下其变化时间点。并且判断待测电压是否为正常工作状态。若待测电压工作状态正常，则进入步骤S411，若待测电压工作状态错误，则进入步骤S413。

[0032] S411、显示相对时序图。根据监测到的多个待测电压的电平变化信息，将每个电压的时序及所有关系电压间的相对时序汇整为统一的数据格式，并在液晶荧幕上显示出各个电压的相对时序图，且存储相对时序数据以供后期分析。

[0033] S413、显示相对时序图及错误发生的情况与时间。根据监测到的多个待测电压的电平变化信息以及工作状态信息，将每个电压的时序及所有关系电压间的相对时序汇整为统一的数据格式，并在液晶荧幕上显示出各个电压的相对时序图及电压的错误发生情况与时间，且存储相对时序数据以供后期分析。

[0034] 综上所述，在本发明采用状态检测装置后，因此可以同时对设备的多个待测电压进行检测。并且可以显示出各个待测电压的电平变化的相对时序图及工作状态信息，无须如示波器那样受测试数量的限制，提高了测试效率及减少了测试工具的工作量。另外，本发明的显示模块具有存储功能，使测试人员可以查看历史数据，从而可以更容易地对数据进行汇总分析，使测试工作变得更简单。本发明的输入模块可以根据测试人员需要，调节时序图在显示幕上的显示形式，使数据的检查工作更直观与人性化。本发明还采用了当被测电压过大时分压及截断等保护措施，使测试工具不会因电压过大而出现测量不准确等情况。因此本发明的状态检测装置为一个实用性极高的测试工具。

[0035] 虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许更动与润饰，因此本发明的保护范围当以权利要求所界定的为准。