光学扫描设备转让专利

申请号 : CN200910007866.4

文献号 : CN101515066B

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基本信息:

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法律信息:

相似专利:

发明人 : 佐藤健吾中畑浩志

申请人 : 佳能株式会社

摘要 :

一种光学扫描设备,包括:用于发射光的光源;偏转装置,包括利用从所述光源发射的光对待扫描表面进行偏转扫描的偏转元件以及用于驱动所述偏转元件的马达;以及光学系统壳体,包括用于将所述偏转装置支撑于其上的支撑面以及设置成立于所述支撑面上并面向所述偏转元件的壁。在所述壁立于所述支撑面上的部分处设置有沿着所述壁延伸的开口。

权利要求 :

1.一种光学扫描设备,包括:

用于发射光的光源;

偏转装置,包括:偏转元件,其利用从所述光源发射的光对待扫描表面进行偏转扫描;

以及马达,其用于驱动所述偏转元件;以及

透镜,其用于在待扫描表面上形成光的图像;

光学系统壳体,包括:支撑面,用于将所述偏转装置支撑于其上;以及壁,其设置成立于所述支撑面上,所述壁具有允许所述光通过的开口,并且所述壁设置在所述偏转元件和所述透镜之间,以与所述偏转元件相对;

其中,在所述偏转装置和所述壁之间设置有用于减轻所述壁的变形的开口。

2.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其中,所述用于减轻所述壁的变形的开口设置在所述偏转元件和所述壁之间以沿着所述壁延伸。

3.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其中,所述光学系统壳体设置有多个沿着所述壁延伸的开口,以用作所述用于减轻所述壁的变形的开口。

4.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其中,所述用于减轻所述壁的变形的开口设置有防尘元件。

5.一种光学扫描设备,包括:

用于发射光的光源;

偏转装置,包括:偏转元件,其利用从所述光源发射的光对待扫描表面进行偏转扫描;

以及马达,其用于驱动所述偏转元件;以及

光学系统壳体,包括:支撑面,用于将所述光源和所述偏转装置设置于其上;而且,所述光学系统壳体被所述支撑面分为第一室和第二室,所述第一室中至少容置有所述偏转装置,所述第二室被封闭以与所述光学扫描设备的外部隔离;

其中,所述支撑面设置有能够在所述第一室和所述第二室之间建立空气连通的开口。

6.根据权利要求5所述的光学扫描设备,其中,所述第二室通过设置在所述光学系统壳体的底部、并且由金属材料形成的屏蔽元件来与所述光学扫描设备的外部隔离。

7.根据权利要求5所述的光学扫描设备,其中,所述光学系统壳体包括设置成立于所述支撑面上并面向所述偏转元件的壁,并且设置有在所述支撑面和所述壁之间沿着所述壁延伸的开口。

8.根据权利要求5所述的光学扫描设备,其中,所述开口设置在所述偏转元件和所述壁之间。

9.根据权利要求5所述的光学扫描设备,其中,所述光学系统壳体设置有用于允许所述偏转装置进行偏转扫描要使用的激光通过的开口。

10.根据权利要求5所述的光学扫描设备,其中,所述光学系统壳体设置有多个设置于所述支撑面上并沿着所述壁延伸的开口。

11.根据权利要求5所述的光学扫描设备,其中,所述开口设置有防尘元件。

12.一种光学扫描设备,包括:

用于发射光的光源;

偏转装置,包括:偏转元件,其利用从所述光源发射的光对待扫描表面进行偏转扫描;

以及马达,其用于驱动所述偏转元件;

透镜,其用于在待扫描表面上形成光的图像;以及光学系统壳体,包括:支撑面,用于将所述偏转装置设置于其上;以及壁,设置成立于所述支撑面上,所述壁具有允许所述光通过的开口,并且所述壁设置在所述偏转元件和所述透镜之间,以与所述偏转元件相对;

其中,在所述偏转装置和所述壁之间,所述支撑面和所述壁彼此分离,以减轻所述壁的变形。

13.根据权利要求12所述的光学扫描设备,其中,所述支撑面和所述壁在多个部分处彼此分离。

14.根据权利要求13所述的光学扫描设备,其中,所述多个部分沿着所述壁延伸。

说明书 :

光学扫描设备

技术领域

[0001] 本发明涉及一种光学扫描设备(扫描光学设备),包括:光源,其用于发射光;偏转装置,其包括利用从所述光源发射的光对待扫描表面进行偏转扫描的偏转元件,以及用于驱动所述偏转元件的马达;以及支撑面,其用于支撑所述光源和所述偏转装置。

背景技术

[0002] 在用于电子照相成像设备的光学扫描设备中,依据图像信号对从光源发射出的光通量(光束)进行光学调制。随后,随着使偏转元件转动,经光学调制后的光束被多面反射镜周期性地偏转、并通过具有fθ特性的成像光学系统以光点样形状会聚在作为具有感光性的图像承载部件(下文将称为“感光鼓”)的电子照相感光元件的表面上。在成像平面(表面)上的所述光点处,通过采用多面反射镜进行的主扫描以及由感光鼓的转动进行的副扫描,形成静电潜像,从而完成图像记录。
[0003] 当多面反射镜转动时,诸如马达之类的用于驱动多面反射镜的驱动部产生热。所述热被传导至诸如fθ镜之类的成像透镜、诸如折叠式反射镜之类的光学元件以及其内容置所述透镜和所述反射镜的壳体,以引起所述成像透镜、所述光学元件以及所述壳体的热膨胀(变形)。这些部件的轻微变形将使从所述光源发射出的光束产生光路误差。这种误差导致画质降低。
[0004] 为了解决这种问题,已披露了这样一种扫描光学设备,其在所述多面反射镜和所述成像透镜之间设置有屏蔽部件,以防止所述热被传导至所述成像透镜和所述折叠式反射镜。在该设备中,在所述多面反射镜和所述光学透镜之间设置有具有允许激光通过的开口的垂直壁。所述垂直壁防止被加热的空气接触到所述光学透镜。由此,遏制了由所述热引起的所述光学透镜的变形。
[0005] 然而,在设置有所述垂直壁的情况下,所述热空气将接触所述垂直壁,从而使所述垂直壁发生变形。
[0006] 在图24中,在多面反射镜附近设置壁。壁7a设置成与光学系统壳体成为一体。壁7a设置有允许激光通过的激光通过开口10a(10b)。如图2所示,光学系统壳体连接有用于提供封闭内部结构的盖。壁7a不接触所述盖。所述多面反射镜由支撑面6d支撑。所述多面反射镜并未示出,但设置在壁7a附近,以使所述多面反射镜的反射面面向开口10a(10b)。
当所述多面反射镜转动时,被加热的空气接触壁7a。尤其是,在开口10a的周边处,由于离所述多面反射镜的距离短,所以温度高。结果,开口10a周边处的由热膨胀导致的变形量大于远离开口10a的区域的由热膨胀导致的变形量。基于这个原因,当多面反射镜开始转动且所述壁的温度升高时,在开口10a的周边处的壁朝着所述盖方向变形。此外,在远离开口
10a的区域处的壁也朝着所述盖方向变形。然而,在开口10a的周边处的壁的变形量大于远离开口10a的区域处的壁的变形量,从而所述光学系统壳体可变成如图12所示的拱形或弯曲。存在着这样的可能性,即所述光学系统壳体的所述变形不利地影响容置在所述光学系统壳体内的所有光学元件,由此与单个光学元件变形过程中产生的光路误差相比,导致产生更复杂的光路误差,从而使得输出图像的质量降低。

发明内容

[0007] 鉴于上述问题,完成了本发明。本发明的主要目的在于提供一种具有这样构造的光学扫描设备,其中,即使设置在多面反射镜附近的壁产生变形,光学系统壳体也不太易于产生变形。
[0008] 在考虑了下面结合随附附图给出的本发明优选实施方式的说明之后,本发明的这些或其它目的、特征以及优点将变得更清楚。

附图说明

[0009] 图1是实施方式1的成像设备的示意图。
[0010] 图2是图1的局部放大图。
[0011] 图3是光学扫描设备在去掉覆盖元件(顶盖)后示出光学系统壳体内部的状态下的立体图。
[0012] 图4是光学扫描设备在去掉覆盖元件后示出光学系统壳体内部的状态下的俯视图。
[0013] 图5是偏转装置的外观的立体图。
[0014] 图6是激光单元的副扫描剖视图。
[0015] 图7是入射侧光学转换系统和成像光学系统的展开示意图,所述系统包括设置在单个光源到单个待扫描表面之间的光学元件。
[0016] 图8是设置有图4中偏转装置的部分的局部放大图。
[0017] 图9A和图9B是沿图8所示的(9)-(9)线截取的放大剖视图。
[0018] 图10(a)和图10(b)是示意图,分别用于说明来自对置式扫描系统一侧的眩光和用于挡住所述眩光的侧壁。
[0019] 图11是在所述光学扫描壳体未在其底部设置开口时的局部放大图。
[0020] 图12A和图12B分别为立体图和侧视图,示出了关于图11所示的光学系统壳体在温度升高过程中的变形状态的模拟结果。
[0021] 图13是示出了设置在光学系统壳体底部的开口的示意图。
[0022] 图14是用于说明设置所述开口的效果的曲线图。
[0023] 图15是在侧壁7a设置有开口9a和9b时的光学系统壳体的剖视图。
[0024] 图16、图17和图18是示出了在另一实施方式中设置在光学系统壳体底部的开口的形状和位置的俯视图。
[0025] 图19是在实施方式3中光学扫描设备的主要结构部分的剖视图。
[0026] 图20是设置偏转装置的部分的放大立体图。
[0027] 图21是示出空气在光学扫描设备中流动的示意图。
[0028] 图22为曲线图,用于确认关于构造在光学系统壳体背面的封闭空间部形成的颜色重合失调变化的效果。
[0029] 图23是示出另一实施方式中设置在光学系统壳体底部的开口的形状和位置的俯视图。
[0030] 图24是示出了常规光学扫描系统的示意图,所述常规光学扫描系统包括未在底部设置开口的光学系统壳体。

具体实施方式

[0031] [实施方式1]
[0032] (1)成像设备
[0033] 图1是示出了一成像设备的实施方式的示意图,在所述成像设备中安装有依据本发明的光学扫描设备(扫描光学设备)。图2是图1的局部放大图。
[0034] 该成像设备为利用电子照相、激光束扫描曝光方法以及中间转印带方法的级联式彩色成像设备,且该成像设备还是用作复印机、打印机和传真机的多功能机。
[0035] 该成像设备包括打印站A和安装在打印站A上的读取站B。
[0036] 在复印机模式的情形下,将原始图像的光电读取图像信号(图像信息)从读取站B输入到控制电路部C的图像信号处理部。图像信号处理部准备数字图像信号,所述数字图像信号是通过将所输入的图像信号颜色转换(分离)成黄色、品红色、青色和黑色的分量图像信号来获得的。基于这些图像信号,打印站A如复印机一样操作。
[0037] 在打印机模式的情形下,从个人计算机等外部设备D输入到控制电路部C的图像信号处理部中的图像信号被进行图像处理,由此打印站A如打印机一样操作。
[0038] 在传真接收模式的情形下,从作为外部设备D的远程传真机输入到控制电路部C的图像信号处理部中的图像信号被进行图像处理,由此打印站A如传真接收机一样操作。
[0039] 在传真发送(传送)模式的情形下,由读取站B通过光电方式读取的原始图像信号输入到控制电路部C,并发送到作为外部设备D的远程传真机。由此,所述成像设备如传真发送机一样操作。
[0040] 控制电路部C是用于依据预定程序使所述成像设备服从集中控制的控制装置(控制器)。
[0041] 如图1所示,所述打印站包括多个以预定间隔彼此平行地水平设置的成像部(站)。在该实施方式中,所述多个成像部为第一至第四(四个)成像站,分别为用于形成黄色(Y)调色剂图像的成像站UY、用于形成品红色(M)调色剂图像的成像站UM、用于形成青色(C)调色剂图像的成像站UC、以及用于形成黑色(K)调色剂图像的成像站UK。
[0042] 各个成像站为具有相同构造的电子照相成像机构,且在各成像站均设置有作为图像承载部件(待扫描元件或记录介质)的鼓式电子照相感光部件(下文中,将称为“感光鼓”)51。感光鼓51以预定速度沿箭头所示的顺时针方向被旋转驱动。在感光鼓51周围设置有对感光鼓51进行作用的成像处理装置。在本实施方式中,成像处理装置为主充电器51、显影装置53、一次转印辊54、以及鼓清洁装置55。在第一至第四成像站的显影装置53中分别容置有作为显影剂的黄色(Y)调色剂、品红色(M)调色剂、青色(C)调色剂和黑色(K)调色剂。
[0043] 在第一至第四成像站UY、UM、UC、及UK的下方设置有作为图像曝光装置的光学扫描设备E。光学扫描设备E包括:光源,其用于发射光;偏转装置,其包括利用从所述光源发射出的光对待扫描的表面进行偏转扫描的偏转元件以及用于驱动所述偏转元件的马达;以及光学系统壳体,其用于容置所述光源和所述偏转装置。光学扫描设备E将在后面给出的第(2)部分中给予更具体的说明。
[0044] 在第一成像站UY,利用激光通量(激光束)LY照射被旋转驱动并随后由主充电器52充电的感光鼓51的表面,所述激光束LY从光学扫描设备E作为扫描光发射出,并相应地调制成用于全色图像的Y颜色分量图像的图像信号。由此,通过所述激光束LY形成静电潜像。通过显影装置53将所述潜像显影为Y调色剂图像。
[0045] 在第二成像站UM,利用激光通量(激光束)LM照射被旋转驱动并随后由主充电器52充电的感光鼓51的表面,所述激光束从光学扫描设备E作为扫描光发射出,并相应地调制成用于全色图像的M颜色分量图像的图像信号。由此,通过所述激光束LM形成静电潜像。
通过显影装置53将所述潜像显影为M调色剂图像。
[0046] 在第三成像站UC,利用激光通量(激光束)LC照射被旋转驱动并随后由主充电器52充电的感光鼓51的表面,所述激光束从光学扫描设备E作为扫描光发射出,并相应地调制成用于全色图像的C颜色分量图像的图像信号。由此,通过所述激光束LC形成静电潜像。
通过显影装置53将所述潜像显影为C调色剂图像。
[0047] 在第四成像站UK,利用激光通量(激光束)LK照射被旋转驱动并随后由主充电器52充电的感光鼓51的表面,所述激光束从光学扫描设备E作为扫描光发射出,并相应地调制成用于全色图像的K颜色分量图像的图像信号。由此,通过所述激光束LK形成静电潜像。
通过显影装置53将所述潜像显影为K调色剂图像。
[0048] 在第一至第四成像站UY、UM、UC、UK上设置有头尾相接的中间转印带56。中间转印带56在带传送辊57和58之间被拉伸,并以与感光鼓51的旋转速度相对应的速度沿逆时针方向被旋转驱动。
[0049] 各成像站的感光鼓51的上部位置面向中间转印带56的下带部分的下表面。各一次转印辊54设置在中间转印带56的内侧,并使所述下带部分介于各一次转印辊54和相关感光鼓51的所述上部位置之间,且彼此接触。在中间转印带56和相应感光鼓51之间的接触部构成一次转印压区T1。
[0050] 带传送辊57使中间转印带56介于带传送辊57和二次转印辊59之间,且彼此接触。在中间转印带56和二次转印辊59之间的接触部构成二次转印压区T2。
[0051] 控制电路部C控制各个成像站UY、UM、UC、UK,以基于成像开始信号和针对所输入的彩色图像的颜色分离分量图像信号来执行成像操作。结果,在成像站UY、UM、UC、UK,分别以预定的控制定时在相关的旋转感光鼓51上形成黄色、品红色、青色和黑色的调色剂图像。用于在感光鼓51上形成调色剂图像的电子照相成像原理和过程是众所周知的,因此在此省略说明。
[0052] 上述在所述成像站的感光鼓51表面上形成的颜色调色剂图像以叠加的方式在相应的一次转印压区T1被相继地转印到转动的中间转印带56上。在所述一次转印过程中,对各一次转印辊54施加预定的转印偏压。结果,通过四个颜色调色剂图像Y、M、C、以及K的叠加,在中间转印带56的表面上形成未经定影的全色调色剂图像。
[0053] 在所述调色剂图像被一次转印到中间转印带56上之后,各成像站的鼓清洁装置55将残留在感光鼓51上的一次转印残留调色剂清除。
[0054] 控制电路部C以预定片材进给时间驱动片材进给辊62。结果,从叠放并容置有片状记录材料(转印纸)P的片材进给盒61中分离并进给一页记录材料P,该页记录材料P随后经由竖直传送路径63传送到对齐辊对64。
[0055] 这时,使对齐辊对64停止转动,且由对齐辊对64的压区来接收记录材料P的前边沿,以对记录材料P的歪斜移动进行校正。随后,对齐辊对64以预定的定时传送记录材料P,以使记录材料P的所述前边沿抵达压区T2与所述转动带上形成的全色调色剂图像的前端抵达压区T2同步。结果,在二次转印压区T2,全色调色剂图像的组成部分调色剂图像同时从中间转印带56二次转印到记录材料P的表面上。在二次转印过程中,对二次转印辊59施加预定的转印偏压。
[0056] 将从二次转印压区T2出来的记录材料P从中间转印带56的表面上剥离并导入到定影装置65。通过定影装置65,上述的多个所述颜色调色剂图像在加热和压力下融合并定影,从而作为定影图像定影在记录材料P的表面上。从定影装置65出来的记录材料P作为全色成像成品经由传送辊对66和片材排出辊对67而被排出到片材输出盘68上。
[0057] 通过设置在中间转印带56外侧、从而隔着中间转印带56面向带传送辊58的带清洁装置69,将残留在中间转印带56上的二次转印残留调色剂残留物清除。
[0058] 设置有作为颜色偏差量检测装置的重合检测传感器(以下称为“重合传感器”)S。该重合传感器S通过检测形成于中间转印带56上的各个颜色的重合校正图案来检测颜色重合失调量,并反馈至控制电路部C。基于由重合传感器S检测到的颜色重合失调量,通过以电学方式校正图像数据的写入定时,控制电路部C校正由于上页边和侧页边所导致的所述颜色重合失调。此外,针对可能由于放大率引起的颜色重合失调,可以通过精密地改变图像时钟频率来实现一致地放大。
[0059] (2)光学扫描设备E
[0060] 在下面的说明中,以自定义的方式,“主扫描方向”是指鼓纵向方向(即感光鼓轴线方向或感光鼓母线方向),或者与这个方向相对应的方向,光学扫描设备E的扫描光学系统沿该方向对作为待扫描表面的感光鼓表面进行光学扫描。“副扫描方向”指的是与鼓纵向方向(主扫描方向)相垂直的方向,或者与这个方向相对应的方向。图1和图2示出了沿副扫描方向剖切的横截面。
[0061] 光学扫描设备E为激光扫描仪,并包括光学系统壳体(箱形壳体)6,在光学系统壳体(箱形壳体)6中容置构成所述扫描仪的各种光学构件(光学元件)。如稍后具体说明的,所述各种光学元件包括:激光单元、入射侧光学系统、作为偏转扫描手段的偏转装置、发射侧光学系统、用于确定光通量(光束)写入定时的同步检测元件等。通过诸如螺接、弹性压制和粘接之类的连接固定方式,将这些不同的光学元件以预定位置和预定布局固定在光学系统壳体6内。光学系统壳体6的上表面为敞开面(敞开部),并从所述敞开面将上述各种光学元件结合到光学系统壳体6中。所述敞开面由覆盖元件(顶盖)6a覆盖,从而将所述敞开面密封(封闭)。覆盖元件6a设置有狭缝窗6b,光束LY、LM、LC、LK分别通过所述狭缝窗6b朝上述第一至第四成像站的感光鼓发射。各狭缝窗6b设置有防尘透光元件6c。
[0062] 光学系统壳体6和覆盖元件6a由例如合成树脂材料(诸如聚苯醚(PPE)或通过混合玻璃纤维而加强的聚苯乙烯(PS))制造,而且是由金属模制制备的模制件(玻璃纤维加强树脂材料制成的注塑件)。
[0063] 图3是光学系统壳体6的立体图,其中覆盖元件6a从其上拆下以示出光学系统壳体6的内部;图4是光学系统壳体6的俯视图,其中覆盖元件6a从其上拆下以示出光学系统壳体6的内部。
[0064] 在光学系统壳体6底部的大致中心部位设置偏转装置2A。图5是偏转装置2A自身的外观立体图。偏转装置2A包括基板(基座)2c和固定在基板2c上的马达(多面反射镜马达)M。此外,偏转装置2A包括:多面反射镜(可旋转多面反射镜)2,其固定于马达的转轴2a上部,作为利用从光源发出的光对待扫描面进行偏转-扫描的偏转元件;以及马达控制电路部2b,其设置在基板2c上,并包括集成电路(IC)等。马达M为用于驱动多面反射镜2的驱动装置,并且例如是无刷直流马达。在将基板2c定位在光学系统壳体6底部的大致中央部位的预定位置处之后,通过利用螺钉15(图8)将基板2c连接于光学系统壳体6的底板6d来设置偏转装置2A。
[0065] 在该实施方式中,通过马达M使多面反射镜2沿如图4中的箭头所示的逆时针方向高速(一般在约20000转/分钟至约40000转/分钟的范围内)旋转。
[0066] 在该实施方式中,光学扫描设备E利用单个多面反射镜2来执行对多个待扫描表面(第一至第四成像站处的感光鼓表面)进行扫描曝光。出于此目的,在多面反射镜转轴2a的两侧(图2和图4中的左手侧和右手侧)分别设置第一光学系统F和第二光学系统G,各所述光学系统用于在待扫描表面上形成多面反射镜2进行偏转扫描所使用的光束的图像。在此,这种类型的光学扫描设备称为“对置型(opposingtype)光学扫描设备”(具有相对设置的扫描系统的光学扫描设备)。
[0067] 第一光学系统F和第二光学系统G为两侧(左-右)对称的光学系统。第一光学系统F和第二光学系统G各包括入射侧光学系统(转换光学系统)和发射侧光学系统。
[0068] 入射侧光学系统为用于在多面反射镜2上形成由从作为光源的半导体激光器发射出的激光(光束)所构成的图像的成像光学系统。该入射侧光学系统由复合透镜构成,所述复合透镜具有准直器透镜(准直透镜)和柱面透镜的功能,并用于将激光光束以在主扫描方向上呈长线形状的方式会聚在多面反射镜上。
[0069] 发射侧光学系统为在作为待扫描表面的感光鼓表面上形成激光(其用来通过多面反射镜2进行偏转扫描)的图像的扫描光学系统,并且由用于进行fθ校正的透镜和折叠式反射镜构成。
[0070] 用于第一光学系统F的激光单元101a(第一激光单元)包括作为用于发射光(激光)的光源的第一和第二(两个)半导体激光器1a和1b。第一半导体激光器1a和第二半导体激光器1b设置成在竖直方向上具有合适的间隔。
[0071] 用于第二光学系统G的激光单元101b(第二激光单元)包括作为用于发射光(激光)的光源的第三和第四(两个)半导体激光器1c和1d。第三半导体激光器1c和第四半导体激光器1d也设置成在所述竖直方向上具有合适的间隔。
[0072] 第一激光单元101a和第二激光单元101b分别以预定角度固定于光源固定部6g和6h。就是说,第一激光单元101a和第二激光单元101b相对于Z方向具有斜入射角,并且设置成使得各自的激光束在多面反射镜2的偏转面上彼此相交。
[0073] 第一半导体激光器1a为用于第一成像站UY的光源,并发射被相应调制成全色图像的分离的Y颜色分量图像的图像信号的激光。第二半导体激光器1b为用于第二成像站UM的光源,并发射被相应调整成全色图像的分离的M颜色分量图像的图像信号的激光。
[0074] 第三半导体激光器1c为用于第三成像站UC的光源,并发射被相应调制成全色图像的分离的C颜色分量图像的图像信号的激光。第四半导体激光器1d为用于第四成像站UK的光源,并发射被相应调制成全色图像的分离的K颜色分量图像的图像信号的激光。
[0075] 图6是第一激光单元101a(或第二激光单元101b)的副扫描剖视图。准直透镜11a(11c)和11b(11d)将从半导体激光器1a(1c)和1b(1d)发射出的发散光通量会聚成大体平行的光通量。光阑(孔径光阑)12a(12c)和12b(12d)使从半导体激光器1a(1c)和
1b(1d)发射出的所述激光通量形成为期望的最佳光通量。
[0076] 在该实施方式中,从所述半导体激光器1a(1c)和1b(1d)发射出的经光学调制的各光通量被转换成大体平行的光通量。随后,使所述光通量形成为期望的最佳光通量。此后,所述光通量入射到柱面透镜上。在进入到柱面透镜中的大体平行的光通量中,那些在主扫描横截面中的光通量被发射出去。此外,在副扫描横截面上的光通量被会聚,从而将图像以线图像提供至多面反射镜2的偏转面上。
[0077] 上述包括准直透镜和柱面透镜的复合透镜构成所述入射侧光学系统(会聚光学系统)并使从所述半导体激光器发射出的激光(光通量)在多面反射镜2上提供图像。所述复合透镜被调整并固定在针对各激光通量均能确保照射位置和焦点的位置。从第一激光单元101a和第二激光单元101b倾斜发出的两束激光通量通过上述复合透镜而在副扫描方向上被会聚,以在偏转装置2A的多面反射镜2上的单个反射点处形成线图像。
[0078] 通过相关的针对所述光通量的发射侧光学系统,在多面反射镜2上的偏转面处被偏转并反射的光通量被会聚到感光鼓表面,从而,通过多面反射镜2的转动,利用所述光通量沿主扫描方向对所述感光鼓表面进行恒速扫描。就是说,所述两束激光通量(其将由多面反射镜的反射面反射并将进行偏转扫描)被所述反射面以竖直翻转的关系斜向反射,从而朝着所述发射侧光学系统的、作为fθ透镜的成像透镜3a和3b行进。
[0079] 图7是入射侧光学系统和发射侧光学系统的展开示意图,包括从单个光源1至单个待扫描表面51a之间的多个光学元件。省略了所述折叠式反射镜。从光源1发射出的光穿过准直透镜11,并转换成平行光通量(光束)。随后,所述光通量通过柱面透镜13并将图像提供于多面反射镜2的表面上。然后,由多面反射镜2偏转的所述光通量穿过第一成像透镜(fθ透镜)3以及第二成像透镜(fθ透镜)4,并在作为待扫描元件的感光鼓51的表面51a上提供所述图像。通过第一成像透镜3和第二成像透镜4,对扫描光进行fθ校正。在副扫描方向上的成像主要由第二成像透镜4来进行。附图标记14表示用于确定所述光通量的写入定时的同步检测元件。
[0080] 具体地,针对第一成像站UY处的感光鼓表面的激光扫描曝光由第一光学系统F沿着以下顺序的路径来进行,即第一半导体激光器1a、准直透镜11、柱面透镜13、导光路径113、多面反射镜2、第一成像透镜3a、第二成像透镜4a、折叠式反射镜5a、狭缝窗6b以及防尘玻璃元件6c的顺序。
[0081] 针对第二成像站UY处的感光鼓表面的激光扫描曝光由第一光学系统F沿着以下顺序的路径来进行,即第二半导体激光器1b、准直透镜11、柱面透镜13、导光路径113、多面反射镜2、折叠式反射镜5b、折叠式反射镜5c、第二成像透镜4b、折叠式反射镜5d、狭缝窗6b以及防尘玻璃元件6c的顺序。
[0082] 针对第三成像站UC处的感光鼓表面的激光扫描曝光由第二光学系统G沿着以下顺序的路径来进行,即第三半导体激光器1c、准直透镜11、柱面透镜13、导光路径114、多面反射镜2、折叠式反射镜5e、折叠式反射镜5f、第二成像透镜4c、折叠式反射镜5g、狭缝窗6b以及防尘玻璃元件6c的顺序。
[0083] 针对第四成像站UK处的感光鼓表面的激光扫描曝光由第二光学系统G沿着以下顺序的路径来进行,即第四半导体激光器1d、准直透镜11、柱面透镜13、导光路径114、多面反射镜2、第一成像透镜3b、第二成像透镜4d、折叠式反射镜5h、狭缝窗6b以及防尘玻璃元件6c的顺序。
[0084] 在上述路径中,第一及第二成像透镜3a、3b、4a和4b均为fθ透镜系统。与第一成像透镜3a和3b相比,第二成像透镜4a和4b的位置更接近于所述待扫描表面。
[0085] 图8是示出设置有偏转装置2A的部分的放大俯视图。图9A和图9B是沿图8所示的(9)-(9)线剖取的放大剖视图。
[0086] 在光学系统壳体6中,肋7a、7b、8a和8b设置于光学系统壳体底板6d上,并位于光学系统壳体6的底部并且位于偏转装置2A突出到光学系统壳体6的底部上的区域(突出表面)之外,以面向多面反射镜2。就是说,肋7a、7b、8a和8b设置在用于支撑偏转装置2A的支撑面上,以面向作为偏转元件的多面反射镜2。这些肋7a、7b、8a和8b为突出肋,其具有确保整个光学系统壳体6的刚性的功能并与光学系统壳体6的所述底部相交(下文中称为“侧壁”)。
[0087] 侧壁7a定位在多面反射镜2和第一光学系统F侧的第一成像透镜3a之间的位置。侧壁7b定位在多面反射镜2和第二光学系统G侧的第一成像透镜3b之间的位置。所述侧壁7a和7b设置有开口(框形部分)10a和10b。由多面反射镜2偏转并反射的光通量穿过开口10a和10b,以进入到第一光学系统F和第二光学系统G中。就是说,只有穿过开口
10a和10b的光通量才能达到所述感光鼓表面。
[0088] 此外,在光学系统壳体6的底部、邻近侧壁7a和7b处设置有贯穿光学系统壳体底板6d的开口9a和9b。在图8、图9A和图9B中,开口9a和9b以具有大体直线构型的长狭缝形状分别沿着侧壁7a和7b设置在多面反射镜2和侧壁7a之间、以及多面反射镜2和侧壁7b之间,并设置成相邻于侧壁7a和7b的基部且大体平行于侧壁7a和7b。
[0089] 此外,针对开口9a和9b,设置有用于挡住开口9a和9b以防止诸如尘埃或细毛之类的污物从外界进入到光学系统壳体6内部的挠性防尘部件(密封部件)。防尘部件16a和16b为例如具有挠性的密封件。
[0090] 侧壁7a、7b、8a和8b具有如所述肋一样地用于确保如上所述的整个光学系统壳体的刚性的功能,并还具有作为另一功能的防止眩光(flare light)到达感光鼓表面的功能(作为眩光阻止壁的功能)。尤其是,侧壁7a和7b防止眩光从对置扫描系统的一侧到达对置扫描系统另一侧的感光鼓表面。
[0091] 如上所述的开口9a和9b具有这样的功能,即在周围温度随时间发生变化的情况下遏制整个光学系统壳体的变形。
[0092] 参照图10(a)和图10(b),将说明上述从对置扫描系统的一侧到另一侧的眩光以及用于防止所述眩光的侧壁。
[0093] 如上所述,在第一光学系统F和第二光学系统G中,从入射侧光学系统入射到多面反射镜2上、并由多面反射镜2的偏转面偏转并反射的光通量经过发射侧光学系统,抵达第一至第四成像站UY、UM、UC、和UK处的感光鼓表面。
[0094] 然而,进入到第一光学系统F侧的发射侧光学系统的第一成像透镜3a的光通量中的一部分和进入到第二光学系统G侧的发射侧光学系统的第二成像透镜3b的光通量中的一部分在成像透镜3a和3b的分界面(表面)处被反射,随后朝多面反射镜2侧返回,从而提供光通量201a至201d。
[0095] 作为进入第一成像透镜3a和第二成像透镜3b的所述光通量的一部分的、朝多面反射镜2侧返回的这些被反射的光通量201a至201d通过多面反射镜2再次进入对置的成像透镜3a或3b(其设置成与另一个成像透镜3b或3a相对)。这些光通量能够到达与初始经历曝光的那些感光鼓表面不同的感光鼓表面。也存在着这样的可能性,即在光通量201a至201d由多面反射镜2再次反射之后,光通量201a至201d到达与基于相关成像而原始确定的曝光位置不同的位置,或沿着其它光路行进。
[0096] 在此,沿与用于扫描曝光的光通量的原定光路不同的光路行进的光通量称为“眩光”。
[0097] 当所述眩光到达所述感光鼓表面时,将产生调色剂沉积到与原定成像位置不同的位置上的不良图像。
[0098] 在该实施方式中,通过设置侧壁7a、7b、8a和8b,可确保光学系统壳体6的刚性,并且还可防止上述眩光。尤其是,通过设置侧壁7a和7b,可以可靠地防止来自所述对置扫描系统相对侧的眩光。
[0099] 然而,邻近多面反射镜2设置侧壁7a、7b、8a和8b也导致存在着不利影响。就是说,当侧壁7a、7b、8a和8b定位在多面反射镜2附近时,通过旋转驱动多面反射镜2使偏转装置2A产生热,由于多面反射镜2的转动产生了对流热传递,使得侧壁7a、7b、8a和8b的温度快速增加。结果,温度增加的侧壁7a、7b、8a和8b局部热膨胀,由此导致整个光学系统壳体的扭曲变形。
[0100] 参照图11、图12A和图12B,将说明由于光学扫描设备的温升导致的光学系统壳体6的变形以及照射位置波动。
[0101] 在光学扫描设备E中,当多面反射镜2受到旋转控制以用于成像时,容置在光学系统壳体6内的所述光学元件被偏转装置2A的马达M或诸如IC等的马达控制基板2b所产生的热加热。
[0102] 当温度随时间变化时,光学系统壳体6或所述光学元件产生变形,从而引起光路误差,并导致产生照射位置上或在入射上的变化,或者导致产生弯曲。尤其是,与采用诸如铝之类的金属制成的光学系统壳体相比,在采用由塑料制成的光学系统壳体的情况下,线膨胀系数大而热传导性低。由此,所述光学系统壳体的变形量更大。此外,由于复杂的变形,在相应成像站中存在着入射位置的各种变化,从而所述变化导致颜色重合失调以及颜色不均匀,由此降低了画质。
[0103] 当多面反射镜2以预定速度被转动时,位于多面反射镜2(偏转装置2A)周边处的侧壁7a和7b的温度增加尤其快速。温度急剧上升的原因在于:由于多面反射镜2的旋转空气流导致的对流热传递,使得侧壁7a和7b被快速加热。当由于所述对流热传递而使光学系统壳体6的一部分被快速加热时,在光学系统壳体6中产生温度上的不同分布,于是光学系统壳体6产生大的变形。就是说,如上所述,设置用来确保所述刚性并防止眩光的侧壁7a、7b、8a和8b会引起光学系统壳体6大变形的不良效果。
[0104] 图11是当光学系统壳体6在其底部未设置有开口时光学系统壳体6的局部放大图。图12A和图12B为当如图11所示光学系统壳体6在其底部未设置有开口时针对光学系统壳体6的温度升高过程中的变形状态的模拟结果的示意图。图12A是示出光学系统壳体6变形模拟结果的立体图,而图12B是示出光学系统壳体6变形模拟结果的侧视图(如沿图12A、图3和图4所示的箭头A方向所视)。图12A和图12B是光学系统壳体6的略夸张的视图,其中变形程度被夸张,以易于理解。
[0105] 所述模拟结果是这样的结果,即基于光学扫描设备运行过程中(在激光器启动过程中且在多面反射镜马达的驱动过程中)的温度升高量的实际测量值,通过模拟进行热流分析和热变形分析。利用个人计算机来进行所述分析,且所采用的分析软件是采用通用有限元方法的模拟软件。
[0106] 如图12A和图12B的模拟结果所示,当因多面反射镜2的旋转而产生的热导致光学系统壳体6的温度增加时,光学系统壳体6产生向上凸的变形。结果,光学系统壳体6的外壁6e和6f朝着光学系统壳体6的外部变形。此时,由于光学系统壳体6的外壁6e的变形,安装于外壁6e上的激光单元101a和101b也朝外发生变形。当激光单元101a和101b发生变形时,入射在多面反射镜2上的光的光轴产生倾斜,从而引起照射位置的变化和弯曲。尤其是,对于由激光单元101a和101b变形造成的照射位置变化量的敏感性要大于由其它光学元件变形造成的照射位置变化量的敏感性。当光学系统壳体6的所述变形复杂时,在各成像站产生的照射位置的变化量不同,由此引起诸如颜色重合失调或颜色不均匀之类的不良成像。
[0107] 在本实施方式的诸如光学扫描设备E之类的对置式扫描型设备中,在激光单元101a和101b设置在相同侧(即在外壁6e上)的情形下,在所述温度升高的过程中,各激光单元101a和101b在相同的方向产生变形。此时,隔着多面反射镜2彼此相对设置的所述成像站的照射位置被改变成相反方向,于是尤其是易于显著地发生颜色重合失调等,且易于降低画质。
[0108] 接着,将参照图13、图14和图23来说明将开口9a和9b设置于光学系统壳体6底部的效果。
[0109] 图23是示出了一光学扫描设备的示意图,其中在安装有多面反射镜2的底部未设置有任何开口。图13是一光学扫描设备的示意图,其中在所述底部设置有开口9a和9b。在图23所示的光学扫描设备中,在侧壁7a(7b)受多面反射镜2的旋转驱动所产生的热的影响而产生热膨胀时,具有高刚度的所述底部不太易于消除所述变形。因此,沿向上和水平方向易于产生一定程度的变形。结果,整个光学系统壳体6变成具有上凸形状(图12A和图12B)。
[0110] 另一方面,在具有图13所示构造的光学扫描设备中,在邻近壁7a(7b)的基部设置有如图8和图9所示的开口9a(9b),以在因多面反射镜2的旋转驱动产生的热而使侧壁7a(7b)产生热膨胀时,可消除图24所示的变形。就是说,侧壁7a(7b)还可在向下方向上变形,于是,在变形过程中作用在所述光学系统壳体上的力被分散了。结果,消除了整个光学系统的所述上凸变形。
[0111] 通过这种构型,可防止在待扫描表面上产生照射位置变化、扫描线倾斜、弯曲等。
[0112] 为了调整扫描线形成位置,存在着这样的校正方法,其中,基于所检测到的重合失调量,对用来检测感光鼓上各颜色之间出现的重合失调的调色剂图像以及光发射定时进行控制(自动重合校正)。每次完成预定数量的成像时均进行所述自动重合校正。形成所述用来检测颜色重合失调的调色剂图像,并在形成所述调色剂图像的时间段内进行所述成像。然而,通过采用上述方式,可将诸如自动重合校正等之类的为了检测扫描线形成位置而进行的调整的频率遏制在最低水平。因此,可避免降低生产率。
[0113] 此外,通过采用这种光学扫描设备,即使在用于进行彩色打印等的成像设备中周围温度发生变化,也可容易地获得具有极少颜色不均匀或颜色重合失调的良好图像。由此,可同时促进尺寸的缩减和性能的提高。
[0114] 图14是示出了当光学系统壳体6底部设置有开口(狭缝)9a和9b时和当光学系统壳体6底部未设置有开口(狭缝)时,利用安装在光学系统壳体6的所述外壁上的激光单元101a和101b的经换算的变形量来表示的、整个光学系统壳体变形量的实际测量值的曲线图。图14是示出了在25℃的周围温度下,多面反射镜2被旋转驱动一定时间时,激光单元101a和101b变形量的曲线图。纵坐标代表用变形角度(″)(秒)表示的激光单元101a(101b)的变形量。横坐标表示从光学扫描设备开始运行起(启动激光器并驱动所述多面反射镜)所经历的时间(秒)。激光单元101a(101b)的变形量大体等于其上安装所述激光单元101a(101b)的侧壁的变形量。
[0115] 图14所示的变形量的测量方法如下。在光学扫描设备运行(启动激光器并驱动所述多面反射镜)期间,利用角位移测量计(测量装置)测量所述激光单元的倾斜(变形)角度。在该实施方式中,反射镜连接于所述激光器单元且利用自准直仪测量角位移量,在本说明中省略自准直仪的原理。
[0116] 如图14所示,与光学系统壳体6底部未设置有开口9a(9b)的情形相比,当光学系统壳体6的底部设置有开口9a(9b)时,激光单元101a(101b)的变形量降低了大约一半。
[0117] 在该实施方式中,在光学系统壳体6底部沿着侧壁7a和7b设置开口9a和9b的原因包括下述1)和2)两个因素:
[0118] 1)最靠近多面反射镜2的壁升温最快;以及
[0119] 2)侧壁7a(7b)的变形方向与使激光单元101a(101b)(其对于照射位置变化极为敏感)变形的方向相同。
[0120] 在将开口9a和9b应用到其它光学扫描设备的情形中,与该实施方式中所描述的位置相对应的位置可能不一定总是最佳的。最佳位置根据诸如光学系统壳体的形状和温度分布之类的参数、光学系统壳体的不希望的变形方向、以及周围温度的变化量而变化。
[0121] 在该实施方式中,开口9a和9b设置在光学系统壳体6的底部。作为另一实施方式,如图15所示,开口9a和9b也可设置于侧壁7a和7b。通过在用于使激光通过的开口10a和10b的下部设置开口9a和9b,即便侧壁7a和7b产生热膨胀,也可减少光学系统壳体6的变形量。
[0122] 此外,如图9B所示,在所述底部的与侧壁7a和7b的基部相邻处设置切口9c。在图9B中,侧壁7a侧的表面和所述底部的表面彼此分离。就是说,所述两个表面彼此接触且可相对移动。因此,在侧壁7a发生变形时,仅侧壁7a产生向下的变形,于是所述底部不太容易变形。
[0123] [实施方式2]
[0124] 图16至图18是三个俯视图,各示出了在另一实施方式中设置于光学系统壳体6的底部的开口9a和9b的形状和位置。
[0125] 1)在图16中,开口9a和9b设置于光学系统壳体6的底部的与侧壁7a和7b相邻的位置处。所述开口9a和9b以断续的长狭缝(点线或虚线)形状分别设置成在多面反射镜2和侧壁7a之间以及多面反射镜2和侧壁7b之间,并邻近于所述侧壁的基部、且大体平行所述侧壁并沿着所述侧壁来设置。
[0126] 2)在图17中,开口9a和9b设置于光学系统壳体6的底部的与侧壁8a和8b相邻的位置处。所述开口9a和9b以长狭缝形状(大体直线形状)分别设置在多面反射镜2和侧壁8a之间以及多面反射镜2和侧壁8b之间,并邻近于所述侧壁的基部、且大体平行所述侧壁并沿着所述侧壁来设置。
[0127] 3)在图18中,开口9a和9b设置于光学系统壳体6的底部的与侧壁7a和7b和侧壁8a和8b相邻的位置处。所述开口9a和9b以非线性长狭缝形状(L形状)设置在多面反射镜2和相应侧壁之间,并邻近于所述侧壁的基部、且大体平行所述侧壁并沿着所述侧壁来设置。
[0128] 4)如上所述,根据诸如光学系统壳体形状、以及光学系统壳体的温度分布之类的条件,可以优选地选择开口9a和9b的最佳形状和位置。除了图8、图9A、图9B、图16、图17和图18所示的形状和位置之外,也可以选用其它形状和位置。
[0129] 例如,开口9a和9b还可以设置在相关侧壁的、与该相关侧壁面向多面反射镜2的一侧相反的一侧上,并在布局上设置成:以直线形状、以非线性形状、以点线形状等形状、与所述侧壁的基部邻近、平行于所述侧壁、并沿着所述侧壁设置开口9a和9b。
[0130] 此外,可以以上述各种布局的合适组合来设置开口9a和9b。
[0131] 顺便说明一点,还要考虑的是,开口9a和9b会使光学系统壳体6的刚性降低,因此要求所述开口的开口形状以及布局与光学系统壳体6所必须的刚性平衡。
[0132] 在该实施方式中,为了采用防尘手段,采用这样的构造,即设置在光学系统壳体6底部的开口9a和9b将由防尘部件16a和16b覆盖。然而,也可采用这样一种构型,即开口9a和9b敞开,以积极地将由多面反射镜2的旋转驱动产生的热与穿过所述开口9a和9b的空气流一起散去。通过采用这些构型,可获得防止进一步温度升高的效果。此外,出于防尘考虑,还可采用这样一种构型,即,诸如滤尘器之类的可过滤元件设置于开口9a和9b,以仅允许空气通过。
[0133] 该实施方式中的光学扫描设备E为对置式扫描型设备,其在单个偏转元件的旋转轴的两侧的每一侧分别包括上述入射侧光学系统和射出侧光学系统,以利用所述单个偏转元件将多个待扫描表面进行曝光。本发明的光学扫描设备不限于所述对置式扫描型设备,其还可是这样的针对单个偏转元件的光学扫描设备,其包括至少一个入射侧光学系统和至少一个射出侧光学系统。
[0134] 在该实施方式中的光学扫描设备E,即使其为对置式扫描类型,也能通过简单的构型,将因周围温度变化而使光通量偏离光轴从而导致像面上像差的恶化处于最小水平,并由此可确保画质。
[0135] 结果,也可将针对周围温度随时间的变化所进行的诸如自动重合等的调整的频率遏制在最低水平,并由此避免降低生产率。
[0136] 此外,通过采用这种光学扫描设备,即使在用于进行彩色打印等的成像设备中周围温度发生变化,也不会使性能下降。
[0137] [实施方式3]
[0138] 图19至图23是用于说明该实施方式的示意图。与实施方式1和实施方式2相同的光学扫描设备E的构成元件或部分由相同的附图标记来表示,因此省略了多余的解释。
[0139] 如图19和图20所示,与实施方式1和实施方式2类似,该实施方式中的光学扫描设备将开口9a和9b设置于光学系统壳体底板6d。所述光学系统壳体包括第一室104,其作为将多面反射镜2容置于内的容置部。此外,所述光学系统壳体包括封闭空间部(第二室)102,所述第二室通过作为用于支撑多面反射镜2的支撑面的光学系统壳体底板6d而与第一室104隔开;且所述第二室被封闭,以与所述光学系统壳体的外部隔离。在支撑面6d上形成有面向多面反射镜2设置的肋7a和7b。在支撑面6d上的肋7a和7b的基部附近设置有用于建立第一室和第二室之间连通的开口9a和9b。光学系统壳体底板6d的外侧设置有屏蔽部件103,屏蔽部件103与光学系统壳体底板6d一起构造出所述的封闭空间部102,开口9a和9b在封闭空间部102处敞开。屏蔽部件103设置在光学系统壳体底部。
[0140] 就是说,光学系统壳体6包括:所述第一室,其内至少容置有偏转装置2A;以及所述第二室102,其通过偏转装置支撑面来与所述第一室隔开,且第二室102被封闭以与所述光学系统壳体的外界隔离。此外,所述光学系统壳体包括用于建立所述第一室104和所述第二室102之间的连通的所述开口9a和9b,所述开口9a和9b位于所述支撑面上的面向偏转装置2A的肋7a和7b附近。
[0141] 为了提高组装性能,在该实施方式中,所述光学扫描设备采用了这样一种构型,即从光学扫描设备E的上方将诸如成像透镜、多面反射镜马达、以及折叠式反射镜之类的各个光学部件(光学元件)组装到光学系统壳体6中。因此,在光学系统壳体的背侧上不存在任何光学部件。
[0142] 如图20所示,开口9a和9b与图8、图9A和图9所示的构造相类似地设置。就是说,这些开口9a和9b以长狭缝形状(大体直线形状)分别设置在多面反射镜2和侧壁7a之间以及多面反射镜2和侧壁7b之间,并设置成邻近所述侧壁7a和7b的底部、沿着所述侧壁7a和7b且大体平行于所述侧壁7a和7b。这是因为,由多面反射镜2的旋转产生的沿着侧壁7a和7b流动的空气气流易于朝着光学系统壳体6的背侧(朝着光学系统壳体底板6d的外部)流动。
[0143] 图21的示意图通过箭头示出了空气在光学扫描设备E中流动的情形。如图所示,通过多面反射镜2的驱动,由多面反射镜2旋转产生的空气流(气流)冲击设置于光学系统壳体6的侧壁7a和7b的壁面,并随后向下移动并穿过开口9a和9b,并到达光学系统壳体6背侧。已到达光学系统壳体6背侧的热空气流将对形成于光学系统壳体底板6d外侧的所述封闭空间部102进行加热。结果,从光学系统壳体6和遮盖元件6a之间的空间中发散到光学壳体6中的热量降低。对应于所述热量的降低,也降低了提供给组装于光学系统壳体6内的所述光学部件的热量。
[0144] 在开口9a和9b的整个区域中,所述空气并非始终朝光学系统壳体6的背侧流动,而是通过所述朝着光学系统壳体6背侧流动的所述空气,存在于封闭空间部102内的所述空气中的一部分将回流到光学系统壳体6中。然而,这几乎意味着,存在于光学系统壳体6的背侧的封闭空间部102内的空气将流入到光学系统壳体6中。因此,可以确保所述光学部件的温度保持适度增加的效果,直到光学系统壳体底板6d的内外侧温差消除为止。
[0145] 形成于所述光学系统壳体背侧上的所述封闭空间部102的空间越小,则所述封闭空间部102的热容量降低得越多。因此,显然,确保封闭空间部102尽可能地大将是有效的。
[0146] 此外,当屏蔽部件103由金属部件、尤其是由诸如铝材料之类的金属制部件构成时,可有效地将所述热散发到所述光学扫描设备的外部,于是可遏制所述光学扫描设备自身的温度升高。
[0147] 图22是用于确认由形成于所述光学系统壳体背面处的所述封闭空间部导致的颜色重合失调变化的效果的曲线图。在针对这个目的所进行的试验中,针对以下两个构造1)和2)来评估变化率和变化量。
[0148] 1)构造,在该构造中,开口9a和9b如图8、图9A和图9B所示地形成并由开口9a和9b背侧上的作为防尘元件的挠性密封元件16a和16b密封(遮盖)(“开口密封”),以及
[0149] 2)构造,在该构造中,如本实施方式一样,开口9a和9b设置于光学系统壳体底板6d。此外,光学系统壳体底板6d的外侧设置有铝制屏蔽部件103,屏蔽部件103与光学系统壳体底板6d一起构成所述的封闭空间部102,开口9a和9b在封闭空间部102处敞开(“带有背侧空间”)。
[0150] 图22中所示的数据为作为代表性数据的、在图像中心位置处沿副扫描方向上的测量数据。在其它曝光位置,由于倾斜和弯曲的影响,颜色重合失调量不同于图22所示的颜色重合失调量,但是显而易见的是可获得相类似的效果。
[0151] 开口9a和9b不是必须要如图19所示的那样相对于多面反射镜2以左右对称对称方式设置。此外,开口9a和9b也不是必须要设置在两个位置,而可以在单个位置处设置开口9a和9b中的任一个开口。然而,在所述单个位置处设置所述开口的情况下,流入到位于光学系统壳体6背侧上的封闭空间部102内的空气量减少,于是降低了遏制(消除)颜色重合失调的效果。此外,只要沿着位于多面反射镜2周边处的所述侧壁来构造开口9a和9b,则开口9a和9b就可设置在任何位置。例如,如图23所示,可沿与图19所示的开口9a和9b的方向相垂直的方向来设置开口9a和9b。此外,开口9a和9b的长度不必等于所述侧壁的整个长度,但是也可等于所述整个长度的一部分。
[0152] 在上述说明中,描述了其中利用单个多面反射镜马达(单个多面反射镜)来进行多个感光鼓的曝光的这种类型的光学扫描设备。然而,在本发明中,甚至其中使用多个光学扫描设备以用于相应颜色的曝光的这样一种方法也可遏制各光学扫描设备的升温量,由此获得同样的效果。
[0153] 依据该实施方式的所述构造,可遏制或消除颜色重合失调的变化率和变化量,同时还能令人满意地保持所述光学扫描设备的组装性能。
[0154] 如上文所述,在待要安装在包括多个感光鼓的成像设备中的光学扫描设备中,采用了这样一种构型,即从同一方向将多面反射镜马达、折叠式反射镜、成像透镜等组装到所述光学系统壳体内。在所述多面反射镜的周边处、朝着反向于所述光学扫描设备有关的所述感光鼓的方向形成所述开口。此外,将用于对整个光学扫描设备或光学扫描设备的一部分进行屏蔽的屏蔽元件安装于所述开口的背侧,由此在所述光学系统壳体和所述屏蔽元件之间形成一空间。结果,可以遏制或消除颜色重合失调的变化率和变化量,同时令人满意地保持所述光学扫描设备的组装性能。
[0155] 本发明还可结合常规光学扫描设备的构造来实施。
[0156] 尽管参照在此披露的结构来说明本发明,但是本发明并不受限于上述细节,且本申请意图覆盖那些可落入随附权利要求的范围内或处于改进目的内的修改或变化。