一种浮块测试器(10)，包括盘(11)、可动桌台(12)、桌台驱动机构(13)、引导件(14)等。多个悬架(30A、30B、30C)安装在可动桌台(12)上。浮块(50)安装在各悬架(30A、30B、30C)上。引导件(14)可支承悬架(30A、30B、30C)的相应提升凸片(40)。引导件(14)具有第一引导表面(71)、第二引导表面(72)和开口(73)，它们相对于盘(11)的轨道宽度方向(B)设置。当任何提升凸片(40)随着可动桌台(12)沿盘(11)的轨道宽度方向(B)移动到开口(73)时，浮块(50)朝向盘(11)的记录表面(11a)下降。
1.一种用于检查盘驱动器的浮块(50)的浮块测试器(10)，其特征在于，包括：
转动机构(17)，所述转动机构(17)使所述盘(11)转动；
悬架(30A、30B、30C)，所述悬架包括其远端上的提升凸片(40)和其上安装有所述浮块(50)的万向架部分(45)；
可动桌台(12)，所述可动桌台沿所述盘(11)的轨道宽度方向(B)可移动；
桌台驱动机构(13)，所述桌台驱动机构沿所述轨道宽度方向(B)移动所述可动桌台(12)；
信号处理部分(15)，所述信号处理部分电气连接到所述浮块(50)的构件(60)并处理信号以访问所述盘(11)的记录表面(11a)；以及引导件(14)，所述引导件(14)位于所述提升凸片(40)和所述盘(11)的所述记录表面(11a)之间并支承所述提升凸片(40)，由此防止所述浮块(50)落到所述盘(11)上，所述可动桌台(12)包括悬架支承部分(25)，所述悬架支承部分(25)保持沿所述盘(11)的所述轨道宽度方向(B)设置的多个所述悬架(30A、30B、30C)，所述引导件(14)包括引导表面(70)和开口(73)，所述引导表面(70)沿所述盘(11)的所述轨道宽度方向(B)延伸并与所述提升凸片(40)接触，且所述开口(73)形成在所述引导表面(70)相对于所述轨道宽度方向(B)的中部并使所述提升凸片(40)能够朝向所述盘(11)的所述记录表面(11a)移动。
2.如权利要求1所述的浮块测试器(10)，其特征在于，所述引导件(14)还包括第一引导表面(71)和第二引导表面(72)，所述第一引导表面(71)倾斜成使到所述盘(11)的所述记录表面(11a)的距离(h1)从所述盘(11)的外周侧朝向所述开口(73)逐渐减小，且所述第二引导表面(72)倾斜成使到所述盘(11)的所述记录表面(11a)的距离(h2)从所述开口(73)朝向所述盘(11)的内周侧逐渐增加。
3.如权利要求1所述的浮块测试器(10)，其特征在于，所述悬架(30A、30B、30C)设有夹持机构(52)，所述夹持机构(52)可拆除地保持所述浮块(50)，所述夹持机构(52)包括第一支承部分(53)、第二支承部分(54)和弹簧部分(55)，所述第一支承部分(53)支承所述浮块(50)的一端部分(50a)，所述第二支承部分(54)支承所述浮块(50)的另一端部分(50b)，且所述弹簧部分(55)将所述第二支承部分(54)朝向所述第一支承部分(53)推压，使所述浮块(50)插入在所述第一和第二支承部分(53、54)之间。
4.如权利要求2所述的浮块测试器(10)，其特征在于，所述悬架(30A、30B、30C)设有夹持机构(52)，所述夹持机构(52)可拆除地保持所述浮块(50)，所述夹持机构(52)包括第一支承部分(53)、第二支承部分(54)和弹簧部分(55)，所述第一支承部分(53)支承所述浮块(50)的一端部分(50a)，所述第二支承部分(54)支承所述浮块(50)的另一端部分(50b)，且所述弹簧部分(55)将所述第二支承部分(54)朝向所述第一支承部分(53)推压，使所述浮块(50)插入在所述第一和第二支承部分(53、54)之间。
5.一种通过使用引导件(14)来检查盘驱动器的第一和第二浮块(50)的方法，所述引导件(14)包括第一引导表面(71)和第二引导表面(72)，所述第一引导表面(71)倾斜成使到盘(11)的记录表面(11a)的距离(h1)从所述盘(11)的外周侧朝向引导件的开口(73)逐渐减小，且所述第二引导表面(72)倾斜成使到所述盘(11)的所述记录表面(11a)的距离(h2)从所述开口(73)朝向所述盘(11)的内周侧逐渐增加，该方法包括：将可动桌台(12)定位在距离盘(11)一定距离处的备用位置，所述可动桌台沿所述盘(11)的轨道宽度方向(B)可移动；
将多个悬架设置在所述可动桌台(12)的悬架支承部分(25)上；
将所述第一和第二浮块(50)安装在每个所述悬架的万向架部分(45)上；
将所述可动桌台(12)朝向所述盘(11)的内侧移动，由此沿引导件(14)在所述盘(11)的轨道宽度方向(B)上移动所述悬架的相应提升凸片(40)；
将位于相对于沿第一引导表面(71)的运动的方向的前侧上的第一悬架的所述提升凸片(40)移动到所述引导件(14)的开口(73)；
使所述第一悬架的所述第一浮块(50)朝向所述盘(11)的记录表面(11a)下降穿过所述开口(73)，由此使所述第一浮块(50)在所述记录表面(11a)上方飞行；
通过所述第一浮块(50)的构件(60)访问所述记录表面(11a)以便检查所述第一浮块(50)；
将所述可动桌台(12)进一步朝向所述盘(11)的内侧移动，由此使所述第一悬架的所述提升凸片(40)碰到所述引导件(14)的第二引导表面(72)；
将所述可动桌台(12)进一步朝向所述盘(11)的内侧移动，由此使第二悬架的所述提升凸片(40)沿所述第一引导表面(71)移动到所述开口(73)；
使所述第二悬架的所述第二浮块(50)朝向所述记录表面(11a)下降穿过所述开口(73)，由此使所述第二浮块(50)在所述记录表面(11a)上方飞行；
通过所述第二浮块(50)的构件(60)访问所述记录表面(11a)以便检查所述第二浮块(50)；
在完成访问之后将所述可动桌台(12)朝向所述备用位置移动；以及
将所述第一和第二浮块(50)从已移动到所述备用位置的所述悬架拆除。
浮块测试器和用于测试浮块的方法
技术领域
[0001] 本发明涉及用于检查用在信息处理装置或类似装置中的盘驱动器的浮块的浮块测试器。
背景技术
[0002] 硬盘驱动器(HDD)包括用作记录介质的盘、盘驱动器悬架(此后简称为悬架)、其上安装有悬架的致动臂等。数据磁性地记录在盘上。浮块安装在悬架的远端部分上。浮块设有用于对盘的记录表面访问数据的磁电构件，即用于写入或读取数据的构件。
[0003] 悬架包括固定到致动臂的基板、附连到基板的承载梁、沿承载梁定位的挠曲件等。浮块安装在形成在挠曲件上的舌部(万向架部分(gimbal portion))上。在盘通过心轴电动机高速转动时，通过在盘和浮块之间流动的空气使浮块稍稍地在盘的表面上方飞行，由此在磁盘和浮块之间形成空气支承。浮块的飞行高度保持在适当的范围内。
[0004] 在悬架包含在实际的盘驱动器之前，通过浮块测试器检查浮块的可接受性。日本专利申请公开第2004-86976号(专利文件1)中揭示了一种常规浮块测试器的实例。在该浮块测试器中，浮块固定到臂部分以享有与实际悬架相同的条件。磁盘转动，使浮块飞行，并测量浮块的性能。
[0005] 另一方面，日本专利申请公开第2005-322377号(专利文件2)中揭示的一种浮块测试器(浮块支承装置)包括仿造的负载梁、挠曲件等，它们构造成与实际悬架的负载梁、挠曲件等相同。浮块测试器构造成使浮块能够可拆除地附连到浮块测试器。在该浮块测试器中，盘转动，使浮块安装在悬架上，并在浮块在盘表面上方飞行时进行各种检查。抛弃任何通过这些检查判定为不可接受的浮块。
[0006] 在专利文件1和2中所述的每个浮块测试器中仅可安装一个浮块。在将浮块移动到盘上方的预定位置之后通过用浮块的磁电构件访问盘的记录表面来测量浮块的性能。测量之后，将浮块移动到其初始位置并将浮块从测试器取出。因此，通常每个浮块在其被测试时单独安装在测试器内。因此，测试多个浮块是没有效率的且需要较长时间。
[0007] 为了提高浮块检测操作的效率，曾尝试提供具有用于测试器的具有多个悬架的公共桌台，每个悬架都安装有浮块。当桌台相对于盘径向(或沿轨道宽度)移动时，多个浮块同时移动到盘的记录表面上方的区域。但是，盘的周向转速在内周侧和外周侧之间变化相当大。浮块的飞行高度取决于盘的周界转速。因此，移动到例如盘的内周部分的浮块的飞行高度比浮块处于外周部分时要小。
[0008] 如果使用盘的径向中心部分对浮块进行读取/写入测试，则根据径向中间部分将飞行高度调节到适当的值。如果浮块移动到盘的内周侧，则因此其飞行高度变成小于适当的值。因此，浮块可能与盘的记录表面干涉。
发明内容
[0009] 本发明提供一种能够安全且有效地测试多个用在盘驱动器中的浮块的浮块测试器。
[0010] 本发明是一种用于检查盘驱动器的浮块的浮块测试器，其包括：盘，该盘用作记录介质；转动机构，该转动机构使盘转动；悬架，该悬架包括其远端上的提升凸片和其上安装有浮块的万向架部分；可动桌台，该可动桌台可沿盘的轨道宽度方向移动；桌台驱动机构，该桌台驱动机构沿轨道宽度方向移动可动桌台；信号处理部分，该信号处理部分电气连接到浮块的构件并处理信号来访问盘的记录表面；以及引导件，该引导件位于提升凸片和盘的记录表面之间并支承提升凸片，由此防止浮块落到盘上。可动桌台包括悬架支承部分，该悬架支承部分保持沿盘的轨道宽度方向设置的多个悬架。引导件包括引导表面和开口，引导表面沿盘的轨道宽度方向延伸并与提升凸片接触，且开口相对于引导表面的轨道宽度方向形成在中部并使提升凸片能够朝向盘的记录表面移动。
[0011] 在该浮块测试器中，可动桌台沿盘的轨道宽度移动，使得其上各有浮块的悬架的相应提升凸片一个接一个位于引导件的开口内，且各浮块连续朝向盘的记录表面下降。这样，可连续地检查各浮块并有效地进行测试。根据本发明的浮块测试器，在安装在可动桌台上的浮块中，仅使正在被检查的浮块可与盘的记录表面相对。其它浮块可用由引导件支承的提升凸片保持在与盘的记录表面间隔开足够距离的位置备用。
[0012] 在本发明的较佳方面，引导件包括第一引导表面和第二引导表面，第一引导表面倾斜成使到盘的记录表面的距离从盘的外周侧朝向开口逐渐减小，且第二引导表面倾斜成使到盘的记录表面的距离从开口朝向盘的内周侧逐渐增加。
[0013] 此外，悬架可设有夹持机构，该夹持机构可拆除地保持浮块，该夹持机构包括第一支承部分、第二支承部分和弹簧部分，第一支承部分支承浮块的一端部分，第二支承部分支承浮块的另一端部分，且弹簧部分将第二支承部分朝向第一支承部分推压，使浮块插入在第一和第二支承部分之间。
[0014] 本发明的其它目的和优点会在以下说明书中阐述，并部分会从说明书中变得明显，或可从本发明的实践中得以了解。可通过此后具体指出的工具和组合来实现和得到本发明的目的和优点。
附图说明
[0015] 包含在本说明书中并组成说明书的一部分的附图示出本发明的实施例，与以上给出的总体说明和以下给出的各实施例的详细说明一起用于解释本发明的原理。
[0016] 图1是根据本发明的实施例的浮块测试器的局部平面图；
[0017] 图2是用在图1所示浮块测试器中的悬架的立体图；
[0018] 图3是示出浮块测试器的可动桌台处于待用位置的平面图；
[0019] 图4是示出安装在可动桌台上的第一悬架的提升凸片位于引导件的开口内的状态的平面图；
[0020] 图5是示出安装在可动桌台上的第三悬架的提升凸片位于引导件的开口内的状态的平面图；
[0021] 图6是示出第一悬架的提升凸片朝向引导件的开口移动的状态的前视图；
[0022] 图7是示出第一悬架的提升凸片处于引导件的开口内的状态的前视图；
[0023] 图8是示出第一悬架的提升凸片在第二引导表面上的状态的前视图；以及[0024] 图9是示出第二悬架的提升凸片处于引导件的开口内的状态的前视图。
具体实施方式
[0025] 现将参照图1至9描述本发明的实施例。
[0026] 图1中所示的浮块测试器10包括用作记录介质的盘11、可动桌台12、桌台驱动机构13、引导构件14、信号处理部分15等。盘11具有其上可磁性地记录数据的记录表面11a。盘11通过具有心轴16的转动机构17沿固定方向(由图1中的箭头A表示)转动。
[0027] 可动桌台12可相对于盘11的记录表面11a的轨迹沿引导件18横向(或沿图1中箭头B所示方向)往复运动。桌台驱动机构13的实例包括伺服电动机20和滚珠螺杆21。当伺服电动机20转动时，可动桌台12可沿轨迹宽度移动所要求的距离。用作控制器的信号处理部分15可通过使用诸如个人计算机之类的信息处理装置来控制桌台驱动机构13。
[0028] 可动桌台12设有悬架支承部分25。用于浮块测试器10的悬架30A至30C位于支承部分25上。这些悬架以平行关系相对于盘11的轨迹横向(或沿图1中箭头B所指示的方向)设置。悬架30A至30C具有相同的构造。
[0029] 图2示出浮块测试器的悬架30A的实例。悬架30A以与实际硬盘驱动器中所包含的悬架基本上相同的方式构成。具体地说，悬架30A设有包括基板31的基部32、附连到基部31的负载梁33、沿负载梁33定位的挠曲件34。弹性铰接部分35设置在基部32和负载梁33之间。铰接部分35可沿负载梁33的厚度弯曲。
[0030] 装载/卸载凸片，即由突起形成的提升凸片40设置在负载梁33的远端上。提升凸片40沿负载梁33的轴线X延伸。凸片40从负载梁33的远端向前突出。
[0031] 在挠曲件34的远端部分附近形成有万向架部分45。万向架部分45包括其上安装有浮块50的舌片51和用于固定浮块50的夹持机构52。夹持机构52包括第一支承部分53、第二支承部分54、一对弹簧部分55等。第一支承部分53与浮块50的一端部分50a接触。第二支承部分54与浮块50的另一端部分50b接触。该对弹簧部分55将支承部分53和54彼此连接。浮块50插入在第一支承部分53和第二支承部分54之间。在该状态，通过弹簧部分55将第二支承部分54朝向第一支承部分53推压。
[0032] 通过蚀刻由金属板制成的挠曲件34的一部分而将弹簧部分55各自形成在万向架部分45的相对侧上。每个弹簧部分55的实例是具有U形突出和倒U形凹陷的片弹簧。这些突出和凹陷沿挠曲件34的轴线，即沿负载梁33的轴线X交替形成。
[0033] 读取/写入构件，即磁电构件60设置在构成磁头的浮块50的端部50a上。构件60是诸如磁电装置之类的换能器，该换能器用于对盘11的记录表面11a访问数据。这些构件60对浮块50的终端区域61导电。
[0034] 挠曲件34设有电路构件65。当浮块50被夹持机构52夹持时，浮块50的终端区域61对电路构件65导电。电路构件65连接到信号处理部分15(如图1所示)。信号处理部分15通过构件60向或从盘11的记录表面11a访问(写入或读取)数据。
[0035] 引导构件14安装在浮块测试器10的框架69(图1中部分示出)上并可相对于盘11静止不动。引导构件14由诸如聚缩醛之类的自润滑合成树脂制成，并位于盘11的记录表面11a与提升凸片40之间。
[0036] 引导构件14具有支承提升凸片40的引导表面70。引导表面70相对于盘11的轨迹横向(或沿图1中箭头B所指示的方向)延伸。此外，引导构件14具有第一引导表面71、第二引导表面72和开口73，它们相对于记录表面11a的轨道横向设置。开口73形成在第一引导表面71和第二引导表面72之间。开口73足够大以使每个提升凸片40沿引导构件14的厚度朝向盘11的记录表面11a能够穿过。
[0037] 如图6所示，引导构件14位于到盘11的记录表面11a的一定距离H处。第一引导表面71倾斜成到盘11的记录表面11a的距离h1从盘11的外周侧朝向开口73逐渐减小。第二引导表面72倾斜成到盘11的记录表面11a的距离h2从开口73朝向盘11的内周侧逐渐增大。
[0038] 从盘11的记录表面11a到每个提升凸片40的距离等于凸片40的高度。提升凸片40的高度是开口73内的凸片40在相对于轨道横向移动时可碰到第一引导表面71或第二引导表面72的高度。
[0039] 以下是根据本实施例的浮块测试器10的操作的说明。
[0040] 图3示出移动到备用位置的可动桌台12。在该备用位置，桌台12保持与盘11的外周部分径向间隔开。悬架30A至30C的相应基部32固定到可动桌台12的悬架支承部分25。浮块50通过夹持机构52保持在这些悬架中每个的万向架部分45上。
[0041] 当可动桌台12沿由箭头B1所指示的方向从图3所示的备用位置移动时，悬架30A至30C各自相对于轨道朝向盘11的内周部分横向移动。如图6部分所示，悬架30A至30C的相应提升凸片40在引导构件14的引导表面70上滑动时相对于轨道横向(或沿由箭头B1指示的方向)移动。
[0042] 当可动桌台12相对于轨道横向移动时，如图4和7所示，相对于该运动处于前导位置的悬架30A的提升凸片40由第一引导表面71引导到达开口73。在凸片40到开口73内时，第一悬架30A的浮块50朝向盘11的记录表面11a下降。
[0043] 由于盘11高速转动，空气在记录表面11a和其上方的浮块50之间流动，由此形成浮块和记录表面之间的空气支承。因此，浮块50在盘11的记录表面11a上方以适当的飞行高度飞行。
[0044] 当浮块50因此位于记录表面11a上方时，可动桌台12按要求暂时停止，并通过构件60向或从盘11的记录表面11a访问数据。根据例如来自信号处理部分15的写入当前输出通过构件60向盘11的记录表面11a写入数据。或者，通过构件60读取记录在记录表面11a上的数据并输出到信号处理部分15。根据这些数据检查浮块50。
[0045] 在检查第一悬架30A的浮块50之后，可动桌台12相对于轨道进一步横向(或沿图4中箭头B1所指示的方向)移动。由此，悬架30A的提升凸片40碰到第二引导表面72，如图8所示，并然后朝向盘11的内周部分移动。因此，浮块50保持与盘11的记录表面11a间隔开并由引导构件14保持。
[0046] 如图1和9所示，第二悬架30B的提升凸片40到达开口73。在第二悬架30B的凸片40到开口73内时，浮块50朝向盘11的记录表面11a下降。在测试第二浮块50之后，可动桌台12相对于轨道进一步横向移动。
[0047] 如图5所示，第三悬架30C的提升凸片40到达开口73。在第三悬架30C的凸片40到开口73内时，浮块50朝向盘11的记录表面11a下降。
[0048] 在完成悬架30A至30C的相应浮块50的检查之后，可动桌台12返回到如图1所示的备用位置。在该备用位置，通过使用拆除夹具(未示出)来增加每个夹持机构52的支承部分53和54之间的距离。这样，将每个浮块从万向架部分45拆除。通过检查判定为可接受的任何浮块50附连到实际盘驱动器中所包含的其相应的悬架。抛弃通过检查判定为不可接受的浮块。
[0049] 如上所述，当其上安装有悬架30A至30C的可动桌台12相对于记录表面11a的轨道横向移动时，可连续检查多个浮块50。因此，可在短时间内有效地检查各浮块50。
[0050] 在本实施例的浮块测试器10中，保持在可动桌台12上的悬架30A至30C中的其提升凸片40在开口73内的悬架的浮块50与盘11的记录表面11a相对并对其进行观察。未正在被观察的浮块50留在与盘11间隔开的位置备用而不下降到盘上。
[0051] 如果没有引导构件14，由于各次检查之间的技巧的变化、可动桌台12的精度的限制等，移动靠近盘11的内周部分的浮块50的飞行高度可能小于适当的值。如果飞行高度小于适当的值，则浮块50可能与盘11接触。
[0052] 但是，根据本实施例，仅使正在被检查的浮块50在盘11的记录表面11a上方以适当的飞行高度飞行。其它浮块50可由引导构件14保持在与盘11的记录表面11a间隔开足够距离的位置备用。因此，例如，可防止在盘11的内周部分附近的位置备用的浮块50与盘11的记录表面11a接触，从而可安全地进行检查。
[0053] 在本文所述的实施例中，专用于测试器的模仿悬架30A至30C安装在可动桌台12的悬架支承部分25上。但是，对于另一实施例，包含在实际硬盘驱动器中的多个磁头-万向架组件(HGA)可安装在可动桌台12的悬架支承部分25上。由于每个HGA包括悬架和浮块，可通过使用浮块测试器10有效地检查HGA的相应浮块。安装在可动桌台12的悬架支承部分25上的悬架的数量也可以是三之外的任何数量。
[0054] 应当理解，在实施本发明时，浮块测试器的各部件，包括盘、可动桌台、桌台驱动机构、引导件以及各悬架可进行各种更改而不偏离本发明的范围。
[0055] 对本领域的技术人员来说还可易于有其它优点和更改。因此，本发明在其更广泛方面并不限于本文所示和所述的具体细节和代表性实施例。因而，可进行各种更改而不偏离所附权利要求书和其同等物所限定的总体发明概念的精神和范围。
