光盘装置

摘要

本发明涉及一种光盘装置、信息处理装置、光盘处理方法和信息处理方法。本发明的光盘装置，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备：读取机构，读取所述规定信息；特性判别机构，对所述记录介质的反射特性进行判别；和处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息。所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方，所述处理机构包括极性反转机构，该极性反转机构按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。

权利要求

1.一种光盘装置，再生来自记录介质的规定信息，该记录介质具有记录了特性信息的特性信息区域，所述特性信息是表示所述记录介质具有第一特性或第二特性的信息，所述第一特性中，由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率，大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率，所述第二特性中，所述第一反射率小于所述第二反射率，所述光盘装置具备：

读取机构，读出记录于所述记录介质的规定信息，

特性判别机构，根据所述规定信息中包含的所述特性信息，判别所述记录介质是具有所述第一特性的记录介质，还是具有所述第二特性的记录介质，和处理机构，按照所述特性判别机构所判别的反射特性，处理所述规定信息。

说明书

光盘装置

[0001] 本申请是申请号为“200910001330.1”，申请日为2005年10月14日，发明名称为“信息处理装置、存取装置、记录介质、信息处理方法及信息处理程序”之申请的分案申请。 [0002] 技术领域

[0003] 本发明涉及光盘装置、信息处理装置、光盘处理方法和信息处理方法。 [0004] 背景技术

[0005] 近年来，进行着大容量的信息通信。其结果，与大容量的光盘相关的开发正在不断发展。光盘例如包括CD(Compact Disc)、LD(Laser Disc)、DVD(Digital Versatile Disc)。 [0006] 光盘中，在形成了表示信息的凹凸图案(例如凹坑(dot)、凹槽(groove))的透明基板上形成有由金属薄膜(例如铝)构成的反射膜，通过检测出光的反射大小(level)来进行信息的再生。

[0007] 在记录型光盘中，通过记录膜的相变化形成反射率不同的特性图案。由于光盘装置只要读取非晶质-结晶质的反射率变化即可，所以，能够简单地得到光盘装置的光学系统的结构。

[0008] 光盘装置通过检测出多个记录部和多个未记录部之间的反射大小，来再生基于相变化而被记录的信息。因此，光盘中存在着具有下述两种特性的光盘，所述两种特性是指：由多个记录部反射的光的反射率比由多个未记录部反射的光的反射率大的特性(LtoH特性)、和由多个记录部反射的光的反射率比由多个未记录部反射的光的反射率小的特性(HtoL特性)。

[0009] 图7表示形成于光盘的多个记录标记与光盘反射的光的反射大小的关系。图7A表示在具有HtoL特性的光盘中形成的多个记录标记和由具有HtoL特性的光盘反射的光的反射大小的关系。图7B表示在具有LtoH特性的光盘中形成的多个记录标记和由具有LtoH特性的光盘反射的光的反射大小的关系。

[0010] 在具有HtoL特性的光盘(HtoL型光盘)中，形成有光的反射率为1％左右的非晶质部(记录部：例如记录标记)。HtoL型光盘的结晶部(未记录部：例如间隙(space))其光的反射率为15～25％。在具有LtoH特性的光盘(LtoH型光盘)中，形成有光的反射率为20～30％的非晶质部(记录部：例如记录标记)。LtoH型光盘的结晶部(未记录部：例如间隙)其光的反射率为3～10％(参照图7B)。

[0011] 由于在HtoL型光盘中未记录部的反射率大，所以，聚焦与追踪容易，但由于光的平均反射率大，所以噪声比LtoH型光盘大。

[0012] 在LtoH型光盘中，由于光的平均反射率小，所以噪声比HtoL型光盘小，但由于未记录部的反射率小，所以聚焦与追踪困难。

[0013] 在专利文献1中记载了HtoL型光盘和LtoH型光盘相关的内容。

[0014] 专利文献1：特开2003-323744号公报

[0015] 但是，由于光盘装置无法判别插入到光盘装置的光盘是HtoL型光盘还是LtoH型光盘，所以，在将LtoH型光盘插入到对应于HtoL型光盘的光盘装置时、和将HtoL型光盘插入到对应于LtoH型光盘的光盘装置时，会产生以下(1)～(4)所示的问题。 [0016] (1)由于HtoL型光盘和LtoH型光盘，其由记录标记反射的反射光的极性以及由间隙反射的反射光的极性相反，所以，在HtoL型光盘和LtoH型光盘中，边缘检测、不对称检测或β值检测中的检测值的极性(正负)相反。

[0017] (2)无法恰当地检测出光盘的缺陷部分(例如因附着于光盘的垃圾、污垢等而几乎不反射光的部分)。

[0018] (3)无法在HtoL型光盘对应的调制度测定方法中，以LtoH型光盘为对象，适当地测定调制度。

[0019] (4)在将LtoH型光盘插入到与HtoL型光盘对应的装置时，有时会超过装置的LSI的动态范围的上限。这是因为LtoH型光盘中光的反射大小比HtoL型光盘中光的反射大小大。

发明内容

[0020] 本发明鉴于上述问题而提出，其目的在于，提供一种与记录介质的反射特性(是HtoL型还是LtoH型的特性)无关，能够恰当地处理记录于记录介质的信息的信息处理装置、具备该信息处理装置的存取装置、通过该存取装置而进行存取的记录介质、和其信息处理方法以及信息处理程序。

[0021] 本发明的第一方案提供一种光盘装置，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备：

[0022] 读取机构，读取所述规定信息；

[0023] 特性判别机构，对所述记录介质的反射特性进行判别；和

[0024] 处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息，

[0025] 所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方，

[0026] 所述处理机构包括极性反转机构，该极性反转机构按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。

[0027] 本发明的第二方案提供一种信息处理装置，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备：

[0028] 特性判别机构，对所述记录介质的反射特性进行判别；和

[0029] 处理机构，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息，

[0030] 所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方，

[0031] 所述处理机构包括极性反转机构，该极性反转机构按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。

[0032] 本发明的第三方案提供一种光盘处理方法，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备：

[0033] 读取步骤，读取所述规定信息；

[0034] 特性判别步骤，对所述记录介质的反射特性进行判别；和

[0035] 处理步骤，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息，

[0036] 所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方，

[0037] 所述处理步骤包括极性反转步骤，该极性反转步骤按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。

[0038] 本发明的第四方案提供一种信息处理方法，对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备：

[0039] 特性判别步骤，对所述记录介质的反射特性进行判别；和

[0040] 处理步骤，根据判别出的所述反射特性处理所述规定信息，

[0041] 所述反射特性，是指由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率即第一反射率大于由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率即第二反射率的第一特性、和所述第一反射率小于所述第二反射率的第二特性中的一方，

[0042] 所述处理步骤包括极性反转步骤，该极性反转步骤按照所判别出的所述反射特性来反转所述规定信息的极性。

[0043] 本发明的信息处理装置对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备特性判别机构和处理机构。特性判别机构判别记录介质的反射特性。处理机构根据判别后的反射特性处理规定信息。这里，反射特性是指由记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率(下面称作第一反射率)比由记录介质的未记录区域反射的光的反射率(下面称作第二反射率)大的第一特性、和第一反射率小于第二反射率的第二特性中的一方。

[0044] 信息处理装置判别记录介质的反射特性，并根据该反射特性处理记录于记录介质的规定信息。因此，能够与记录介质的反射特性无关地恰当处理记录于记录介质的信息。 [0045] 另外，上述以及后述的规定信息例如包括声音或影像、其他数据等的用户信息、用于暂时记录特定的信息来进行记录学习的写入信息。

[0046] 特性判别机构也可以根据特性信息，即记录于记录介质的表示第一特性和第二特性中至少任意一方的信息，判别反射特性。

[0047] 而且，记录介质可以具有多个记录层，对与多个记录层的各自反射特 性对应的特性信息进行记录。

[0048] 或者，特性判别机构可以根据由记录介质反射的光的反射大小，判别反射特性。 [0049] 处理机构可以包括根据所判别的反射特性来反转规定信息的极性的极性反转机构。

[0050] 处理机构可以包括根据所判别的反射特性来计算规定信息的调制度的调制度运算机构。

[0051] 处理机构可以包括阈值变更机构，其根据所判别的反射特性和由记录介质反射的光的反射大小，来变更对应于反射大小的阈值，即用于检测记录介质的缺陷部分的阈值。 [0052] 并且，信息处理装置可以具备反射大小检测机构和缺陷部分检测机构。反射大小检测机构检测出反射大小。缺陷部分检测机构根据由阈值变更机构变更后的阈值、和由反射大小检测机构检测到的反射大小，检测出记录介质的缺陷部分。

[0053] 处理机构可以包括根据所判别的反射特性，来调整所照射的光的反射大小的反射大小调整机构。

[0054] 本发明的存取装置具备对记录于记录介质的规定信息进行读取的读取机构、和对所读取的规定信息进行处理的上述信息处理机构。由此，达成了上述目的。 [0055] 本发明的记录介质具有记录区域，记录区域是用于记录表示记录介质特性的特性信息的区域。特性信息是表示由记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率(第一反射率)比由记录介质的未记录区域反射的光的反射率(第二反射率)大的第一特性、以及第一反射率小于第二反射率的第二特性中至少一方的信息。

[0056] 记录介质具有用于记录特性信息的区域。因此，能够对用于处理记录于记录介质的信息的装置提供特性信息，来进行与特性信息对应的处理。即，与记录介质的特性信息所表示的反射特性无关，能够恰当地处理记录于记录介质的信息。

[0057] 记录介质具备多个记录层，记录区域可以记录与多个记录层分别对应的特性信息。

[0058] 本发明的信息处理方法，用于对记录于记录介质的规定信息进行处理，具备特性判别步骤和处理步骤。特性判别步骤判别记录介质的反射特性。处理步骤根据判别后的反射特性处理规定信息。这里，反射特性是指由记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率(第一反射率)，比由记录介质的未记录区域反射的光的反射率(第二反射率)大的第一特性、和第一反射率小于第二反射率的第二特性中的一方。由此，可达成上述目的。 [0059] 本发明的信息处理程序用于在对记录于记录介质的规定信息进行处理的信息处理装置中执行信息处理，具备特性判别步骤和处理步骤。特性判别步骤判别记录介质的反射特性。处理步骤根据判别后的反射特性处理规定信息。这里，反射特性是指由记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率(第一反射率)，比由记录介质的未记录区域反射的光的反射率(第二反射率)大的第一特性、和第一反射率小于第二反射率的第二特性中的一方。由此，可达成上述目的。

[0060] 根据本发明的信息处理装置，具备对记录介质的反射特性进行判别的特性判别机构、和根据判别后的所述反射特性来处理记录于记录介质的规定信息的处理机构。结果，可以和记录介质的反射特性无关地恰当处理记录于记录介质的规定信息。

[0061] 同样，根据本发明的存取装置、信息处理方法、信息处理程序，由于可以判别本发明的记录介质的反射特性，并根据该反射特性处理规定信息，所以，能够可靠地处理记录于记录介质的信息。

[0062] 而且，根据本发明的记录介质，记录有表示第一特性和第二特性中至少一方的特性信息，第一特性是由所述记录介质的记录完毕区域反射的光的反射率(第一反射率)比由所述记录介质的未记录区域反射的光的反射率(第二反射率)大的特性，第二特性是第一反射率小于第二反射率的特性。因此，可以根据记录于记录介质的特性信息，判别记录介质的特性具有第一特性还是具有第二特性。结果，能够根据记录介质的特性，处理记录于记录介质的信息。

附图说明

[0063] 图1表示本发明实施方式的记录介质100的结构。

[0064] 图2表示本发明实施方式的存取装置200的构成。

[0065] 图3A表示照射于具有第二特性(HtoL特性)的光盘的光的照射大小和由该光盘反射的光的反射大小的关系。

[0066] 图3B表示照射于具有第一特性(LtoH特性)的光盘的光的照射大小和由该光盘反射的光的反射大小的关系。

[0067] 图4A表示对光盘的记录部及未记录部进行再生时的轨道方向和再生振幅的关系。

[0068] 图4B表示光盘的记录功率和调制度的关系。

[0069] 图5表示检测出的光的反射大小、阈值、接地电平和检测信号。

[0070] 图6表示本发明实施方式的存取处理顺序。

[0071] 图7A表示在具有第二特性(HtoL特性)的光盘中形成的多个记录标记和由该光盘反射的光的反射大小的关系。

[0072] 图7B表示在具有第一特性(LtoH特性)的光盘中形成的多个记录标记和由该光盘反射的光的反射大小的关系。

[0073] 图中：100-记录介质，101-Lead-in区域，102-数据区域，103-lead-out区域，104-PIC区域，105-OPC区域，106-Drive区域，107-DMA区域，200-存取装置，202-光头部，
204-特性判别机构，206-信号极性反转机构，208-信号处理机构，210-边缘移动(edge shift)检测机构，212-不对称检测机构，214-β值检测机构，216-调制度运算机构，217-阈值变更机构，218-缺陷部分检测机构，219-光盘控制器，220-反射大小调整机构。 具体实施方式

[0074] 下面，参照附图对本发明的实施方式进行说明。

[0075] 首先，说明本发明的记录介质(参照“1.记录介质”)，接着，对向记录介质进行存取的存取装置进行说明(参照“2.存取装置”)。最后，说明通过存取装置执行的存取处理顺序(参照“3.存取方法”)。

[0076] 1.记录介质

[0077] 图1表示本发明实施方式的记录介质100的结构。记录介质100包括记录层。通过在记录层形成记录标记，可以在记录介质100上记录信息。

[0078] 记录介质100包括：Lead-in区域101、数据区域102、Lead-out区域103。 [0079] 数据区域102中记录有用户信息。用户信息例如是声音信息及影像信息、其他的数据等。

[0080] Lead-in区域101及Lead-out区域103中记录有记录介质100的管理信息和用于缺陷管理的数据。

[0081] Lead-in区域101包括：PIC(Permanent Information and Control data)区域104、OPC(Optimum Power Calibration)区域105、Drive区域106和DMA区域107。 [0082] 在PIC区域104中例如记录有数据区域102的最大地址及记录脉冲控制参数。记录脉冲控制参数例如是与用于在记录介质100中形成/删除多个记录标记的激光功率相关的参数、及与用于记录多个记录标记的记录脉冲宽度相关的参数。

[0083] 在PIC区域104中还记录有特性信息。特性信息表示作为记录介质100的反射特性的LtoH特性及HtoL特性中的一方。

[0084] HtoL特性是由多个记录部(例如多个记录标记)反射的光的反射率比由多个未记录部(例如多个间隙)反射的光的反射率小的反射特性。LtoH特性是由多个记录部(例如多个记录标记)反射的光的反射率比由多个未记录部(例如多个间隙)反射的光的反射率大的反射特性。在记录介质100具有HtoL特性的情况下，记录值‘0’作为特性信息。在记录介质100具有LtoH特性的情况下，在记录介质100中记录值‘1’作为特性信息。 [0085] 另外，不限定于表示记录介质100具有LtoH的信息由值‘1’表示，表示记录介质100具有HtoL特性的信息由值‘0’表示。只要规定的装置能够判别记录介质100的反射特性(具有LtoH特性还是具有HtoL特性)，进行表示的值是任意的。

[0086] 例如，只要规定的装置能够判别记录介质100的反射特性(具有LtoH特性还是具有HtoL特性)，则可以通过至少一个记录标记与至少一个间隙中的至少一个进行表示。 [0087] 另外，特性信息不限定于由至少一个记录标记和至少一个间隙中的至少一个表示的方式。只要规定的装置能够根据特性信息判别记录介质100 的反射特性(具有LtoH特性还是具有HtoL特性)，则也可以通过轨道的起伏(wobble)记录特性信息。 [0088] 而且，在记录介质100中轨道形成为同心圆状，但只要能够将特性信息记录于记录介质100，则轨道形成的形状也可以是螺旋状。

[0089] 并且，记录介质100不限定于重写型或追记型。只要能够记录特性信息，则也可以是再生专用记录介质。记录介质100例如是CD、BD-RE(Blu-ray Disc Rewritable Format)、DVD-RAM(Digital Versatile Disc Random Access Memory)、 或 者 DVD-RW(Digital Versatile Disc Rewritable)。

[0090] 进而，记录介质100的记录层不拘限于1层。记录介质100的记录层可以是多层。例如，在记录介质100包括第一记录层和第二记录层的情况下，可以在第一记录层或第二记录层中的一方记录有特性信息。该情况下，特性信息可以表示第一记录层和第二记录层具有HtoL特性(或LtoH特性)。另外，在记录介质100包括第一记录层和第二记录层时，可以在第一记录层中记录第一特性信息，在第二记录层中记录第二特性信息。该情况下，第一特信息表示第一记录层具有HtoL特性(或LtoH特性)，第二特性信息表示第二记录层具有HtoL特性(或LtoH)。另外，第一记录层和第二记录层不限于具有相同的特性。第一记录层和第二记录层可以具有不同的特性。例如，记录于第一记录层的第一特性信息表示第一记录层具有HtoL特性(或LtoH特性)，记录于第二记录层的第二特性信息表示第二记录层具有LtoH特性(或HtoL特性)。

[0091] 而且，多层中的任意一层都可以记录其他层的特性信息。例如，第一记录层也可以存储表示第一记录层的反射特性的第一特性信息和表示第二记录层的反射特性的第二特性信息。并且，多层中的任意一层可以记录各层的特性信息。例如，第一记录层和第二记录层中的任意一层都可以存储第一特性信息和第二特性信息。

[0092] 即，在具有多层的记录介质100中，可以在任意一层中记录表示与多层中的每一层对应的反射特性的信息。

[0093] 并且，记录有特性信息的区域不限于PIC区域104。只要是能够记录 特性信息、且规定的装置可以读取特性信息，则被记录的记录介质的位置没有限定。例如，可以将特性信息记录于Lead-out区域103。或者，也可以将特性信息记录于数据区域102。 [0094] 特性信息在制造记录介质100时由记录介质制造者进行记录。在记录介质100是再生专用记录介质的情况下，按照已经记录了数据的状态出厂。记录介质制造者将特性信息记录于PIC区域之后使记录介质出厂。另外，在记录介质100是重写型记录介质或追记型记录介质的情况下(例如DVD-RAM、DVD-RW)，记录介质制造者也可以在记录介质制造时，将与记录介质相关的信息记录到记录区域(例如PIC区域)。

[0095] 此外，特性信息向记录介质100的记录不限于记录介质100的制造时。例如，能够在向记录介质100记录用户信息时、或再生用户信息时，通过用户记录特性信息。规定的装置在对记录介质100进行存取之际(例如向记录介质100记录用户信息时、或再生用户信息时)，读取特性信息。

[0096] 2.存取装置

[0097] 图2表示本发明实施方式的存取装置(光盘装置)200的构成。

[0098] 存取装置200构成为能够插入记录介质100。记录介质100包括能够记录特性信息的特性信息区域，在特性信息区域中记录有特性信息。

[0099] 存取装置200主要包括对记录于记录介质100的规定信息进行读取的光头部202、和对所读取的规定信息进行处理的信息处理装置225。信息处理装置225具备对记录介质100的反射特性进行判别的特性判别机构204、和按照所判别出的反射特性处理规定信息的处理机构226。处理机构226具备：信号极性反转机构206、信号处理机构208、调制度运算机构216、阈值变更机构217、缺陷部分检测机构218、光盘控制器219和反射大小调整结构220。

[0100] 光头部202对记录介质100进行访问，作为信号的读取机构而发挥功能，从记录介质100的记录区域读取表示被记录的信息。信息中含有特性信息和用户信息。用户信息是声音信息、影像信息、其他的数据等。

[0101] 特性判别机构204从光头部202读取的信号中检测特性信息，根据检测出的特性信息，判别记录介质100的特性(记录介质100是HtoL型光盘还是LtoH型光盘)。 [0102] 信号极性反转机构206根据由光头部202读取的特性信息，对表示用户信息的信号的极性进行反转。

[0103] 例如，在记录介质100是HtoL型的情况下，将与记录标记对应的信号的极性从负反转为正，将与间隙对应的信号的极性从正反转为负。另一方面，在记录介质100是LtoH型光盘的情况下，将与记录标记对应的信号的极性维持为正，将与间隙对应的信号的极性维持为负。

[0104] 信号处理机构208包括边缘移动检测机构210、不对称检测机构212、β值检测机构214。通过信号处理机构208中包含的这些机构，对被输入的信号进行处理。例如，边缘检测机构210根据所输入的信号检测出边缘移动量。不对称检测机构212根据所输入的信号检测出信号的不对称。β值检测机构214根据所输入的信号检测出信号的β值。 [0105] 信号极性反转机构206对信号的极性进行控制，以使表示用户信息的信号中与记录标记对应的信号的极性为正，表示用户信息的信号中与间隙对应的信号的极性为负。极性被控制后的信号输入到信号处理机构208。因此，与装载于存取装置200的记录介质100是HtoL型光盘还是LtoH型光盘无关，信号处理机构208能够以与记录标记对应的信号的极性为正、与间隙对应的信号的极性为负为前提，对所输入的信号进行处理。结果，能够削减系统控制器的开发负担，提高排除错误效率。

[0106] 调制度运算机构216根据特性信息计算表示用户信息的信号的调制度。例外，对于调制度运算机构216的详细功能将在后面叙述。

[0107] 缺陷部分检测机构218根据由光头部202检测到的放射光的反射大小和规定的阈值，检测出至少一个缺陷部分。例如，有时在记录介质100的记录区域附着有异物(垃圾、指纹等)。当对附着有异物的区域照射光时，因异物的附着会引起反射光发生散射。因此，几乎无法从附着有异物的区域检测出反射光的反射大小。缺陷部分检测机构218检测出几乎无法检测到反射光的区域作为缺陷部分。

[0108] 阈值变更机构217为了按照特性信息调整检测到的反射大小与规定阈值之差值，对规定的阈值进行变更。例如，阈值变更机构217根据特性信息变更规定的阈值，以便能够通过调整检测到的反射大小与规定阈值的差值，来检测出被检测到的反射大小的异常。 [0109] 另外，对于阈值变更机构217和缺陷部分检测机构218的详细功能将在后面进行叙述。

[0110] 光盘控制器219根据从信号处理机构208、调制度运算机构216以及缺陷部分检测机构218中至少一个机构输出的信号，调整用于将信息记录于记录介质100的光的照射大小。例如，所调整的光的照射大小表示写入功率、删除功率、最低功率中至少一个。 [0111] 反射大小调整机构220根据特性信息和由光盘控制器219生成的信号，对用于从记录介质100再生信息的光的反射大小进行调整。反射大小调整机构220通过调整光头部202对记录介质100照射的光的照射大小，来调整光的反射大小。例如，在特性信息表示记录介质100是LtoH型的情况下，反射大小调整机构220通过减弱光头部202照射的光的强度，来降低光的反射大小。由此，可以降低由LtoH型光盘反射的光的强度。结果，能够高效地使用LS工的动态范围。

[0112] 下面，对调制度运算机构216的详细功能进行说明。

[0113] 调制度运算机构216根据由光头部202检测到的光的反射大小和特性信息，计算规定信息的调制度。具体而言，调制度运算机构216根据由光头部202检测出的光的反射大小，检测出由未记录区域(间隙)反射的光的反射大小和由记录部(记录标记)反射的光的反射大小，并根据检测到的两个大小计算规定信息的调制度。这里，由光头部202检测到的光的反射大小表示规定信息。

[0114] 图3A和图3B表示照射于光盘的光的照射大小和由光盘反射的光的反射大小的关系。图3A表示照射于HtoL型光盘的光的照射大小和由HtoL型光盘反射的光的反射大小的关系。横轴表示照射于HtoL型光盘的光的照射大小。纵轴表示由HtoL型光盘反射的光的反射大小。

[0115] 在由特性信息表示的特性为HtoL特性时，调制度Mod由(式1)定义。 [0116] (式1)

[0117] Mod＝(A-B)/A

[0118] 这里，‘A’表示由未记录区域(间隙)反射的光的反射大小，‘B’表示由记录部(记录标记)反射的光的反射大小。

[0119] 图3B表示照射于LtoH型光盘的光的照射大小和由LtoH型光盘反射 的光的反射大小的关系。横轴表示照射于LtoH型光盘的光的照射大小。纵轴表示由LtoH型光盘反射的光的反射大小。

[0120] 在由特性信息表示的特性为LtoH特性时，调制度Mod由(式2)定义。 [0121] (式2)

[0122] Mod＝(B-A)/B

[0123] 调制度运算机构216包括用于运算(式1)的第一运算器和用于运算(式2)的第二运算器。调制度运算机构216通过根据特信信息切换这两个运算器，能够计算规定信息的调制度。

[0124] 以往，在具有不同反射特性的光盘中，由于利用同一公式计算调制度，所以，例如当针对LtoH型光盘以上述(式1)测定调制度时，存在着调制度的灵敏度变差的不良情况。但是，如本实施方式这样，通过根据光盘的反射特性，切换用于运算(式1)的第一运算器和用于运算(式2)的第二运算器来求取调制度，可以使调制的灵敏度相同。

[0125] 在本实施方式中，通过提高调制度测定的精度，例如可以更加准确地决定最佳的记录功率。参照图4A和图4B对该最佳记录功率的决定方法进行以下的说明。 [0126] 图4A是与记录部的再生振幅减少的HtoL型光盘相关，对8T间隔(8Ts)、8T标记(8Tm)的单一图案的反复记录部和未记录部进行再生的图。纵轴表示再生记录部、未记录部时的再生振幅大小，横轴表示轨道方向(时间轴方向)。Atop如图4A所示，表示再生信号的反射大小的最大值，Abtm表示再生信号的反射大小的最小值。Atop和Abtm是根据某一基准大小的振幅大小。这里，基准大小可以作为在切断例如用于再生的激光功率时(激光熄灭时)检测到的大小。另外，基准大小也可以是检测再生振幅的电路中的规定大小。在本实施方式中，为了求取调制度使用了8T的反复信号，但本发明不限定于此。 [0127] 如图4B所示，为了决定最佳的记录功率Pwo，使记录功率Pw变化(从高的功率到低的功率)来测定调制度Mod。图4B，其纵轴是使记录功率变化而再生已记录的轨道时的调制度Mod，横轴表示记录功率Pw的变化。在记录功率Pw低时，由于再生信号的振幅小，所以调制度Mod减小。随着记录功率Pw变大，由于再生信号的振幅增大，所以调制度Mod 变大。准备了用于按光盘决定记录功率的参数。这些参数被预先记载于盘上，或按盘保持记录再生装置。作为其一个例子，有在某一记录功率(Ptg)时得到的调制度(Mtg)、开始记录的(将激光照射于盘时反射量开始变化时的记录功率)Pth、Pth与Ptg的比例关系参数kk、Ptg与Pwo的比例关系参数rr。这些参数满足Ptg＝Pth×kk及Pwo＝Ptg×rr的关系。Pth可以从以Ptg附近的记录功率进行记录时的调制度曲线的切线得到。最佳记录功率决定顺序首先以Ptg附近的几个功率测定调制度，如图4B所示得到调制度曲线。使用Mtg附近的调制度求取切线，求得作为与X轴的交点的Pth。将kk和rr与Pth相乘，算出最佳的记录功率Pwo。

[0128] 如上所述，在最佳记录功率Pwo的算出中，使用了调制度。因此，为了算出最佳的记录功率Pwo，需要求出恰当的调制度。本实施方式中根据光盘的反射特性，切换用于运算(式1)的第一运算器和用于运算(式2)的第二运算器来求出调制度。因此，能够算出恰当的调制度，并且，能够算出最佳的记录功率Pwo。

[0129] 下面，对阈值变更机构217和缺陷部分检测机构218的详细功能进行说明。 [0130] 图5表示检测到的光的反射大小、阈值、接地电平和检测信号。

[0131] 缺陷部分根据光的反射大小和阈值而检测出。由LtoH型光盘的间隙(未记录部)反射的光的反射大小B与接地电平的差值，比由HtoL型光盘的间隙(未记录部)反射的光的反射大小A与接地电平的差值小。因此，在LtoH型光盘的情况下，需要在反射大小B与接地电平之间正确设定用于检测缺陷部分的阈值B。例如，在针对LtoH型光盘设定阈值A时，由于阈值A的大小和反射大小B接近，所以，能够误检测出未记录部(间隙)是缺陷部分。

[0132] 在特性判别机构204根据特性信息判别出光盘的特性是LtoH特性时，阈值变更机构217变更阈值，以便能够检测出所检测的反射大小的异常。例如，按照为了增大光的反射大小B与接地电平B的差值而减小阈值B的方式，变更阈值B。阈值变更机构217将表示减小的阈值(阈值B)的信息输出到缺陷部分检测机构218。

[0133] 缺陷部分检测机构218对由信号表示的阈值B和反射大小进行比较， 生成表示缺陷部分的检测信号B。

[0134] 这样，通过按照能够检测出所检测的反射大小的异常的方式变更阈值，可以根据光的反射大小B和阈值B正确地检测出缺陷部分。存取装置200在缺陷部分检测期间保持控制动作。通过正确地检测出缺陷部分，存取装置200可以正确地识别保持控制动作所必须的期间。该情况下，存取装置200可以预先记录检测到的缺陷部分的区域，在控制时不对该被记录的区域进行控制动作。

[0135] 以上，参照图2～图5，对本发明实施方式的存取装置200进行了说明。 [0136] 例如在参照图2进行了说明的实例中，光头部202作为“读取记录于记录介质的规定信息的读取机构”而发挥功能，特性判别机构204、信号极性反转机构206、信号处理机构208、调制度运算机构216、阈值变更机构217、缺陷部分检测机构218、光盘控制器219、反射大小调整机构220作为“对被读取的所述规定信息进行处理的技术方案1所记载的信息处理装置”而发挥功能。但是，本发明的存取装置200不限定于图2所示的装置。只要能够达到上述各机构的功能，具有任意构成的装置都包含于本发明的范围内。

[0137] 例如，在记录介质100是HtoL型时，信号极性反转机构206可以将与记录标记对应的信号的极性维持为负，将与间隙对应的信号的极性维持为正，并且，在记录介质100是LtoH型光盘时，信号极性反转机构206可以将与记录标记对应的信号的极性从正反转为负，将与间隙对应的信号的极性从负反转为正。因此，与安装于存取装置200的记录介质100是HtoL型光盘还是LtoH型光盘无关，信号处理机构208能够以与记录标记对应的信号的极性为负、与间隙对应的信号的极性为正为前提，处理所输入的信号。结果，可以削减系统控制器的开发负担，提高排除错误效率。

[0138] 并且，不限定于通过反射大小调整机构220减弱光头部202照射的光的强度，来降低光头部202检测的光的反射大小。例如，在特性信息表示记录介质100是LtoH型的情况下，通过反射大小调整机构220减弱光头部202的放射光检测能力，可以降低光头部202检测的光的反射大小。因此，能够减弱由LtoH型光盘反射的光的强度，结果，可以有效的使用LSI 的动态范围。

[0139] 另外，即使在光盘中没有记载特性信息的情况下，特性判别机构204也能够判别光盘的特性。例如，光头部202对没有记载特性信息的光盘的未记录区域照射光。光头部202检测由未记录区域反射的光的反射大小，将表示由未记录区域反射的光的反射大小的信号发送给特性判别机构204。特性判别机构204能够根据由该信号表示的光的反射大小是否大于规定值，判别该光盘是HtoL型还是LtoH型。

[0140] 这样的特性判别也可以针对记录了特性信息的记录介质100进行。此时，当特性判别机构204根据光的反射大小判别的反射特性、与特性判别机构204根据特性信息判别的反射特性发生矛盾时，能够采取下述措施，即，特性判别机构204再次检测出光盘的反射大小来判别特性、特性判别机构204使特性信息优先并进行其后的处理，或者特性判别机构204使光盘控制器219动作、禁止向光盘的写入等。

[0141] 3.存取方法

[0142] 图6表示本发明实施方式的存取处理顺序。

[0143] 下面，参照图1、图2和图6，按步骤说明本发明实施方式的存取处理顺序。存取处理顺序由存取装置200执行。记录介质100被插入在存取装置200中。

[0144] 步骤302：起动存取装置200。

[0145] 步骤304：伴随着存取装置200的起动，光头部202对记录介质100的PIC区域104进行访问，光头部202从PIC区域104读出特性信息。

[0146] 步骤306：特性判别机构204根据所读取的特性信息，判别记录介质100是HtoL型光盘还是LtoH型光盘。

[0147] 步骤308：在判别为记录介质100是HtoL型光盘时，特性判别机构204对信号极性反转机构206、阈值变更机构217、调制度运算机构216以及反射大小调整机构220，进行用于处理从HtoL型光盘读取的信息的设定。

[0148] 在判别为记录介质100是LtoH型光盘时，特性判别机构204对信号极性反转机构206、阈值变更机构217、调制度运算机构216以及反射大小调整机构220，进行用于处理从LtoH型光盘读取的信息的设定。

[0149] 在完成了用于处理从光盘读取的信息的设定之后，处理进入到步骤310。 [0150] 步骤310：光头部202对记录介质100的数据区域102进行访问，光头部202从数据区域102读取用户信息。

[0151] 步骤312：存取装置200对读取的用户信息进行处理。

[0152] 以上，参照图1、图2及图5，对本发明实施方式的存取处理顺序进行了说明。 [0153] 另外，本发明的存取处理顺序不限于图6所示的顺序。只要能够执行上述各顺序，则具有任意顺序的方法都包含在本发明的范围内。

[0154] 以上，参照图1～图6对本发明的实施方式进行了说明。

[0155] 例如，图2所示的实施方式中说明过的各机构可以通过硬件实现，也可以通过软件实现，还可以通过硬件和软件实现。无论是在通过硬件实现的情况下，通过软件实现的情况下，还是通过硬件和软件实现的情况下，只要能够执行本发明的存取处理顺序，则可以具有任意的顺序。

[0156] 例如，在本发明的存取装置中，存储有用于执行存取处理的存取处理程序。 [0157] 存取处理程序可以在计算机出厂时预先存储到存取装置所包含的存储机构中。或者，也可以在计算机出厂后，将存取处理程序存储到存储机构中。例如，用户可以从互联网上特定的网站付费或免费下载存取处理程序，将下载后的程序安装于计算机。在存取处理程序记录在软盘、CD-ROM、DVD-ROM等计算机可读取的记录介质时，可以利用输入装置(例如盘驱动装置)将存取处理程序安装于计算机。安装后的存取处理程序被存储在存储机构。

[0158] 信息处理装置225(参照图2：包括特性判别机构204、信号极性反转机构206、信号处理机构208、调制度运算机构216、阈值变更机构217、缺陷部分检测机构218、光盘控制器219和反射大小调整机构220)可以制造为单芯片化的LSI(半导体集成电路)或作为其一部分而被制造。在信息处理装置225作为单芯片化的LSI而被制造的情况下，可以使存取装置的制造工序简单。另外，也可以使构成信息处理装置25的各部独立地被制造为LSI，还可以使构成信息处理装置225的一部分独立地被制造为 LSI。

[0159] 另外，举例说明了在存取装置200中从记录有特性信息的记录介质100读取特性信息的情况，但特性信息的取得路径不限定于此。例如，也可以是存取装置200按未图示的存储部等预先存储多个特性信息，从存储度读取与搭载于存取装置200的光盘对应的特性信息，进行使用。而且，存取装置200也可以从外部，例如互联网上的特性网站取得特性信息。

[0160] 如上所述，利用本发明的优选实施方式对本发明进行了例示，但不应该解释为本发明限定于该实施方式。可理解为本发明仅由发明内容的范围限定其范围。本领域人员根据本发明的记载及技术常识，可以从本发明具体的优选实施方式的记载实施等价的范围。应当认为本说明书中引用的专利、专利申请及文献，其内容自身被具体地记载于本说明书，其内容作为对本说明书的参考而被引用。