本发明涉及一种终端测试仪，用于通过指定电流检测接线盒内二极管的极性或焊接情况。所述终端测试仪包含有测试电路和数显电压表，所述测试电路包含有时基电路、时序电路、报警电路、电压比较电路、测量保存电路、差分放大电路和电流发生控制电路。本发明终端测试仪，能够准确检测出接线盒内串联的二极管正负极性以及焊接情况。
1.一种终端测试仪，其特征在于：所述终端测试仪包含有测试电路和数显电压表，所述测试电路包含有时基电路、时序电路、报警电路、电压比较电路、测量保存电路、差分放大电路和电流发生控制电路，
所述时基电路由555定时器JP1构成多谐振荡器，即所述555定时器JP1的1脚接地，
2脚与6脚相连后一路经电阻R1与7脚相连，另一路经电容C2接地，4脚和8脚与高电平VCC相连，5脚经电容C1接地，7脚经电阻R2与高电平VCC相连；
所述时序电路包含有CD4017时序发生器JP2，所述CD4017时序发生器JP2的5脚和
6脚分别与二极管D1和D2的正极相连，所述二极管D1和D2的负极相连后一路与二极管D3的负极相连，另一路经R37与三极管Q1的基极相连，所述二极管D3的正极与9脚相连，所述Q3的发射极接地，集电极一路与扬声器LS1电源负极相连，另一路经电阻R4后与发光二极管D4的负极相连，D4的正极与扬声器LS1的正极相连，且扬声器LS1的正极与高电平VCC相连，所述JP2的8脚和13脚均接地，16脚与高电平VCC相连，14脚与JP1的3脚相连，15脚一路经R3与3脚相连，另一路与三极管Q6的集电极相连，三极管Q6的发射极接地，基极经电阻R35与双向开关S2的一端相连，S2的另一端接地，所述双向开关S1经电容C3接地；
所述报警电路包含有CD4013双D触发器JP3，所述JP3的3脚、 5脚、7脚、9脚和11脚均接地，4脚分别与二极管D5、D6的负极和电阻R7的一端相连，所述D5、D6的正极分别与JP2的3脚和1脚相连，所述电阻R7接地，所述JP3的6脚一路与JP2的4脚相连，另一路经电阻R6接地，所述JP3的10脚一路与JP2的2脚相连，一路经电阻R5接地，所述JP3的14脚与高电平VCC相连，13脚经电阻R8与三极管Q2的基极相连，所述三极管Q2的发射极接地，集电极一路经电阻R9与发光二极管D7的负极相连，另一路与扬声器LS2的电源负极相连，所述扬声器LS2的电源正极和发光二极管D7的正极均与高电平VCC相连；
所述电压比较电路包含有LM358运算放大器JP7，所述JP7的4脚和8脚均与高电平VCC相连，6脚一路与数显电压表相连，另一路与滑动变阻器R34的滑片相连，所述滑动变阻器R34一端接地，另一端接高电平VCC，所述JP7的7脚与二极管D20的正极相连，所述二极管D20的负极一路经电阻R29接地，另一路与JP3的8脚相连；
所述测量保存电路包含有LF398采样\保持器JP8，所述JP8的1脚和4脚与高电平VCC相连，2脚和6脚分别经电容C4和C7接地，3脚经电阻R32与JP7的5脚相连，所述JP8的5脚经电阻R33与数显电压表相连，所述JP8的8脚与JP2的10脚相连；
所述差分放大电路包含有LM358运算放大器JP6，所述JP6的1脚一路经R25与6脚相连，另一路经R39与2脚相连，所述JP6的2脚经电阻R26后与测试节点A相连，所述JP6的2脚与二极管D16的负极以及D17的正极相连，所述二极管D16的正极和D17的负极相连后一路经R30接地， 另一路直接与3脚相连，所述JP7的3脚经电阻R27与测试节点B相连，所述测试节点B接地，所述JP6的4脚和8脚与高电平VCC相连，7脚一路经电阻R28与6脚相连，另一路直接与JP7的5脚相连，所述JP6的6脚与二极管D18的负极以及D19的正极相连，所述二极管D18的正极已经D19的负极相连后一路经电阻R31接地，另一路与JP6的5脚相连；
所述电流发生控制电路包含有LM358运算放大器JP4和LM358运算放大器JP5，所述JP4的1脚经电阻R18与2脚相连，2脚经电阻R17与JP5的2脚相连，所述JP4的3脚一路与数显电压表相连，另一路与滑动变阻器R19的滑片相连，所述滑动变阻器R19一端接地，另一端与高电平VCC相连，所述JP4的4脚和8脚均与高电平VCC相连，所述JP5的1脚一路经电阻R15与2脚相连，另一路与电阻R16与6脚相连，所述JP5的2脚与二极管D13的正极和D14的负极相连，所述二极管D13的负极和D14的正极相连后与JP5的3脚相连，所述JP5的3脚经电阻R12接地，所述JP5的4脚和8脚与高电平VCC相连，所述JP5的5脚与二极管D10的负极和D12的正极相连，所述D10的正极和D12的负极相连后与JP5的6脚相连，所述JP5的5脚经电阻R11接地，该电阻R11上并联有一电容C5，所述JP5的5脚经电阻R38与测试节点A相连，所述JP5的6脚与二极管D15的负极相连，所述二极管D16的正极与JP3的2脚相连，所述JP5的6脚经电阻R13与三极管Q5的发射极相连，所述JP5的7脚经电阻R14后与三极管Q3的基极相连，所述三极管Q3的集电极经电阻R20与高电平VCC相连，所述三极管Q3的发射极经电阻R10与Q5的发射极相连，所述三极管Q3的发射极与三极管Q4的基极相连，所述三极管Q4的集电极经电阻R20与高电平VCC相连，所述三极管Q4的发射极与三极管Q5的基极相连，所述三极管Q5的集电极与高电平VCC相连，所述三极管Q5的发射极经电阻R23接地，所述三极管Q5的发射极经电阻R24与测试节点A相连。
终端测试仪
(一)技术领域
[0001] 本发明涉及一种终端测试仪，用于通过指定电流来检测接线盒的整体导通性。(二)背景技术
[0002] 目前，对于二极管的检测多采用万用表进行单个检测，以确定其正负极性或焊接情况，但对于接线盒内多个二极管串联的情况无法进行有效检测，无法确定二极管正负极是否连接正确或是否存在虚焊现象，更无法检测内部线路焊接是否正常。(三)发明内容
[0003] 本发明的目的在于克服上述不足，提供一种能够通过指定电流准确检测出接线盒内串联的二极管正负极性以及焊接情况的终端测试仪。
[0004] 本发明的目的是这样实现的：终端测试仪，包含有测试电路和数显电压表，所述测试电路包含有时基电路、时序电路、报警电路、电压比较电路、测量保存电路、差分放大电路和电流发生控制电路，
[0005] 所述时基电路由555定时器JP1构成多谐振荡器，即所述555定时器JP1的1脚接地，2脚与6脚相连后一路经电阻R1与7脚相连，另一路经电容C2接地，4脚和8脚与高电平VCC相连，5脚经电容C1接地，7脚经电阻R2与高电平VCC相连；
[0006] 所述时序电路包含有CD4017时序发生器JP2，所述CD4017时序发生器JP2的5脚和6脚分别与二极管D1和D2的正极相连，所述二极管D1和D2的负极相连后一路与二极管D3的负极相连，另一路经R37与三极管Q1的基极相连，所述二极管D3的正极与9脚相连，所述Q3的发射极接地，集电极一路与扬声器LS1电源负极相连，另一路经电阻R4后与发光二极管D4的负极相连，D4的正极与扬声器LS1的正极相连，且扬声器LS1的正极与高电平VCC相连，所述JP2的8脚和13脚均接地，16脚与高电平VCC相连，14脚与JP1的3脚相连，15脚一路经R3与3脚相连，另一路与三极管Q6的集电极相连，三极管Q6的发射极接地，基极经电阻R35与双向开关S2的一端相连，S2的另一端接地，所述双向开关S1经电容C3接地；
[0007] 所述报警电路包含有CD4013双D触发器JP3，所述JP3的3脚、5脚、7脚、9脚和11脚均接地，4脚分别与二极管D5、D6的负极和电阻R7的一端相连，所述D5、D6的正极分别与JP2的3脚和1脚相连，所述电阻R7接地，所述JP3的6脚一路与JP2的4脚相连，另一路经电阻R6接地，所述JP3的10脚一路与JP2的2脚相连，一路经电阻R5接地，所述JP3的14脚与高电平VCC相连，13脚经电阻R8与三极管Q2的基极相连，所述三极管Q2的发射极接地，集电极一路经电阻R9与发光二极管D7的负极相连，另一路与扬声器LS2的电源负极相连，所述扬声器LS2的电源正极和发光二极管D7的正极均与高电平VCC相连；
[0008] 所述电压比较电路包含有LM358运算放大器JP7，所述JP7的4脚和8脚均与高电平VCC相连，6脚一路与数显电压表相连，另一路与滑动变阻器R34的滑片相连，所述滑动变阻器R34一端接地，另一端接高电平VCC，所述JP7的7脚与二极管D20的正极相连，所述二极管D20的负极一路经电阻R29接地，另一路与JP3的8脚相连；
[0009] 所述测量保存电路包含有LF398采样\保持器JP8，所述JP8的1脚和4脚与高电平VCC相连，2脚和6脚分别经电容C4和C7接地，3脚经电阻R32与JP7的5脚相连，所述JP8的5脚经电阻R33与数显电压表相连，所述JP8的8脚与JP2的10脚相连；
[0010] 所述差分放大电路包含有LM358运算放大器JP6，所述JP6的1脚一路经R25与6脚相连，另一路经R39与2脚相连，所述JP6的2脚经电阻R26后与测试节点A相连，所述JP6的2脚与二极管D16的负极以及D17的正极相连，所述二极管D16的正极和D17的负极相连后一路经R30接地，另一路直接与3脚相连，所述JP7的3脚经电阻R27与测试节点B相连，所述测试节点B接地，所述JP6的4脚和8脚与高电平VCC相连，7脚一路经电阻R28与6脚相连，另一路直接与JP7的5脚相连，所述JP6的6脚与二极管D18的负极以及D19的正极相连，所述二极管D18的正极已经D19的负极相连后一路经电阻R31接地，另一路与JP6的5脚相连；
[0011] 所述电流发生控制电路包含有LM358运算放大器JP4和LM358运算放大器JP5，所述JP4的1脚经电阻R18与2脚相连，2脚经电阻R17与JP5的2脚相连，所述JP4的3脚一路与数显电压表相连，另一路与滑动变阻器R19的滑片相连，所述滑动变阻器R19一端接地，另一端与高电平VCC相连，所述JP4的4脚和8脚均与高电平VCC相连，所述JP5的1脚一路经电阻R15与2脚相连，另一路与电阻R16与6脚相连，所述JP5的2脚与二极管D13的正极和D14的负极相连，所述二极管D13的负极和D14的正极相连后与JP5的3脚相连，所述JP5的3脚经电阻R12接地，所述JP5的4脚和8脚与高电平VCC相连，所述JP5的5脚与二极管D10的负极和D12的正极相连，所述D10的正极和D12的负极相连后与JP5的6脚相连，所述JP5的5脚经电阻R11接地，该电阻R11上并联有一电容C5，所述JP5的5脚经电阻R38与测试节点A相连，所述JP5的6脚与二极管D15的负极相连，所述二极管D16的正极与JP3的2脚相连，所述JP5的6脚经电阻R13与三极管Q5的发射极相连，所述JP5的7脚经电阻R14后与三极管Q3的基极相连，所述三极管Q3的集电极经电阻R20与高电平VCC相连，所述三极管Q3的发射极经电阻R10与Q5的发射极相连，所述三极管Q3的发射极与三极管Q4的基极相连，所述三极管Q4的集电极经电阻R20与高电平VCC相连，所述三极管Q4的发射极与三极管Q5的基极相连，所述三极管Q5的集电极与高电平VCC相连，所述三极管Q5的发射极经电阻R23接地，所述三极管Q5的发射极经电阻R24与测试节点A相连。
[0012] 本发明的工作原理：
[0013] 使用时，将待测接线盒通过测试节点A和测试节点B接入终端测试仪；在使用中，电阻R24设为1欧姆，调节R19通过数显电压表控制输入电压，根据欧姆定律I＝U/R，可知输入电流在数值上等于输入电压，因而通过调节R19控制电压即实现了对电流的控制，并且在调整电流时，将电流选取为所用二极管的额定电流，通过瞬间输入的额定电流对接线盒进行检测，以确定内部线路焊接是否正常；随后通过调节R34来设定比较电压，如待测接线盒内串联有3个肖特基二极管，其PN结导通电压总和为1.5V，即调节R34使得比较电压为1.5V，随后观察接线盒的电压示数，若示数在1.5V左右，则接线盒内二极管和线路均连接正常；若二极管正负极性接反或线路存在虚焊等问题，则触发CD4013控制扬声器LS2进行报警，此时，检测人员打开接线盒即可对接线盒内电路进行观察，找出具体问题予以解决。
[0014] 本发明的有益效果是：
[0015] 可方便的对接线盒内串联二极管进行极性或焊接情况的检测，使用时，可将测试节点A和测试节点B作为端子引出，需要检测时只需对插即可方便的完成检测，大大提高了工作效率。(四)附图说明
[0016] 图1为本发明电路示意图。(五)具体实施方式
[0017] 参见图1，本发明涉及一种终端测试仪，包含有测试电路和数显电压表，所述测试电路包含有时基电路、时序电路、报警电路、电压比较电路、测量保存电路、差分放大电路和电流发生控制电路，
[0018] 所述时基电路由555定时器JP1构成多谐振荡器，即所述555定时器JP1的1脚接地，2脚与6脚相连后一路经电阻R1与7脚相连，另一路经电容C2接地，4脚和8脚与高电平VCC相连，5脚经电容C1接地，7脚经电阻R2与高电平VCC相连；
[0019] 所述时序电路包含有CD4017时序发生器JP2，所述CD4017时序发生器JP2的5脚和6脚分别与二极管D1和D2的正极相连，所述二极管D1和D2的负极相连后一路与二极管D3的负极相连，另一路经R37与三极管Q1的基极相连，所述二极管D3的正极与9脚相连，所述Q3的发射极接地，集电极一路与扬声器LS1电源负极相连，另一路经电阻R4后与发光二极管D4的负极相连，D4的正极与扬声器LS1的正极相连，且扬声器LS1的正极与高电平VCC相连，所述JP2的8脚和13脚均接地，16脚与高电平VCC相连，14脚与JP1的3脚相连，15脚一路经R3与3脚相连，另一路与三极管Q6的集电极相连，三极管Q6的发射极接地，基极经电阻R35与双向开关S2的一端相连，S2的另一端接地，所述双向开关S1经电容C3接地；
[0020] 所述报警电路包含有CD4013双D触发器JP3，所述JP3的3脚、5脚、7脚、9脚和11脚均接地，4脚分别与二极管D5、D6的负极和电阻R7的一端相连，所述D5、D6的正极分别与JP2的3脚和1脚相连，所述电阻R7接地，所述JP3的6脚一路与JP2的4脚相连，另一路经电阻R6接地，所述JP3的10脚一路与JP2的2脚相连，一路经电阻R5接地，所述JP3的14脚与高电平VCC相连，13脚经电阻R8与三极管Q2的基极相连，所述三极管Q2的发射极接地，集电极一路经电阻R9与发光二极管D7的负极相连，另一路与扬声器LS2的电源负极相连，所述扬声器LS2的电源正极和发光二极管D7的正极均与高电平VCC相连；
[0021] 所述电压比较电路包含有LM358运算放大器JP7，所述JP7的4脚和8脚均与高电平VCC相连，6脚一路与数显电压表相连，另一路与滑动变阻器R34的滑片相连，所述滑动变阻器R34一端接地，另一端接高电平VCC，所述JP7的7脚与二极管D20的正极相连，所述二极管D20的负极一路经电阻R29接地，另一路与JP3的8脚相连；
[0022] 所述测量保存电路包含有LF398采样\保持器JP8，所述JP8的1脚和4脚与高电平VCC相连，2脚和6脚分别经电容C4和C7接地，3脚经电阻R32与JP7的5脚相连，所述JP8的5脚经电阻R33与数显电压表相连，所述JP8的8脚与JP2的10脚相连；
[0023] 所述差分放大电路包含有LM358运算放大器JP6，所述JP6的1脚一路经R25与6脚相连，另一路经R39与2脚相连，所述JP6的2脚经电阻R26后与测试节点A相连，所述JP6的2脚与二极管D16的负极以及D17的正极相连，所述二极管D16的正极和D17的负极相连后一路经R30接地，另一路直接与3脚相连，所述JP7的3脚经电阻R27与测试节点B相连，所述测试节点B接地，所述JP6的4脚和8脚与高电平VCC相连，7脚一路经电阻R28与6脚相连，另一路直接与JP7的5脚相连，所述JP6的6脚与二极管D18的负极以及D19的正极相连，所述二极管D18的正极已经D19的负极相连后一路经电阻R31接地，另一路与JP6的5脚相连；
[0024] 所述电流发生控制电路包含有LM358运算放大器JP4和LM358运算放大器JP5，所述JP4的1脚经电阻R18与2脚相连，2脚经电阻R17与JP5的2脚相连，所述JP4的3脚一路与数显电压表相连，另一路与滑动变阻器R19的滑片相连，所述滑动变阻器R19一端接地，另一端与高电平VCC相连，所述JP4的4脚和8脚均与高电平VCC相连，[0025] 所述JP5的1脚一路经电阻R15与2脚相连，另一路与电阻R16与6脚相连，所述JP5的2脚与二极管D13的正极和D14的负极相连，所述二极管D13的负极和D14的正极相连后与JP5的3脚相连，所述JP5的3脚经电阻R12接地，所述JP5的4脚和8脚与高电平VCC相连，所述JP5的5脚与二极管D10的负极和D12的正极相连，所述D10的正极和D12的负极相连后与JP5的6脚相连，所述JP5的5脚经电阻R11接地，该电阻R11上并联有一电容C5，所述JP5的5脚经电阻R38与测试节点A相
[0026] 连，所述JP5的6脚与二极管D15的负极相连，所述二极管D16的正极与JP3的2脚相连，所述JP5的6脚经电阻R13与三极管Q5的发射极相连，所述JP5的7脚经电阻R14后与三极管Q3的基极相连，所述三极管Q3的集电极经电阻R20与高电平VCC相连，所述三极管Q3的发射极经电阻R10与Q5的发射极相连，所述三极管Q3的发射极与三极管Q4的基极相连，所述三极管Q4的集电极经电阻R20与高电平VCC相连，所述三极管Q4的发射极与三极管Q5的基极相连，所述三极管Q5的集电极与高电平VCC相连，所述三极管Q5的发射极经电阻R23接地，所述三极管Q5的发射极经电阻R24与测试节点A相连。
