一种判别测角仪器的误差源的方法转让专利

申请号 : CN201010189623.X

文献号 : CN101865698B

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发明人 : 孟庆华

申请人 : 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

摘要 :

本发明判别测角仪器的误差源的方法属于精密仪器测量技术领域,该方法是:用两个0.2″自准光管互相对瞄,建立基准线,基准线误差小于1″;在测角仪器的转台上固定一平面反射镜;转动测角仪器的转台,利用平面反射镜分别对两个光管进行自准,记下测角仪器编码器的读数;观察两次对准的编码器角度差值偏离180°的情况,若测得的偏离值根据测角仪器总体精度分配要求在允许偏差内,则影响测量精度的误差源是光学瞄准系统;若测得的偏离值根据测角仪器总体精度分配要求不在允许偏差内,则影响测量精度的误差源是轴或编码器。本发明方法可以准确、有效的判断影响测量精度的误差源,也可作为经纬仪等测角仪器部件过程检验的方法。

权利要求 :

1.一种判别测角仪器的误差源的方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:步骤一:用两个0.2″自准光管互相对瞄,建立基准线,基准线误差小于1″;

步骤二:在测角仪器的转台上固定一平面反射镜;

步骤三:转动测角仪器的转台,利用平面反射镜分别对两个0.2″自准光管进行自准,记下测角仪器编码器的读数;

步骤四:观察两次自准的测角仪器编码器读数差值偏离180°的情况,若测得的偏离值根据测角仪器总体精度分配要求在允许偏差内,则表明轴系误差、编码器误差满足要求,影响测量精度的误差源是光学瞄准系统;若测得的偏离值根据测角仪器总体精度分配要求不在允许偏差内,则表明影响测量精度的误差源是轴系或编码器;从而完成判别测角仪器的误差源的方法。

2.根据权利要求1所述的判别测角仪器的误差源的方法,其特征在于,所述测角仪器为点衍射干涉仪或经纬仪或弹道相机。

3.根据权利要求1所述的判别测角仪器的误差源的方法,其特征在于,所述测角仪器为经纬仪时,步骤二所述的平面反射镜的固定位置为经纬仪四通上或水平轴轴头上,步骤三所述的转动测角仪器的转台为转动经纬仪的垂直轴或水平轴。

说明书 :

一种判别测角仪器的误差源的方法

技术领域

[0001] 本发明主要应用于光电测量领域,属于精密仪器测量技术领域,涉及一种判别测角仪器的误差源的方法。

背景技术

[0002] 随着测角仪器在国防、军工、航空和航天等领域的发展和应用,对测角仪器的测量精度要求越来越高。为了保证测角仪器的测量精度,在装调和使用过程中,当测量精度超差时,准确判断误差来源已成为非常重要的环节。在亚纳米级高精度点衍射干涉仪做绝对标定时,需准确旋转被测光学元件进行干涉图采集,判别误差源的方法复杂。经纬仪等测角仪器的单一部件装调检测后,再装配在一起进行精度测量。当各部件装调检测合格后,或测角仪器使用一段时间后,仪器的测量精度可能达不到测量要求,由于影响精度的部件和因素较多,有时判断哪个部件精度不满足要求相对比较困难。因此,如何能够快速准确地判别测角仪器的误差源,是急待解决的问题。

发明内容

[0003] 本发明的目的是提供一种判别测角仪器的误差源的方法,该方法能够快速准确地判别测角仪器的误差源,省时省力。
[0004] 为了达到上述目的,本发明的技术方案如下:
[0005] 一种判别测角仪器的误差源的方法,包括如下步骤:
[0006] 步骤一:用两个0.2″自准光管互相对瞄,建立基准线,基准线误差小于1″;
[0007] 步骤二:在测角仪器的转台上固定一平面反射镜;
[0008] 步骤三:转动测角仪器的转台,利用平面反射镜分别对两个0.2″自准光管进行自准,记下测角仪器编码器的读数;
[0009] 步骤四:观察两次自准的测角仪器编码器读数差值偏离180°的情况,若测得的偏离值根据测角仪器总体精度分配要求在允许偏差内,则表明轴系误差、编码器误差满足要求,影响测量精度的误差源是光学瞄准系统;若测得的偏离值根据测角仪器总体精度分配要求不在允许偏差内,则表明影响测量精度的误差源是轴系或编码器;从而完成判别测角仪器的误差源的方法。
[0010] 本发明的有益效果是:该方法可以准确、有效的判断影响测角仪器测量精度的因素是轴系、编码器,还是光学瞄准系统;本发明的方法也可以作为经纬仪等测角仪器部件过程检验的方法。

具体实施方式

[0011] 下面结合具体实施例对本发明作进一步详细说明。
[0012] 本发明判别测角仪器的误差源的方法已在多种测角类仪器中成功试用,比如,点衍射干涉仪、经纬仪等测角仪器。