获取高分辨率测井曲线的方法及装置

摘要

本发明实施例为一种获取高分辨率测井曲线的方法及装置，涉及油气勘探技术领域，其中所述方法包括：通过岩心实验采集目标岩心的目标地质参数；根据各个多级反褶积校正公式以及原始测井曲线获取对应各个校正公式的多级校正曲线；根据获取到的各个多级校正曲线判断与所述采集到的目标地质参数最接近的一条多级校正曲线。本发明实施例所提供的方法及装置可以针对不同地层的测井曲线进行校正，提高测井曲线的分辨率，从而获取高分辨率的测井曲线。

权利要求

1.一种获取高分辨率测井曲线的方法，其特征在于，所述方法包括：通过岩心实验采集目标岩心的目标地质参数；

根据各个多级反褶积校正公式以及原始测井曲线获取对应各个校正公式的多级校正曲线，所述多级反褶积校正公式为3+（n-1）×2级反褶积校正公式，其中n为自然数；

根据获取到的各个多级校正曲线判断与所述采集到的目标地质参数最接近的一条多级校正曲线。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在采集所述目标岩心的目标地质参数时，采样间距不大于0.125米。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述各个多级反褶积校正公式至少包括当n为1时的三级的校正公式：XR(zi)＝M[-X(zi-1)+N·X(zi)-X(zi+1)]其中XR(Zi)表示对应目标岩心上目标采集点的地质参数校正值，X(Zi)表示原始测井曲线上对应目标采集点的地质参数原始值，Zi为目标采集点，Zi+1和Zi-1为目标采集点具有2

一个采样间距的相邻采样点，M＝1/（αΔz），α为地质特征参数，Δz为采样间距，N＝2

2+（αΔz）。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述各个多级反褶积校正公式还包括当n为2时的五级的校正公式：其中XR(Zi)表示对应目标岩心上目标采集点的校正值，X(Zi)表示原始测井曲线上对应目标采集点的原始值，Zi为目标采集点，Zi+2和Zi-2为目标采集点具有两个采样间距的采样点，M＝1/（αΔz）2，α为地质特征参数，Δz为采样间距，N＝2+（αΔz）2，λ和μ均为权重系数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述各个多级反褶积校正公式还包括当n为3时的七级的校正公式：其中XR(Zi)表示对应目标岩心上目标采集点的校正值，X(Zi)表示原始测井曲线上对应目标采集点的原始值，Zi为目标采集点，Zi+3和Zi-3为目标采集点具有三个采样间距的采样点，M＝1/（αΔz）2，α为地质特征参数，Δz为采样间距，N＝2+（αΔz）2，λ和μ均为权重系数。

6.一种获取高分辨率测井曲线的装置，其特征在于，所述装置包括：采集单元，用于通过岩心实验采集目标岩心的目标地质参数；

获取单元，用于根据各个多级反褶积校正公式以及原始测井曲线获取对应各个校正公式的多级校正曲线，所述多级反褶积校正公式为3+（n-1）×2级反褶积校正公式，其中n为自然数；

决策单元，用于根据所述获取单元获取到的各个多级校正曲线判断与所述采集单元采集到的目标地质参数最接近的一条多级校正曲线。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：存储单元，用于存储3+（n-1）×2级反褶积校正公式，其中n为自然数。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述3+（n-1）×2级反褶积校正公式至少包括n为1时的三级的校正公式：XR(zi)＝M[-X(zi-1)+N·X(zi)-X(zi+1)]其中XR(Zi)表示对应目标岩心上目标采集点的地质参数校正值，X(Zi)表示原始测井曲线上对应目标采集点的地质参数原始值，Zi为目标采集点，Zi+1和Zi-1为目标采集点具有2

一个采样间距的相邻采样点，M＝1/（αΔz），α为地质特征参数，Δz为采样间距，N＝2

2+（αΔz）。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述获取单元包括：计算模块，用于根据存储单元存储的3+（n-1）×2级反褶积校正公式计算地质参数校正值；

曲线拟合模块，用于根据计算模块计算出的地质参数校正值拟合曲线。

说明书

获取高分辨率测井曲线的方法及装置

技术领域

[0001] 本发明实施例涉及油气勘探技术领域，特别涉及一种获取高分辨率测井曲线的方法及装置。

背景技术

[0002] 随着人类文明的快速发展，对能源的需求与日俱增，其中对石油、天然气的需求更为强烈。为了有效探测油层，通常在地层测井时会对目标地层进行地质参数采集，这些地质参数包括地层电阻率、放射性等，通过将获取到相同属性的大量地质参数连成一条曲线（即测井曲线）来描述目标地层的相应地质状况，从而有助于研究人员可以更直观了解地层的地质结构，作出判断。

[0003] 然而，地层的结构非常复杂，比如对于一些较薄的地层，测井曲线的分辨率较低，不能对地层进行准确的描述。虽然现有技术中会对测井曲线进行校正，但这种校正并没有针对性，即用统一的公式来校正不同地层不同特征的测井曲线，所以校正效果不佳。

发明内容

[0004] 本发明实施例的目的在于提供一种获取高分辨率测井曲线的方法及装置，在分析地层结构中，本发明实施例所提供的方法及装置可以针对不同地层的测井曲线进行校正，提高测井曲线的分辨率，从而获取高分辨率的测井曲线。

[0005] 为实现上述目的，本发明实施例提供一种获取高分辨率测井曲线的方法，所述方法包括：

[0006] 通过岩心实验采集目标岩心的目标地质参数；

[0007] 根据各个多级反褶积校正公式以及原始测井曲线获取对应各个校正公式的多级校正曲线，所述多级反褶积校正公式为3+（n-1）×2级反褶积校正公式，其中n为自然数；

[0008] 根据获取到的各个多级校正曲线判断与所述采集到的目标地质参数最接近的一条多级校正曲线。

[0009] 为了较准确的采集地质数据，在采集所述目标岩心的目标地质参数时，采样间距不大于0.125米，比如0.1米。

[0010] 其中各个多级反褶积校正公式至少包括当n为1时的三级的校正公式：

[0011] XR(zi)＝M[-X(zi-1)+N·X(zi)-X(zi+1)]

[0012] 其中XR(Zi)表示对应目标岩心上目标采集点的校正值，X(Zi)表示原始测井曲线上对应目标采集点的原始值，Zi为目标采集点，Zi+1和Zi-1为目标采集点具有一个采样间距2 2
的相邻采样点，M＝1/（αΔz），α为地质特征参数，Δz为采样间距，N＝2+（αΔz）。

[0013] 各个多级反褶积校正公式还包括当n为2时的五级的校正公式：

[0014]

[0015] 其中XR(Zi)表示对应目标岩心上目标采集点的校正值，X(Zi)表示原始测井曲线上对应目标采集点的原始值，Zi为目标采集点，Zi+1和Zi-1为目标采集点具有一个采样间距2 2
的相邻采样点，M＝1/（αΔz），α为地质特征参数，Δz为采样间距，N＝2+（αΔz），λ和μ均为权重系数。

[0016] 各个多级反褶积校正公式还包括当n为3时的七级的校正公式：

[0017]

[0018]

[0019] 其中XR(Zi)表示对应目标岩心上目标采集点的校正值，X(Zi)表示原始测井曲线上对应目标采集点的原始值，Zi为目标采集点，Zi+1和Zi-1为目标采集点具有一个采样间距2 2
的相邻采样点，M＝1/（αΔz），α为地质特征参数，Δz为采样间距，N＝2+（αΔz），λ和μ均为权重系数。

[0020] 为实现上述目的，本发明实施例还提供一种获取高分辨率测井曲线的装置，所述装置包括：

[0021] 采集单元，用于通过岩心实验采集目标岩心的目标地质参数；

[0022] 获取单元，用于根据各个多级反褶积校正公式以及原始测井曲线获取对应各个校正公式的多级校正曲线，所述多级反褶积校正公式为3+（n-1）×2级反褶积校正公式，其中n为自然数；

[0023] 决策单元，用于根据所述获取单元获取到的各个多级校正曲线判断与所述采集单元采集到的目标地质参数最接近的一条多级校正曲线。

[0024] 所述装置还包括：

[0025] 存储单元，用于存储3+（n-1）×2级反褶积校正公式，其中n为自然数。

[0026] 其中所述3+（n-1）×2级反褶积校正公式至少包括n为1时的三级的校正公式：

[0027] XR(zi)＝M[-X(zi-1)+N·X(zi)-X(zi+1)]

[0028] 其中XR(Zi)表示对应目标岩心上目标采集点的地质参数校正值，X(Zi)表示原始测井曲线上对应目标采集点的地质参数原始值，Zi为目标采集点，Zi+1和Zi-1为目标采集点2
具有一个采样间距的相邻采样点，M＝1/（αΔz），α为地质特征参数，Δz为采样间距，
2
N＝2+（αΔz）。

[0029] 为了有效获取多级校正曲线，所述获取单元包括：

[0030] 计算模块，用于根据存储单元存储的3+（n-1）×2级反褶积校正公式计算地质参数校正值；

[0031] 曲线拟合模块，用于根据计算模块计算出的地质参数校正值拟合曲线。

[0032] 本发明实施例的优点在于可以对不同地层的测井曲线进行有效校正，提高测井曲线的分辨率，从而根据获取到的高分辨率测井曲线准确分析地层的地质状况。

附图说明

[0033] 为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

[0034] 图1为本发明实施例的一种获取高分辨率测井曲线的方法的示意流程图。

[0035] 图2为岩心实验采集目标岩心自然伽马值数据与校正前后测井曲线的对比图。

[0036] 图3为本发明实施例的获取高分辨率测井曲线装置的功能结构框图。

具体实施方式

[0037] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，但并不作为对本发明的限定，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

[0038] 本发明实施例提供一种获取高分辨率测井曲线的技术，该技术通过对测井曲线的校正使得校正后的测井曲线更加符合目标地层的真实地质状况，从而为准确描述目标地层的地质奠定良好基础。

[0039] 基于此，本实施例提供一种获取高分辨率测井曲线的方法，如图1所示，图1为本实施例的一种获取高分辨率测井曲线的方法的示意流程图，该流程包括如下步骤：

[0040] 101.通过岩心实验采集目标岩心的目标地质参数。

[0041] 本实施例得先采集目标岩心的目标地质参数，该步骤通过岩心实验来采集，其中目标岩心为从目标测井地层采样的地质标本，该标本可以代表该地层的地质特性，比如若要对探测较薄的地层的原始测井曲线进行校正，那就将在该较薄的地层中采集岩心。而目标地质参数是指欲采集的地质参数，该参数是与原始测井曲线地质属性相同的参数，比如当原始测井曲线是描述较薄地层电阻率的，那目标地质参数就是待测电阻率参数；当原始测井曲线是描述较薄地层放射性的（即由自然伽马值组成的曲线），那目标地质参数就是待测自然伽马值。

[0042] 而为了较准确的采集地质数据，本步骤在采集目标岩心的目标地质参数时，采样间距不大于0.125米，比如在目标岩心上每隔0.1米采样一次地质数据。

[0043] 102.根据各个多级反褶积校正公式以及原始测井曲线获取对应各个校正公式的多级校正曲线。

[0044] 本实施例通过多级反褶积校正公式来获取校正曲线，该多级反褶积公式可以为3+（n-1）×2级反褶积校正公式，其中n为自然数。这样该多级反褶积校正公式至少为3级反褶积，所以本实施例中该各个多级反褶积校正公式至少包括当n为1时的3级的校正公式：

[0045] XR(zi)＝M[-X(zi-1)+N·X(zi)-X(zi+1)]

[0046] 其中XR(Zi)表示对应目标岩心上目标采集点的地质参数校正值，X(Zi)表示原始测井曲线上对应目标采集点的地质参数原始值，该参数可通过原始测井曲线获得，Zi为目2
标采集点，Zi+1和Zi-1为目标采集点具有一个采样间距的相邻采样点，M＝1/（αΔz），α
2
为地质特征参数，Δz为采样间距，N＝2+（αΔz）。

[0047] 该公式可由下述方法推导而来，当确定了采集点Zi后，即可确定距该采集点Zi一个采样间距Δz的相邻采样点Zi+1和Zi-1，由于该地质参数校正值XR(Zi)可以表示为：

[0048]

[0049] 所以在离散化二阶导数，通过二阶中心差商可导出公式：

[0050]

[0051] 将导出公式代入地质参数校正值XR(Zi)公式后，即可获得3级反褶积校正公式：

[0052] XR(zi)＝M[-X(zi-1)+N·X(zi)-X(zi+1)]

[0053] 为了更准确的校正原始测井曲线，确定与目标地质参数最接近的校正曲线，本实施例可以通过更多的多级反褶积校正公式来获取校正曲线。比如当n为2时的5级的校正公式：

[0054]

[0055] 当根据加权平均获得公式：

[0056]

[0057] 后，将其代入地质参数校正值XR(Zi)公式即可获得5级的校正公式。其中各个参量的含义与3级的校正公式相同，故不再赘述，而Zi+2和Zi-2为目标采集点具有两个采样间距的采样点。

[0058] 同理，多级反褶积校正公式还包括当n为3时的七级的校正公式：

[0059]

[0060]

[0061] 其中各个参量的含义与3级的校正公式相同，故不再赘述，而Zi+3和Zi-3为目标采集点具有三个采样间距的采样点。

[0062] 这样就可以获取每个反褶积校正公式所对应的离散地质参数校正值，将这些相邻的离散地质参数校正值各个连接即可获得每个反褶积校正公式所对应的多级校正曲线。

[0063] 203.根据获取到的各个多级校正曲线判断与所述采集到的目标地质参数最接近的一条多级校正曲线。

[0064] 由于通过岩心实验采集的地质参数是比较准确的，所以越靠近通过岩心实验采集的地质参数，则校正曲线的校正效果越好。本步骤根据步骤202获取到的各个多级校正曲线判断与所述采集到的目标地质参数最接近的一条多级校正曲线。比如当通过岩心实验采集的地质参数几乎都与3级校正公式对应的3级校正曲线吻合（即通过岩心实验采集的地质参数几乎都落在曲线上），那么该3级校正曲线就是最接近目标地质参数的曲线。对于目标岩心对应的油井，可以通过3级校正曲线来描述该油井的地质状况。而对于该地层上的其他油井，则可以通过3级反褶积校正公式来对测井曲线进行校正。这样可以对不同地层的测井曲线进行有效校正，提高测井曲线的分辨率，从而根据获取到的高分辨率测井曲线准确分析地层的地质状况。

[0065] 为了本领域技术人员能更清楚的理解本发明实施例所述的方法，下面引用一示例来说明，需要注意的是本示例中的数字及地质参数仅仅是示例性的，不能将其做为限制本发明保护范围的解释，本领域技术人员应清楚了解本发明实施例所述的方法还可以通过其他具体的示例来表达。

[0066] 如图2所示，图2为岩心实验采集目标岩心自然伽马值数据与校正前后测井曲线的对比图，从图2可以清楚看出目标岩心为2313～2320米的岩心样本，在这段深度内的岩心自然伽马值通过岩心实验采集获得并反映在了图2中，其中采样间距Δz为0.125米。图2中的连续曲线为原始测井曲线，该测井曲线是实地测量的描述该地层放射性的测井曲线。

[0067] 为了对该原始测井曲线进行校正，本示例计算了三条多级反褶积校正曲线：3级反褶积校正曲线、5级反褶积校正曲线和7级反褶积校正曲线，其中3级反褶积校正公式中取α=2，Δz=0.125，所以M=16，N=2.0625，将这些参数代入公式，即

[0068] XR(zi)＝16[-X(zi-1)+2.0625·X(zi)-X(zi+1)]

[0069] 根据原始测井曲线将采集点的地质参数原始值代入后可以算出各采集点的地质参数校正值，将相邻的校正值连接后即为3级反褶积校正曲线。同理，当取λ=0.6，μ=0.4时，5级反褶积校正公式为：

[0070]

[0071] 从而也可以算出各采集点的地质参数校正值，将相邻的校正值连接后即为5级反褶积校正曲线。当取λ=0.2，μ=0.3时，7级反褶积校正公式为：

[0072]

[0073]

[0074] 从而也可以算出各采集点的地质参数校正值，将相邻的校正值连接后即为7级反褶积校正曲线。将采集到的目标岩心自然伽马值与各个多级校正曲线进行对比，即可判断出与采集到的目标岩心自然伽马值最接近的一条多级校正曲线为7级反褶积校正曲线。从图2中也可以清楚看出GRR7曲线（即7级反褶积校正曲线）与岩心自然伽马能够较好的吻合。

[0075] 实现上述方法实施例的装置可以是一个独立设备，下面对实现上述功能的装置进行说明。如图3所示，图3为本发明实施例的获取高分辨率测井曲线装置的功能结构框图，从图3中可知，该装置可以包括：

[0076] 采集单元301，用于通过岩心实验采集目标岩心的目标地质参数；

[0077] 获取单元302，用于根据各个多级反褶积校正公式以及原始测井曲线获取对应各个校正公式的多级校正曲线；

[0078] 决策单元303，用于根据获取单元302获取到的各个多级校正曲线判断与采集单元301采集到的目标地质参数最接近的一条多级校正曲线。

[0079] 存储单元304，用于存储3+（n-1）×2级反褶积校正公式，其中n为自然数。其中所述3+（n-1）×2级反褶积校正公式至少包括n为1时的三级的校正公式：

[0080] XR(zi)＝M[-X(zi-1)+N·X(zi)-X(zi+1)]

[0081] 其中XR(Zi)表示对应目标岩心上目标采集点的地质参数校正值，X(Zi)表示原始测井曲线上对应目标采集点的地质参数原始值，Zi为目标采集点，Zi+1和Zi-1为目标采集点2
具有一个采样间距的相邻采样点，M＝1/（αΔz），α为地质特征参数，Δz为采样间距，
2
N＝2+（αΔz）。各个多级反褶积校正公式还包括当n为2时的五级的校正公式：

[0082]

[0083] 其中XR(Zi)表示对应目标岩心上目标采集点的校正值，X(Zi)表示原始测井曲线上对应目标采集点的原始值，Zi为目标采集点，Zi+1和Zi-1为目标采集点具有一个采样间距2 2
的相邻采样点，M＝1/（αΔz），α为地质特征参数，Δz为采样间距，N＝2+（αΔz），λ和μ均为权重系数。

[0084] 各个多级反褶积校正公式还包括当n为3时的七级的校正公式：

[0085]

[0086]

[0087] 其中XR(Zi)表示对应目标岩心上目标采集点的校正值，X(Zi)表示原始测井曲线上对应目标采集点的原始值，Zi为目标采集点，Zi+1和Zi-1为目标采集点具有一个采样间距2 2
的相邻采样点，M＝1/（αΔz），α为地质特征参数，Δz为采样间距，N＝2+（αΔz），λ和μ均为权重系数。

[0088] 为了有效获取多级校正曲线，获取单元302包括：

[0089] 计算模块321，用于根据存储单元304存储的3+（n-1）×2级反褶积校正公式计算地质参数校正值；

[0090] 曲线拟合模块322，用于根据计算模块321计算出的地质参数校正值拟合曲线。

[0091] 本实施例所述的装置可以是计算机等具有信息处理能力的设备，通过对不同地层的测井曲线进行有效校正，提高测井曲线的分辨率，从而根据获取到的高分辨率测井曲线准确分析地层的地质状况。

[0092] 当然，以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的逻辑和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。