检测光源的选用方法及其系统

摘要

本发明揭示一种检测光源的选用方法及其系统，此系统包含一光源驱动模块、一扫描模块以及一推论模块。检测光源的选用方法由光源驱动模块提供多个测试光源投射于一待测物上；由扫描模块对待测物线形扫描形成对应所述多个测试光源的多个图像；推论模块记录有待测物的缺陷数据，并根据一分析法则将各图像与缺陷数据比对以产生对应各图像的品质分数，以从各品质分数分析并挑选出最适用于检测待测物的检测光源。本发明可适用于多种类型的生产线。厂商作测试前的系统调整作业时，可以找到最适用于待测物的检测光源，求取最大的检测良率。当厂商可大幅降低因设备更换而产生的成本，并能应用于多种不同产线，实用性甚高。

权利要求

1.一种检测光源的选用系统，其包含：

一传输模块，用以传输至少一待测物；

一光源驱动模块，包含多个相异波长的测试光源，并将所述多个测试光源的一测试光源照射于所述至少一待测物的传输路径上，以形成一投射区域；

一扫描模块，用以在所述至少一待测物经过该投射区域时线形扫描所述至少一待测物，以产生所述至少一待测物分别受各所述测试光源照射且扫描而成的多个图像；

一控制模块，于所述至少一待测物经过该投射区域时令该扫描模块扫描所述至少一待测物，且判断所述至少一待测物通过该投射区域后，切换该光源驱动模块投射的测试光源；

以及

一推论模块，包含所述至少一待测物的至少一缺陷数据，该推论模块根据一分析法则将每一所述图像与所述至少一缺陷数据相比对，以计算出每一所述图像的一品质分数，从所述品质分数选出一最佳品质分数所属的该图像对应的该测试光源为一检测用光源。

2.如权利要求1所述的检测光源的选用系统，其中该光源驱动模块的光源选自由一红光源模块、一蓝光源模块、一绿光源模块、一紫外光源模块与一红外光源模块所组成的群组。

3.如权利要求1所述的检测光源的选用系统，其中所述至少一待测物为一图案。

4.如权利要求3所述的检测光源的选用系统，其中该图案为一印刷电路配线图，该印刷电路配线图设置于一软性电路板或一硬性电路板。

5.如权利要求1所述的检测光源的选用系统，其中该分析法则包含多个相异性质的参数，每一所述参数对应有一配对权重，该推论模块根据所述多个参数与该配对权重以配对计算出每一所述图像的该品质分数。

6.如权利要求5所述的检测光源的选用系统，其中所述多个参数选自由一边缘参数、一亮度参数、一清晰度参数与一对比度参数所组成的群组。

7.如权利要求1所述的检测光源的选用系统，其还包含一光耦合器，该光耦合器耦合所述多个光源的至少任意两个，以形成一复合光源。

8.如权利要求1所述的检测光源的选用系统，其中该投射区域为线形。

9.一种检测光源的选用方法，其包含：

提供至少一待测物；

自多个测试光源中，选择一测试光源照射于所述至少一待测物上；

线形扫描所述至少一待测物，以产生所述至少一待测物受该测试光源照射且扫描而成的一图像；

根据一分析法则计算出该图像的一品质分数；

判断所述多个测试光源是否已全数进行照射；

当判断所述多个测试光源未全数进行照射，返回该测试光源选择步骤；以及当判断所述多个测试光源已全数进行照射，根据每一图像的品质分数，选出一最佳品质分数所属的该图像所对应的该测试光源为扫描待测物的一检测用光源。

10.如权利要求9所述的检测光源的选用方法，其中照射于所述至少一待测物的测试光源为一复合光源，该复合光源为至少两个相异波长的光源所耦合形成。

11.如权利要求9所述的检测光源的选用方法，其中所述多个测试光源选自一红光源、一蓝光源、一绿光源、一紫外光源、一红外光源，及由上述至少两个光源所耦合而成的光源。

12.如权利要求9所述的检测光源的选用方法，其中所述至少一待测物为一图案。

13.如权利要求12所述的检测光源的选用方法，其中该图案为一印刷电路配线图，该印刷电路配线图设置于一软性电路板或一硬性电路板。

14.如权利要求9所述的检测光源的选用方法，其中该分析法则包含多个相异性质的参数，每一参数对应有一配对权重，每一图像的该品质分数根据所述多个参数与该配对权重计算而得。

15.如权利要求14所述的检测光源的选用方法，其中所述多个参数选自由一边缘参数、一亮度参数、一清晰度参数与一对比度参数所组成的群组。

16.一种检测光源的选用系统，包含：

一光源驱动模块，包含多个相异波长的光源，以形成多个测试光源，该光源驱动模块提供所述多个测试光源照射于一待测物上；一扫描模块，用以线形扫描该待测物，以产生该待测物受每一测试光源照射且扫描而成的多个图像；以及一推论模块，包含该待测物的至少一缺陷数据，该推论模块根据一分析法则将每一图像与所述至少一缺陷数据相比对，以计算出每一图像的一品质分数，从所述多个品质分数选出一最佳品质分数所属的图像对应的测试光源为检测用光源。

17.如权利要求16所述的检测光源的选用系统，其中该分析法则包含多个相异性质的参数，每一所述参数对应有一配对权重，该推论模块根据所述多个参数与该配对权重以配对计算出每一图像的品质分数。

18.如权利要求17所述的检测光源的选用系统，其中所述多个参数选自由一边缘参数、一亮度参数、一清晰度参数与一对比度参数所组成的群组。

19.如权利要求16所述的检测光源的选用系统，其中该光源驱动模块的多光源选自由一红光源模块、一蓝光源模块、一绿光源模块、一紫外光源模块与一红外光源模块所组成的群组。

20.如权利要求16所述的检测光源的选用系统，其中所述多个测试光源选自一红光源、一蓝光源、一绿光源、一紫外光源、一红外光源，及由上述至少两个光源所耦合而成的光源。

21.如权利要求16所述的检测光源的选用系统，其中该待测物为一印刷电路配线图。

22.如权利要求16所述的检测光源的选用系统，其还包含一光耦合器，该光耦合器耦合所述多个光源的至少任意两个，以形成一复合光源。

23.如权利要求16所述的检测光源的选用系统，其中每一测试光源照射于该待测物上形成一投射区域，该投射区域为线形。

24.如权利要求16所述的检测光源的选用系统，其还包含一控制模块，用以切换该光源驱动模块的测试光源，且驱动该扫描模块线形扫描该待测物。

说明书

检测光源的选用方法及其系统

技术领域

[0001] 本发明涉及一种检测待测物的扫描光源选用系统，特别是指一种具有选出最适用于当前待测物进行检测作业的检测光源的选用方法及其系统。

背景技术

[0002] 请参照图1，其为现有技术的光源驱动、扫描与待测物缺陷检查系统。此待测物可为硬性电路板、软性电路板、软性材料、卷带1…等不同材料、特性的物件，在此以配置有印刷电路的卷带1作为解说。现有技术所述的系统包含一物件传输机构110、一扫描机构120及一控制机构130。物件传输机构110包含一供料端111与一收料端112，供料端111会释放卷带1的料带，并与收料端112以同一方向实质上同步卷动以传输卷带1至收料端112，由收料端112将料带卷收。扫描机构120包含一个光学摄影机121与一投光模块122，投光模块122在卷带1的传输路径上投射一光源，以形成投射区域，光学摄影机121用以扫描或拍摄进入投射区域的印刷电路，以产生各印刷电路的图像。控制机构130包含一机构控制模块131与一图像辨析模块132，机构控制模块131控制物件传输机构110以传输卷带1，命令投光模块122进行投光以形成上述的投射区域，并取得光学摄影机121的镜头所拍摄出的即时画面，以通过即时画面的变化来判断料带上的印刷电路进入投射区域时，对印刷电路进行扫描或拍摄形成上述的图像。图像辨析模块132内存储有关于印刷电路的至少一缺陷数据，所谓缺陷数据包含缺陷电路图形或数值化的电路配线规格。图像辨析模块132为取得光学摄影机121所产生的图像，将其与缺陷数据匹配，判断印刷电路是否正确，或印刷出的电路配线是否符合布线规格。

[0003] 然而，当前的缺陷检查系统的投光模块多配置单一光源，然每一种待测物有其适用的检测光源，因此厂商在建立生产线前，需得知被测试的待测物所适用的检测光源，再购买或配置包含此检测光源的缺陷检查系统。其次，厂商作测试前的系统调整作业时，也仅能就现有的检测光源进行调整，以求取最大的检测良率，就实际应用上而言，相当的不便。再者，当厂商欲改变生产线类型时，原有的缺陷检查系统所提供的光源不见得适用于新类型的产品，必要时需整个生产设备尽数更新，除大幅提升设备成本，更突显了现行缺陷检查系统无法变换于多种不同产线，应用性甚低的问题。

[0004] 因此，如何使缺陷检查系统具有可应用于不同生产线，且能取得最适用于检测待测物的投射光源，乃为厂商应思考的问题。

发明内容

[0005] 本发明的目的在于提供一种可应用于不同生产线，且能取得最适用于检测待测物的投射光源的选用系统与选用方法。

[0006] 本发明所提供的技术手段揭示一种检测光源的选用系统，包含一传输模块、一光源驱动模块、一控制模块、一扫描模块与一推论模块。

[0007] 此传输模块用以传输一个以上的待测物，光源驱动模块提供多个相异波长的测试光源，扫描模块用以在待测物经过投射区域时线形扫描待测物，以产生待测物分别受各光源照射且被扫描形成的多个图像。控制模块控制光源驱动模块照射至少任一种测试光源于待测物的传输路径上以形成一投射区域，并取得扫描模块拍摄的即时图像，以根据即时图像判断待测物进入投射区域时令扫描模块对待测物进行扫描，且判断待测物通过投射区域后切换光源驱动模块投射的光源。推论模块包含有各待测物的一个以上的缺陷数据，推论模块会根据一分析法则将每一图像与相关的缺陷数据相比对，计算出每一图像的一品质分数，从各品质分数选出一最佳品质分数所属图像对应的光源，令光源驱动模块将此光源设为一检测用光源。

[0008] 本发明所提供的技术手段揭示一种检测光源的选用方法，提供至少一待测物，从多个测试光源中，选择一测试光源照射于被传输至少一待测物上，以形成一投射区域。线形扫描待测物，以产生待测物受测试光源照射且扫描而成的对应测试光源的一图像。根据一分析法则计算出此图像的一品质分数，并在所有测试光源已全数进行照射后，根据每一图像的品质分数，选出一最佳品质分数所属的图像对应的测试光源作为扫描待测物的检测用光源。

[0009] 本发明所提供的技术手段揭示一种检测光源的选用系统，包含一光源驱动模块、一扫描模块与一推论模块。

[0010] 光源驱动模块包含多个相异波长的光源，以形成多个测试光源，该光源驱动模块提供所述多个测试光源照射于一待测物上。扫描模块线形扫描待测物，以产生待测物分别受各测试光源照射且被扫描形成的多个图像给予推论模块。推论模块包含有待测物的一个以上的缺陷数据，推论模块会根据一分析法则将每一图像与相关的缺陷数据相比对，计算出每一图像的一品质分数，从各品质分数选出一最佳品质分数所属图像对应的测试光源，令光源驱动模块将此测试光源设为一检测用光源。此外，本发明所揭示的系统还包含一控制模块用以切换上述光源驱动模块的测试光源，且驱动扫描模块线形扫描待测物。

[0011] 本发明所揭示的检测光源的选用系统与选用方法，提供多个用于测试待测物的测试光源，通过扫描方法可轻易选择出各种待测物所适用的检测光源，因此，具有本发明技术的缺陷检查系统可适用于多种类型的生产线。其次，厂商作测试前的系统调整作业时，可通过多种不同的测试光源进行比较，以找到最适用于待测物的检测光源，求取最大的检测良率。而且，当厂商欲改变生产线类型时，只须将原有的缺陷检查系统所提供的光源模块局部更换并进行参数设定后即可应用于新类型的待测物检测作业，可大幅降低因设备更换而产生的成本，并能应用于多种不同产线，实用性甚高。

附图说明

[0012] 图1为现有技术的待测物缺陷检查系统示意图；

[0013] 图2为本发明检测光源的选用系统的一实施例的方框图；

[0014] 图3为本发明检测光源的选用系统的一实施例的架构图；

[0015] 图4为本发明实施例的第二待测物进入投射区域示意图；

[0016] 图5为本发明实施例的第三待测物进入投射区域示意图；

[0017] 图6为本发明检测光源的选用系统另一实施例的架构图；

[0018] 图7为本发明检测光源的选用系统另一实施例的方框图；以及

[0019] 图8为本发明检测光源的选用方法实施例的流程图。

[0020] 上述附图中的附图标记说明如下：

[0021] 现有技术：

[0022] 1卷带

[0023] 110物件传输机构

[0024] 111供料端

[0025] 112收料端

[0026] 120扫描机构

[0027] 121光学摄影机

[0028] 122投光模块

[0029] 130控制机构

[0030] 131机构控制模块

[0031] 132图像辨析模块

[0032] 本发明技术：

[0033] 10卷带

[0034] 11第一待测物

[0035] 12第二待测物

[0036] 13第三待测物

[0037] 20硬式电路板

[0038] 210光源驱动模块

[0039] 211红光源模块

[0040] 212蓝光源模块

[0041] 213绿光源模块

[0042] 214线形光源投射机构

[0043] 215光纤管

[0044] 216光耦合器

[0045] 220传输模块

[0046] 221供料模块

[0047] 222收料模块

[0048] 223置物模块

[0049] 224传送带

[0050] 230控制端

[0051] 231控制模块

[0052] 232推论模块

[0053] 240扫描模块

[0054] 251红光投射区域

[0055] 252蓝光投射区域

[0056] 253绿光投射区域

具体实施方式

[0057] 为使对本发明的目的、构造特征及其功能有进一步的了解，配合相关实施例及附图详细说明如下：

[0058] 请参照图2、图3、图4与图5，图2为本发明检测光源的选用系统的一实施例的方框图，图3为本发明实施例的架构图，图4为本发明实施例的第二待测物进入投射区域示意图，图5为本发明实施例的第三待测物进入投射区域示意图。本实施例的待测物为卷带10上多个相同的印刷电路配线图或图案(该卷带10也可为其它软性电路板、配置有图案的软性薄膜等)。

[0059] 本实施例所述的系统包含有一传输模块220、一光源驱动模块210、一扫描模块240与一控制端230，其中控制端230包含一控制模块231与一推论模块232。

[0060] 传输模块220包含有一供料模块221与一收料模块222，供料模块221会释放待测物(卷带10)，并与收料模块222以同一方向实质上同步卷动以传输待测物至收料模块222，由收料模块222将待测物(卷带10)卷收。

[0061] 光源驱动模块210包含有多个光源模块，每一光源模块提供一种光源，各光源的波长为相异，所述多个波长相异的光源，用以形成多个测试光源，同一时间内，光源驱动模块210仅提供一种测试光源进行照射行为。而且测试光源照射在待测物被传输模块220所传动的路径上，以形成一投射区域，此投射区域为线形且需超出待测物的长度或宽度，以本实施例而言，投射区域的长度至少要超出电路配线图的宽度(或长度)。

[0062] 在此说明，各光源模块可通过光纤管215导引其输出光源至一线形光源投射机构214，线形光源投射机构214会将光源模块投射出来的测试光源转换成线形光源进行投射。

[0063] 本实施例中，以三个光源模块：红光源模块211、一蓝光源模块212与一绿光源模块213所形成的多个测试光源来进行说明，但不以此为限，光源驱动模块210更可包含红外光源模块或紫外光源模块。

[0064] 此处的扫描模块240以可用以线形扫描的光学摄影机进行说明，此扫描模块240的镜头视点会对准于测试光源的投射区域，而镜头取得的画面被涵盖于投射区域内，扫描模块240所拍摄的画面可与投射区域同面积或略小，但必需超出待测物的长度或宽度(本实施例指电路配线图的宽度或长度)。

[0065] 此控制端230的控制模块231为控制传输模块220传输待测物进行位移，控制光源驱动模块210由其一光源模块投射测试光源，在此以驱动红光源模块211投射红光为测试光源以形成红光投射区域251。

[0066] 传输模块220受控制后，供料模块221与收料模块222会实质上同步的往同一方向传输待测物，即以同一方向带动卷带10。

[0067] 本例中，控制模块231从扫描模块240取得其镜头所拍摄的即时图像，且从即时图像中判断出第一待测物11是否已进入红光投射区域251(或镜头拍摄范围)。当控制模块231判断出第一待测物11已进入红光投射区域251时，令扫描模块240对待测物(本例所述的电路配线图)进行线形扫描，以产生一红光照射图像。此图像内容为待测物受到红光源模块211照射红光后，产生的红光线反射的情形。此红光照射图像会被扫描模块240传输至控制端230，由推论模块232所接收。

[0068] 推论模块232包含有各待测物的一个以上的缺陷数据，所谓缺陷数据包含缺陷电路图形或数值化的电路配线规格，或两者皆有之，但不以此为限，缺陷数据更可包含电路板完成配置元件的范本附图。

[0069] 推论模块232在取得红光照射图像时，会根据一分析法则以将红光照射图像与上述中有关于正在测试的待测物的缺陷数据相互比对，以产生相关的比对参数，包含有一边缘参数、一亮度参数、一清晰度参数与一对比度参数中，至少一个参数所组成的群组。

[0070] 而且，根据不同的待测物、不同的光源模块与不同的缺陷数据，分析法则所包含的各相异性质的参数对应有不同的配对权重。本实施例中，推论模块232会根据待测物为印刷于卷带10的电路配线路、使用红光源模块211、缺陷数据包含的条件为配线规则不合标准的设定，将分析法则的各参数调整为对应此环境的配对权重。推理模块将先前比对出来的各参数与调整后的配对权重配对计算，以计算出一品质分数。在此说明，所谓的品质分数指图像的内容经推论模块232分析后，图像与缺陷数据相近程度。以本实施例中，推论模块232会计算出红光照射图像的品质分数，以得知红光照射图像与缺陷数据近似程度。

[0071] 当控制模块231根据扫描模块240提供的即时图像判断第一待测物11通过红光投射区域251后，切换光源驱动模块210投射的测试光源。本实施例中，控制模块231令光源驱动模块210驱动蓝光源模块212以投射蓝光为测试光源以形成蓝光投射区域252。

[0072] 请参照图4，当控制模块231判断出第二待测物12已进入蓝光投射区域252时，令扫描模块240对待测物进行线形扫描，以产生一蓝光照射图像。此图像内容为待测物受到蓝光源模块212照射蓝光后，产生的蓝光线反射的情形。此蓝光照射图像会被扫描模块240传输至推论模块232。

[0073] 推论模块232在取得蓝光照射图像时，会根据一分析法则以将蓝光照射图像与上述中有关于正在测试的待测物的缺陷数据相互比对，以计算出一品质分数，以得知蓝光照射图像与缺陷数据近似程度。

[0074] 当控制模块231根据扫描模块240提供的即时图像判断第二待测物12通过投射区域后，切换光源驱动模块210投射的测试光源。本实施例中，控制模块231令光源驱动模块210驱动绿光源模块213以投射绿光测试光源以形成绿光投射区域253。

[0075] 请参照图5，当控制模块231判断出第三待测物13已进入绿光投射区域253时，令扫描模块240对待测物进行线形扫描，以产生一绿光照射图像。此图像内容为待测物受到绿光源模块213照射绿光后，产生的绿光线反射的情形。此绿光照射图像会被扫描模块240传输至推论模块232。

[0076] 推论模块232在取得绿光照射图像时，会根据一分析法则以将绿光照射图像与上述中，有关于正在测试的待测物的缺陷数据相互比对，以计算出一品质分数，以得知绿光照射图像与缺陷数据近似程度。

[0077] 控制端230在判断所有的测试光源皆投射过后，推论模块232会从所有的品质分数中选出一最佳品质分数，最佳品质分数所属的图像与缺陷数据最为相近，控制端230通过控制模块231将用以产生最佳品质分数所属的图像的光源模块作为此待测物专属的检测用光源模块，其投射出的测试光源即为检测用光源。

[0078] 在此说明，本实施例中，传输模块220在带动卷带10时，会同时对卷带10作张力、定位与寻边的控制，若卷带10进行倒带行为，传输模块220对于卷带10的各种控制会有偏差，导致卷带10上的电路配线图会变形。因此在作光源预备设定时，仅能进行入料行为，故每分析一种光源即需利用一个电路配线图，就本实施例而言，需花费三个电路配线图才能计算出此待测物所适用的光源。

[0079] 请参照图6，其为本发明检测光源的选用系统的另一实施例的架构图，请同时参照图2与图3以利于了解。本实施例与图3所示的实施例不同处在于，待测物为硬式电路板20(也可为其它硬式电路元件，配置有图案的硬式物件，并不以此为限)，且用以进行测试光源选用测试的待测物仅需一件。

[0080] 本实施例中，传输模块220具有一传送带224与一置物模块223，置物模块223用以在传送带224上置放一个待测物(即硬式电路板20)，但也可置放多个待测物，并没有任何限制。此控制端230的控制模块231控制传输模块220传输待测物进行位移，控制光源驱动模块210由其一光源模块投射测试光源，在此以驱动红光源模块211投射红光测试光源以形成红光投射区域。

[0081] 当控制模块231判断出待测物(即硬式电路板20)已进入红光投射区域时，系令扫描模块240对待测物进行线形扫描，以产生一红光照射图像。此图像内容为待测物受到红光源模块211照射红光后，产生的红光线反射的情形。此红光照射图像会被扫描模块240传输至控制端230内的推论模块232。

[0082] 推论模块232在取得红光照射图像时，会根据一分析法则以将红光照射图像与上述中有关于正在测试的待测物的缺陷数据相互比对，以计算出一品质分数，以得知红光照射图像与缺陷数据近似程度。

[0083] 当控制模块231根据扫描模块240提供的即时图像判断待测物通过投射区域后，控制模块231会令传输模块220进行倒带(用于仅具有一个硬式电路板20时)，使待测物退回至红光投射区域251的前，并令光源驱动模块210驱动蓝光源模块212以投射蓝光测试光源以形成蓝光投射区域。控制模块231会令传输模块220再次进行入料行为。

[0084] 当控制模块231判断出待测物(即硬式电路板20)已进入蓝光投射区域时，令扫描模块240对待测物进行线形扫描，以产生一蓝光照射图像。此图像内容为待测物受到蓝光源模块212照射蓝光后，产生的蓝光线反射的情形。此蓝光照射图像会被扫描模块240传输至推论模块232。

[0085] 推论模块232在取得蓝光照射图像时，会根据一分析法则以将蓝光照射图像与上述中，有关于正在测试的待测物的缺陷数据相互比对，以计算出一品质分数，以得知蓝光照射图像与缺陷数据近似程度。

[0086] 当控制模块231根据扫描模块240提供的即时图像判断待测物通过投射区域后，控制模块231会令传输模块220进行倒带，使待测物退回至蓝光投射区域之前，并令光源驱动模块210驱动绿光源模块213以投射绿光测试光源以形成绿光投射区域。控制模块231会令传输模块220再次进行入料行为。

[0087] 当控制模块231判断出待测物已进入绿光投射区域时，令扫描模块240对待测物进行线形扫描，以产生一绿光照射图像。此图像内容为待测物受到绿光源模块213照射绿光后，产生的绿光线反射的情形。此绿光照射图像会被扫描模块240传输至推论模块232。

[0088] 推论模块232在取得绿光照射图像时，会根据一分析法则以将绿光照射图像与上述中，有关于正在测试的待测物的缺陷数据相互比对，以计算出一品质分数，以得知绿光照射图像与缺陷数据近似程度。

[0089] 控制端230在判断所有的测试光源皆投射过后，推论模块232会从所有的品质分数中选出一最佳品质分数，最佳品质分数所属的图像与缺陷数据最为相近，控制端230通过控制模块231将用以产生最佳品质分数所属的图像的光源模块作为此待测物专属的检测用光源模块，其投射出的测试光源即为检测用光源。

[0090] 请参照图7，图7为本发明检测光源的选用系统的另一实施例的方框图，与图2所示的实施例不同处在于，本实施例还包含一光耦合器216。此光耦合器216配置于各光源模块输出测试光源的出口端，通过光纤管215导引测试光源至光耦合器216，此光耦合器216可让某单一波长的测试光源或耦合某几种组合的相异波长的复合光源导引至同一条光纤管215，此光纤管215连接到上述的线形光源投射机构214，此机构会将光纤管215内的测试光源转换成线形测试光源以投射聚焦形成上述的投射区域。在此说明，光耦合器216形成复合光源时，耦合上述所有光源的至少任两者。

[0091] 请参照图8，其为本发明实施例的检测光源的选用方法流程图，请同时参照图2至图7以利于了解。此流程如下：

[0092] 提供至少一待测物(步骤S110)，如前述，如图3或图7，由一传输模块220配置一待测物，一控制模块231控制传输模块220以传输待测物行进。

[0093] 形成一投射区域，如步骤S120。如前述，光源驱动模块210包含有一个以上的光源模块，控制模块231控制光源驱动模块210，令其从多个相异波长的光源中，选择一测试光源照射于被传输的待测物的传输路径上，以形成对应此测试光源的投射区域。光耦合器216可让光源驱动模块210所提供的某单一波长的光源或耦合某几种组合的相异波长的复合光源导引至上述的线型光源投射机构214，以将光源转换成线型测试光源而投射聚焦形成上述的投射区域。在此说明，照射于待测物的测试光源选自一红光源、一蓝光源、一绿光源、一紫外光源、一红外光源，及由上述至少两个光源所耦合而成的复合光源。

[0094] 当待测物传输穿过投射区域时，扫描模块240线形扫描待测物，产生待测物受此测试光源照射且扫描而成的一图像，如步骤S130。控制模块231从扫描模块240取得其镜头所拍摄的即时图像，且从即时图像中判断出待测物是否已进入投射区域。

[0095] 当控制模块231判断出待测物已进入投射区域时，令扫描模块240对待测物进行线形扫描，以产生一图像。此图像内容为待测物受到光源模块照射后，产生的光线反射的情形。此图像会被扫描模块240传输至控制端230，由推论模块232所接收。

[0096] 根据一分析法则计算出该图像的一品质分数，如步骤S140。如前述，推论模块232包含有各待测物的一个以上的缺陷数据。

[0097] 推论模块232在取得该测试光源(如红光)照射图像时，会根据前述的分析法则将图像与缺陷数据相互比对，以产生一个以上相关的比对参数，比对参数可为包含有一边缘参数、一亮度参数、一清晰度参数与一对比度参数。

[0098] 而且，推论模块232将现有比对出来的各参数对应其配对权重，计算出一品质分数，以得知图像与缺陷数据近似程度。

[0099] 判断各测试光源是否已全数进行照射，如步骤S150。控制模块231会判断所需的测试光源是否皆已投射过，且推论模块232已取得待测物被所需测试光源照射后的各图像。

[0100] 当控制模块231判断各测试光源未全数进行照射，返回步骤S120，从未曾投射的测试光源，任择其一进行光源投射行为。

[0101] 当各测试光源已全数进行照射，控制模块231将根据每一图像的品质分数，选出一最佳品质分数所属的图像所对应的测试光源，如步骤S151。如前述，在所需的测试光源皆投射过后，推论模块232会从所有的品质分数中选出一最佳品质分数，最佳品质分数所属的图像与缺陷数据最为相近，控制模块231将以产生最佳品质分数所属的图像的光源模块，作为此待测物专属的检测用光源模块，其投射出的测试光源即为检测用光源。

[0102] 虽然本发明以前述的较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，所作更动与润饰的等效替换，仍为本发明的权利要求保护范围内。