最新中国发明专利 / 2012-11-07 使用结构化光线于检测缺陷的方法与装置转让专利 申请号 : CN200980110490.8 文献号 : CN101983330B 文献日 : 2012-11-07 基本信息: 请登录后查看 PDF: 请登录后查看 法律信息: 请登录后查看 相似专利: 请登录后查看 发明人 : 里欧·鲍德温 , 约瑟·J·伊莫瑞 摘要 : 呈现使用结构化光线用于检测关于所制造物品的符合度与完整度的问题的经改良的方法与装置。使用自相反方向获取的两个或两个以上结构化光线影像来量测配合表面的符合度,同时避免由接缝附近的小缺陷引起的误报。