本发明公开了一种整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，该方法包括下述步骤：1)喷码；2)大片屏老化、电测；3)切割、裂片；4)邦定、贴片、点胶；5)模组老化、测试；6)喷码、包装。整片基板点亮老化时，每个单粒的屏可以独立点亮老化。通过电路控制，除了全屏点亮外，还可以单独点亮阴极单线或双线，也可以单独点亮阳极单线或双线，从而检查是否有串笔问题。该方法解决了现有技术OLED模组生产过程中存在的问题，可以在整片OLED基板点亮老化同时检查串笔问题，既减少了流程，提高效率，还可以减少对引脚的污染，提高产品的质量。
1.整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，其特征在于，该方法包括下述步骤：
1)喷码：利用喷码机，在整片玻璃的每个屏的后盖上，用油墨做喷码；
2)大片屏老化、电测：利用老化机，将整片玻璃点亮，做显示检测，并分别点亮阴极单线、阴极双线、阳极单线、阳极双线，检查串笔；
3)切割、裂片：利用切割机将整片玻璃划分成一粒一粒的屏，再用裂片机断裂成一粒一粒的屏；
4)邦定、贴片、点胶：利用邦定机，将IC邦定到屏上引脚端的邦定位置上；并用贴片机将偏光片贴附到屏的正面；然后用点胶机在邦定的位置点上保护胶；
5)模组老化、测试：利用模组老化机，将模组点亮老化，然后利用电测机点亮模组做显示的检测；
6)喷码、包装：利用喷码机，在每个模组上喷码标识，然后使用包装材料，将模组包装好并真空密封。
2.根据权利要求1所述的整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，其特征在于，所述步骤2)将屏走线的阴极单线、阴极双线、阳极单线和阳极双线4种线，分别各用一个短路块短接，然后分别点亮，其步骤如下：①全屏点亮：将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，将阳极单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并点亮全屏；
②检查阴极单线串笔：将阴极单线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；
③检查阴极双线串笔：将阴极双线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；
④检查阳极单线串笔：将阳极单线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔；
⑤检查阳极双线串笔：将阳极双线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔。
3.根据权利要求2所述的整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，其特征在于，所述全屏点亮是利用在OLED后盖玻璃对应屏引脚位置打孔，基板上每个屏的引脚用短路块短接，通过金属探针和短路块连接通电，从而实现OLED整片基板玻璃点亮老化。
整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法
技术领域
[0001] 本发明涉及OLED显示器的制造工艺，具体涉及一种整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法。
背景技术
[0002] 整片OLED基板点亮老化时，使用在后盖打孔和用金属探针连接的方式，按照现有的整片OLED基板点亮老化的方法，如图1所示，1)喷码；2)大片屏老化；3)切割、裂片；4)控制板电测；5)邦定、贴片、点胶；6)模组老化、测试；7)喷码、包装。该方法先进行只能全屏点亮，不能检查串笔的问题；在老化完成后，还需要用导电胶条直接接触单粒屏的引脚，单独点亮每粒屏，来检查串笔，容易污染引脚而导致引脚腐蚀问题，而且还多了一个工序。
发明内容
[0003] 本发明的目的是提供一种整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，该方法解决了现有技术OLED模组生产过程中存在的问题，能够在整片OLED基板点亮老化同时检查串笔问题，既减少了流程，提高效率；还能够减少对引脚的污染，提高产品的质量。
[0004] 本发明的目的是通过下述技术方案来实现的，一种整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法，该方法包括下述步骤：
[0005] 1)喷码：利用喷码机，在整片玻璃的每个屏的后盖上，用油墨做喷码；
[0006] 2)大片屏老化、电测：利用老化机，将整片玻璃点亮，做显示检测，并分别点亮阴极单线、阴极双线、阳极单线、阳极双线，检查串笔；这样切割裂片后就不需要再做单粒屏的电测老化，就不需要用导电胶条直接接触到单粒屏的引线，从而减少了对单粒屏引线的污染造成的腐蚀问题，提高了产品的质量。
[0007] 3)切割、裂片：利用切割机将整片玻璃划分成一粒一粒的屏，再用裂片机断裂成一粒一粒的屏；
[0008] 4)邦定、贴片、点胶：利用邦定机，将IC邦定到屏上引脚端的邦定位置上；并用贴片机将偏光片贴附到屏的正面；然后用点胶机在邦定的位置点上保护胶；
[0009] 5)模组老化、测试：利用模组老化机，将模组点亮老化，然后利用电测机点亮模组做显示的检测；
[0010] 6)喷码、包装：利用喷码机，在每个模组上喷码标识，然后使用包装材料，将模组包装好并真空密封。
[0011] 本发明方法步骤2)进一步地，将屏走线的阴极单线、阴极双线、阳极单线和阳极双线4种线，分别各用一个短路块短接，然后分别点亮，其步骤如下：
[0012] ①全屏点亮：将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，将阳极单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并点亮全屏；
[0013] ②检查阴极单线串笔：将阴极单线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；
[0014] ③检查阴极双线串笔：将阴极双线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；
[0015] ④检查阳极单线串笔：将阳极单线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔；
[0016] ⑤检查阳极双线串笔：将阳极双线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔。
[0017] 所述全屏点亮是利用在OLED后盖玻璃对应屏引脚位置打孔，基板上每个屏的引脚用短路块短接，通过金属探针和短路块连接通电，从而实现OLED整片基板玻璃点亮老化。
[0018] 所述短路块连接，在引脚端将阴极单线、双线各连接成一个短路块；阳极单线或双线的短路块一个在引脚端，另一个在引脚端的对边。
[0019] 本发明的有益效果是，减少了OLED模组生产过程中的一个流程(参见图1、图2)，提高了生产效率；由于旧流程中的“屏电测”容易污染引脚，而本发明的流程去掉了“屏电测”的过程。因此，本发明还可以减少对引脚的污染，提高产品的质量。
附图说明
[0020] 图1是现有技术的OLED模组生产流程图；
[0021] 图2是本发明OLED模组生产流程图。
具体实施方式
[0022] 下面结合附图和具体实施方式对本发明进行详细说明。
[0023] 如图2所示，该整片OLED基板玻璃点亮老化时检查串笔的走线方法包括下述步骤：
[0024] 1)喷码：利用喷码机，在整片玻璃的每个屏的后盖上，用油墨做喷码；
[0025] 2)大片屏老化、电测：利用老化机，将整片玻璃点亮，做显示检测，并分别点亮阴极单线、阴极双线、阳极单线、阳极双线，检查串笔；
[0026] 3)切割、裂片：利用切割机将整片玻璃划分成一粒一粒的屏，再用裂片机断裂成一粒一粒的屏；
[0027] 4)邦定、贴片、点胶：利用邦定机，将IC邦定到屏上引脚端的邦定位置上；并用贴片机将偏光片贴附到屏的正面；然后用点胶机在邦定的位置点上保护胶；
[0028] 5)模组老化、测试：利用模组老化机，将模组点亮老化，然后利用电测机点亮模组做显示的检测；
[0029] 6)喷码、包装：利用喷码机，在每个模组上喷码标识，然后使用包装材料，将模组包装好并真空密封。
[0030] 本发明方法步骤2)进一步地，将屏走线的阴极单线、阴极双线、阳极单线和阳极双线4种线，分别各用一个短路块短接，然后分别点亮，其步骤如下：
[0031] ①全屏点亮：将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，将阳极单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并点亮全屏；
[0032] ②检查阴极单线串笔：将阴极单线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；
[0033] ③检查阴极双线串笔：将阴极双线的短路块接到电源负极的探针上，将阳极单线、阳极双线的短路块同时接到电源正极的探针上，通电并检查是否有串笔；
[0034] ④检查阳极单线串笔：将阳极单线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔；
[0035] ⑤检查阳极双线串笔：将阳极双线的短路块接到电源正极的探针上，将阴极单线、阴极双线的短路块同时接到电源负极的探针上，通电并检查是否有串笔。
[0036] 进一步地，全屏点亮是利用在OLED后盖玻璃对应屏引脚位置打孔，基板上每个屏的引脚用短路块短接，通过金属探针和短路块连接通电，从而实现OLED整片基板玻璃点亮老化。
[0037] 所述短路块连接，在引脚端将阴极单线、双线各连接成一个短路块；阳极单线或双线的短路块一个在引脚端，另一个在引脚端的对边。
[0038] 当金属探针和每个短路块都连接上后，通过外置电路的控制，可以实现全屏点亮，本发明的特点在于可以实现单独点亮阴极的单线或双线、阳极的单线或双线，从而可以在整片OLED基板玻璃点亮老化时，检查串笔的问题。
[0039] 当点亮老化完成后，在切割成单粒的屏时，可以将短路块和多余的老化辅助线切掉。
