信息存储读出系统及制造该系统的方法和装置

摘要

一种信息存储读出系统、制造所述信息存储读出系统的方法和装置。本发明的课题在于提高液晶显示元件连续制造的精度和速度，根本性解决提高成品率的课题。本发明的信息存储读出系统在连续制造液晶显示元件的装置中使用，包括：信息存储介质，其存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息，该切断位置信息是关于基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的信息，该连续状光学膜包括包含有粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的载体膜；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒。

权利要求

1.一种信息存储读出系统，其用于连续制造液晶显示元件的装置，该装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含：具有与形成为规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜，该信息存储读出系统的特征在于，包括：信息存储介质，其存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息，该切断位置信息是关于基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的信息；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒，在连续制造液晶显示元件的装置中，基于根据识别标识的读取而从信息存储介质读出的切断位置信息和根据自层积体卷筒的完成检查的连续状光学膜的放出量而算出的长度测量数据，完成检查的连续状光学膜自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度，从而将偏光膜的正常薄片切出成为与液晶面板的长边或短边对应的尺寸并将其与液晶面板贴合。

2.如权利要求1所述的信息存储读出系统，其特征在于，完成检查的连续状光学膜还包含有自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的连续状表面保护膜。

3.一种制造信息存储读出系统的方法，该信息存储读出系统用于连续制造液晶显示元件的装置，该装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含：具有与形成为规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜，该信息存储读出系统具有：信息存储介质，其存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息，该切断位置信息是关于基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的信息；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒，该方法的特征在于，包含如下步骤：

向连续状偏光片的至少一个面层积连续状保护膜来制造连续状偏光膜的步骤；

检查连续状偏光膜来检测连续状偏光膜内在疵点的步骤；

根据连续状偏光膜的疵点位置，生成切断位置信息的步骤，该切断位置信息是关于在相对长度方向成直角的方向划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置和划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置的信息；

通过隔着粘接层将连续状载体膜自由剥离地层积于连续状偏光膜，来制造完成检查的连续状光学膜的步骤；

在连续制造液晶显示元件的所述装置中，存储所述切断位置信息，从而生成信息存储介质的步骤，所述切断位置信息用于在将完成检查的连续状光学膜放出时，在完成检查的连续状光学膜上将相对长度方向成直角方向的切痕自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度，以便依次切出偏光膜的不包含疵点的正常薄片和包含疵点的不良薄片；

生成与所述切断位置信息相关联的识别标识并将所述识别标识标记于完成检查的连续状光学膜的步骤；

将标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜卷绕成卷筒状而制成层积体卷筒的步骤。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，制造完成检查的连续状光学膜的步骤还包含有将连续状表面保护膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的步骤。

5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于，检测连续状偏光膜内在疵点的步骤包括以下步骤中的任一个或它们的组合：利用反射光主要检查连续状偏光膜表面的步骤；透射从光源照射的光而将连续状偏光膜内在的疵点作为阴影来检测的步骤；或将连续状偏光膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，向其照射来自光源的光并观察透射的光，从而将连续状偏光膜内在的疵点作为亮点来检测的步骤。

6.一种制造信息存储读出系统的方法，该信息存储读出系统用于连续制造液晶显示元件的装置，该装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含：具有与形成为规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜，该信息存储读出系统具有：信息存储介质，其存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息，该切断位置信息是关于基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的信息；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒，该方法的特征在于，包含如下步骤：

准备连续状临时光学膜的层积体卷筒的步骤，该连续状临时光学膜包括有包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状临时载体膜；

通过一边从所述层积体卷筒放出连续状临时光学膜一边将连续状临时载体膜剥离，从而露出包含粘接层的连续状偏光膜的步骤；

通过检查包含露出的粘接层的连续状偏光膜的表面和内部来检测包含粘接层的连续状偏光膜内在疵点的步骤；

根据包含粘接层的连续状偏光膜的疵点位置，生成切断位置信息的步骤，该切断位置信息是关于在相对长度方向成直角的方向划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置和划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置的信息；

通过将连续状载体膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的露出的粘接层，来制造完成检查的连续状光学膜的步骤；

在连续制造液晶显示元件的所述装置中，存储所述切断位置信息，从而生成信息存储介质的步骤，所述切断位置信息用于在将完成检查的连续状光学膜放出时，在完成检查的连续状光学膜上将相对长度方向成直角方向的切痕自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度，以便依次切出偏光膜的包含疵点的不良薄片和不包含疵点的正常薄片；

生成与所述切断位置信息相关联的识别标识并将所述识别标识标记于完成检查的连续状光学膜的步骤；

将标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜卷绕成卷筒状而制成层积体卷筒的步骤。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，连续状临时载体膜在一个面具有通过在脱模处理后涂布包含粘接剂的溶剂并使其干燥而形成的能够转印的粘接层。

8.如权利要求6或7所述的方法，其特征在于，连续状载体膜在层积于连续状偏光膜的露出的粘接层的面上实施脱模处理。

9.如权利要求6或7所述的方法，其特征在于，制造完成检查的连续状光学膜的步骤还包含有将连续状表面保护膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的步骤。

10.如权利要求6或7所述的方法，其特征在于，检测连续状偏光膜内在疵点的步骤包括以下步骤中的任一个或它们的组合：利用反射光主要检查连续状偏光膜表面的步骤；透射从光源照射的光而将连续状偏光膜内在的疵点作为阴影来检测的步骤；或将连续状偏光膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，向其照射来自光源的光并观察透射的光，从而将连续状偏光膜内在的疵点作为亮点来检测的步骤。

11.一种制造信息存储读出系统的装置，该信息存储读出系统用于连续制造液晶显示元件的装置，该连续制造液晶显示元件的装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含：具有与形成为规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜，该信息存储读出系统具有：信息存储介质，其存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息，该切断位置信息是关于基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的信息；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒，该制造信息存储读出系统的装置的特征在于，包含如下部件：

偏光膜制造装置，其向连续状偏光片的至少一个面层积连续状保护膜来制造连续状偏光膜；

检查装置，其检查连续状偏光膜来检测连续状偏光膜内在的疵点；

切断位置信息生成机构，其根据连续状偏光膜的疵点位置，生成切断位置信息，该切断位置信息是关于在相对长度方向成直角的方向划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置和划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置的信息；

完成检查的光学膜制造装置，其通过隔着粘接层将连续状载体膜自由剥离地层积于连续状偏光膜，来制造完成检查的连续状光学膜；

信息存储介质生成装置，其在连续制造液晶显示元件的所述装置中，存储所述切断位置信息，从而生成信息存储介质，所述切断位置信息用于在将完成检查的连续状光学膜放出时，在完成检查的连续状光学膜上将相对长度方向成直角方向的切痕自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度，以便依次切出偏光膜的不包含疵点的正常薄片和包含疵点的不良薄片；

识别标识标记装置，其生成与所述切断位置信息相关联的识别标识并将所述识别标识标记于完成检查的连续状光学膜；

卷绕装置，其将标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜卷绕成卷筒状而制成层积体卷筒；

控制装置，其至少使各个偏光膜制造装置、检查装置、切断位置信息生成机构、完成检查的光学膜制造装置、信息存储介质生成装置、识别标识标记装置和卷绕装置连动地进行工作。

12.如权利要求11所述的装置，其特征在于，完成检查的光学膜制造装置还包含有将连续状表面保护膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的表面保护膜供给装置。

13.如权利要求11或12所述的装置，其特征在于，检查装置包括以下检查装置中的任一个或它们的组合：利用反射光主要检查连续状偏光膜表面的第一检查装置；透射从光源照射的光而将连续状偏光膜内在的疵点作为阴影来检测的第二检查装置；或将连续状偏光膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，向其照射来自光源的光并观察透射的光，从而将连续状偏光膜内在的疵点作为亮点来检测的第三检查装置。

14.一种制造信息存储读出系统的装置，该信息存储读出系统用于连续制造液晶显示元件的装置，该连续制造液晶显示元件的装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含：具有与形成为规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜，该信息存储读出系统具有：信息存储介质，其存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息，该切断位置信息是关于基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的信息；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒，该制造信息存储读出系统的装置的特征在于，包含如下部件：

临时光学膜供给装置，其装备有连续状临时光学膜的层积体卷筒并自所述层积体卷筒放出连续状临时光学膜，该连续状临时光学膜包括有包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状临时载体膜；

临时载体膜剥离装置，其通过一边放出连续状临时光学膜一边将连续状临时载体膜剥离，从而露出包含粘接层的连续状偏光膜；

检查装置，其通过检查包含露出的粘接层的连续状偏光膜的表面和内部来检测包含粘接层的连续状偏光膜内在的疵点；

切断位置信息生成机构，其根据包含粘接层的连续状偏光膜的疵点位置，生成切断位置信息，该切断位置信息是关于在相对长度方向成直角的方向划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置和划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置的信息；

完成检查的光学膜制造装置，其通过将连续状载体膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的露出的粘接层，来制造完成检查的连续状光学膜；

信息存储介质生成装置，其在连续制造液晶显示元件的所述装置中，存储所述切断位置信息，从而生成信息存储介质，所述切断位置信息用于在将完成检查的连续状光学膜放出时，在完成检查的连续状光学膜上将相对长度方向成直角方向的切痕自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度，以便依次切出偏光膜的包含疵点的不良薄片和不包含疵点的正常薄片；

识别标识标记装置，其生成与所述切断位置信息相关联的识别标识并将所述识别标识标记于完成检查的连续状光学膜；

卷绕装置，其将标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜卷绕成卷筒状而制成层积体卷筒；

控制装置，其至少使各个临时光学膜供给装置、临时载体膜剥离装置、检查装置、切断位置信息生成机构、完成检查的光学膜制造装置、信息存储介质生成装置、识别标识标记装置和卷绕装置连动地进行工作。

15.如权利要求14所述的装置，其特征在于，连续状临时载体膜在一个面具有通过在脱模处理后涂布包含粘接剂的溶剂并使其干燥而形成的能够转印的粘接层。

16.如权利要求14或15所述的装置，其特征在于，连续状载体膜在层积于连续状偏光膜的露出的粘接层的面上实施脱模处理。

17.如权利要求14或15所述的装置，其特征在于，完成检查的光学膜制造装置还包含有将连续状表面保护膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的表面保护膜供给装置。

18.如权利要求14或15所述的装置，其特征在于，检查装置包括以下检查装置中的任一个或它们的组合：利用反射光主要检查连续状偏光膜表面的第一检查装置；透射从光源照射的光而将连续状偏光膜内在的疵点作为阴影来检测的第二检查装置；或将连续状偏光膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，向其照射来自光源的光并观察透射的光，从而将连续状偏光膜内在的疵点作为亮点来检测的第三检查装置。

说明书

信息存储读出系统及制造该系统的方法和装置

技术领域

[0001] 本发明涉及连续制造液晶显示元件的技术，特别涉及连续制造液晶显示元件的装置所使用的信息存储读出系统以及制造该信息存储读出系统的方法及装置。 [0002] 背景技术

[0003] 如图1所示，液晶面板W在例举画面尺寸为对角42英寸的大型电视用液晶面板时，其为由纵向(540～560)mm×横向(950～970)mm×厚度0.7mm(700μm)左右的矩形玻璃基板夹住且配置有透明电极和滤色片等的5μm左右的液晶层构成的层状面板。液晶面板W自身的厚度是1.4mm(1400μm)左右。液晶显示元件通常是通过分别向该液晶面板W的正面侧(识别侧)和背面侧(背光侧)贴合包含偏光片和保护膜的偏光膜的薄片而生成。如图2所示，薄片从具有层积结构的挠性光学膜10所包含的偏光膜11成形为例如图1所示的尺寸。

[0004] 在液晶显示元件的功能中，液晶分子的取向方向与偏光片的偏光方向紧密关联。液晶显示元件技术首先应用于使用了TN(Twisted Nematic：扭转向列)型液晶的LCD(液晶显示装置)，之后应用于使用了VA(Vertical Alignment：垂直排列)型液晶、IPS(Inplane Switching：平面转换)型液晶等的LCD。省略详细的技术说明，但在使用了TN型液晶面板的LCD中，利用配置在液晶面板的玻璃基板内面的具有各自研磨方向的上下两片取向膜而使液晶分子在光轴方向以扭转90°的状态排列，在加载电压时，与取向膜垂直地并排。若要使从显示画面的左右看到的图像形成为相同，例如必须将识别侧的取向膜的研磨方向设定成45°(把另一取向膜的研磨方向设定成135°)。因此，与此对应地必须将分别向液晶面板的正面侧和背面侧贴合 的偏光膜的薄片所包含的偏光片的偏光方向也相对于显示画面的纵向或横向倾斜45°方向而配置。

[0005] 因此，贴合于TN型液晶面板的液晶显示元件的偏光膜的薄片需要从包含具有上述45°方向的偏光方向的偏光片的光学膜，与TN型液晶面板的大小对应地冲裁或切断加工成矩形。这种情况例如公开于日本特开2003-161935号公报(专利文献1)或日本特许第3616866号公报(专利文献2)中。不言而喻，被加工成矩形的薄片的宽度即薄片的短边比光学膜的宽度小。将如上所述从光学膜冲裁或切断加工成矩形的薄片称为“单片型薄片”。 [0006] 在制造使用了单片型薄片的液晶显示元件的过程中，单片型薄片预先从光学膜冲裁或切断，以在粘接层粘贴有分离膜的状态成形为矩形。成形的单片型薄片在液晶显示元件的制造工序中被收纳于储料库。被收纳于储料库的单片型薄片在向液晶面板W贴合时，例如通过吸附输送装置一片一片地向与液晶面板贴合的贴合位置输送。在向液晶面板W贴合前，自由剥离地层积于形成的粘接层的分离膜被剥离，由此，单片型薄片经由露出的粘接层与液晶面板W贴合。由于单片型薄片具有挠性，所以贴合时存在周缘产生挠曲或翘曲的问题。因此，在使用单片型薄片的液晶显示元件的制造工序中，为了使每一片的分离膜容易进行剥离动作，以便高精度且迅速进行与液晶面板的对位和贴合，不得不采用挠曲或翘曲少、容易输送和贴合、具有一定程度的刚性且四边被修整的单片型薄片。例如在单片型薄片不是向偏光片的单面而是向双面层积40～80μm厚度左右的保护膜而利用厚度使其具有刚性就是因为这个缘故。在液晶显示元件的制造技术的初期阶段，该光学膜的薄片或该薄片所包含的偏光膜的薄片通常被称为“偏光板”，该称呼在现在仍是通用名。 [0007] 在这种TN型液晶显示元件的制造技术中，冲裁或切断加工工序后，不能把成形的薄片直接向液晶面板连续地贴合而作为一连串的工序来制造液晶显示元件。这是因为，此时所使用的光学膜的薄片如上所述必须成形为使长边或短边的指向相对于向偏光片的纵向或横向延伸的取向方向(即成 形前的光学膜的输送方向或与其交叉的方向)成45°方向，不能将如上所述成形的薄片以保持原样的相同姿势向液晶面板连续地贴合。如在专利文献1或2所看到的那样，为了将薄片贴合于液晶面板，必须利用模具等从比液晶面板的长边宽度宽的连续状光学膜在相对光学膜的长度方向成45°的方向上冲裁，并将一片一片的薄片向与液晶面板贴合的贴合工序供给。或者，所使用的连续状光学膜必须是从宽度相当宽的连续状光学膜在相对其长度方向成45°的方向上预先冲裁或切断的长光学膜、或者是成形的一片一片的光学膜的薄片相互连接成膜状的长光学膜。这些方法都未离开单片型薄片制造技术的领域。

[0008] 专利文献3是VA型液晶和IPS型液晶等实用化之前所应用的技术，其公开了如下装置，即一边把包含偏光膜的光学膜连续供给一边把成形为必要长度的偏光膜的薄片依次向液晶面板贴合以生成液晶面板。该装置是制造使用了TN型液晶的LCD的贴标签装置。该装置所使用的光学膜必须是从宽度相当宽的连续状光学膜与液晶面板宽度对应地在相对偏光膜的延伸方向成45°的方向上切断加工的一片长光学膜、或者是如上所述的一片一片的光学膜的薄片相互连接成膜状的长光学膜。因此，该装置不能直接应用于从层积结构的连续状光学膜连续成形偏光膜的薄片并向使用VA型液晶或IPS型液晶的液晶面板贴合来制造液晶显示元件的制造装置。

[0009] 关于制造使用了单片型薄片的液晶显示元件的自动化技术，例如被日本特开2002-23151号公报(专利文献4)所公开。挠性的单片型薄片由于端部弯曲或下垂等而容易产生挠曲或翘曲，对于与液晶面板的对位和贴合时的精度和速度而言，成为较大的技术障碍。因此，为了容易进行吸附输送和向液晶面板的对位和贴合，要求单片型薄片具有一定程度的厚度和刚性。例如被日本特开2004-144913号公报(专利文献5)、日本特开
2005-298208号公报(专利文献6)或日本特开2006-58411号公报(专利文献7)所公开的技术能够认为是着眼于该技术课题而努力作出的。

[0010] 相对于TN型液晶面板而言，VA型液晶面板和IPS型液晶面板的液晶 [0011] 分子并不是以扭转状态排列。因此，在使用了这些液晶面板的液晶显示元件中，基于根据液晶取向状态而得到的视场角特性，不需要像使用TN型液晶面板的情况那样将光学膜薄片的偏光方向相对于液晶显示元件的长边或短边的指向设定成45°方向。使用这些液晶面板的液晶显示元件将偏光轴的方向与液晶面板的长边或短边并行且将相互相差90°方向的光学膜的薄片分别贴合于液晶面板的正面侧和背面侧。在VA型液晶面板和IPS型液晶面板中，在考虑到视角特性的对称性和识别性的情况下，由于光学膜的薄片的偏光轴方向表示最大对比度的方向，所以优选光学膜的薄片的光学轴相对于液晶面板的长边或短边方向平行。因此，向这些液晶面板贴合的光学膜的薄片通过把包含向纵向或横向伸展处理过的偏光膜的连续状光学膜连续输送，并相对该连续状光学膜的输送方向在横向上切断，作为具有与光学膜的宽度相同宽度的矩形的光学膜的薄片而能够连续成形，该薄片具有上述优点。

[0012] 被用于大型电视机的显示元件所使用的液晶，从提高视场角特性的观点来看，正从TN型液晶向VA型液晶和IPS型液晶转移。伴随这种技术开发环境的变化，如日本特开2004-361741号公报(专利文献8)所示那样，以这些液晶面板为前提而用于提高生产效率的提案也在开发。专利文献8公开的技术是把连续状光学膜连续输送并与液晶面板的大小对应地切断光学膜，把切断的光学膜的薄片向液晶面板连续贴合的技术。 [0013] 但是，由于存在以下所示的技术课题，所以液晶显示元件的制造依然保持以单片型薄片制造为主流。液晶显示元件的制造中的重要技术课题是事前确认制造的显示元件的缺陷以防止出现不良品。多数缺陷主要起因于连续状光学膜所包含的偏光膜的内在疵点。
但现状是制造没有疵点的光学膜极其困难，因此，以将层积的各个膜所包含的疵点完全除去的状态来提供连续状光学膜也不一定现实。另一方面，能够识别的损伤或疵点即使很少，但从维持液晶显示元件自身品质的观点来看，也不容许把这种包含损伤或疵点的光学膜的薄片作为电视用的薄片而使用。例如当把从光学膜成形的薄片的长边设定为约1m左右时，在不能事前把疵点部位除去的情况下，单纯通过计算，则制造的每1000个液晶显示元件就产生多达20～200个包含疵点的不良品。

[0014] 因此，现状是使划分成矩形的光学膜的不存在疵点的正常区域，适当 避开同样被划分成矩形的光学膜的存在缺陷的不良区域而作为正常品的薄片(以下称为“正常薄片”)从连续状光学膜冲裁或切断。或者，不区别正常区域和不良区域，把光学膜的薄片冲裁或切断成矩形，仅在以后的工序中进行分选、排除来处理其中的作为不良品的薄片(以下称为“不良薄片”)。因此，由于产品精度和制造速度这两方面的限制而处于难以将单片型薄片制造方法的生产效率提高到当前的效率以上的状况。

[0015] 本申请人以即使提高量少仍要提高制造单片型薄片的生产效率为目的，例如如日本特许第3974400号公报(专利文献9)、日本特开2005-62165号公报(专利文献10)或日本特开2007-64989号公报(专利文献11)所示那样，提出了偏光膜的事前检查装置。这些提案主要包含以下两个工序。在第一工序中，首先检查连续供给的连续状光学膜的偏光膜内在的疵点，对检测出的疵点位置进行图像处理并将图像处理后的信息进行编码。然后，从连续状光学膜冲裁单片型薄片时，在作为切屑而残留的端部利用记录装置将编码后的信息直接印刷，之后卷绕连续状光学膜而生成卷筒。在第二工序中，由读取装置读取在从生成的卷筒输送的连续状光学膜印刷的编码信息，根据判断是否合格的结果在疵点部位进行标记。在第三工序中，从连续状光学膜冲裁单片型薄片，根据预先标记的标记将光学膜的单片型薄片分选成正常薄片和不良薄片。这些工序对于提高制造单片型薄片的成品率是不可缺少的技术手段。

[0016] 并且，本申请人在日本特开2007-140046号公报(专利文献12)中提出了如下的制造方法：把从连续状光学膜的层积体卷筒连续输送的连续状光学膜(该文献中称为“偏光板原料卷筒”)所包含的载体膜(该文献中称为“脱模膜”)剥离而使包含粘接层的偏光膜(该文献中称为“偏光板”)露出，在对偏光膜内在的疵点进行检查后，避开偏光膜的疵点部位而仅把正常区域冲裁成矩形，使用其他的输送介质把冲裁的正常薄片(该文献中称为“板状产品”)移送到与液晶面板贴合的贴合位置。但上述方法并没有实现把从连续状光学膜成形的光学膜的正常薄片通过载体膜送到与液晶面板贴合的贴合位置。该技术是把暂时切断的单片型薄片与其他输送介质贴合而将其移送到与液晶面板贴合的贴合位置，不得不承认该技术仍是属于制造单片型薄片范围内的液晶显示元件的制造方法。 [0017] 如专利文献13所示，本申请人提出有涉及将光学膜的薄片与液晶面板 贴合的方法及装置的发明。该发明是能够从把事前成形的单片型薄片取入液晶显示元件的制造工序并使其与液晶面板贴合的液晶显示元件的制造技术，切换到在液晶显示元件的制造工序中把偏光膜的薄片连续成形并直接与液晶面板贴合的液晶显示元件的连续制造技术的划时代的提案。

[0018] 该发明的特征在于，液晶显示元件的一连串制造工序包含：为了进行确定偏光膜的不良区域和正常区域的检查，从连续状光学膜把载体膜和表面保护膜暂时剥离的工序；在检查后把替代载体膜和替代表面保护膜再次层积于连续状光学膜的工序。这些工序在液晶显示元件的连续制造中是为了一边保护因载体膜和表面保护膜的剥离而露出的偏光膜的粘接层的露出面和没有粘接层的面，一边进行内在的疵点检查的必须工序。但这些工序不仅使将成形的光学膜的正常薄片与液晶面板贴合的方法或装置整体变得相当复杂，而且使工序数增加，使每个工序的控制变得困难。因此，专利文献13记载的发明存在不得不牺牲制造速度的缺陷。

[0019] 专利文献1：日本特开2003-161935号公报

[0020] 专利文献2：日本特许第3616866号公报

[0021] 专利文献3：日本特公昭62-14810号公报

[0022] 专利文献4：日本特开2002-23151号公报

[0023] 专利文献5：日本特开2004-144913号公报

[0024] 专利文献6：日本特开2005-298208号公报

[0025] 专利文献7：日本特开2006-58411号公报

[0026] 专利文献8：日本特开2004-361741号公报

[0027] 专利文献9：日本特许第3974400号公报

[0028] 专利文献10：日本特开2005-62165号公报

[0029] 专利文献11：日本特开2007-64989号公报

[0030] 专利文献12：日本特开2007-140046号公报

[0031] 专利文献13：日本特开2009-061498号公报

发明内容

[0032] 本发明以这些相关发明为基础通过锐意研究而构想到能够连续制造液晶显示元件以使制造液晶显示元件的产品精度和制造速度飞跃提高，并根本性改善产品成品率。 [0033] VA型液晶面板和IPS型液晶面板从自液晶取向状态得到的视场角特性来看不存在TN型液晶面板特有的技术制约、即必须以偏光膜的偏光方向相对于液晶面板的长边或短边的指向成45°方向的方式将偏光膜的薄片与液晶面板的正面侧和背面侧的面贴合的技术制约。因此，使用VA型液晶面板或IPS型液晶面板的液晶显示元件在连续状光学膜的供给中，相对输送方向成直角方向地进行切断，通过把从连续状光学膜切出的偏光膜的薄片与液晶面板连续贴合而能够连续制造液晶显示元件。而且，在连续状光学膜的供给中，使该供给不间断，其所包含的由连续状偏光膜的事前检查而检测出的包含疵点的不良薄片和不包含疵点的正常薄片分别被切出，仅把其中的正常薄片向与液晶面板贴合的贴合位置供给，由此，在液晶显示元件的连续制造过程中，能够使产品精度和制造速度飞跃提高，并能够大幅度改善产品成品率。

[0034] 本发明的目的在于通过提供如下机构，即把包含具有粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜的完成检查的连续状光学膜(以下称为“完成检查的连续状光学膜”)向贴合位置供给，并把由连续状偏光膜的事前检查检测出的包含疵点的不良薄片和不包含疵点的正常薄片分别连续地切出，并且使切出的不良薄片不与液晶面板贴合，从而实现使完成检查的连续状光学膜的供给不间断地仅把切出的正常薄片与液晶面板连续贴合的机构，由此，使液晶显示元件的连续制造中的产品精度和制造速度飞跃提高，并大幅度改善产品成品率。

[0035] 本发明的目的通过提供下面的结构而能够实现，该结构构成为，生成存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息的信息存储介质，该切断位置信息基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的事前检查所检测出的疵点位置信息而算出、并与划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置相关，并且，准备标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒，一边从层积体卷筒放出完成检查的连续状光学膜，一边根据识别标识的读取而从所述信息存储介质读出切断位置信息，根据读出的切断位置信息从完成检查的连续状光学膜切出偏光膜的正常薄片并使其与液晶面板贴合。

[0036] 本发明的第一形态提供连续制造液晶显示元件的装置所使用的信息存储读出系统。本信息存储读出系统是连续制造液晶显示元件的装置所使用 的信息存储读出系统，该装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含：具有与形成为规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜。本信息存储读出系统包括：信息存储介质，其存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息，该切断位置信息是关于基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的信息；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒。通过在连续制造液晶显示元件的装置中使用本信息存储读出系统，基于根据识别标识的读取而从信息存储介质读出的切断位置信息和根据自层积体卷筒的完成检查的连续状光学膜的放出量而算出的长度测量数据，完成检查的连续状光学膜能够自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度，从而将偏光膜的正常薄片切出成为与液晶面板对应的尺寸并与液晶面板贴合。

[0037] 在本发明的一实施方式中，完成检查的连续状光学膜还包含有自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的连续状表面保护膜。

[0038] 本发明的第二形态提供一种制造信息存储读出系统的方法，该信息存储读出系统用于连续制造液晶显示元件的装置。本方法是制造信息存储读出系统的方法，该信息存储读出系统用于连续制造液晶显示元件的装置，该装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含：具有与形成为规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜，该信息存储读出系统具有：信息存储介质，其存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息，该切断位置信息是关于基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的信息；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒。该方法的 特征在于，包含如下步骤：向连续状偏光片的至少一个面层积连续状保护膜来制造连续状偏光膜的步骤；检查连续状偏光膜来检测连续状偏光膜内在疵点的步骤；根据连续状偏光膜的疵点位置，生成切断位置信息的步骤，该切断位置信息是关于在相对长度方向成直角的方向划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置和划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置的信息；通过隔着粘接层将连续状载体膜自由剥离地层积于连续状偏光膜，来制造完成检查的连续状光学膜的步骤；在连续制造液晶显示元件的所述装置中，存储所述切断位置信息，从而生成信息存储介质的步骤，所述切断位置信息用于在将完成检查的连续状光学膜放出时，在完成检查的连续状光学膜上将相对长度方向成直角方向的切痕自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度，以便依次切出偏光膜的不包含疵点的正常薄片和包含疵点的不良薄片；生成与所述切断位置信息相关联的识别标识并将所述识别标识标记于完成检查的连续状光学膜的步骤；将标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜卷绕成卷筒状而制成层积体卷筒的步骤。

[0039] 本发明的一实施方式中，制造完成检查的连续状光学膜的步骤还包含有将连续状表面保护膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的步骤。 [0040] 本发明的一实施方式中，检测连续状偏光膜内在疵点的步骤包括以下步骤中的任一个或它们的组合：利用反射光主要检查连续状偏光膜表面的步骤；透射从光源照射的光而将连续状偏光膜内在的疵点作为阴影来检测的步骤；或将连续状偏光膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，向其照射来自光源的光并观察透射的光，从而将连续状偏光膜内在的疵点作为亮点来检测的步骤。

[0041] 本发明的第三形态提供制造信息存储读出系统的其他方法，该信息存储读出系统用于连续制造液晶显示元件的装置。本方法是制造信息存储读出系统的方法，该信息存储读出系统用于连续制造液晶显示元件的装置，该装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含：具有与形成为规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏 光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜，该信息存储读出系统具有：信息存储介质，其存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息，该切断位置信息是关于基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的信息；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒。该方法的特征在于，包含如下步骤：准备连续状临时光学膜的层积体卷筒的步骤，该连续状临时光学膜包括有包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状临时载体膜；通过一边从所述层积体卷筒放出连续状临时光学膜一边将连续状临时载体膜剥离，从而露出包含粘接层的连续状偏光膜的步骤；通过检查包含露出的粘接层的连续状偏光膜的表面和内部来检测包含粘接层的连续状偏光膜内在疵点的步骤；根据包含粘接层的连续状偏光膜的疵点位置，生成切断位置信息的步骤，该生成切断位置信息是关于在相对长度方向成直角的方向划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置和划定包含所述疵点的不良薄片的不良薄片切断位置的信息；通过将连续状载体膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的露出的粘接层，来制造完成检查的连续状光学膜的步骤；在连续制造液晶显示元件的所述装置中，存储所述切断位置信息，从而生成信息存储介质的步骤，所述切断位置信息用于在将完成检查的连续状光学膜放出时，在完成检查的连续状光学膜上将相对长度方向成直角方向的切痕自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度，以便依次切出偏光膜的包含疵点的不良薄片和不包含疵点的正常薄片；生成与所述切断位置信息相关联的识别标识并将所述识别标识标记于完成检查的连续状光学膜的步骤；将标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜卷绕成卷筒状而制成层积体卷筒的步骤。 [0042] 本发明的一实施方式中，连续状临时载体膜在一个面具有通过在脱模处理后涂布包含粘接剂的溶剂并使其干燥而形成的能够转印的粘接层。

[0043] 本发明的一实施方式中，连续状载体膜在层积于连续状偏光膜的露出的粘接层的面上实施脱模处理。

[0044] 本发明的一实施方式中，制造完成检查的连续状光学膜的步骤还包含有将连续状表面保护膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的 面的步骤。 [0045] 本发明的一实施方式中，检测连续状偏光膜内在疵点的步骤包括以下步骤中的任一个或它们的组合：利用反射光主要检查连续状偏光膜表面的步骤；透射从光源照射的光而将连续状偏光膜内在的疵点作为阴影来检测的步骤；或将连续状偏光膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，向其照射来自光源的光并观察透射的光，从而将连续状偏光膜内在的疵点作为亮点来检测的步骤。

[0046] 本发明的第四形态提供制造信息存储读出系统的装置，该信息存储读出系统用于连续制造液晶显示元件的装置。本装置是制造信息存储读出系统的装置，该信息存储读出系统用于连续制造液晶显示元件的装置，该连续制造液晶显示元件的装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含：具有与形成为规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜，该信息存储读出系统具有：信息存储介质，其存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息，该切断位置信息是关于基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的信息；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒。该制造信息存储读出系统的装置的特征在于，包含如下部件：偏光膜制造装置，其向连续状偏光片的至少一个面层积连续状保护膜来制造连续状偏光膜；检查装置，其检查连续状偏光膜来检测连续状偏光膜内在的疵点；切断位置信息生成机构，其根据连续状偏光膜的疵点位置，生成切断位置信息，该切断位置信息是关于在相对长度方向成直角的方向划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置和划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置的信息；完成检查的光学膜制造装置，其通过隔着粘接层将连续状载体膜自由剥离地层积于连续状偏光膜，来制造完成检查的连续状光学膜；信息存储介质生成装置，其在连续制造液晶显示元件的所述装置中，存储所述切断位置信息，从而生成信息存储介质，所述切断位置信息用于在将完成检查的连续状光学膜放出时，在完成检查的连续状 光学膜上将相对长度方向成直角方向的切痕自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度，以便依次切出偏光膜的不包含疵点的正常薄片和包含疵点的不良薄片；识别标识标记装置，其生成与所述切断位置信息相关联的识别标识并将所述识别标识标记于完成检查的连续状光学膜；卷绕装置，其将标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜卷绕成卷筒状而制成层积体卷筒；控制装置，其至少使各个偏光膜制造装置、检查装置、切断位置信息生成机构、完成检查的光学膜制造装置、信息存储介质生成装置、识别标识标记装置和卷绕装置连动地进行工作。

[0047] 本发明的一实施方式中，完成检查的光学膜制造装置还包含有将连续状表面保护膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的表面保护膜供给装置。 [0048] 本发明的一实施方式中，检查装置包括以下检查装置中的任一个或它们的组合：利用反射光主要检查连续状偏光膜表面的第一检查装置；透射从光源照射的光而将连续状偏光膜内在的疵点作为阴影来检测的第二检查装置；或将连续状偏光膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，向其照射来自光源的光并观察透射的光，从而将连续状偏光膜内在的疵点作为亮点来检测的第三检查装置。

[0049] 本发明的第五形态提供制造信息存储读出系统的装置，该信息存储读出系统用于连续制造液晶显示元件的装置。本装置是制造信息存储读出系统的装置，该信息存储读出系统用于连续制造液晶显示元件的装置，该连续制造液晶显示元件的装置将从连续状光学膜的层积体卷筒沿相对长度方向成直角方向的线进行切割而切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的薄片，与液晶面板贴合来连续制造液晶显示元件，该连续状光学膜包含：具有与形成为规定尺寸的液晶面板的长边或短边对应的宽度的包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜，该信息存储读出系统具有：信息存储介质，其存储完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息，该切断位置信息是关于基于通过对连续状光学膜所包含的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的信息；层积体卷筒，其是标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜 的层积体卷筒。该制造信息存储读出系统的装置的特征在于，包含如下部件：临时光学膜供给装置，其装备有连续状临时光学膜的层积体卷筒并自所述层积体卷筒放出连续状临时光学膜，该连续状临时光学膜包括有包含粘接层的连续状偏光膜和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状临时载体膜；临时载体膜剥离装置，其通过一边放出连续状临时光学膜一边将连续状临时载体膜剥离，从而露出包含粘接层的连续状偏光膜；检查装置，其通过检查包含露出的粘接层的连续状偏光膜的表面和内部来检测包含粘接层的连续状偏光膜内在的疵点；切断位置信息生成机构，其根据包含粘接层的连续状偏光膜的疵点位置，生成切断位置信息，该切断位置信息是关于在相对长度方向成直角的方向划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置和划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置的信息；完成检查的光学膜制造装置，其通过将连续状载体膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的露出的粘接层，来制造完成检查的连续状光学膜；信息存储介质生成装置，其在连续制造液晶显示元件的所述装置中，存储所述切断位置信息，从而生成信息存储介质，所述切断位置信息用于在将完成检查的连续状光学膜放出时，在完成检查的连续状光学膜上将相对长度方向成直角方向的切痕自与连续状载体膜相反的一侧切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度，以便依次切出偏光膜的包含疵点的不良薄片和不包含疵点的正常薄片；识别标识标记装置，其生成与所述切断位置信息相关联的识别标识并将所述识别标识标记于完成检查的连续状光学膜；卷绕装置，其将标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜卷绕成卷筒状而制成层积体卷筒；控制装置，其至少使各个临时光学膜供给装置、临时载体膜剥离装置、检查装置、切断位置信息生成机构、完成检查的光学膜制造装置、信息存储介质生成装置、识别标识标记装置和卷绕装置连动地进行工作。

[0050] 本发明的一实施方式中，连续状临时载体膜在一个面具有通过在脱模处理后涂布包含粘接剂的溶剂并使其干燥而形成的能够转印的粘接层。

[0051] 本发明的一实施方式中，连续状载体膜在层积于连续状偏光膜的露出的粘接层的面上实施脱模处理。

[0052] 本发明的一实施方式中，完成检查的光学膜制造装置还包含有将连续状表面保护膜自由剥离地层积于连续状偏光膜的不是粘接层侧的面的表面保护膜供给装置。 [0053] 本发明的一实施方式中，检查装置包括以下检查装置中的任一个或它们的组合：利用反射光主要检查连续状偏光膜表面的第一检查装置；透射从光源照射的光而将连续状偏光膜内在的疵点作为阴影来检测的第二检查装置；或将连续状偏光膜和偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光，向其照射来自光源的光并观察透射的光，从而将连续状偏光膜内在的疵点作为亮点来检测的第三检查装置。

附图说明

[0054] 图1是画面尺寸为对角42英寸的大型电视用液晶显示元件的典型例； [0055] 图2是表示制造本发明的液晶显示元件所使用的连续状光学膜结构的示意图； [0056] 图3是表示制造本发明的液晶显示元件所使用的完成检查的连续状光学膜中包含的、包含连续状偏光膜内在疵点(与划定不良薄片的不良薄片切断位置对应)的不良区域和不包含疵点(与划定正常薄片的正常薄片切断位置对应)的正常区域的示意图； [0057] 图4是表示本发明一实施方式的连续制造液晶显示元件的装置1的概念图，该装置1包含：光学膜供给装置100，其从装备的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒R供给完成检查的连续状光学膜；液晶面板输送装置300，其根据从信息存储介质读出的切断位置信息，在完成检查的连续状光学膜形成切割线，由此将从完成检查的连续状光学膜切出的偏光膜的正常薄片贴合；

[0058] 图5是表示图4所示的本发明一实施方式的连续制造液晶显示元件的装置1中的各制造步骤的流程图；

[0059] 图6是示意性表示本发明一实施方式的制造完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒R的方法和装置的示意图，该完成检查的连续状光学膜生成切断位置信息并标记有与存储在信息存储介质的所述切断位置信息相关联的识别标识；

[0060] 图7是表示图6所示的制造层积体卷筒R的方法和装置的各制造步骤的流程图； [0061] 图8是示意性表示本发明一实施方式的使用连续状临时光学膜的层积体卷筒R′来制造完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒R的方法和装置的 示意图，该光学膜生成切断位置信息并标记有与存储在信息存储介质的所述切断位置信息相关联的识别标识； [0062] 图9是表示图8所示的制造层积体卷筒R的方法和装置的各制造步骤的流程图； [0063] 图10是在使用本发明一实施方式的信息存储读出系统来连续制造液晶显示元件的图4的装置1中，读取所述识别标识并表示读取的识别信息与根据该识别标识的读取而从所述信息存储介质读出的切断位置信息的关系的示意图，该信息存储读出系统由存储在图6或图8的制造层积体卷筒R的装置中生成的完成检查的连续状光学膜用切断位置信息的信息存储介质、和标记有与所述切断位置信息相关联的识别标识的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒构成；

[0064] 图11是在本发明一实施方式的连续制造液晶显示元件的装置1中，用于排除被识别的不良薄片的、包含(1)配置在光学膜输送路径的虚设分离膜驱动装置或(2)能够在贴合装置的离开的一对贴合辊之间出入的虚设分离膜驱动装置的不良薄片排除装置的示意图；

[0065] 图12是表示用于确认在本发明一实施方式的连续制造液晶显示元件的装置1中基于长度测量数据和切断位置信息在输送的完成检查的连续状光学膜上形成有切割线的位置的切割线形成位置确认装置的动作的示意图，该长度测量数据由完成检查的连续状光学膜的放出量得到，该切断位置信息根据标记于完成检查的连续状光学膜的识别标识的读取而被读出；

[0066] 图13是在本发明一实施方式的连续制造液晶显示元件的装置1中，当把从完成检查的连续状光学膜切出成为与液晶面板对应的规定长度的偏光膜的正常薄片与液晶面板贴合时，通过控制液晶面板输送装置所包含的预对准装置、对准装置、向贴合位置输送的输送装置和液晶面板边缘检测装置这些装置，来输送姿势被控制的液晶面板的示意图； [0067] 图14是表示偏光膜的正常薄片与液晶面板贴合的贴合装置的示意图，该贴合装置包括：检测从图13所示的完成检查的连续状光学膜切出成为与液晶面板对应的规定长度的偏光膜的正常薄片前端的边缘部分的边缘检测装置、检测偏光膜的正常薄片是否与输送方向一致的直进位置检测装置；

[0068] 图15是表示本发明一实施方式的标记于完成检查的连续状光学膜的包含数据内容的识别标识的种类的图；

[0069] 图16是表示本发明一实施方式的根据连续状偏光膜的疵点位置来演算划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置，并生成完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息的方法的示意图；

[0070] 图17是表示根据连续状偏光膜的疵点位置来演算划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的方法的流程图； [0071] 图18是表示根据连续状偏光膜的疵点位置来演算划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的另一方法的流程图；

[0072] 图19是表示根据连续状偏光膜的疵点位置来演算划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置的又一方法的流程图；

[0073] 图20是表示本发明一实施方式的与图17的存储不良薄片识别信息Xγ的方法对应的切断位置信息例的图；

[0074] 图21是表示本发明一实施方式的与图18的将至下一个切断位置的距离设为X′+x0′(其中存在x0′＞x0的关系)的方法对应的切断位置信息的图； [0075] 图22是表示本发明一实施方式的与图19的将至下一个切断位置的距离设为(X′+x0)/m(其中m＝2以上)的方法对应的切断位置信息的图；

[0076] 图23是本发明一实施方式的表示疵点检查装置、疵点种类和疵点检测方法的表。 [0077] 附图标记说明

[0078] 10完成检查的连续状光学膜 10′连续状临时光学膜

[0079] 11包含粘接层的连续状偏光膜

[0080] 11′尚未形成粘接层的连续状偏光膜 12粘接层

[0081] 13连续状表面保护膜 14连续状载体膜 14′连续状临时载体膜 [0082] 20识别标识 51PVA膜的卷筒 52TAC膜的卷筒

[0083] 80切断位置信息 1液晶显示元件的连续制造装置

[0084] 100光学膜供给装置 110支架装置

[0085] 120读取装置 130、170膜供给装置

[0086] 131编码器 140、180速度调整装置 150切断装置

[0087] 160切割线形成位置确认装置 190不良薄片排除装置

[0088] 200贴合装置 210载体膜卷绕驱动装置 220边缘检测装置 [0089] 230直进位置检测装置 300液晶面板输送装置 400控制装置 [0090] 410信息处理装置 420存储装置

[0091] 500第一实施方式的信息存储读出系统的制造装置

[0092] 500′第二实施方式的信息存储读出系统的制造装置

[0093] 510偏光片的生产线 510′临时光学膜供给线

[0094] 520保护膜的生产线

[0095] 520′包含露出的粘接层的偏光膜的供给线

[0096] 530连续状偏光膜的检查线

[0097] 530′包含粘接层的连续状偏光膜的检查线

[0098] 540、540′标记了识别标识的完成检查的连续状光学膜的生产线 [0099] 550层积体卷筒R的生产线 560贴合驱动装置

[0100] 560′临时光学膜供给驱动装置

[0101] 570、570′组装有编码器的长度测量装置 580检查装置

[0102] 581图像读取装置 590、590′载体膜供给装置

[0103] 620识别标识印刷装置 630卷绕驱动装置

[0104] 640表面保护膜贴合装置 650临时载体膜卷绕驱动装置

[0105] 700控制装置 710信息处理装置 720存储装置

[0106] 800信息存储介质

具体实施方式

[0107] 本说明书中，把单面或双面层积有连续状保护膜的连续状偏光片(polarizer)中与液晶面板贴合的一面形成有粘接层的连续状膜称为连续状偏光膜，把从通称为“偏光板”的该连续状偏光膜成形为矩形的薄片称为“偏光膜的薄片”或简称为“薄片”。而且，在从与连续状表面保护膜和连续状载体膜成一体的连续状偏光膜切出薄片时，在需要将薄片与“偏光膜的薄片”进行区分的情况下把其称为“光学膜的薄片”，将从其所包含的连续状表面保护膜或连续状载体膜切出的薄片称为“表面保护膜的薄片”或“载体膜的薄片”。 [0108] 以下，参照附图详细说明本发明的实施方式。

[0109] 1、连续制造液晶显示元件的装置的结构

[0110] 图4是表示连续制造液晶显示元件的装置1的概略图。本装置1包含光学膜供给装置100，该光学膜供给装置100装备有在连续状光学膜上标记有识别标识20的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒R，并从该层积体卷筒R连续输送完成检查的连续状光学膜，其中该连续状光学膜包含：包含具有与液晶面板的长边或短边一致的宽度的粘接层的连续状偏光膜、和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状载体膜，该识别标识20与根据由对连续状偏光膜或包含粘接层的偏光膜的检查而检测出的疵点(欠点)位置而生成并预先存储在信息存储介质800的切断位置信息80相关联。如后所述，在标记有识别标识20的完成检查的连续状光学膜的制造工序中，根据由对连续状偏光膜或包含粘接层的连续状偏光膜的检查而检测出的疵点位置而演算划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置，信息存储介质800是记录如上所述演算的用于完成检查的连续状光学膜的切断位置信息80的信息存储介质。作为信息存储介质能够使用：软盘、CD、DVD、闪存、硬盘等。根据由对连续状偏光膜或包含粘接层的偏光膜的检查而检测出的疵点而生成的切断位置信息80，也可以在层积体卷筒R的制造装置中，在生成切断位置信息80后，不经由信息存储介质800而直接通过网络或专用线路向连续制造液晶显示元件的装置1的存储装置420传送。这时，存储装置420作为本发明的信息存储介质而起作用。本装置1还包含用于依次输送贴合偏光膜的正常薄片的液晶面板的液晶面板输送装置300，基于从信息存储介质800或控制装置400的存储装置420读出的切断位置信息80，在完成检查的连续状光学膜形成切割线，由此从完成检查的连续状光学膜切出成为与液晶面板的长边或短边对应的规定长度的偏光膜的正常薄片。本装置1还包括控制光学膜供给装置100和液晶面板输送装置300整体的动作的控制装置400。

[0111] 光学膜供给装置100包括：从完成检查的连续状光学膜切出偏光膜的薄片11″的切断工位A、把切出的偏光膜的薄片11″中的不良薄片排除的排除工位C、将正常薄片与液晶面板贴合的贴合工位B。如后所述，光学膜供给装置100也可以把贴合工位B和排除工位C重复配置。液晶面板输送装置300将在后面论述。控制装置400具有如下功能，即在存储装置420中根据读取装置120对于识别标识20的读取从信息存储介质800读出切断位 置信息80并存储。

[0112] 光学膜供给装置100还包括：支架装置110，其用于自由旋转地安装完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒R；读取装置120，其用于读取识别标识20；膜供给装置130，其包含在一侧内置有用于计测完成检查的连续状光学膜的放出量的编码器131的一对进给辊；速度调整装置140，其包含用于以一定速度进行膜供给的蓄能辊(アキユ一ムロ一ラ)；切断装置150，其用于在切断工位A基于长度测量数据和切断位置信息80，在完成检查的连续状光学膜上在与输送方向垂直的方向上进行切割以形成切割线，根据由编码器131算出的完成检查的连续状光学膜的放出量得到该长度测量数据，该切断位置信息80根据识别标识20的读取从信息存储介质800或存储装置420读出；切割线形成位置确认装置160，其用于确认在切断工位A形成的切割线的位置；膜供给装置170，其包含进给辊；速度调整装置
180，其包含用于以一定速度进行膜供给的蓄能辊；不良薄片排除装置190，其用于在排除工位C基于来自控制装置400的指令识别偏光膜的不良薄片并将其从连续状载体膜排除；
贴合装置200，其包含一对贴合辊，该一对贴合辊用于在贴合工位B将切出成为与液晶面板对应的规定长度的偏光膜的正常薄片从连续状载体膜剥离并使其与液晶面板贴合；载体膜卷绕驱动装置210，其用于卷绕连续状载体膜；边缘检测装置220，其用于确认在贴合工位B偏光膜的正常薄片的前端；以及直进位置检测装置230，其用于检测偏光膜的正常薄片的直进位置。关于液晶面板输送装置300的详细情况，根据图13在后面论述。图5是表示利用这些装置进行的连续制造液晶显示元件的装置1中的各制造步骤的流程图。 [0113] 2、完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒R的制造

[0114] <完成检查的连续状光学膜10的结构>

[0115] 安装于光学膜供给装置100的支架装置110的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒R是卷绕有具有挠性的完成检查的连续状光学膜10的层积体卷筒，如图2所示，该完成检查的连续状光学膜10至少包括：在层积有连续状保护膜的连续状偏光片及偏光片的与液晶面板贴合的面上形成有粘接层12的连续状偏光膜11、具有层积于连续状偏光膜11的未形成粘接层12的面的粘接面的连续状表面保护膜13、自由剥离地层积于连续状偏光膜11的粘接层12的连续状载体膜14。尚未形成粘接层12的连续状偏光膜11′ (为了与形成有粘接层12的“包含粘接层的连续状偏光膜11”区别而把尚未形成粘接层12的连续状偏光膜称为“连续状偏光膜11”)或包含粘接层的连续状偏光膜11，如图3所示那样事前检查是否存在内在的疵点。在制造完成检查的连续状光学膜10的层积体卷筒R时有两种检查方法。

[0116] 一种是在将连续状保护膜层积于由PVA膜生成的连续状偏光片的连续状偏光膜11′的制造工序中，检查制造过程中的连续状偏光膜11′的方法。另一种是使用连续状临时光学膜10′的层积体卷筒R′进行检查的方法，该连续状临时光学膜10′至少包含：预先制造并准备的包含粘接层的连续状偏光膜11和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状临时载体膜14′。具体而言，上述检查方法为通过一边从层积体卷筒R′输送连续状临时光学膜10′一边将连续状临时载体膜14′剥离来检查包含露出的粘接层的连续状偏光膜
11的方法。完成检查的连续状光学膜10优选具有与被贴合的液晶面板的长边或短边大致相同的宽度。层积于连续状偏光片的单面或双面的连续状保护膜优选是透明保护膜。连续状载体膜14是如下的脱模膜，即在液晶显示元件的制造工序中保护连续状偏光膜11的粘接层12，并且当切出成为与液晶面板对应的规定长度的偏光膜的正常薄片从连续状载体膜
14剥离而与液晶面板贴合时，被卷绕而除去。由于连续状载体膜14具有将切出成为与液晶面板对应的规定长度的偏光膜的正常薄片输送到贴合工位B的载体功能，所以在此称为“载体膜”。

[0117] 连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11例如经过以下的工序来制造。首先把50～80μm厚度左右的PVA(聚乙烯醇类)膜用碘染色并进行交联处理，对PVA膜实施向纵向或横向延伸的取向处理。其结果是，在与PVA膜的延伸方向平行的方向上排列有碘配位体，从而形成在与具有该方向的振动的偏光被吸收的延伸方向平行的方向上具有吸收轴的连续状偏光片。为了制作除具有优良的均匀性和精度之外还具有优良光学特性的连续状偏光片，优选PVA膜的延伸方向与膜的纵向或横向一致。通常，偏光片或包含偏光片的连续状偏光膜11′的吸收轴与连续状偏光膜11′的长度方向平行，偏光轴成为与其垂直的横向。偏光片的厚度是20～30μm。然后，经由粘接剂在制作的连续状偏光片的两面层积保护连续状偏光片的连续状保护膜。通常，连续状保护膜多使用40～80μm厚度左右的透明TAC(三乙酰纤维类)膜。从液晶显示元件的薄型化的观点来看，也存在仅在连续状 偏光片的一个面贴合连续状保护膜的情况。最后，在层积有连续状保护膜的连续状偏光片的一个面，形成与液晶面板贴合的丙烯酸类粘接层，制造包含粘接层的偏光膜11。如图2所示，粘接层的厚度是10～30μm。包含粘接层的连续状偏光膜11的厚度通常是110～220μm左右。

[0118] 连续状表面保护膜13和连续状载体膜14通常使用PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯类)膜。连续状表面保护膜13和连续状载体膜14都在连续制造液晶显示元件的最后工序之前被剥离除去，是所谓的制造工艺材料。在液晶显示元件的制造工序中，连续状表面保护膜13是用于保护连续状偏光膜11的没有粘接层的面使其不受污染或损伤的膜，连续状载体膜14是用于保护粘接层露出的面的膜。连续状临时载体膜14′也是同样的膜。 [0119] 连续状偏光膜11′的保护膜的一个能够替换成使用环烯类聚合物或TAC类聚合物等具有光学补偿功能的相位差膜。连续状偏光膜11′还能够在TAC类透明基体材料上提供将聚酯类或聚酰亚胺类等聚合物进行涂布/取向并进行固定的层。在是向液晶显示元件的背光侧贴合的连续状偏光膜11′的情况下，还能够在连续状偏光片的背光侧的连续状保护膜贴合提高亮度的膜而附加功能。另外，关于连续状偏光膜11′的结构，提出有包括在连续状偏光片的一个面贴合TAC膜而在另一个面贴合PET膜的各种变更。

[0120] 在连续状保护膜层积于连续状偏光片的单面或双面的、未形成用于与液晶面板贴合的粘接层的连续状偏光膜11′上形成粘接层的方法之一，是在连续状偏光膜11′的与液晶面板贴合的面上层积能够转印地形成粘接层的连续状载体膜14的方法。具体的转印方法如下。首先，在连续状载体膜14的制造工序中，对层积于连续状偏光膜的与液晶面板贴合的面的连续状载体膜14的一个面实施脱模处理，通过向该面涂布包含粘接剂的溶剂并使其干燥，在连续状载体膜14生成粘接层。然后，例如把包含生成的粘接层的连续状载体膜14连续输送，并将其层积于与其同样输送的连续状偏光膜11′，从而将连续状载体膜14的粘接层转印到连续状偏光膜11′而形成粘接层12。也可以代替这样形成的粘接层，将包含粘接剂的溶剂直接涂布于连续状偏光膜11′的与液晶面板贴合的面并使其干燥来形成粘接层12。

[0121] 连续状表面保护膜13通常具有粘接面。该粘接面与连续状偏光膜11的粘接层12不同，在液晶显示元件的制造工序中，在从偏光膜的薄片11″把表面保护膜的薄片(未图示)剥离除去时，必须与表面保护膜的薄片一 体地剥离。图2(产品)的图表示把表面保护膜的薄片剥离并除去的状态。与在连续状偏光膜11是否层积有连续状表面保护膜13无关，也可以在连续状偏光膜11的识别侧保护膜表面，实施保护液晶显示元件最外面的硬涂层处理或包含防眩处理的能够得到防眩晕等效果的表面处理。

[0122] 3、液晶显示元件的连续制造用信息存储读出系统的制造

[0123] 构成液晶显示元件的连续制造用信息存储读出系统的信息存储读出系统包括：存储完成检查的连续状光学膜用切断位置信息80的信息存储介质800、被标记了与切断位置信息80相关联的识别标识20的完成检查的连续状光学膜10的层积体卷筒R，使用图6、图7和图8、图9来说明与制造该信息存储读出系统的方法和装置相关的第一和第二实施方式。

[0124] <制造第一实施方式的信息存储读出系统的方法和装置>

[0125] 图6是示意性表示本发明一实施方式的制造完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒R的方法和装置的示意图，该完成检查的连续状光学膜生成切断位置信息80并标记有与存储在信息存储介质800的所述切断位置信息80相关联的识别标识20。图7是表示图6所示的制造层积体卷筒R的方法和装置的各制造步骤的流程图。

[0126] 图6所示的制造第一实施方式的信息存储读出系统的装置500包括：生产线510，其制造连续状偏光片；生产线520，其制造层积于连续状偏光片的连续状保护膜；生产线530，其是经由粘接剂一边把连续状保护膜层积于连续状偏光片一边制造连续状偏光膜
11′的工序，且包含检查连续状偏光膜11′是否存在内在的疵点的工序；生产线540，其是在已进行有无疵点的检查的连续状偏光膜11′的一个面自由剥离地层积形成有能够转印的粘接层的连续状载体膜14，在另一个面根据需要自由剥离地层积连续状表面保护膜13来制造完成检查的连续状光学膜的工序，且包含在完成检查的连续状光学膜标记识别标识
20的工序；生产线550，其包含在向完成检查的连续状光学膜标记识别标识20后将其卷绕而制造层积体卷筒R的工序。

[0127] 如图6所示，生产线510包括如下工序，即对自由旋转地安装于成为连续状偏光片的基体材料的PVA膜的卷筒51且利用贴合驱动装置560或未图示的其他驱动装置从卷筒51输送的PVA膜进行染色、交联/伸展处理后，进行干燥来制造连续状偏光片。生产线520包括如下工序，即对自由旋转地安装于成为连续状保护膜基体材料的通常是透明的TAC膜的卷筒52且同 样地利用贴合驱动装置560或未图示的其他驱动装置从卷筒52输送的透明TAC膜进行皂化处理后，进行干燥来制造连续状保护膜。生产线530包括在生产线510和
520的终端具有一对贴合辊561和562的贴合驱动装置560，该生产线530可以包含如下工序，即在偏光片与保护膜的界面涂布以聚乙烯醇类树脂为主剂的粘接剂，通过两贴合辊利用仅数μm的粘接层将两膜进行干燥粘接来制造连续状偏光膜11′(图7的步骤1)。贴合驱动装置560包括有长度测量装置570，该长度测量装置570将用于根据自制造的连续状偏光膜11′前端的放出量来计算长度测量数据的编码器组装在贴合辊的任一个。由此，能够测定连续状偏光膜11′的放出量(该图的步骤2)。贴合辊561和562一边压接连续状偏光片和连续状保护膜一边进行贴合来制造连续状偏光膜11′。贴合辊561和562还与后述的卷绕驱动装置630连动，一边输送连续状偏光膜11′一边连续进行供给。 [0128] 如图7的步骤3所示，生产线530还包括有连续状偏光膜11′的检查工位M，通过检查连续状偏光膜11′的表面和内部来检测内在的疵点。检查工位M包含检测连续状偏光膜11′的表面和内面有无疵点的检查装置580。如后所述，检查装置580例如进行反射检查、透射检查、正交偏光透射检查。检查工位M中，与检查装置580关联的控制装置700使用信息处理装置710和存储装置720如图3所示那样，根据检测出的连续状偏光膜11′的疵点位置进行演算，以确定沿与连续状偏光膜11′的长度方向垂直的方向区分的不包含疵点的正常区域Xα和包含疵点的不良区域Xβ(该图的步骤4到步骤6)。控制装置700还生成涉及与这些区域对应的划定不包含疵点的正常薄片Xα的正常薄片切断位置和划定包含疵点的不良薄片Xβ的不良薄片切断位置的、最终制造完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息80(该图的步骤7)。控制装置700将该切断位置信息80存储在存储装置720，然后把它存储在信息存储介质800(该图的步骤16)。为了备份切断位置信息80，也可以存储在多个信息存储介质。切断位置信息80在生成后也可以不经由信息存储介质800而直接通过网络或专用线路向连续制造液晶显示元件的装置1的存储装置420传送。这时，存储装置420作为本发明的信息存储介质起作用。

[0129] 检查装置580与控制装置700的关联性如下所示。检查装置580例如包括包含CCD照相机的图像读取装置581。图像读取装置581与控制装置 700所包含的信息处理装置710连接。由图像读取装置581读取的图像数据，与由连接到信息处理装置710的长度测量装置570计测的长度测量数据相关联地进行信息处理。控制装置700使信息处理装置710和存储装置720工作，将由图像读取装置581得到的图像数据和由长度测量装置570测到的基于自连续状偏光膜11′的检查位置(通常是前端位置)的放出量的长度测量数据，相关联地进行信息处理，由此生成与连续状偏光膜11′内在的疵点位置相关的位置数据(图7的步骤4)，并将其存储到存储装置720(该图的步骤5)。控制装置700首先根据与疵点位置相关的位置数据来确定连续状偏光膜11′的不包含疵点的正常区域Xα和包含疵点的不良区域Xβ(该图的步骤6)。详细情况如后述那样，控制装置700根据确定的连续状偏光膜11′的不包含疵点的正常区域Xα和包含疵点的不良区域Xβ，来生成切断位置信息80，该切断位置信息80在最终制造的完成检查的连续状光学膜10由图4的光学膜供给装置100输送时，由下游侧切断位置和邻接的上游侧切断位置构成且与划定不包含疵点的正常薄片Xα的正常薄片切断位置和划定包含疵点的不良薄片Xβ的不良薄片切断位置相关。

[0130] 控制装置700接下来把切断位置信息80存储到存储装置720(该图的步骤7)。切断位置信息80是在最终制造的完成检查的连续状光学膜上，指定用于在相对其输送方向垂直的方向邻接的切断位置应形成切割线的位置的信息。切割线如后所述，在连续制造液晶显示元件的装置(图4)中当从被装备的层积体卷筒R输送完成检查的连续状光学膜时，在切断工位A由切断装置150在完成检查的连续状光学膜上，自连续状载体膜的相反侧，将与长度方向垂直的方向的切痕切割至到达连续状载体膜的粘接层侧的面的深度，由此形成图2(产品)所示的包含粘接层的偏光膜的薄片11″。切断位置信息80经由存储装置720被存储在信息存储介质800(该图的步骤16)。为了备份，也可以把切断位置信息80存储在多个信息存储介质。为了从信息存储介质800或存储装置420读出切断位置信息80而生成的识别标识20被标记在最终制造的完成检查的连续状光学膜(该图的步骤14)，制造出标记有识别标识20的完成检查的连续状光学膜10(该图的步骤15)。识别标识20能够包含与切断位置信息80相关的制造批量和卷筒m数等信息。向完成检查的连续状光学膜10标记识别标识20的位置优选设定为与连续状偏光膜11′的疵点检查的开始位置对应的位置。

[0131] 由邻接的切割线形成的偏光膜的薄片11″是由要贴合的液晶面板长边或短边的长度所确定的规定尺寸长度的正常薄片Xα或是通常比规定尺寸长度xα短的不良薄片Xβ。如图4所示，在连续制造液晶显示元件时，控制装置400使读取装置120工作，读取被输送的完成检查的连续状光学膜10的识别标识20，并读出切断位置信息80。控制装置400之后基于根据识别标识20的读取而从信息存储介质800或存储装置420读出的切断位置信息80，使切断装置150在切断工位A工作，按照完成检查的连续状光学膜上邻接的切割线切出偏光膜的不良薄片Xβ。接着，控制装置400在排除工位C使不良薄片排除装置190工作，把偏光膜的不良薄片Xβ从连续状载体膜14排除。同样地，按照邻接的切割线切出成为与液晶面板对应的规定长度的偏光膜的正常薄片Xα，在贴合工位B利用根据控制装置400进行工作的贴合装置，从连续状载体膜14剥离，与液晶面板的一侧贴合。 [0132] 因此，根据连续状偏光膜11′内在疵点的位置数据确定的不包含疵点的正常薄片的长度xα，如由要贴合的液晶面板的边的长度所确定的那样，总是恒定的。同样被确定的包含疵点的不良薄片的长度xβ从输送方向看，仅靠该不良薄片之前的正常薄片的上游侧切割线成为不良薄片的下游侧切割线，所以该不良薄片由下游侧切割线和稍微离开疵点位置而形成在上游的上游侧切割线确定。由于从输送方向看从下游侧切割线到疵点位置的长度各式各样，所以不良薄片的长度xβ也各式各样。如后所述，在指定应形成切割线的位置的切断位置信息80进行信息处理时，优选以使不良薄片的长度xβ总是成为与正常薄片的长度xα不同的长度，例如成为xβ＜xα的方式进行信息处理。但在正常薄片的长度xα与不良薄片的长度xβ相同时，也能够使用用于识别正常薄片和不良薄片的不良薄片识别信息Xγ。不言而喻，不良薄片识别信息Xγ与切断位置信息80相关，并与切断位置信息80一起存储在信息存储介质800。在液晶显示元件的制造工序中，图4所示的本装置1以如下方式进行工作，即按照根据由读取装置120读取的识别标识20的读取而从信息存储介质800或存储装置420读出的切断位置信息80，在切断工位A由切断装置150形成正常薄片Xα和不良薄片Xβ，在排除工位C由不良薄片排除装置190识别不良薄片Xβ并把它排除。在信息存储介质800存储有与切断位置信息80相关的不良薄片识别信息Xγ的情况下，不良薄片排除装置190进行工作，以便根据不良薄片识别信息Xγ来仅识别不良 薄片Xβ，并将其排除。生成切断位置信息80的实施方式在第一和第二实施方式中是共通的技术事项，所以按照图16、图17～图19、图20～图22在后面叙述。

[0133] 连续状偏光膜11′的疵点检查完成后，必须在连续状偏光膜11′的一个面形成用于与液晶面板贴合的粘接层12。如图6所示，生产线540包含有载体膜供给装置590，其安装有预先能够转印地形成有粘接层的连续状载体膜14的卷筒59。连续状载体膜14事前在载体膜的生产线(未图示)上以20～50μm厚度左右的PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯类)膜作为基体材料被制造。在连续状载体膜14的一个面，一般是在PET膜的一个面实施脱模处理后向该面涂布包含丙烯酸类粘接剂的溶剂并使其干燥，形成10～30μm厚度左右的能够转印的粘接层，在该粘接层自由剥离地层积脱模膜。把连续状载体膜14从载体膜供给装置590一边剥离脱模膜一边供给，并利用一对载体膜贴合辊591和592自由剥离地层积于连续状偏光膜11′。由此，在连续状载体膜14形成的粘接层就被转印到连续状偏光膜11′而制造出包含粘接层的连续状偏光膜11。

[0134] 生产线540还能够包括表面保护膜供给装置640，其将具有粘接面的连续状表面保护膜13层积于包含粘接层的连续状偏光膜11的、层积有连续状载体膜14的面的相反侧的面上。生产线540在将连续状表面保护膜13和/或连续状载体膜14层积于包含粘接层的连续状偏光膜11而制造完成检查的连续状光学膜10后，在与开始检查前的连续状偏光膜11′的疵点检查的位置对应的位置，还包括用于标记识别标识20的印刷装置620。识别标识20与信息存储介质800所存储的切断位置信息80相关联地生成。识别标识20是如下的识别标识，即在连续制造液晶显示元件的装置1(图4)中，用于根据由读取装置120进行的识别标识20的读取而从信息存储介质800或存储装置420读出切断位置信息80，该装置1安装有标记该识别标识20的完成检查的连续状光学膜10的层积体卷筒R。 [0135] 生产线550包括有光学膜卷绕驱动装置630，该光学膜卷绕驱动装置630具有在利用印刷装置620将识别标识20标记于完成检查的连续状光学膜10后，将其卷绕而制成层积体卷筒R的一对卷绕辊631和632(该图的步骤15)。在将连续状保护膜层积于连续状偏光片的双面的情况下，装置500包括两个连续状保护膜的生产线520、520′(在此，省略了生产线520′)。 也可以在连续状保护膜的生产线520附加在将连续状保护膜层积于连续状偏光片前对保护膜表面(非层积面)实施硬涂层处理、防眩晕处理或防眩处理的加工处理线。

[0136] <制造第二实施方式的信息存储读出系统的方法和装置>

[0137] 图8是示意性表示本发明一实施方式的使用连续状临时光学膜的层积体卷筒R′来制造完成检查的连续状光学膜10的层积体卷筒R的方法和装置的示意图，该完成检查的连续状光学膜10生成切断位置信息80并标记有与存储在信息存储介质800的切断位置信息80相关联的识别标识20。图9是表示图8所示的制造层积体卷筒R的方法和装置的各制造步骤的流程图。

[0138] 对于图8所示的制造第二实施方式的信息存储读出系统的装置500′，除了与第一实施方式的装置500不同的结构之外，对于相同结构则使用同一附图标记，说明该装置500′。第二实施方式的装置500′使用预先制造并准备的连续状临时光学膜10′的层积体卷筒R′。层积体卷筒R′是连续状临时光学膜10′被卷绕成卷筒状的层积体卷筒，该连续状临时光学膜10′至少包括：包含粘接层的连续状偏光膜11和自由剥离地层积于所述粘接层的连续状临时载体膜14′。在此所说的连续状偏光膜11是在连续状保护膜层积于连续状偏光片的连续状层积体上已形成有粘接层的连续状膜，是所谓的包含粘接层的连续状偏光膜。连续状偏光膜11是未检测有无内在疵点的疵点检查前的包含粘接层的连续状偏光膜，在该粘接层上自由剥离地层积有保护它的连续状临时载体膜14′。因此，第二实施方式的装置500′包括：临时光学膜供给线510′，其从自由旋转地安装在支架装置上的连续状临时光学膜10′的层积体卷筒R′供给连续状临时光学膜10′；偏光膜供给线520′，其从连续状临时光学膜10′把连续状临时载体膜14′剥离，以便在使包含粘接层的连续状偏光膜11露出的状态下供给该连续状偏光膜11。

[0139] 第二实施方式的装置500′的特征之一在于，在第一实施方式的装置500中，检查有无内在疵点的对象是不包含粘接层的连续状偏光膜11′自身，与此相对在第二实施方式的装置500′中，将包含处于露出状态的粘接层的连续状偏光膜11作为检查对象。虽然存在包含粘接层和不包含粘接层的差异，但任一装置都包括：检查连续状偏光膜有无内在疵点的生产线530、530′和自由剥离地层积连续状表面保护膜13和/或连续状载体膜14的生产线540、540′。第二实施方式的生产线530′将包含与液晶面板贴合的粘接层的连续状 偏光膜11例如利用包含CCD照相机的图像读取装置581进行图像数据的读取。图像读取装置581与第一实施方式的装置500同样地与控制装置700所包括的信息处理装置710连接，由图像读取装置581读取的图像数据，与由连接到信息处理装置710的长度测量装置570′所测量的长度测量数据相关地进行信息处理。

[0140] 第二实施方式的生产线540′包括安装有连续状载体膜14的卷筒59′的载体膜供给装置590′，该连续状载体膜14在自由剥离地层积于包含粘接层的连续状偏光膜11露出的粘接层的面上实施剥离处理。连续状载体膜14事前在载体膜的生产线(未图示)上以20～50μm厚度左右的PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯类)膜作为基体材料来制造。在该PET膜的一个面实施脱模处理，不像第一实施方式的生产线540那样形成能够转印的粘接层，所以不需要脱模膜。从载体膜供给装置590′供给连续状载体膜14并利用一对载体膜贴合辊591′和592′将连续状载体膜14自由剥离地层积于连续状偏光膜11的粘接层。第二实施方式的装置500′的生产线550由于具有与第一实施方式的装置500同样的结构和功能，所以在此省略说明。

[0141] 第二实施方式的装置500′的特征在于使用预先制造的连续状临时光学膜10′的层积体卷筒R′。因此，本装置500′当然不具有连续状偏光片的生产线和连续状保护膜的生产线。而且也不需要如下工序，即像第一实施方式的生产线530那样利用贴合驱动装置560的一对贴合辊561和562向界面涂布粘接剂来将连续状偏光片和连续状保护膜干燥粘接的工序。与之对应的生产线如图8所示是连续状临时光学膜10′的层积体卷筒R′的供给线510′(图9所示的步骤1)。在该供给线510′包括有临时光学膜供给驱动装置560′，其包含从安装在支架装置上的层积体卷筒R′输送连续状临时光学膜10′的一对进给辊561′和562′。临时光学膜供给驱动装置560′包括有长度测量装置570′，其将用于测量自连续状临时光学膜10′前端的放出量来计算长度测量数据的编码器组装在进给辊的任一个。由此，能够测定连续状临时光学膜10′的放出量(该图的步骤2)。进给辊
561′和562′与卷绕被制造的完成检查的连续状光学膜10并制成层积体卷筒R的卷绕驱动装置630连动，一边输送连续状临时光学膜10′一边连续进行供给。

[0142] 图8所示的连续状临时光学膜10′的供给线510′，利用临时光学膜供给驱动装置560′将包含连续状临时载体膜14′的连续状临时光学膜10′送入剥 离工位L。供给线520′包括如下的剥离工位L，即利用临时载体膜剥离装置650把连续状临时载体膜14′从连续状临时光学膜10′剥离，使包含粘接层的连续状偏光膜11以露出状态被供给(该图的步骤3和4)。生产线530′包括如下的检查工序，即、将包含露出的粘接层的连续状偏光膜
11送入检查工位M以检测包含露出的粘接层的连续状偏光膜11内在的疵点。用于制造第二实施方式的信息存储读出系统的完成检查的连续状光学膜10的制造利用生产线530′开始制造。

[0143] 被预先制造的连续状临时光学膜10′的层积体卷筒R′在该制造工序中，优选使用形成有能够转印的粘接层的连续状临时载体膜14′。其原因在于，在第二实施方式的装置500′中，在从层积体卷筒R′输送连续状临时光学膜10′并从连续状临时光学膜10′剥离连续状临时载体膜14′时，将自由剥离地形成于连续状临时载体膜14′的粘接层转印到连续状偏光膜11′以制造包含粘接层的连续状偏光膜11。生产线530′包括与第一实施方式的装置500所包括的检查工位M同样的检查工位M，与第一实施方式的生产线530不同之处在于，疵点检查的对象是包含粘接层的连续状偏光膜11。检查工位M包含有检测包含粘接层的连续状偏光膜11的表面和内面有无疵点的检查装置580。如后所述，检查装置580例如进行反射检查、透射检查、正交偏光透射检查。在检查工位M中，与检查装置580相关联的控制装置700使用信息处理装置710和存储装置720，如图3所示那样根据检测出的包含粘接层的连续状偏光膜11的疵点位置进行演算，以确定沿与包含粘接层的连续状偏光膜11的长度方向垂直的方向划分的、不包含疵点的正常区域Xα和包含疵点的不良区域Xβ(图9所示的步骤5到步骤8)。控制装置700还生成最终制造的完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息80，该切断位置信息80涉及与这些区域对应的划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置和划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置(该图的步骤9)。切断位置信息80经由存储装置720存储在信息存储介质800(该图的步骤18)。
为了备份，也可以把切断位置信息80存储在多个信息存储介质。

[0144] 检查装置580与控制装置700的关联性与第一实施方式的装置500相同。由图像读取装置581读取的图像数据，与由连接到信息处理装置710的长度测量装置570′测量的长度测量数据相关联地进行信息处理。控制装置700使信息处理装置710和存储装置720工作，使由图像读取装置581 读取的图像数据和由长度测量装置570′测量的、基于自连续状临时光学膜10′通过临时光学膜供给驱动装置560′的位置(通常是前端位置)的放出量的长度测量数据相关联地进行信息处理，由此，生成与包含粘接层的连续状偏光膜11内在的疵点位置相关的位置数据(图9的步骤6)，并存储到存储装置720(该图的步骤7)。控制装置700首先基于与疵点位置相关的位置数据来确定包含粘接层的连续状偏光膜11的不包含疵点的正常区域Xα和包含疵点的不良区域Xβ(该图的步骤8)。详细情况如后述那样，控制装置700根据被确定的包含粘接层的连续状偏光膜11的正常区域Xα和不良区域Xβ来生成切断位置信息80，在最终制造的完成检查的连续状光学膜10由图4的光学膜供给装置100输送时，该切断位置信息80与由下游侧切断位置和邻接的上游侧切断位置构成的、划定正常薄片Xα的正常薄片切断位置和划定不良薄片Xβ的不良薄片切断位置相关。

[0145] 控制装置700接下来将切断位置信息80存储到存储装置720(该图的步骤9)。切断位置信息80与第一实施方式同样地是在最终制造的完成检查的连续状光学膜上，指定用于在相对其输送方向垂直的方向邻接的切断位置形成切割线的位置的信息。切割线在连续制造液晶显示元件的装置(图4)中，当从被装备的层积体卷筒R输送完成检查的连续状光学膜时，由切断装置150在完成检查的连续状光学膜上，自连续状载体膜的相反侧，将与长度方向垂直的方向的切痕切割至到达连续状载体膜14的粘接层侧的面的深度，由此形成图2(产品)所示的包含粘接层的偏光膜的薄片11″。切断位置信息80经由存储装置720存储在信息存储介质800(该图的步骤18)。为了从信息存储介质800或存储装置420读出切断位置信息80而生成的识别标识20被标记在最终制造的完成检查的连续状光学膜(该图的步骤16)，从而制造出标记了识别标识20的完成检查的连续状光学膜10(该图的步骤17)。向完成检查的连续状光学膜10标记识别标识20的位置优选设定为与包含粘接层的连续状偏光膜11的疵点检查的开始位置对应的位置。识别标识20能够包含与切断位置信息80相关联的制造批量和卷筒m数等信息。由邻接的切割线形成的偏光膜的薄片11″与第一实施方式同样地是由要贴合的液晶面板长边或短边的长度所确定的规定尺寸长度的正常薄片Xα或是通常比规定尺寸长度xα短的不良薄片Xβ。

[0146] 4、利用液晶显示元件的连续制造用信息存储读出系统进行的液晶显示 元件的连续制造

[0147] (标记了识别标识20的完成检查的连续状光学膜10的输送)

[0148] 图10是在使用本发明一实施方式的信息存储读出系统来连续制造液晶显示元件的图4的装置1中，表示由读取装置120读取的识别标识20与根据识别标识20的读取而从信息存储介质800或存储装置420读出的切断位置信息80的关系的示意图，该信息存储读出系统由存储在制造标记了图6或图8所示的识别标识20的完成检查的连续状光学膜10的层积体卷筒R的装置中生成的完成检查的连续状光学膜10用切断位置信息80的信息存储介质800、和标记了与切断位置信息80相关联的识别标识20的完成检查的连续状光学膜的层积体卷筒R构成。在此，与图5的流程图相关而作为本发明一实施方式的第三实施方式来说明使用这些液晶显示元件的连续制造用信息存储读出系统，连续制造液晶显示元件的方法和装置。

[0149] (切割线形成位置的识别)

[0150] 在第三实施方式中，标记了识别标识20的完成检查的连续状光学膜10的层积体卷筒R，自由旋转地安装在连续制造液晶显示元件的装置1所包含的光学膜供给装置100的支架装置110上，从层积体卷筒R把标记了识别标识20的完成检查的连续状光学膜10(以下称为“完成检查的连续状光学膜10”)连续地输送(图5所示的步骤1)。这时在图5所示的步骤2中，读取在完成检查的连续状光学膜10上印刷的识别标识20，按照该读取而从信息存储介质800或存储装置420读出切断位置信息80并存储在存储装置420。在该图的步骤3中，在信息处理装置410中，将由图4所示编码器131算出的从层积体卷筒R输送的完成检查的连续状光学膜10的放出量的长度测量数据与切断位置信息80相关联来确定划定正常薄片Xα的正常薄片切断位置和划定不良薄片Xβ的不良薄片切断位置。在该图的步骤5中，各个切断位置作为完成检查的连续状光学膜10的切割线形成位置由图4所示的光学膜供给装置100依次识别。

[0151] 如图4所示，控制装置400根据放出量的长度测量数据和切断位置信息80，使包含有进给辊的膜供给装置130工作来供给完成检查的连续状光学膜10，并使速度调整装置140工作而使完成检查的连续状光学膜10的供给暂时停止(图5的步骤7)。接着，控制装置400在切断工位A使切断装置150工作，根据依次识别的切割线形成位置，自连续状载体膜14的相反 侧，将与输送方向垂直的方向的切痕切割至到达连续状载体膜14的粘接层侧的面的深度，从而在完成检查的连续状光学膜10上形成切割线。形成有切割线的完成检查的连续状光学膜10，利用切断位置确认装置160来确认切割线的位置(该图的步骤8)。接着，在排除工位C，利用与包含有进给辊的膜供给装置170和速度调整装置180连动的不良薄片排除装置190，将在完成检查的连续状光学膜10的连续状载体膜14上切出的偏光膜的不良薄片Xβ和正常薄片Xα，优选根据不同的长度进行识别或分选而仅将不良薄片Xβ从连续状载体膜14剥离并排除(该图的步骤9)。在包含有与切断位置信息80相关联的不良薄片识别信息Xγ的情况下，不良薄片排除装置190能够根据不良薄片识别信息Xγ来仅把不良薄片Xβ从连续状载体膜14剥离并排除。排除了不良薄片Xβ的完成检查的连续状光学膜10利用载体膜卷绕驱动装置210，与依次送来的液晶面板W的输送同步地向贴合工位B供给。在切出成为与液晶面板对应的规定长度的偏光膜的正常薄片Xα前端的边缘部分到达输送来的液晶面板W前端的边缘部分的位置，连续状载体膜14被卷绕(该图的步骤11)，正常薄片Xα从连续状载体膜14被剥离，在贴合工位B利用包含一对贴合辊的贴合装置200，开始将正常薄片Xα与液晶面板W贴合的动作。

[0152] 接着，详细叙述在液晶显示元件的制造工序，包括正常薄片Xα与液晶面板W的贴合动作在内，根据控制装置400进行工作的各装置的具体动作。

[0153] (不良薄片Xβ的排除)

[0154] 不良薄片排除装置190由控制装置400控制，从偏光膜11的正常薄片Xα和不良薄片Xβ自由剥离地层积的连续状载体膜14上识别、分选与正常薄片Xα长度不同的不良薄片Xβ，或者仅将作为不良薄片的与不良薄片识别信息Xγ相关联的不良薄片Xβ，与正常薄片进行识别、分选，并从连续状载体膜14剥离、排除，其中该偏光膜11的正常薄片Xα和不良薄片Xβ按照完成检查的连续状光学膜10所包含的切割线切出。图11(1)和图11(2)表示利用控制装置400识别、分选不良薄片Xβ而进行动作的不良薄片排除装置190。

[0155] 图11(1)的不良薄片排除装置190包括：虚设膜驱动装置191，其具有将自由剥离地层积于连续状载体膜14的不良薄片Xβ粘贴剥离的功能；移动装置192，其在不良薄片Xβ到达完成检查的连续状光学膜10的输送 路径的排除起点时进行动作。不良薄片排除装置190是能够利用移动装置192使完成检查的连续状光学膜10的输送路径移动并使输送路径与虚设膜驱动装置191的虚设膜输送路径接触或离开的装置。

[0156] 图11(2)的不良薄片排除装置190是在贴合工位B与包含通过控制装置400进行动作的一对贴合辊的贴合装置200连动的装置，其包括：具有粘贴、剥离不良薄片Xβ的功能的虚设膜驱动装置191和构成虚设膜驱动装置191的虚设膜输送路径的移动辊192。图11(2)的装置与图11(1)的装置的不同之处在于，图11(2)的装置的特征为，在贴合工位B中，使与贴合装置200所包含的一对贴合辊靠近配置的构成虚设膜输送路径的移动辊192与贴合装置200的贴合辊连动。具体而言，在贴合工位B，在不良薄片Xβ到达完成检查的连续状光学膜10的输送路径的终点(即排除起点)时，控制装置400使一对贴合辊离开，使构成虚设膜输送路径的移动辊192移动到离开的贴合辊之间的间隙，通过将移动辊192与贴合辊的一个辊替换，使移动辊192与贴合辊的另一个辊连动。这时，由于利用载体膜卷绕驱动装置210卷绕连续状载体膜14，所以不良薄片Xβ从连续状载体膜14被剥离，被剥离的不良薄片Xβ通过与贴合辊的另一个辊连动的移动辊192，贴在虚设膜输送路径上而被排除。

[0157] (完成检查的连续状光学膜10的切割线形成位置的确认)

[0158] 在液晶显示元件的制造工序中，切断装置150按照控制装置400的指令，依次识别在完成检查的连续状光学膜10上应形成切割线的位置，该位置由在完成检查的连续状光学膜10的层积体卷筒R的制造工序中检测出的切断位置信息80和基于完成检查的连续状光学膜10的放出量得到的长度测量数据确定，该切断位置信息80与基于连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11的疵点位置的、划定不良薄片Xβ的不良薄片切断位置及划定正常薄片Xα的正常薄片切断位置相关。由此，在切断工位A中，切断装置150在完成检查的连续状光学膜10上依次形成与其输送方向垂直的方向的切割线。切断装置150根据控制装置400来进行动作。若基于控制装置400的指令的切断装置150的动作与关联到完成检查的连续状光学膜10的长度测量数据的切断位置信息80即切割线形成位置不一致，则利用控制装置400使切断装置150识别切断位置信息80的情况变得无意义。 [0159] 图12是表示用于确认在本发明一实施方式的连续制造液晶显示元件的 装置1中基于长度测量数据和切断位置信息80在输送的完成检查的连续状光学膜10上形成有切割线的位置的切割线形成位置确认装置160的动作的示意图，该长度测量数据由完成检查的连续状光学膜的放出量得到，该切断位置信息80根据标记于完成检查的连续状光学膜10的识别标识20的读取而被读出。从完成检查的连续状光学膜10的输送方向看，切断位置确认装置160设置于前后隔着切断装置150的上游侧和下游侧。在下游侧切断位置确认装置160的更下游侧，设置有包含进给辊的膜供给装置170，由此，使在切割线形成于完成检查的连续状光学膜10时暂时停止的完成检查的连续状光学膜10的供给再开始。另一方面，在上游侧切断位置确认装置160的更上游侧，设置有包含蓄能辊的速度调整装置140，由此，即便在切割线形成于完成检查的连续状光学膜10时完成检查的连续状光学膜10被暂时停止，也能够维持利用包含进给辊的膜供给装置130进行的完成检查的连续状光学膜
10的供给。

[0160] 可以通过求出膜的流向(X方向)和膜的横断方向(Y方向)的正确位置，来确认与完成检查的连续状光学膜10的输送方向垂直的方向的切割线形成位置，与基于完成检查的连续状光学膜10的放出量的长度测量数据和切断位置信息80的用于在完成检查的连续状光学膜10上切割的切割线形成位置是否一致。优选为，在前后夹住完成检查的连续状光学膜10的切割线形成位置的两个部位，测量实际的切割线形成位置及完成检查的连续状光学膜10的边缘(侧端部)位置与各自的基准线之间在X方向及Y方向上的偏差来进行上述确认。例如利用包含CCD照相机的切断位置确认装置160来对完成检查的连续状光学膜10的切割线形成位置和完成检查的连续状光学膜10的边缘位置进行拍摄，使其形成图像。在拍摄范围内预先设置有各自的基准线。由拍摄的图像内的对比度差来判断完成检查的连续状光学膜10的切割线形成位置和完成检查的连续状光学膜10的边缘位置。然后计算预先设定的基准线与切割线形成位置和光学膜的边缘位置的距离(偏差)，根据算出的距离(偏差)，在完成检查的连续状光学膜10的输送方向前后，修正切断装置150的位置和角度。更具体而言，如图5所示，完成在张紧状态下供给完成检查的连续状光学膜10的步骤3、4和7，在步骤5中，在完成检查的连续状光学膜10上形成切割线。然后由两个切断位置确认装置160来确认实际的完成检查的连续状光学膜10的切割线形成位 置与基于由控制装置400识别的切断位置的完成检查的连续状光学膜10的应形成切割线的切割线形成位置是否存在偏差。在产生偏差的情况下，完成步骤6和8，作为一例由以下所示的顺序来修正。

[0161] 确认在完成检查的连续状光学膜10形成的切割线形成位置与应形成切割线的切割线形成位置的偏差的检查方法，作为一例，按以下所示的顺序进行处理。 [0162] (1)把完成检查的连续状光学膜10的切割线形成位置(X)和两个部位的边缘位置(Y1、Y2)由包含CCD照相机的切断位置确认装置160进行拍摄并形成图像，利用图像内的对比度差来计测完成检查的连续状光学膜10的切割线位置(X)和边缘位置(Y1、Y2)。 [0163] (2)在从X方向看在上游侧在切断位置确认装置160的拍摄范围内预先设定的沿Y方向延伸的基准线与从X方向看在下游侧在切断位置确认装置160的拍摄范围内预先设定的沿Y方向延伸的基准线的中间位置，预先设定有沿Y方向延伸的切割线基准位置，将表示上游侧基准线与下游侧基准线之间的距离的数据γ经由信息处理装置410预先存储在存储装置420。从X方向看在上游侧和下游侧，在切断位置确认装置160的拍摄范围内预先设定有沿X方向延伸的基准线。

[0164] (3)根据识别的完成检查的连续状光学膜10的切割线形成位置(X)和边缘位置(Y1、Y2)以及上述基准线，计算切割线形成位置的修正量α和切割线形成角度的修正量δ。完成检查的连续状光学膜10的切割线形成位置的修正量α是测量到的偏差量α，即、切割线形成位置(X)与下游侧的沿Y方向延伸的基准线之间的偏差量α。切割线的形成角度的修正量δ，可以基于由相距完成检查的连续状光学膜10边缘位置的距离测量到的Y方向的两个部位的偏差量即相距沿X方向延伸的下游侧基准线和上游侧基准线的偏差量(β1及β2)、和两基准线之间的距离γ，通过以下的式子计算。

[0165] [公式1]

[0166]

[0167] (4)根据测量并算出的数据，向切断装置150发出进行δ修正量的角度修正和X方向的α修正量的位置修正的指令，以便与沿Y方向延伸的切割线形成位置的基准线对应，将该修正量(α和δ)存储在存储装置420。

[0168] (5)切断装置150根据控制装置400，基于存储的修正量(α和δ)，被指令为进行朝向输送方向的修正和朝向相对输送方向呈横向的方向的角度修正，以便在形成完成检查的连续状光学膜10的下一个切割线时，与完成检查的连续状光学膜10的切割线形成位置的基准线对应。

[0169] (6)最后，切断装置150进行动作以便在完成检查的连续状光学膜10识别下一个切割线。

[0170] (正常薄片Xα向液晶面板W的贴合)

[0171] 信息存储介质800存储根据识别标识20的读取而读出的完成检查的连续状光学膜10用切断位置信息80，使用标记了识别标识20的完成检查的连续状光学膜10的层积体卷筒R和上述信息存储介质800的信息存储读出系统，来连续制造液晶显示元件的本实施方式的第一特征在于，在将从供给的完成检查的连续状光学膜10切出成为与液晶面板W对应的规定长度的偏光膜的正常薄片Xα与液晶面板W贴合的动作之前，能够利用不良薄片排除装置190仅把同样从供给的完成检查的连续状光学膜10切出的偏光膜的不良薄片Xβ事前排除而不中断完成检查的连续状光学膜10的供给。本实施方式的第二特征是，在不中断在单片型薄片或单片型薄片制造中不能假定的完成检查的连续状光学膜10的供给的情况下，可以利用载体膜卷绕驱动装置210，在贴合工位B，仅将切出成为与液晶面板W对应的规定长度的偏光膜的正常薄片Xα供给到与液晶面板W贴合的贴合装置200。通过将该信息存储读出系统用于液晶显示元件的制造工序，能够将正常薄片Xα与液晶面板W的贴合速度和贴合精度飞跃提高，这是明了的。

[0172] (液晶面板W的输送)

[0173] 在详述将切出成为与液晶面板W对应的规定长度的偏光膜的正常薄片Xα与液晶面板W贴合的、包含上下方向能够接触或离开的一对贴合辊的贴合装置200之前，首先概述使从供给的完成检查的连续状光学膜10切出成为与液晶面板W对应的规定长度的偏光膜的正常薄片Xα贴合的液晶面板W的输送装置300。以对角42英寸的大型电视用液晶显示元件为例时，如图1所示，矩形液晶面板W的大小是纵(540～560)mm×横(950～970)mm。液晶显示元件的制造工序中的液晶面板W在包含组装电子零件的配线组装阶段，周缘稍微被切削加工。或者，液晶面板W以周缘已被切削加工的状态被输送。通过供给装置，从收纳多个液晶面板的储料库一张一张地取出 液晶面板W，例如经过洗净/研磨，如图5和图13所示，由输送装置300调整成一定间隔和一定速度，并被输送到与偏光膜的正常薄片Xα贴合的贴合工位B的贴合装置200。从完成检查的连续状光学膜10将正常薄片Xα切成比液晶面板W稍小。如图13所示，输送装置300包含在把正常薄片Xα送到贴合工位B时、在与正常薄片Xα的送入同步地向贴合工位B依次供给的液晶面板W的最终阶段用于控制液晶面板W姿势的液晶面板姿势控制装置，该液晶面板姿势控制装置由预对准装置310、对准装置320、向贴合装置输送的输送装置330及检测液晶面板W前端的边缘部分的边缘检测装置340构成。

[0174] 图13是在本发明一实施方式的连续制造液晶显示元件的装置1中，当将从完成检查的连续状光学膜10切出成为与液晶面板W对应的规定长度的偏光膜的正常薄片Xα与液晶面板W贴合时，通过由控制装置400控制液晶面板输送装置300所包括的预对准装置310、对准装置320、向贴合位置输送的输送装置330和液晶面板边缘检测装置340这些装置而将姿势已被控制的液晶面板W进行输送的示意图。图14是表示将偏光膜的正常薄片Xα与液晶面板W贴合的贴合装置的示意图，该贴合装置包括：检测从图13所示的完成检查的连续状光学膜10切出成为与液晶面板W对应的规定长度的偏光膜的正常薄片Xα的前端边缘部分的边缘检测装置220、检测偏光膜的正常薄片Xα与输送方向是否一致的直进位置检测装置230。

[0175] 正常薄片Xα优选通过连续状载体膜14而被调整成一定速度并供给到贴合工位B的贴合装置200。如图13或图14所示，在贴合工位B，仅连续状载体膜14经由剥离板211而被载体膜卷绕驱动装置210成锐角地剥离。通过将连续状载体膜14成锐角地剥离，能够使正常薄片Xα的粘接层逐渐露出。由此，使正常薄片Xα的前端边缘部分稍微露出，容易将液晶面板W的前端边缘部分与正常薄片Xα的前端边缘部分对位。如图13所示，正常薄片Xα的前端边缘部分出现在贴合装置200的一对贴合辊在上下方向离开的状态下的间隙处，并由边缘检查装置220进行确认。正常薄片Xα以层积于连续状载体膜14的状态被输送，但输送方向相对连续状载体膜14长度方向的角度θ很少以θ＝0的方式正确地输送。于是，将正常薄片Xα的输送方向和直角方向的偏差量例如利用直进位置检测装置230的CCD照相机进行拍摄而形成图像，使用x、y、θ来算出测得的偏差量，并通过控制装置 400把算出的数据存储在存储装置420。

[0176] 接着，把液晶面板W从图4所示的包含液晶面板的收纳储料库的输出装置以一定间隔和一定速度依次供给。被一张一张地送来的液晶面板W由图13所示的液晶面板输送装置300来控制姿势。关于该姿势控制，需要参照图13。通过预对准装置310对液晶面板W依次进行定位，以使其纵向和横向与输送路径的输送方向和与之正交的方向对齐。把已被定位的液晶面板W输送并搭载于对准装置320。对准装置320包含利用由控制装置400控制的驱动装置而转动的对准台321。被搭载于对准台321的液晶面板W的前端边缘部分由边缘检测装置340检测。将前端边缘部分的位置与存储装置420存储的基准贴合位置、具体说与使用表示被供给的正常薄片Xα姿势的x、y、θ算出的数据进行对照。例如，使用图1所示的液晶面板W的对准标记，测定前端边缘部分的位置与基准贴合位置之间的位置偏差量，演算偏差角θ，使搭载有液晶面板W的对准台321仅转动θ角度。接着，使对准台321与向贴合工位B输送的输送装置330连接。利用向贴合工位B输送的输送装置330将液晶面板W以相同姿势送到贴合装置200，使液晶面板W的前端边缘部分与正常薄片Xα前端边缘部分对位并重叠。在最终阶段，已对位的正常薄片Xα与液晶面板W利用一对贴合辊压接输送，从而完成液晶显示元件。

[0177] 由于正常薄片Xα利用以张紧状态供给的完成检查的连续状光学膜10与连续状载体膜14成一体地被供给到与液晶面板W贴合的贴合装置200，所以正常薄片Xα的周缘难以成为弯曲或下垂的状态。由此，正常薄片Xα不会产生挠曲或翘曲。因此，容易使液晶面板W的姿势与送到贴合工位B的正常薄片Xα对应，能够使液晶显示元件的制造高速化以及使液晶显示元件高精度化。在以往的单片型薄片制造中终究不能采用上述方法和装置，以往的单片型薄片的制造为，将单片型薄片一片一片地剥离分离膜后使粘接层露出，被吸附输送到与液晶面板W贴合的贴合位置，与液晶面板W对位、重合并贴合来完成液晶显示元件。即本实施方式是以使用信息存储读出系统为前提来连续制造液晶显示元件的方法和装置，在相对于形成规定尺寸的液晶面板W而具有与液晶面板的长边或短边对应的宽度的、至少包括包含粘接层的连续状偏光膜11和自由剥离地层积于粘接层的连续状载体膜14的完成检查的连续状光学膜10上，作为向完成检查的连续状光学膜 10的宽度方向延伸的线来确定基于由连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11的事前检查而检测出的疵点位置来划定不良薄片Xβ的不良薄片切断位置和划定正常薄片Xα的正常薄片切断位置，该信息存储读出系统包括把与这些不良薄片切断位置和正常薄片切断位置相关的切断位置信息80存储的信息存储介质800、标记了与切断位置信息80相关联的识别标识
20的完成检查的连续状光学膜10的层积体卷筒R。

[0178] 5、用于完成检查的连续状光学膜10的切断位置信息80的生成

[0179] (识别标识20的种类)

[0180] 图15是表示本发明一实施方式的标记于完成检查的连续状光学膜10的包含有数据内容的识别标识20种类的图。识别标识20使用一维或二维代码或IC标签等，可以包含表示对每个完成检查的连续状光学膜10进行的连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11的疵点检查对象的批量数等数据内容。

[0181] (切断位置信息80的生成)

[0182] 图16是表示本发明一实施方式的根据连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11内在的疵点位置来演算划定包含疵点的不良薄片Xβ的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片Xα的正常薄片切断位置，并生成完成检查的连续状光学膜10用的切断位置信息80的方法的示意图。图17～图19是表示同样地根据连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11内在的疵点位置来演算划定包含疵点的不良薄片的不良薄片切断位置和划定不包含疵点的正常薄片的正常薄片切断位置，并生成完成检查的连续状光学膜10用的切断位置信息80的方法的流程图。切断位置信息80优选被存储在软盘、CD、DVD、闪存、硬盘等信息存储介质800。可以是一个信息存储介质，但考虑到消失的风险，为了备份，也可以使用多个信息存储介质。但需要留意的是图16的示意图和图17～图19的流程图所示的实施方式也不过是一例。

[0183] 控制装置700使信息处理装置710和存储装置720工作，使由检查装置580的图像读取装置581得到的图像数据和由组装有编码器的长度测量装置570或570′得到的基于自连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11(以下将两者汇总而称为“连续状偏光膜11”)前端的放出量的长度测量数据相关联地进行信息处理，生成与连续状偏光膜11内在的疵点位置相 关的位置数据并存储到存储装置720。控制装置700首先根据与疵点位置相关的位置数据来确定连续状偏光膜11的不良区域Xβ和正常区域Xα。控制装置
700进而生成与确定的连续状偏光膜11的不良区域Xβ和正常区域Xα相当的、涉及划定不良薄片Xβ的不良薄片切断位置和划定正常薄片Xα的正常薄片切断位置的完成检查的连续状光学膜10用的切断位置信息80。切断位置信息80是指定在完成检查的连续状光学膜10上应形成切割线的位置的信息。在图4所示的连续制造液晶显示元件的装置1中，切断装置150在供给的完成检查的连续状光学膜10上，自连续状载体膜14的相反侧，将与输送方向垂直的方向的切痕切割至到达连续状载体膜14的粘接层侧的面的深度，从而形成切割线。在此生成的切断位置信息80暂时通过控制装置700存储在存储装置720，然后被存储到信息存储介质800。为了备份，也可以把切断位置信息80存储到多个信息存储介质。该切断位置信息80与标记于完成检查的连续状光学膜10的识别标识20相关联，在图
4所示的连续制造液晶显示元件的装置1中，根据由读取装置120进行的识别标识20的读取而从信息存储介质800或存储装置420读出该切断位置信息80，在控制装置400的信息处理装置410中进行信息处理。

[0184] 以下使用图16的示意图和图17～图19的流程图进行说明。图16的示意图表示连续状偏光膜11通过载体膜供给装置590的进给辊591和592向右方连续供给的状态。图17～图19的流程图表示至制成层积体卷筒R的具体步骤，在连续状载体膜14自由剥离地层积于连续状偏光膜11的一个面之前、根据需要在连续状表面保护膜13自由剥离地层积于另一个面之前，通过控制装置700使检查装置580工作来检测连续状偏光膜11内在的疵点，根据该疵点位置而生成完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息80，最终标记有识别标识20的完成检查的连续状光学膜10由卷绕驱动装置630制成层积体卷筒R。 [0185] 在任意情况下都是在步骤1中，控制装置700使贴合驱动装置560/临时光学膜供给驱动装置560′和卷绕驱动装置630工作来供给连续状偏光膜11。在步骤2中，控制装置700使包含图像读取装置581的检查装置580检测连续状偏光膜内在的疵点位置，将检测到的疵点种类和大小存储在存储装置720。在步骤3和步骤4中，控制装置700根据检测到的疵点位置来特定偏光膜薄片11″的长度与相当于正常区域的长度xα的关系。将关系特 定的方法具体而言如下所示。

[0186] 在步骤3中，控制装置700利用信息处理装置710来演算自供给的连续状偏光膜11的基准位置到疵点位置的距离x，把演算结果存储在存储装置720。如图16所示，距离x例如是载体膜供给装置590的位置(连续状偏光膜11的基准位置例如等于与第一切割线形成位置相当的A位置)与检查装置580/图像读取装置581的位置(疵点位置)之间的距离。

[0187] 接着在步骤4中，控制装置700进一步利用信息处理装置710来演算从距离x减去与正常区域相当的长度xα后的距离(x-xα)＝x ′，存储在存储装置720。与连续状偏光膜11的正常区域相当的长度xα根据液晶面板的大小由系统管理员设定并预先存储在存储装置720。然后，控制装置700利用信息处理装置710来判断算出的距离x′比预先存储在存储装置720的与连续状偏光膜11的正常区域相当的长度xα大还是小。 [0188] 即在图16所示的x′(或x″)＞xα时，表示能够确保连续状偏光膜11的正常区域Xα。因此，控制装置700把从基准位置A(第一切割线形成位置)在上游侧仅离开xα的位置B作为用于切出成为与正常区域相当的正常薄片Xα的下一个切割线形成位置而确定，并向贴合驱动装置560/临时光学膜供给驱动装置560′和卷绕驱动装置630进行指令，以便在张紧状态下与正常区域的长度xα对应地供给连续状偏光膜11。这时xα的值就构成用于形成与连续状偏光膜11的正常区域相当的正常薄片Xα的切断位置信息的一部分。同样地，紧接着第二切割线形成位置(位置B)来确定第三切割线形成位置(位置C)，接着确定第四切割线形成位置(位置D)，以张紧状态与正常区域的长度xα对应地供给偏光膜11。

[0189] 另一方面，在x′≤xα时，即图16所示的x′″≤xα时，表示不能确保连续状偏光膜11的正常区域Xα的情况。这时，由于连续状偏光膜11的长度xβ的区域成为不良区域，所以控制装置700通过信息处理装置710在x′(图16所示的x′″)加上一定尺寸x0来计算与不良区域Xβ相当的长度(x′+x0)＝xβ。即从位置D在上游侧仅离开xβ的位置E是用于切出成为与不良区域相当的不良薄片Xβ的切割线形成位置。控制装置700向贴合驱动装置560/临时光学膜供给驱动装置560′和卷绕驱动装置630进行指令，以便以张紧状态与不良区域的长度xβ对应地供给连续状偏光膜11。这时xβ的值就构成用于形成与连续状偏光膜11的不良区域相当的不良薄片Xβ的切断位置信 息的一部分。

[0190] 即控制装置700进行以下(α)和(b)的演算，即：

[0191] (α)在x′＞xα时，到应形成下一个切割线的位置的距离＝xα [0192] (b)在x′≤xα时，到应形成下一个切割线的位置的距离＝(x′+x0)＝xβ，将切断位置信息80存储在存储装置720，该切断位置信息80指定在液晶显示元件的制造工序中供给的完成检查的连续状光学膜10应形成用于切出偏光膜的正常薄片Xα和不良薄片Xβ的切割线的位置。

[0193] 但在与不良区域相当的长度(x′+x0)＝xβ是与正常区域相当的长度xα相等的值时，即(x′+x0)＝xα时，控制装置700不能识别或分选正常区域的长度xα和不良区域的长度xβ。即、由于不良区域不能作为不良区域的长度xβ来识别，所以例如在图4所示的连续制造液晶显示元件的装置1中，不能根据完成检查的连续状光学膜10的放出量即长度测量数据来判断该区域的长度是xα、xβ中的哪一个等，因此根据该长度测量数据(x′+x0)生成的切断位置信息80变得不完全。把这种情况假定成：连续状偏光膜11的内在疵点位置与完成检查的连续状光学膜10的应形成下一个切割线的位置无限接近的情况，或者连续的疵点在与正常区域相当的长度xα分布的情况。

[0194] 在步骤5中，在成为(x′+x0)＝xα时，控制装置700至少根据下述的任一方法，利用信息处理装置410进行演算，以生成用于识别或分选正常区域的长度xα和不良区域的长度xβ的信息。

[0195] 在图17的步骤5中，即使利用信息处理装置710算出的到应形成下一个切割线的位置的距离(x′+x0)成为与正常区域相当的长度xα，该区域也不是正常区域的长度xα。为了识别该情况，如图20所示的不良薄片识别信息Xγ那样，例如能够对指定应形成与正常区域相当的切割线的位置的切断位置信息关联“0”的值，对指定应形成与不良区域相当的切割线的位置的切断位置信息关联“1”的值。在图18的步骤5中，在利用信息处理装置710算出的到应形成下一个切割线的位置的距离(x′+x0)成为与正常区域相当的长度xα时，进行信息处理以使应形成下一个切割线的位置成为(x′+x0′)(其中满足x0′＞xα的关系)，并存储到存储装置720。如图21所示，该信息处理通过计算与xα不同的(x′+x0′)，能够识别或分选(x′+x0′)的长度区域与正常区域的长度xα。在图19的步骤5中，在利用信息处理装置710算出的到应形成下一个切割线的位置的距离(x′+x0)成为与正常区域相当的 长度xα时，进行信息处理以使应形成下一个切割线的位置成为(x′+x0)/m(m＝2以上，优选2或3)，并存储到存储装置720。如图22所示，该信息处理也与图18的情况同样地通过计算与xα不同的(x′+x0)/m，能够识别或分选{(x′+x0)/m}的长度区域与正常区域的长度xα。

[0196] 总之，作为生成用于识别或分选正常薄片Xα和不良薄片Xβ的信息的方法，例如能够使用以下的任一方法。

[0197] (1)作为用于识别或分选利用信息处理装置710算出的(x′+x0)的长度与正常薄片Xα的信息而生成不良薄片识别信息Xγ的方法。

[0198] (2)生成利用信息处理装置710算出的与正常薄片Xα不同的、到应形成下一个切割线的位置的距离＝(x′+x0′)(其中满足x0′＞xα的关系)的方法。

[0199] (3)生成利用信息处理装置710算出的与正常薄片Xα不同的、到应形成下一个切割线的位置的距离＝(x′+x0)/m(m＝2以上)的方法。

[0200] 特别是在采用(2)或(3)方法的情况下，(x′+x0)＝xα，但通过图18或图19所示的信息处理而成为(x′+x0′)≠xα或是(x′+x0)/m≠xα，因此，这些应形成切割线的位置就成为表示正常薄片Xα和被识别或分选的不良薄片Xβ的信息。 [0201] 接着在步骤6中，在任意情况下都是控制装置700根据在步骤4、5算出的结果而利用信息处理装置710来确定从基准位置A到应形成下一个切割线的位置(B、C、D、E、...)的长度。在上述(2)或(3)的情况下，控制装置700把在步骤6确定的到应形成下一个切割线的位置的长度存储到存储装置720。但在上述(1)的情况下，控制装置700将确定的到应形成下一个切割线的位置的长度与不良薄片识别信息Xγ相关联地进行存储。且在步骤6中，在任意情况下都是根据存储装置720所存储的到应形成下一个切割线的位置的长度，来生成切断位置信息80，该切断位置信息80指定从完成检查的连续状光学膜10前端依次形成切割线的位置。该切断位置信息80在任意情况下都是在步骤10中经由存储装置720存储到信息存储介质800。

[0202] 在步骤7中，在任意情况下都是如图16所示，利用载体膜供给装置590把连续状载体膜14自由剥离地层积于连续状偏光膜11的一个面，根据需要利用表面保护膜供给装置640把连续状表面保护膜13自由剥离地层积于 另一个面，从而制造完成检查的连续状光学膜。在步骤8中，在任意情况下都是控制装置700将与利用信息处理装置710在步骤6生成的完成检查的连续状光学膜用的切断位置信息80相关联的识别标识20，利用印刷装置620与制造批量等一起标记于制造的完成检查的连续状光学膜10。由此，制造被标记了识别标识20的完成检查的连续状光学膜10。

[0203] 最后在步骤9中，控制装置700使贴合驱动装置560/膜供给驱动装置560′和卷绕驱动装置630工作，卷绕制造的被标记了识别标识20的完成检查的连续状光学膜10，从而制成层积体卷筒R。顺便说一下，关于切断位置信息80和识别标识20的例子如图20～图22所示。

[0204] 6、检查方法和装置的概要

[0205] 图23是表示本发明一实施方式的连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11内在疵点的检查装置、疵点种类以及疵点检测方法的图。通常是一边连续供给连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11一边在检查工位M进行检查，从而检测内在的疵点。检查工位M能够至少包括以下所示的三种检查装置。

[0206] 第一检查装置是利用光反射来检测连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11表面的疵点检查装置。能够检测的疵点如图23所示那样仅限于CCD照相机能够检测的表面凹凸及损伤或斑点。

[0207] 第二检查装置是把光源照射的光向连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11垂直入射且使光学式检测单元受光，把连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11内在的疵点作为阴影来检测的疵点检查装置。能够检测的疵点如图23所示那样是内部异物和在内部形成的气泡等。

[0208] 第三检查装置是基于正交偏光条件的疵点检测装置。随着这种疵点检查装置的实用化，连续状偏光膜的疵点检查的精度飞跃提高。作为大型液晶显示元件用的连续状偏光膜，通常倾向只利用通过了基于正交偏光条件所进行的疵点检查的偏光膜。检查方法如下。首先把作为检查对象的连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11以及与其对应的偏光滤光片配置成使它们的吸收轴成为正交偏光。向其照射来自光源的光并观察透射的光。由此，把连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11内在的疵点作为亮点检测出。第三检查装置是如下的疵点检查装置，即、使光源发出的光垂直或倾斜地向连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11 入射，以使偏光滤光片的吸收轴相对连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11的吸收轴成90°的方式，将偏光滤光片设置在光学式检测单元的正前方，在该状态下，使透射连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11的光由光学式检测单元受光，从而将连续状偏光膜11′或包含粘接层的连续状偏光膜11内在的疵点作为亮点检测出。能够检测的疵点如图23所示那样，除了表面凹凸之外大体包括所有的疵点。

[0209] 本发明与优选实施方式相关联地进行了记载，但可理解的是只要是本领域技术人员即可在不脱离本发明的范围内进行各种改变，而用等同的技术特征来代替相关要素。因此，本发明并不限定于所公开的特定实施方式即为了实施本发明所考虑到的最佳实施方式，而是包含属于权利要求的所有的实施方式。