记录装置和控制方法转让专利

申请号 : CN201010561777.7

文献号 : CN102087861B

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基本信息:

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法律信息:

相似专利:

发明人 : 石本努

申请人 : 索尼公司

摘要 :

本发明公开了一种用于使用了利用物镜将第一光聚焦在光盘记录介质中所包含的记录层中的给定位置处而实现的标记形成来执行信息记录的记录装置和用在记录装置中的控制方法,该记录装置包括:旋转驱动单元;聚焦伺服控制单元,用于将第二光汇聚在反射膜上并且用于控制物镜的位置;记录位置设置单元,用于在聚焦方向上设置第一光的信息记录位置;循轨伺服控制单元,用于控制物镜的位置;偏心量估计单元,用于估计光盘记录介质的偏心量;以及偏心估计量获取控制单元,用于获取对于在光盘旋转一周内每个旋转角的偏心估计量。

权利要求 :

1.一种用于使用了利用物镜将第一光聚焦在光盘记录介质中所包含的记录层中的给定位置处而实现的标记形成来执行信息记录的记录装置,所述记录装置包括:旋转驱动单元,用于旋转所述光盘记录介质;

聚焦伺服控制单元,用于经由所述物镜将与所述第一光不同的第二光汇聚在所述光盘记录介质中的设置有位置导向元件的反射膜上,并且用于控制所述物镜的位置,从而基于汇聚在所述反射膜上的所述第二光的反射光将所述第二光聚焦在所述反射膜上;

记录位置设置单元,用于通过改变入射在所述物镜上的所述第一光的准直,在聚焦方向上设置所述第一光的信息记录位置;

循轨伺服控制单元,用于基于所述第二光的反射光控制所述物镜的位置,以允许所述第二光的焦点位置跟随所述位置导向元件;

偏心量估计单元,用于基于能够通过感测所述第二光的反射光获得的循轨误差信息来估计所述光盘记录介质的偏心量;以及偏心估计量获取控制单元,用于通过旋转所述光盘记录介质并且使用所述偏心量估计单元执行估计所述偏心量的操作来获取针对所述光盘旋转一周内的每个旋转角的偏心估计量。

2.根据权利要求1所述的记录装置,进一步包括:记录位置校正单元,用于基于所述偏心估计量对于每个旋转角校正所述第一光的所述信息记录位置。

3.根据权利要求1所述的记录装置,其中,所述偏心量估计单元获得能够通过感测所述第二光的反射光获得的循轨误差信号与通过将驱动所述物镜的致动器的响应特性赋予基于所述循轨误差信号所生成的循轨伺服信号而获得的信号之和,作为所述偏心估计量。

4.根据权利要求2所述的记录装置,其中,所述记录位置校正单元通过将响应于所述偏心估计量的偏移量施加给由所述循轨伺服控制单元实现的循轨伺服环来校正所述信息记录位置。

5.根据权利要求2所述的记录装置,其中,所述记录位置校正单元通过响应于所述信息记录位置的径向位置改变对于每个旋转角的校正量来校正所述信息记录位置。

6.根据权利要求5所述的记录装置,

其中,所述偏心估计量获取控制单元通过使用所述偏心量估计单元在所述光盘记录介质上的多个径向位置上执行估计所述偏心量的操作来获取对于不同径向位置处的每个旋转角的所述偏心估计量,以及所述记录位置校正单元基于对于不同径向位置处的每个旋转角的所述偏心估计量,根据所述信息记录位置的径向位置来执行校正。

7.根据权利要求1所述的记录装置,

其中,通过要施加给所述反射膜的凹凸截面形成图案将旋转角信息记录在所述光盘记录介质上,设置了信息检测单元,用于通过感测从所述反射膜所反射的所述第二光的反射光来检测所述旋转角信息,以及所述偏心估计量获取控制单元在所述光盘记录介质被旋转的同时,基于通过所述偏心量估计单元和所述信息检测单元分别获得的所述偏心量和所述旋转角信息,获取对于每个旋转角的所述偏心估计量。

8.一种用在根据权利要求1-7中任一项所述的记录装置中的控制方法,所述记录装置使用了利用物镜将第一光聚焦在光盘记录介质中所包含的记录层中的给定位置处而实现的标记形成来执行信息记录,并且所述记录装置包括:旋转驱动单元,用于旋转所述光盘记录介质;聚焦伺服控制单元,用于经由所述物镜将与所述第一光不同的第二光汇聚在所述光盘记录介质中的设置有位置导向元件的反射膜上,并且用于控制所述物镜的位置,从而基于汇聚在所述反射膜上的所述第二光的反射光将所述第二光聚焦在所述反射膜上;记录位置设置单元,用于通过改变入射在所述物镜上的所述第一光的准直而在聚焦方向上设置所述第一光的信息记录位置;以及循轨伺服控制单元,用于基于所述第二光的反射光来控制所述物镜的位置以允许所述第二光的焦点位置跟随所述位置导向元件,偏心估计量获取控制处理用于通过旋转所述光盘记录介质并且使用用于估计所述光盘记录介质的所述偏心量的偏心量估计单元来执行估计所述偏心量的操作,以获取对于在光盘旋转一周内的每个旋转角的偏心估计量。

说明书 :

记录装置和控制方法

技术领域

[0001] 本发明涉及一种用于利用标记形成来记录信息的记录装置,其中通过利用物镜将第一光束聚焦在光盘记录介质中所包含的记录层中的给定位置来执行所述的标记形成,并且涉及用在记录装置中的控制方法。

背景技术

[0002] 作为用于通过光照射来记录和再生(reproducing)信号的光学记录介质,例如,诸如CD(压缩光盘)、DVD(数字多功能光盘)以及BD(蓝光盘:注册商标)的所谓的光盘已经普及。
[0003] 关于诸如CD、DVD以及BD的当前普及的光学记录介质的下一代光学记录介质,首先,如在日本未审查专利申请公布第2008-135144号和日本未审查专利申请公布第2008-176902号中所披露的,申请人之前已经提出了所谓的大容量记录型光学介质。
[0004] 这里,例如,大容量记录为如下技术,即,用于通过在顺序地改变如图11所示的至少具有覆盖层101和大容量层(记录层)102的光学记录介质(大容量记录介质100)中的焦点位置(focal)的同时执行激光照射,来执行在大容量层102中的多层记录,从而实现记录容量的增加。
[0005] 对于大容量记录,在日本未审查专利申请公布第2008-135144号中,披露了称为微型全息图(microhologram)方式的记录技术。
[0006] 如图12A和图12B所示,将微型全息图方式主要分类成正型微型全息图方式和负型微型全息图方式。
[0007] 在微型全息图方式中,作为大容量层102的记录材料,使用所谓的全息图记录材料。作为全息图记录材料,例如,广泛使用光聚合的聚合物等。
[0008] 如图12A所示,正型微型全息图方式为如下技术,即,将两条对向的光束(光束A和光束B)汇聚在相同位置处以形成微细干涉条纹(finefringe)(全息图),该微细干涉条纹变成记录标记。
[0009] 另外,在与正型微型全息图方式相反的发明构思中,图12B中所示的负型微型全息图方式为如下技术,即,擦除使用激光照射预先形成的干涉条纹以使用擦除部作为记录标记。
[0010] 图13A和图13B为用于说明负型微型全息图方式的示图。
[0011] 在负型微型全息图方式中,在执行记录操作之前,如图13A所示,预先执行用于在大容量层102中形成干涉条纹的初始化处理。具体地,如图13A所示,通过对向的平行光照射出光束C和光束D以在整个大容量层102上形成干涉条纹。
[0012] 同样地,在通过初始化处理预先形成干涉条纹之后,通过形成如图13B所示的擦除标记来执行信息记录。具体地,通过在激光束聚焦在任意层位置处的状态下根据记录信息执行激光照射,执行使用擦除标记的信息记录。
[0013] 另外,作为与微型全息图方式不同的大容量记录技术,申请人还提出了用于形成空白(孔)作为记录标记的记录技术,如在日本未审查专利申请公布第2008-176902号中所披露的。
[0014] 空白记录方法为如下技术,即,以比较高的功率在由诸如光聚合聚合物的记录材料所制成的大容量层102上执行激光照射,从而将孔(空白)记录在大容量层102中。如在日本未审查专利申请公布第2008-176902号中所披露的,如上所述地形成的孔部分变成了与大容量层102中其他部分具有不同折射率的部分,并且可以增强其边界处的光反射率。因此,孔部分用作记录标记,从而使用孔标记的形成来实现信息记录。
[0015] 在这种空白记录方法中,由于没有形成全息图,所以记录是当在一侧上执行光照射时完成的。即,与正型微型全息图方式不同,没有将两条光束汇聚在相同位置处以形成记录标记。
[0016] 另外,与负型微型全息图方式相比较,存在的优点是,不执行初始化处理。
[0017] 而且,在日本未审查专利申请公布第2008-176902号中,描述了如下实例,其中,当要执行空白记录时,在记录之前照射用于预固化的光。然而,即使当省略用于预固化的光的照射时,也可以进行空白记录。
[0018] 然而,尽管对于大容量记录型(简称为大容量型)光盘记录介质已经提出了如上所述的各种记录技术,但是例如在形成多个反射膜的意义上,这种大容量型光盘记录介质的记录层(大容量层)不具有明确的多层结构。即,对于每个记录层,大容量层102未设置有典型多层光盘所具有的反射膜和导向槽。
[0019] 因此,实际上在图11所示的大容量型记录介质100的结构中,在未形成标记的记录期间内,可以不执行聚焦伺服(focus servo)或者循轨伺服(tracking servo)。
[0020] 因此,实际上,大容量型记录介质100设置有作为基准的反射面(基准面),以具有如图14所示的导向槽。
[0021] 具体地,在覆盖层101的下表面侧上形成诸如凹坑或者凹槽的导向槽(位置导向元件),并且在其上形成选择反射膜103。另外,在其上形成了选择反射膜103的覆盖层101的下侧上,作为图14中的中间层104,例如,通过诸如UV固化树脂的粘合材料来层压大容量层102。
[0022] 另外,在该介质结构中,如图15所示,利用用于位置控制的第二激光来照射大容量型记录介质100,该第二激光与用于记录(或者再生)标记的激光(第一激光)是分离的。
[0023] 如图17所示,第一激光和第二激光经由共用物镜照射大容量型记录介质100。
[0024] 这里,如果第二激光到达大容量层102,则担心第二激光对大容量层102中的标记记录具有不利影响。因此,在根据相关技术的大容量记录方法中,将具有与第一激光不同的波长带的激光用作第二激光,并且,设置了具有波长选择性的选择反射膜103(其以该波长选择性来反射第二激光并且传播第一激光),作为形成在导向槽形成表面上的反射膜(基准面)。
[0025] 在上述前提下,参照图15描述在大容量型记录介质100中在标记记录期间内所执行的操作。
[0026] 首先,当在大容量层102上执行多层记录而不形成导向槽或者反射膜时,预先设置哪些层位置标记必须沿深度方向记录在大容量层102中。在图15中,举例说明了如下情况:作为要在大容量层102中形成标记的层位置(标记形成层:还称为信息记录层),设置了第一信息记录层L1~第五信息记录层L5,共计5个信息记录层(标记形成层)L。如图15所示,将第一信息记录层L1的层位置设置为在聚焦方向(深度方向)上距设置有导向槽的选择反射膜103(基准面)第一偏移量of-L1的位置。另外,将第二信息记录层L2、第三信息记录层L3、第四信息记录层L4以及第五信息记录层L5的层位置分别设置为距选择反射膜103第二偏移量of-L2的位置、第三偏移量of-L3的位置、第四偏移量of-L4的位置以及第五偏移量of-L5的位置。
[0027] 在尚未形成标记的记录期间内,可以不基于第一激光的反射光在大容量层102中作为对象的层位置上执行聚焦伺服或者循轨伺服。因此,在记录期间内,基于作为位置控制光的第二激光的反射光执行物镜的聚焦伺服控制和循轨伺服控制,以使第二激光的光点位置跟随选择反射膜103上的导向槽。
[0028] 然而,作为标记记录光的第一激光必须到达在选择反射膜103下方形成的大容量层102。因此,在该光学系统中,与物镜的聚焦机构分离地设置了第一激光聚焦机构,用于独立调节第一激光的焦点位置。
[0029] 这里,在图16中示出了包括用于独立调节第一激光的焦点位置的机构的大容量型记录介质100的记录装置的内部配置实例。
[0030] 在图16中,由图16中的LD1表示的第一激光二极管111为第一激光的光源,并且由LD2表示的第二激光二极管119为第二激光的光源。如从以上描述中所理解的,分别采用第一激光二极管111和第二激光二极管119来发出具有彼此不同的波长带的激光。
[0031] 如图16所示,第一激光二极管111所发出的第一激光经由准直透镜112入射在由固定透镜113、可移动透镜114以及透镜驱动单元115所构成的第一激光聚焦机构上。由于在与第一激光的光轴平行的方向上由透镜驱动单元115来驱动可移动透镜114,所以改变了入射在图16中的物镜117上的第一激光的准直,从而可以与通过驱动物镜117导致的焦点位置改变相分离地调节第一激光的焦点位置。
[0032] 经由第一激光聚焦机构传播的第一激光入射在分色镜116上,该分色镜用于传输具有与第一激光相同的波长带的光并且反射具有不同波长带的光。
[0033] 如图16所示,透过分色镜116的第一激光经由物镜118照射大容量型记录介质100。物镜117被保持成通过二轴致动器118而在聚焦方向和循轨方向上移动。
[0034] 另外,第二激光二极管119所发出的第二激光经由准直透镜120透过分束器121并且入射在上述分色镜116上。第二激光由分色镜116反射并且入射在物镜117上,从而其光轴与透过分色镜116的第一激光的光轴对齐。
[0035] 当通过稍后所述的伺服电路125在聚焦伺服控制下驱动二轴致动器118的时候,使入射在物镜117上的第二激光聚焦在大容量型记录介质100的选择反射膜103(基准面)上。另外,当在循轨伺服控制下由伺服电路125驱动二轴致动器118的时候,允许在循轨方向上的第二激光的位置跟随设置在选择反射膜103中的导向槽。
[0036] 来自选择反射膜103的第二激光的反射光经由物镜117由分色镜116反射、并且然后再次由分束器121反射。来自分束器121的第二激光的反射光经由汇聚透镜122汇聚在光检测器123的检测表面上。
[0037] 矩阵电路124基于光检测器123所检测的光感测信号生成聚焦误差信号和循轨误差信号并且将误差信号提供给伺服电路125。
[0038] 伺服电路125从误差信号生成聚焦伺服信号和循轨伺服信号。由于基于聚焦伺服信号和循轨伺服信号驱动上述二轴致动器118,所以实现物镜117的聚焦伺服控制和循轨伺服控制。
[0039] 这里,当要在从预先设置在大容量型记录介质100中的多个信息记录层L中选择出的作为对象的给定信息记录层L上执行标记记录时,控制透镜驱动单元115的操作,从而以与所选择的信息记录层L相对应的偏移量来改变第一激光的焦点位置。
[0040] 具体地,例如,通过控制整个记录装置的控制器126来控制这种信息记录位置的设置。即,基于根据作为对象的信息记录层Lx预先设置的偏移量of-Lx,由控制器126来控制透镜驱动单元115的操作,从而将第一激光的信息记录位置(焦点位置)设置到(作为对象的)信息记录层Lx。
[0041] 另外,在记录期间内,当基于如上所述的第二激光的反射光由伺服电路125执行物镜117的循轨伺服控制的时候,自动执行第一激光的循轨伺服。具体地,将在循轨方向上的第一激光的光点位置控制为处于设置在选择反射层103中的导向槽的正下方。
[0042] 而且,当再生预先执行标记记录的大容量型记录介质100时,与在记录期间内不同,可以不基于第二激光的反射光来控制物镜117的位置。即,在再生期间内,可以基于第一激光的反射光,在作为再生对象的信息记录层L上所形成的作为对象的标记行上执行物镜117的聚焦伺服控制和循轨伺服控制。
[0043] 如上所述,在大容量记录方法中,在大容量型记录介质100中,经由共用物镜117(合成在同一光轴中)照射作为标记记录光的第一激光和作为位置控制光的第二激光。
下文中,基于第二激光的反射光执行物镜117的聚焦伺服控制和循轨伺服控制,从而即使在大容量层102上未形成导向槽也可以执行第一激光的聚焦伺服和循轨伺服。

发明内容

[0044] 然而,如图16所示,当采用通过与物镜117分离的聚焦机构来改变第一激光的焦点位置(信息记录位置)的配置时,如图17A~图17C所示,存在的问题是,由于大容量型记录介质100的偏心,信息记录位置偏离其原始位置。
[0045] 图17A示出了没有偏心的大容量型记录介质100的理想状态。图17B示出了在纸面上的左侧方向(称为外周方向)上出现偏心(称为(+)方向偏心)的情况。图17C示出了在纸面的右侧方向(称为内周方向)上出现偏心(称为(-)方向偏心)的情况。
[0046] 首先,在图17A~图17C中的中心轴c是用来设计光学系统的中心轴,并且在图17A所示的理想状态下,物镜117的中心与中心轴c对准。
[0047] 因此,当如图17B所示出现(+)方向偏心时,通过循轨伺服控制而在(+)方向上驱动物镜117以跟随偏心。即,将物镜117的中心移动至相对于光学系统的中心轴c的(+)方向。
[0048] 这里,如图17B所示,由于第二激光作为平行光入射在物镜117上,所以即使存在物镜117从如上所述的中心轴c移动,也不会出现第二激光的焦点位置在循轨方向上的变化。为此,第一激光入射在物镜117上,以与其不平行地聚焦在如上所述的选择反射膜103的下层侧上的大容量层102中的所选择的信息记录层L上,通过物镜117在如上所述的(+)方向上的移动,如图17B所示,以偏心量(在图17B中的偏离量+d)沿(+)方向改变第一激光的焦点位置(信息记录位置)。
[0049] 另外,当出现如图17C所示的(-)方向偏心时,通过循轨伺服控制而在(-)方向上移动物镜117以在(-)方向上跟随偏心,从而以如图17C中所示的偏心量(在图17C中的偏离量-d)在(-)方向上改变第一激光的信息记录位置。
[0050] 实施参照图16所描述的用于大容量型记录介质100的记录装置的配置,从而:
[0051] ·经由共用物镜117照射第一激光和第二激光,
[0052] ·执行物镜117的聚焦伺服控制以将第二激光聚焦在大容量型记录介质100的基准面(选择反射膜103)上,
[0053] ·通过改变入射在物镜117上的第一激光的准直来调节第一激光的焦点位置(信息记录位置),以及
[0054] ·执行物镜117的循轨伺服控制以允许第二激光的焦点位置跟随设置在大容量型记录介质100中的基准面(选择反射膜103)中的导向槽。
[0055] 在该配置中,存在的问题是,第一激光的信息记录位置由于光盘的偏心而沿循轨方向偏离。
[0056] 这里,根据偏心的程度或者轨道间距(形成在其中的导向槽之间的间距)的设置,可能存在相邻导向槽的信息记录位置可以重叠的情况。在这种情况下,无法正确地再生记录信号。
[0057] 作为避免这种问题的措施,将轨道间距加宽至等于或大于由偏心所导致的信息记录位置的变化。
[0058] 然而,在这种技术中,由于偏心量不确定,所以存在要加宽的轨道间距的量不确定的问题。另外,担心通过轨道间距的加宽导致记录容量降低。
[0059] 另外,作为避免这种问题的另一技术,可以采用其中光盘不可移动的系统(方法)。
[0060] 这里,偏心的原因的实例可以包括在光盘的内径和主轴电机的夹持直径之间的误差。在制造过程中,由于使得其间的误差为0可能很困难,所以偏心不可避免。另外,即使其间的误差为0,光盘的基准面上的记录信号的中心与记录和再生装置的主轴的中心也可能彼此未对准,从而在这种情况下出现偏心。这里,当采用了使得光盘不可移动的系统(方法)时,偏心的影响变得相同,从而可以避免记录位置重叠的问题。因此,轨道间距可以缩减,从而实现了将记录容量提高了要被缩减的量。
[0061] 然而,在该方法中,无法更换光盘。因此,例如,无法仅更换处于光盘不良时的光盘。另外,可能难以通过不同记录装置读取由某一记录装置所记录的数据。由于这种事实,降低了便利性。
[0062] 根据本发明的实施方式的记录装置具有以下配置。
[0063] 记录装置用于使用标记的形成来执行信息记录,该标记的形成是通过利用物镜将第一光聚焦在包括在光盘记录介质中的记录层中的给定位置处而实现的,并且该记录装置包括用于旋转光盘记录介质的旋转驱动单元。
[0064] 另外,记录装置包括聚焦伺服控制单元,用于经由物镜将与第一光不同的第二光汇聚在设置有在光盘记录介质中的位置导向元件的反射膜上,并且用于基于汇聚在反射膜上的第二光的反射光控制物镜的位置以将第二光聚焦在反射膜上。
[0065] 另外,记录装置包括记录位置设置单元,用于通过改变入射在物镜上的第一光的准直而将第一光的信息记录位置设置在聚焦方向上。
[0066] 另外,记录装置包括循轨伺服控制单元,用于基于第二光的反射光控制物镜的位置以允许第二光的焦点位置跟随位置导向元件。
[0067] 另外,记录装置包括偏心量估计单元,用于估计光盘记录介质的偏心量。
[0068] 而且,记录装置包括偏心估计量获取控制单元,用于通过旋转光盘记录介质并且通过使用偏心量估计单元执行估计偏心量的操作来获取用于在光盘旋转一周内的每个旋转角的偏心估计量。
[0069] 根据本发明的实施方式,具有以下配置,其中,
[0070] ·经由共用物镜照射第一光和第二光,
[0071] ·执行物镜的聚焦伺服控制以将第二光聚焦在设置在光盘记录介质中的反射膜上,
[0072] ·通过改变入射在物镜上的第一光的准直来设置(调节)第一光的信息记录位置(焦点位置),以及
[0073] ·执行物镜的循轨伺服控制以允许第二激光的焦点位置跟随设置在光盘记录介质的反射膜(基准面)中的位置导向元件,
[0074] 可以对于在光盘旋转一周内的每个旋转角获取偏心估计量。因此,可以基于获取的偏心估计量的信息适当校正第一光的信息记录位置在循轨方向上偏离。
[0075] 根据本发明的实施方式,在经由共用物镜照射第一光和第二光的情况下,执行物镜的聚焦伺服控制以将第二光聚焦在设置在光盘记录介质中的反射膜上,通过改变入射在物镜上的第一光的准直来设置第一光的信息记录位置,并且执行物镜的循轨伺服控制以允许第二激光的焦点位置跟随设置在光盘记录介质的反射膜(基准面)中的位置导向元件,对于在光盘旋转一周内的每个旋转角获取偏心估计量。因此,可以基于关于获取的偏心估计量的信息适当校正由偏心导致的第一光的信息记录位置在循轨方向上的偏离。
[0076] 通过适当校正如上所述的信息记录位置的偏离,轨道间距(在循轨方向上形成的位置导向元件之间的间距)可以缩减,从而达到记录容量的增加。
[0077] 另外,根据上述实施方式,允许光盘可移动。因此,可以防止在采用了诸如硬磁盘驱动器(HDD)的光盘不可移动的方法的情况下出现的便利性的降低。

附图说明

[0078] 图1为根据实施方式的(作为记录对象的)光盘记录介质的结构的截面图。
[0079] 图2为示出了在记录期间内的伺服控制的示图。
[0080] 图3为示出了再生期间内的伺服控制的示图。
[0081] 图4为示出根据实施方式的记录装置的内部配置的示图。
[0082] 图5为示出循轨伺服控制系统的模型的示图。
[0083] 图6为示出根据实施方式的偏心量估计技术的示图。
[0084] 图7为示出用于通过根据实施方式的估计技术获得偏心估计量的实际配置的实例的示图。
[0085] 图8为示出在旋转角和偏心量之间对应性的信息的数据结构的实例的示图。
[0086] 图9为示出用于通过将响应于偏心估计量的值的偏移量施加给循轨伺服环来校正信息记录位置的具体配置的实例的示图。
[0087] 图10A和图10B为示出为了实现根据实施方式的偏心量估计技术和信息记录位置校正技术而执行的具体处理的流程的流程图。
[0088] 图11为示出大容量记录方法的示图。
[0089] 图12A和图12B为示出微型全息图方式的示图。
[0090] 图13A和图13B为示出负型微型全息图方式的示图。
[0091] 图14为示出具有基准面的实际大容量型记录介质的截面结构的示图。
[0092] 图15为示出在大容量型记录介质中记录标记期间内所执行的操作的示图。
[0093] 图16为示出根据相关技术在大容量型记录介质上执行记录的记录装置的内部配置的示图。
[0094] 图17A~图17C为示出由光盘的偏心导致的信息记录位置在循轨方向上的偏离的原理的示图。

具体实施方式

[0095] 下文中,将描述本发明的示例性实施方式(下文中,称为实施方式)。
[0096] 将按以下顺序进行描述:
[0097] 1.作为记录对象的光盘记录介质的实例
[0098] 2.伺服控制
[0099] 3.根据实施方式的记录装置的内部配置
[0100] 4.根据实施方式的偏心量估计技术和信息记录位置校正技术
[0101] 4-1.校正技术的概述
[0102] 4-2.用于估计偏心量的具体技术
[0103] 4-3.用于信息记录位置校正的具体技术
[0104] 4-4.用于偏心量估计和信息记录位置校正的具体配置和处理的实例
[0105] 4-5.实施方式的结论
[0106] 5.变型实例
[0107] 1.作为记录对象的光盘记录介质的实例
[0108] 图1为根据实施方式的(作为记录装置的记录对象的)光盘记录介质的结构的截面图。
[0109] 将根据实施方式的作为记录对象的光盘记录介质看作所谓的大容量记录型光盘记录介质,并且,下文中,称为大容量型记录介质1。
[0110] 作为光盘记录介质的大容量型记录介质1在被用于标记记录(信息记录)的记录装置所旋转同时受到激光的照射。
[0111] 而且,用于通过光照射记录(和再生)信息的盘状记录介质通常称为光盘记录介质。
[0112] 如图1所示,在大容量型记录介质1中,从顶层一侧以该顺序形成覆盖层2、选择反射膜3、中间层4以及大容量层5。
[0113] 这里,在本说明书中,当认为激光通过根据后述的实施方式的记录装置(记录装置10)入射的表面是顶部表面时,“顶层侧”表示顶层一侧。
[0114] 另外,在本说明书中,使用了“深度方向”。“深度方向”表示与根据“顶层侧”的定义的上下方向(竖直方向)(即,与通过记录装置入射的激光的方向平行的方向:聚焦方向)对齐的方向。
[0115] 在大容量型记录介质1中,覆盖层2由诸如聚碳酸酯或者丙烯酸树脂的树脂制成,并且如图1所示,在其下表面侧上,提供了凹凸的截面形状,这是伴随用于引导记录位置的导向槽的形成而形成的。
[0116] 形成导向槽作为连续凹槽(凹槽)或者凹坑行。例如,当将导向槽形成为凹坑行时,通过凹坑和平台(land)的长度的组合来记录位置信息(绝对位置信息:在该实例中,表示旋转角信息和径向位置信息)。另一方面,当认为导向槽是凹槽时,凹槽周期性地弯曲(摆动(波动,wobble))以基于关于弯曲的周期信息记录位置信息。
[0117] 使用形成这种导向槽(凹凸图案)的压模通过注入成型来生成覆盖层2。
[0118] 另外,在设置有导向槽的覆盖层2的下表面侧上,形成选择反射膜3。
[0119] 这里,如上所述,在大容量记录方法中,除了用于在作为记录层的大容量层5中执行标记记录的记录光(第一激光)以外,附加地照射用于基于如上所述的导向槽在循轨或者聚焦期间内获得误差信号的伺服光(位置控制光,还称为第二激光)。
[0120] 这里,如果伺服光到达大容量层5,则担心伺服光对在大容量层5上执行的标记记录具有不利影响。因此,使用了具有选择性的反射膜,以该选择性该反射膜反射伺服光并且传输记录光。
[0121] 过去,在大容量记录方法中,作为记录光和伺服光,使用具有不同波长带的激光。为此,作为选择反射膜3,使用反射具有与伺服光相同的波长带的光并且传输具有其他波长带的光的选择反射膜。
[0122] 在选择反射膜3的下层侧上,例如,利用由诸如UV固化树脂的粘合材料制成的中间层4层压(粘结)作为记录层的大容量层5,该中间层4介于选择反射膜与大容量层之间。
[0123] 例如,根据所采用的大容量记录方法(诸如上述的正型微全息图方式、负型微全息图方式或者空白记录方式),可以采用适当且最佳的材料作为大容量层5的材料(记录材料)。
[0124] 而且,不具体限制要在根据本发明的实施方式的作为对象的光盘记录介质上执行标记记录的方法,并且可以采用大容量记录方法的种类中的任何方法。
[0125] 这里,在具有上述配置的大容量型记录介质1中,设置有凹凸截面形状图案(其伴随上述导向槽的形成)的选择反射膜3基于第二激光而变成与第一激光的位置控制相对应的作为基准的反射面。相应地,在下文中,将形成选择反射膜3的表面称为基准面Ref。
[0126] 2.伺服控制
[0127] 接下来,将参照图2描述伺服控制,将在记录期间内对于作为对象的大容量型记录介质1执行该伺服控制。
[0128] 在图2中,如上所述,除了作为标记记录光的激光(第一激光)以外,还用具有与上述激光不同的波长带的作为伺服光的激光(第二激光)照射大容量型记录介质1。
[0129] 如图2所示,第一激光和第二激光经由共用物镜(图4中的物镜17)照射大容量型记录介质1。
[0130] 这里,如图1所示,在大容量层5中,与用于诸如DVD(数字多功能光盘)或者BD(蓝光盘:注册商标)的当前光盘的多层光盘不同,未将具有形成为凹坑或者凹槽的导向槽的反射面设置在作为记录对象的每层位置处。因此,在尚未形成标记的记录期间内,无法使用第一激光本身的反射光来执行第一激光的聚焦伺服或者循轨伺服。
[0131] 从这个观点来看,在要在大容量型记录介质1上执行的记录期间内,使用作为伺服光的第二激光的反射光来执行第一激光的循轨伺服和聚焦伺服两者。
[0132] 具体地,对于在记录期间内的第一激光的聚焦伺服,首先,设置了可以独立地仅改变第一激光的焦点位置的用于第一激光的聚焦机构(一组固定透镜13、可移动透镜14以及透镜驱动单元15,稍后将在图4中描述的),并且然后,基于距(作为图2中所示的基准的)选择反射膜3(基准面Ref)的偏移量of来控制用于第一激光的聚焦机构。
[0133] 这里,如上所述,第一激光和第二激光经由共用物镜照射大容量型记录介质1。另外,通过使用来自基准面Ref(选择反射膜3)的第二激光的反射光控制物镜来执行第二激光的聚焦伺服。
[0134] 如上所述,第一激光和第二激光是经由共用物镜而照射的,并且基于来自基准面Ref的第二激光的反射光通过控制物镜来执行第二激光的聚焦伺服,以使第一激光的焦点位置跟随大容量型记录介质1的表面变化。然后,通过上述用于第一激光的聚焦机构以偏移量of的值来移动第一激光的焦点位置,从而将第一激光汇聚在大容量层5中的给定深度位置处。
[0135] 在图2中,作为当在大容量层5中设置5个标记形成层(称为信息形成层)L时的每个偏移量of的实例,示出了设置与第一信息记录层L1的层位置相对应的第一偏移量of-L1、与第二信息记录层L2的层位置相对应的第二偏移量of-L2、与第三信息记录层L3的层位置相对应的第三偏移量of-L3、与第四信息记录层L4的层位置相对应的第四偏移量of-L4以及与第五信息记录层L5的层位置相对应的第五偏移量of-L5的情况。通过使用偏移量of的值驱动上述用于第一激光的聚焦机构,可以从第一信息记录层L1的层位置、第二信息记录层L2的层位置、第三信息记录层L3的层位置、第四信息记录层L4的层位置以及第五信息记录层L5的层位置中适当选择在深度方向上的标记形成位置。
[0136] 另外,基于第一激光和第二激光是经由如上所述的共用物镜照射的事实,通过使用来自基准面Ref的第二激光的反射光执行物镜的循轨伺服控制,从而实现在记录期间内用于第一激光的循轨伺服。
[0137] 具体地,当基于第二激光的反射光执行用于驱动物镜的循轨伺服控制以允许第二激光的焦点位置跟随设置在选择反射膜3中的导向槽的时候,控制第一激光在循轨方向上的焦点位置以跟随在导向槽正下方的位置。
[0138] 另外,仅仅为了确认,在光盘未偏心的理想状态的前提下,进行以上描述。
[0139] 而且,可以像下面那样执行再生期间内的伺服控制。
[0140] 图3为示出再生期间内的伺服控制的示图。另外,在图3中,作为再生期间内的大容量型记录介质1的状态,示出了预先在所有的第一信息记录层L1~第五信息记录层L5中记录标记行的状态。
[0141] 在已经形成标记行的大容量型记录介质1的再生期间内,可以在作为对象预先记录的标记行上执行用于第一激光的聚焦伺服控制。因此,基于第一激光的反射光通过控制物镜来执行再生期间内用于第一激光的聚焦伺服控制,以使焦点位置跟随作为再生对象的标记行(信息记录层L)。
[0142] 另外,在再生期间内,甚至基于第一激光的反射光通过驱动物镜执行用于第一激光的循轨伺服控制。即,执行循轨伺服控制以使第一激光的光点位置跟随作为对象的形成在信息记录层L上的标记行。
[0143] 而且,如通过以上描述所理解的,在记录在大容量层5中的信息的再生期间内,可能不需要发出第二激光且也不需要第二激光的伺服控制。
[0144] 这里,为了访问再生开始位置,必须读取记录在基准面Ref中的绝对位置信息。因此,在完成访问再生开始位置之前,执行用于第二激光的聚焦循轨伺服。具体地,在完成访问再生开始位置之前,基于第二激光的反射光通过驱动物镜来执行第二激光的聚焦伺服控制,从而使第二激光聚焦在基准面Ref上。另外,基于第二激光的反射光通过驱动物镜来执行在完成访问之前的第二激光的循轨伺服控制,以使第二激光的光点位置跟随形成在基准面Ref上的导向槽。
[0145] 而且,在上述再生期间内的伺服控制仅为用于参照的实例,并且本发明的实施方式不仅限于该技术。
[0146] 3.根据实施方式的记录装置的内部配置
[0147] 图4示出了用于在图1所示的大容量型记录介质1中执行记录的根据实施方式的记录装置10的内部配置。
[0148] 首先,设置加载在记录装置10中的大容量型记录介质1,使得其中心孔卡在记录装置10中的给定位置处,并且该大容量型记录介质1保持在能够由图4中的主轴电机(SPM)29旋转的状态下。
[0149] 另外,记录装置10设置有第一激光二极管11和第二激光二极管19,该第一激光二极管11和第二激光二极管19是用于将第一激光和第二激光照射到由主轴电机29旋转的大容量型记录介质1的光源)。
[0150] 这里,如上所述,第一激光和第二激光具有彼此不同的波长。在该实例中,假设第一激光的波长为约405nm(所谓的蓝色和紫色激光),并且第二激光的波长为约650nm(红色激光)。
[0151] 第一激光二极管11发出的第一激光经由准直透镜12入射以变成平行光并且然后入射在(由固定透镜13、可移动透镜14以及透镜驱动单元15构成的)扩束器(第一激光聚焦机构)上。在扩束器中,将固定透镜13设置在与第一激光二极管11较接近的一侧并且将可移动透镜14设置在距离第一激光二极管11较远的一侧,并且由透镜驱动单元15在与第一激光光轴平行的方向上驱动可移动透镜14以改变入射在图4中的物镜17上的第一激光的准直,从而执行用于第一激光的单独聚焦控制。
[0152] 第一激光经由扩束器入射在分色镜16上。将分色镜16配置为使其选择反射面传输第一激光以及具有相同波长带的光,并且反射具有其他波长的光。因此,如上所述地入射的第一激光由分色镜16传输。
[0153] 由分色镜16所传输的第一激光经由所示的物镜17照射大容量型记录介质1。
[0154] 对于物镜17,设置了用于保持物镜17以在聚焦方向(与大容量型记录介质1接触或者分离的方向)和循轨方向(与聚焦方向垂直的方向:大容量型记录介质1的径向)上移动该物镜的二轴致动器18。
[0155] 二轴致动器18具有聚焦线圈和循轨线圈并且从伺服电路25将驱动电流施加给聚焦线圈和循轨线圈,从而在聚焦方向和循轨方向上移动物镜17。
[0156] 另外,第二激光二极管19所发出的第二激光经由准直透镜20入射以变成平行光并且透过分束器21以入射在分色镜16上。
[0157] 如上所述,由于将分色镜16配置为传输第一激光和具有相同波长带的光,并且反射具有其他波长的光,所以第二激光从分色镜16反射,使得其光轴弯折90°(如图4所示),从而与第一激光的光轴对齐,因此入射在物镜17上。
[0158] 当由伺服电路25在聚焦伺服控制下控制上述二轴致动器18的操作的时候,将入射在物镜17上的第二激光聚焦在大容量型记录介质1的基准面Ref上。
[0159] 另外,在第二激光照射大容量型记录介质1的时候能够获得的第二激光的反射光经由物镜17入射并且由分色镜16反射以入射在上述分束器21上。入射在分束器21上的第二激光的反射光由分束器21反射并且由汇聚透镜22汇聚在光检测器PD 23的检测表面上。
[0160] 这里,尽管图中未示出,但是实际上,记录装置10设置有滑动驱动单元,用于驱动包括上述全部光学系统的光盘头以在循轨方向上滑动,并且使用滑动驱动单元通过驱动光盘头可以在宽范围内移动激光的照射位置。
[0161] 另外,作为用于通过第一激光将信息记录在大容量层5中的配置,记录装置10设置了记录处理单元,用于允许第一激光二极管11根据记录数据发光。
[0162] 将光检测器23所检测到的光感测信号提供给矩阵电路24。
[0163] 矩阵电路24包括:电流电压转换电路、矩阵操作/放大电路等,以对应于从作为上述光检测器23的多个光感测元件输出的电流并且生成用于矩阵操作处理的信号。
[0164] 具体地,生成用于聚焦伺服控制的焦点误差信号FE和用于循轨伺服控制的循轨误差信号TE。
[0165] 另外,生成用于检测记录在基准面Ref上的绝对位置信息的位置信息检测信号Dps。
[0166] 如图4所示,将矩阵电路24所生成的位置信息检测信号Dps提供给位置信息检测单元26。位置信息检测单元26基于位置信息检测信号Dps检测记录在基准面Ref中的绝对位置信息(径向位置信息和旋转角信息)。将检测到的绝对位置信息提供给控制器27。
[0167] 另外,将矩阵电路24所生成的焦点误差信号FE和循轨误差信号TE提供给伺服电路25。
[0168] 伺服电路25基于焦点误差信号FE和循轨误差信号TE生成聚焦伺服信号FS和循轨伺服信号TS,并且基于聚焦伺服信号FS和循轨伺服信号TS驱动二轴致动器18的聚焦线圈和循轨线圈,从而对物镜17执行聚焦伺服控制和循轨伺服控制。
[0169] 另外,伺服电路25根据控制器27的指令断开循轨伺服环,以将跳转脉冲施加给循轨线圈,从而实现循轨跳转操作,或者执行循轨伺服等的引入控制(pull-in control)。另外,伺服电路25还执行聚焦伺服的引入控制。
[0170] 另外,在该实例中,伺服电路25还具有估计大容量型记录介质1的偏心量的功能,并且稍后将描述这一点。
[0171] 旋转控制单元28基于控制器27的指令来控制主轴电机29的操作。
[0172] 例如,将控制器27配置为CPU(中央处理单元)或者具有诸如ROM(只读存储器)的存储器(存储装置)的微型计算机并且根据例如存储在ROM中的程序来执行控制处理,从而控制整个记录装置10。
[0173] 具体地,如以上参照图2所描述的,控制器27基于预先设置为对应于各个层位置的偏移量of的值,控制第一激光的焦点位置(选择在深度方向上的记录位置)。更具体地,控制器27基于设置为对应于作为记录对象的信息记录层Lx的偏移量of-Lx的值,驱动透镜驱动单元15,从而选择(设置)在深度方向上的信息记录位置。
[0174] 另外,在本实施方式中,控制器27通过执行图10A和图10B中所示的处理,执行控制以校正由大容量型记录介质1的偏心导致的信息记录位置的偏离,并且稍后将描述这一点。
[0175] 4.根据实施方式的偏心估计量技术和信息记录位置校正技术
[0176] 4-1.校正技术的概述
[0177] 这里,如从上面的描述所理解的,关于在根据该实施方式的大容量型记录介质1上的激光照射,采用如下配置,其中:
[0178] ·经由共用物镜17照射第一激光和第二激光,
[0179] ·执行物镜17的聚焦伺服控制以将第二激光聚焦在大容量型记录介质1的基准面Ref(选择反射膜3)上,
[0180] ·通过改变入射在物镜17上的第一激光的准直来设置(调节)第一激光的信息记录位置(焦点位置),以及
[0181] ·执行物镜17的循轨伺服控制以允许第二激光的焦点位置跟随设置在大容量型记录介质1中的基准面(选择反射膜3)中的导向槽。
[0182] 如上面参照图17A~图17C所述的,当采用该配置时,出现大容量型记录介质1的偏心,并且因此第一激光的信息记录位置在循轨方向上偏离。
[0183] 具体地,当出现外周方向上的偏心(导向槽朝向外周的位移,称为(+)方向偏心)时,朝向外周移动物镜17以跟随偏心,以使信息记录位置在外周方向上从没有偏心的理想状态下的位置偏离(图17B中的偏离量+d)。反之,当出现内周方向上的偏心(导向槽朝向内周的位移,称为(-)方向偏心)时,在内周方向上移动物镜17以跟随偏心,以使信息记录位置在内周方向上从在理想状态下的位置偏离(图17C中的偏离量-d)。
[0184] 这里,偏离量d的值(绝对值)与偏心量成正比。
[0185] 另外,由诸如光盘的翘曲等的因素导致偏心,并且偏心量在光盘旋转一周内变化。
[0186] 为了解决该问题,根据该实施方式,针对在光盘旋转一周内的每个旋转角而测量(估计)偏心量,以基于针对相应旋转角的偏心量的信息来校正对于每个旋转角的信息记录位置。
[0187] 这里,作为用于校正循轨方向上的信息记录位置偏离的技术,可以考虑多种技术。然而,根据该实施方式,可以应用用于将响应于偏心量的偏移量赋予至循轨伺服环以校正沿循轨方向的信息记录位置。具体地,当出现如上所述的(+)方向偏心时,将与偏心量成正比的在(-)方向上的偏移量施加给循轨伺服环以抵消信息记录位置的偏离,并且当出现(-)方向偏心时,将与偏心量成正比的在(+)方向上的偏移量施加给循轨伺服环以抵消信息记录位置的偏离。
[0188] 4-2.用于估计偏心量的具体技术
[0189] 接下来,将描述用于测量(估计)光盘的偏心量的具体技术的实例。
[0190] 在该实例中,基于循轨误差信息估计光盘的偏心量。
[0191] 图5示出了循轨伺服控制系统的模型。
[0192] 在图5中,“r”为循轨伺服控制的控制目标值,并且在这种情况下,r=0。另外,图5中的“e”表示循轨误差信号TE的值。
[0193] 另外,图5中的“C”作为模块地表示与循轨伺服操作(控制操作)相对应的传递函数并且下文中称为模块C。
[0194] 另外,在图5中的“P”表示与二轴致动器18的响应特性相对应的传递函数并且下文中称为模块P。
[0195] 另外,“d”表示可施加在循轨伺服控制系统上的扰动,并且在这里对应于偏心。
[0196] 另外,“y”表示循轨伺服控制系统的输出。
[0197] 如图5所示,通过以下表达式表示循轨伺服控制系统中的输出y和循轨误差信号TE的值e:
[0198] -eCP+d=y [表达式1]
[0199] e=y-r [表达式2]
[0200] 因此,可以由表达式1和2表示偏心量d:
[0201] d=r+(1+CP)e [表达式3]
[0202] 这里,由于r=0,所以由以下表达式表示偏心量d:
[0203] d=(1+CP)e [表达示4]
[0204] 如上面所表示的,可以通过使循轨误差信号TE的值e与“CPe”相加来获得偏心量d,其中,该“CPe”可以通过使模块C的传递函数和模块P的传递函数与循轨误差信号TE(e)相乘而获得。
[0205] 然而,在实际配置中,由于不可能将对应于二轴致动器18的响应特性的模块P的输出获得为数值,所以如图6的模型所表示的,使用二轴致动器18的辨识模型P-imt来获得偏心量,作为偏心估计量d-imt。
[0206] 即,如图6所示,通过以下表达式获得偏心估计量d-imt:
[0207] d-imt=eCP-imt+e [表达示5]
[0208] 这里,通过使用实际装备执行测试来预先获得二轴致动器18的辨识模型P-imt(传递函数)。
[0209] 图7为示出用于通过表达式5获得偏心估计量d-imt的实际配置的实例的示图,并且从要示出的伺服电路25的内部配置提取用于生成循轨伺服信号TS的系统和用于计算偏心估计量的d-imt的系统。
[0210] 如图7所示,在伺服电路25中,设置了伺服操作单元30,伺服操作单元30用于通过对来自图4中所示的矩阵电路24的循轨误差信号TE执行伺服操作(相位补偿、回路增益赋予等)而生成循轨伺服信号TS。
[0211] 另外,在该实例中的伺服电路25中,作为偏心估计量d-imt的计算系统的组件,设置了致动器特性赋予滤波器31和加法单元32。
[0212] 如图7所示,致动器特性赋予滤波器31输入从伺服操作单元30输出的循轨伺服信号TS并且将二轴致动器18的响应特性赋予至循轨伺服信号TS。具体地,将与上述辨识模型P-imt的传递函数相对应的滤波特性(频率特性)设置在致动器特性赋予滤波器31中,并且基于滤波特性而通过对循轨伺服信号TS进行滤波来赋予二轴致动器18的响应特性。
[0213] 加法单元32将循轨伺服信号TS(由如上所述的致动器特性赋予滤波器31将特性赋予了该循轨伺服信号TS)与循轨误差信号TE相加。
[0214] 因此,可以获得偏心估计量d-imt。
[0215] 4-3用于信息记录位置校正的具体技术
[0216] 如上所述,在该实例中,对于在光盘旋转一周内的每个旋转角执行偏心量的估计。换句话说,针对大容量型记录介质1的每个旋转角获取如上所述的偏心估计量d-imt的值。
[0217] 由图4所示的控制器27来执行用于针对每个旋转角的偏心估计量d-imt的值的获取的控制。
[0218] 具体地,在主轴电机29旋转大容量型记录介质1的同时由伺服电路25执行聚焦伺服控制和循轨伺服控制的状态下,控制器27获取从位置信息检测单元26提供的旋转角信息并且获取通过如上所述的伺服电路25计算的偏心估计量d-imt的值。另外,在偏心估计量d-imt的值与每条所获得的旋转角信息之间进行对应,以生成如图8所示的旋转角-偏心量的对应信息。
[0219] 如图8所示,在该实例中,认为旋转角-偏心量的对应信息是在偏心估计量d-imt的值与每隔1°旋转角的旋转角之间所做出的对应性中的信息。
[0220] 例如,控制器27将旋转角-偏心量的对应信息存储在内部存储器中。
[0221] 这里,当加载大容量型记录介质1时,可以在启动操作期间内预先执行在光盘旋转一周内的偏心估计量d-imt的获取。或者,可以在马上要开始记录操作之前(直到生成了用于开始记录的触发之后实际开始记录操作)执行获取。
[0222] 在该实例中,假设提供了以下描述:即,在启动操作期间内执行在光盘旋转一周内的偏心估计量d-imt的获取。
[0223] 当如图8所示地获取在光盘旋转一周内的偏心估计量d-imt的值的时候,可以基于获得的偏心估计量d-imt对于每个旋转角适当执行第一光的信息记录位置的校正。
[0224] 即,基于在记录期间内从大容量型记录介质1检测到的旋转角信息,使用与实际大容量型记录介质1的旋转角相对应的偏心估计量d-imt的值,执行这种情况下的校正。
[0225] 具体地,响应于用于开始记录操作的触发,控制器27基于从位置信息检测单元26输入的旋转角信息和如图8所示的旋转角-偏心量的对应信息,将与当前大容量型记录介质1的旋转角相对应的偏心估计量d-imt的值顺序地输出至伺服电路25。
[0226] 伺服电路25将响应于偏心估计量d-imt供给值的偏移量顺序地施加给例如循轨误差信号TE。
[0227] 因此,向在这种情况下的循轨伺服环施加偏移量,该偏移量是响应于预先获取的对应于在该时间点处的大容量型记录介质1的旋转角的偏心估计量d-imt的值的,并且结果是,对于每个旋转角可以适当校正信息记录位置在循轨方向上的偏离。
[0228] 而且,换句话说,将响应于偏心估计量d-imt的偏移量施加给循轨伺服环的这种施加对应于响应于偏心估计量d-imt的值而改变参照图5所描述的循轨伺服的控制目标值r的这种改变。
[0229] 4-4.用于偏心量估计和信息记录位置校正的具体配置和处理的实例
[0230] 图9为示出用于通过将响应于偏心估计量d-imt的值的偏移量施加给循轨伺服环来校正信息记录位置的具体配置的实例的示图。
[0231] 另外,在图9中,从要示出的图4中所示的伺服电路25的内部配置中抽取用于赋予响应于偏心估计量d-imt的偏移量的系统以及用于生成循轨伺服信号TS的系统和用于计算偏心估计量d-imt的系统。
[0232] 另外,在图9中,通过相同的参考标号表示图7中所述的相同元件,并且将省略其描述。
[0233] 如图9所示,在伺服电路25中,经由图9中的减法单元33向伺服操作单元30输入循轨误差信号TE。
[0234] 另外,在图9中,将减法单元33设置(insert)在循轨误差信号TE朝向参照图7所描述的加法单元32的分支点与伺服操作单元30之间,从而使得循轨误差信号TE在被输入到减法单元33之前被输入到加法单元32。然而,在伺服电路25中,可以将减法单元33的设置位置布置在分支点之前。
[0235] 仅仅为了确认,在赋予偏移量的期间内(在校正信息记录位置的操作期间内,即,在记录操作期间内)不执行偏心估计量d-imt的计算。因此,将减法单元33设置在分支点之前还是分支点之后,对计算偏心估计量d-imt的操作无任何影响。
[0236] 如图9所示,乘法单元34将在如上所述的记录操作期间内由控制器27施加的偏心估计量d-imt的值乘以系数k,以便被输入减法单元33。
[0237] 减法单元33将循轨误差信号TE的值减去经由乘法单元34所提供的偏心估计量d-imt的值,并且将所得结果输出至伺服操作单元30。
[0238] 这里,仅仅为了确认,乘法单元34所设置的系数k对应于确定信息记录位置的校正灵敏度的校正增益,并且可以通过实验来确定系数k的值,从而当减法单元33将来自乘法单元34的输出施加给循轨误差信号TE时,适当校正信息记录位置的偏离。
[0239] 这里,与该实例一样,响应于偏心估计量d-imt的值将偏移量施加给循轨伺服环意味着响应于偏心估计量d-imt将偏移量施加给第二激光的循轨位置,从而这对第二激光的循轨伺服可能具有不利影响。因此,必须将系数k的值设置在使得校正不会带来诸如循轨伺服偏离的不利影响的范围内。
[0240] 图10A和图10B为示出根据实施方式的由控制器27执行的处理的流程的流程图,该处理用于基于获得的偏心估计量d-imt的值来实现用于获取偏心估计量d-imt和用于校正信息记录位置的技术。
[0241] 图10A表示响应于在光盘旋转一周内的偏心估计量d-imt的获取(旋转角-偏心量的对应信息的生成)而执行的处理的流程。图10B表示响应于基于获取的偏心估计量d-imt的信息记录位置的校正而执行的处理的流程。
[0242] 而且,例如,由控制器27基于存储在内部存储器(诸如,上述的ROM)中的程序来执行图10A和图10B中所示的处理。
[0243] 首先,关于图10A,在步骤S101中,执行用于实施聚焦伺服和循轨伺服的指令。
[0244] 如上所述,在该实例中,在启动操作期间内执行偏心估计量d-imt的获取。因此,在这种情况下,步骤S101的处理对应于在启动操作期间内执行用于对伺服电路25实施聚焦伺服控制和循轨伺服控制的指令的处理。
[0245] 另外,随后,在步骤S102中,执行获取用于旋转一次(one rotation)的偏心估计量d-imt的处理。即,在根据步骤S101的处理执行聚焦伺服控制和循轨伺服控制的状态下,获取由位置信息检测单元26检测到的旋转角信息和由伺服电路25计算的偏心估计量d-imt的值,以生成例如要存储在内部存储器中的图8所示的旋转角-偏心量的对应信息。
[0246] 由于执行了步骤S102的处理,所以图10A所示的处理结束。
[0247] 另外,如根据参照图5提供的描述中所理解的,偏心估计量d-imt(基于表达式5计算的偏心量d)的前提是,循轨伺服的控制目标值r为0。因此,执行在记算偏心量d-imt期间内的循轨伺服控制,以达到r=0的目标值(即,未执行将偏移量赋予聚焦伺服环)。
[0248] 即,当在执行步骤S102的处理时执行偏心估计量d-imt的计算的时候,伺服电路25并不通过将乘法单元34的输入值设置为0(或者不通过使用减法单元33执行减法处理)而将偏移量赋予循轨伺服环。
[0249] 随后,在图10B中,在步骤S201中,进入待机状态,直到生成用于开始记录的触发。即,例如,重复执行确定(生成记录开始命令或者记录必须预先开始的)预定条件(生成预定触发)是否形成的处理,直到获得肯定结果。
[0250] 另外,在当生成用于开始记录的触发的时候获得肯定结果的情况下,在步骤S202中,执行将与当前旋转角相对应的偏心估计量d-imt施加给伺服电路25的处理。
[0251] 即,基于从位置信息检测单元26所提供的旋转角信息,从通过图10A的处理所存储的旋转角-偏心量的对应信息读出与当前大容量型记录介质1的旋转角相对应的偏心估计量d-imt的值,并且将该值输出至伺服电路25(乘法单元34)。
[0252] 随后,在步骤S203中,确定是否生成用于结束记录的触发。即,(完整记录了要记录的数据或者生成记录停止命令的)预定条件(生成预定触发)是否形成。
[0253] 在步骤S203中,当未生成用于结束记录的触发并且因此获得否定结果时,执行先前的步骤S202以将与当前旋转角相对应的偏心估计量d-imt施加给伺服电路25。即,在执行记录操作的同时,通过重复步骤S202和步骤S203的处理,连续执行基于与当前大容型记录介质1的旋转角相对应的偏心估计量d-imt的值而对信息记录位置进行的校正。
[0254] 另外,在步骤S203中,当生成用于结束记录的触发并且因此获得肯定结果时,结束图10B所示的处理。
[0255] 4-5.实施方式的结论
[0256] 在上述该实施方式中,在采用经由共用物镜17照射第一激光和第二激光的配置的情况下,执行物镜17的聚焦伺服控制以将第二激光聚焦在(在大容量型记录介质1中形成的)基准面Ref(选择反射膜3)上,通过改变入射在物镜17上的第一激光的准直来设置第一激光的信息记录位置(焦点位置),并且执行物镜17的循轨伺服控制以允许第二激光的焦点位置跟随设置在大容量型记录介质1中的基准面中的导向槽,获取对于在光盘旋转一周内的每个旋转角的偏心估计量d-imt。另外,在记录期间内,将如上所述获取的基于偏心估计量d-imt信息的偏移量施加给循轨误差信号TE。
[0257] 因此,对于光盘的每个旋转角可以适当校正大容量型记录介质1的偏心伴随的信息记录位置的偏离。
[0258] 通过适当校正如上所述的信息记录位置的偏离,轨道间距(在循轨方向上形成的导向槽之间的间隔)可以缩减,从而实现记录容量的提高。
[0259] 另外,根据上述该实施方式,允许大容量型记录介质1是可移动的。因此,可以防止在采用诸如硬磁盘驱动器(HDD)的光盘不可移动的系统的情况下出现的便利性的降低。
[0260] 5.变型实例
[0261] 虽然上文中已经描述了本发明的示例性实施方式,但是本发明不仅限于前述具体实例。
[0262] 例如,在前面的描述中,通过将响应于偏心估计量d-imt的偏移量施加给循轨误差信号TE来执行第一激光的信息记录位置的校正。然而,可以将偏移量施加给循轨伺服环的任何位置,比如,施加给循轨伺服信号TS或者施加给用于驱动二轴致动器18(循轨线圈)的驱动信号。
[0263] 或者,可以通过用于将响应于偏心估计量d-imt的偏移量施加给循轨伺服环的技术、用于响应于偏心估计量d-imt移动大容量型记录介质1的技术、用于响应于偏心估计量d-imt移动整个光学系统的技术等,来执行信息记录位置的校正。
[0264] 根据本发明的实施方式,不具体限制记录位置校正单元的具体配置,只要该记录位置校正单元被配置为校正由于光盘的偏心所导致的信息记录位置在循轨方向上的偏离即可。
[0265] 另外,在前面的描述中,基于循轨伺服信号TS执行偏心量的测量(估计)。然而,用于估计偏心量的技术不限于此。
[0266] 例如,如在日本未审查专利申请公布第2008-140420号中所披露的,可以仅使用循轨误差信号TE(在横向状态下的循轨误差信号TE)执行偏心量的估计。
[0267] 或者,可以基于用于驱动二轴致动器18(循轨线圈)的信号执行偏心量估计。
[0268] 另外,尽管在前面的描述中未具体提及,但是可以仅在大容量型记录介质1上的预定单个点上或者多个点上执行对于光盘旋转一周内的每个旋转角的偏心量估计。
[0269] 这里,可能存在偏心量在光盘的径向位置上变化的情况。因此,在大容量型记录介质1上沿径向标出多个区域,并且在每个区域上执行偏心量的估计。在这种情况下,可以在启动操作等期间内共同地执行区域的偏心量估计,或者可以在记录期间内当跨越每个区域时顺序执行该区域的偏心量估计。在前一种情况下,通过将使用的偏心估计量d-imt的值改变为对应区域的值(当在记录期间内跨越该区域的时候),来执行信息记录位置的校正。在后一种情况下,当在记录期间内到达离散区域时,暂停记录操作,并且执行获取偏心估计量d-imt的处理,以便使用在该区域中通过获取处理获取的偏心估计量d-imt的信息来校正信息记录位置。
[0270] 另外,在前面的描述中,举例说明了通过赋予诸如凹槽或者凹坑行的凹凸截面图案来执行在大容量型记录介质1中形成位置导向元件的情况。然而,可以通过诸如用于记录标记行的技术的其他技术来形成包括在根据本发明的实施方式的光盘记录介质中的位置导向元件。
[0271] 在前面的描述中,举例说明了在大容量层5的上层侧形成大容量型记录介质1的基准面Ref的情况。然而,可以将本发明的实施方式适当地应用于在大容量层5的下层侧上形成基准面Ref的情况。
[0272] 另外,在前面的描述中,举例说明了将根据本发明的实施方式的记录装置应用于仅用于使用第一光的照射来记录信息的记录专用装置。然而,可以将本发明的实施方式适当地应用于使用第一光的照射能够再生记录信息的记录和再生装置。
[0273] 本申请包含涉及于2009年12月4日向日本专利局提交的日本优先专利申请JP2009-276155中所公开的主题,其全部内容通过引用方式结合于此。
[0274] 本领域的技术人员应该理解,根据设计要求和其它因素,可以有多种修改、组合、子组合和改进,这些修改、组合、子组合和改进均应包含在本发明的权利要求或等同物的范围之内。