液晶显示器基板的配向膜印刷方法及装置转让专利

申请号 : CN201010579670.5

文献号 : CN102096242B

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发明人 : 李斌施翔尹詹政川李为钧贺成明

申请人 : 深圳市华星光电技术有限公司

摘要 :

本发明是有关于液晶显示器基板的配向膜印刷方法及装置。所述方法包括:获得一基板的一个或多个不良品基板单元的位置信息;将所述位置信息发送至工艺管理系统;工艺管理系统将所述位置信息传送至第一配向膜印刷设备;第一配向膜印刷设备排除对所述不良品基板单元进行配向膜印刷操作。本发明的优点在于,通过获得不良品基板单元在基板中的位置信息,以控制后段工艺排除对这些不良品基板单元实施配向膜印刷和检测等步骤,从而节约了配向膜印刷材料成本。

权利要求 :

1.一种液晶显示器基板的配向膜印刷方法,其特征在于,包括:获得一基板的多个基板单元的位置信息,所述基板中阵列式排布的所述多个基板单元中包含一个或多个不良品基板单元;

将所述位置信息发送至一工艺管理系统;

确定所述基板中所述不良品基板单元的数量所占的比例是否超过预先设定的阈值,如果未超过阈值则继续实施所述配向膜印刷操作,如超过阈值则停止对所述基板进行所述配向膜印刷操作;

通过所述工艺管理系统将所述位置信息传送至一第一配向膜印刷设备,所述第一配向膜印刷设备用于对所述基板进行一配向膜印刷操作;及所述第一配向膜印刷设备在印刷所述基板的步骤中,根据所获得的所述位置信息排除对所述不良品基板单元进行所述配向膜印刷操作。

2.根据权利要求1所述的液晶显示器基板的配向膜印刷方法,其特征在于,在所述工艺管理系统在将所述位置信息传送至所述第一配向膜印刷设备的步骤中,进一步包括:将所述位置信息传送给用于检测所述第一配向膜印刷设备工艺质量的一第一检测设备,使所述第一检测设备排除对所述不良品基板单元实施检测。

3.根据权利要求1所述的液晶显示器基板的配向膜印刷方法,其特征在于,所述工艺管理系统在获得所述位置信息后,进一步实施如下步骤:将所述位置信息传送给一第二配向膜印刷设备,所述第二配向膜印刷设备用于印刷与所述基板相对应的一对组基板;及所述第二配向膜印刷设备在印刷所述对组基板时,根据获得的所述位置信息排除对所述对组基板的对应基板单元进行配向膜印刷操作。

4.根据权利要求3所述的液晶显示器基板的配向膜印刷方法,其特征在于,在所述工艺管理系统在将所述位置信息传送至所述第二配向膜印刷设备的步骤中,进一步包括:将所述位置信息传送给检测所述第二配向膜印刷设备工艺质量的一第二检测设备,使所述第二检测设备排除对所述对组基板中未被印刷的基板单元实施检测。

5.一种液晶显示器基板的配向膜印刷装置,其特征在于,包括:一信息获取模块,用于获得一基板的多个基板单元的位置信息,所述基板中阵列式排布的所述多个基板单元中包含一个或多个不良品基板单元;

一第一信息传送模块,用于将所述位置信息发送至一工艺管理系统;

一第二信息传送模块,用于使所述工艺管理系统将所述位置信息传送至一第一配向膜印刷设备,所述第一配向膜印刷设备用于对所述基板进行一配向膜印刷操作;

一良率判断模块,用于确定所述基板中所述不良品基板单元的数量所占的比例是否超过预先设定的阈值,如果未超过阈值则继续实施所述配向膜印刷操作,如超过阈值则停止对所述基板进行所述配向膜印刷操作;及一第一配向膜印刷设备控制模块,用于控制所述第一配向膜印刷设备在所述配向膜印刷操作中,根据所获得的所述位置信息排除对所述不良品基板单元进行所述配向膜印刷操作。

6.根据权利要求5所述的液晶显示器基板的配向膜印刷装置,其特征在于,所述第二信息传送模块进一步进行如下步骤:将所述位置信息传送给用于检测所述第一配向膜印刷设备工艺质量的一第一检测设备;及所述配向膜印刷装置进一步包括一第一检测设备控制模块,用于控制所述第一检测设备排除对所述不良品基板单元实施检测。

7.根据权利要求5所述的液晶显示器基板的配向膜印刷装置,其特征在于,在所述第一信息传送模块之后,进一步包括:一第三信息传送模块,用于将所述位置信息传送给一第二配向膜印刷设备,所述第二配向膜印刷设备用于印刷与所述基板相对应的一对组基板;及一第二配向膜印刷设备控制模块,所述第二配向膜印刷设备在印刷所述对组基板时,根据获得的所述位置信息排除对所述对组基板的对应基板单元进行配向膜印刷操作。

8.根据权利要求7所述的液晶显示器基板的配向膜印刷装置,其特征在于,所述第三信息传送模块进一步进行如下步骤:将所述位置信息传送给用于检测所述第二配向膜印刷设备工艺质量的一第二检测设备;及所述配向膜印刷装置进一步包括一第二检测设备控制模块,用于控制所述第二检测设备排除对所述对组基板中未被印刷的基板单元实施检测。

说明书 :

液晶显示器基板的配向膜印刷方法及装置

技术领域

[0001] 本发明涉及液晶显示器制造领域,尤其涉及液晶显示器基板的配向膜印刷方法及装置。

背景技术

[0002] 薄膜晶体管(TFT)液晶面板是由具有彩色滤光片(CF)基板和另一具有薄膜晶体管(TFT)的对组基板组合而成,CF基板和TFT基板的内面均涂布聚酰亚胺(PI)配向膜,现有的配向膜打印方式有两种:滚轮印刷(Roller Coating)和喷墨打印涂布(Ink Jet)。滚轮印刷主要用于次世代的中小面板生产,近年来,随着高世代液晶面板制造技术的迅速发展,喷墨打印涂布技术开始广泛应用。
[0003] 在液晶面板生产过程中,未切割之前的大片基板不可避免地会产生一个或多个不良品基板单元,如蚀刻不良品,异物等,如果整块大片基板全部报废,会造成较大的浪费。因此,综合节约成本考虑,当大片基板存在的不良品基板单元的数量不算太多时,大片基板仍会继续进行后续喷墨打印涂布工艺,直至切割工艺时,再将不良品的基板单元剔除。显然,在现有技术中,不良品基板单元在切割工艺前均参与生产工艺,因此浪费了大量聚酰亚胺(PI)配向膜材料以及液晶等材料。
[0004] 在液晶面板的成本结构中,材料占整体成本70%左右,因此,如何降低原材料的消耗,提升其利用率是液晶面板生产企业必须面对的问题,故上述浪费材料的问题是亟待解决的。

发明内容

[0005] 为解决以上反映的诸多技术问题,本发明提供一种液晶显示器基板的印刷方法,能够解决现有技术中由于对不良品基板单元的印刷而带来的材料浪费问题。
[0006] 为了解决上述问题,本发明提供了一种液晶显示器基板的印刷方法,包括:获得一基板的多个基板单元的位置信息,所述基板中阵列式排布的所述多个基板单元中包含一个或多个不良品基板单元;将所述位置信息发送至一工艺管理系统;确定所述基板中所述不良品基板单元的数量所占的比例是否超过预先设定的阈值,如果未超过阈值则继续实施所述配向膜印刷操作,如超过阈值则停止对所述基板进行所述配向膜印刷操作;通过所述工艺管理系统将所述位置信息传送至一第一配向膜印刷设备,所述第一配向膜印刷设备用于对所述基板进行一配向膜印刷操作;及所述第一配向膜印刷设备在印刷所述基板的步骤中,根据所获得的所述位置信息排除对所述不良品基板单元进行所述配向膜印刷操作。
[0007] 作为可选的技术方案,在所述工艺管理系统在将所述位置信息传送至所述第一配向膜印刷设备的步骤中,进一步包括:将所述位置信息传送给用于检测所述第一配向膜印刷设备工艺质量的一第一检测设备,使所述第一检测设备排除对所述不良品基板单元实施检测。
[0008] 作为可选的技术方案,所述工艺管理系统在获得所述位置信息后,进一步实施如下步骤:将所述位置信息传送给一第二配向膜印刷设备,所述第二配向膜印刷设备用于印刷与所述基板相对应的一对组基板;及所述第二配向膜印刷设备在印刷所述对组基板时,根据获得的所述位置信息排除对所述对组基板的对应基板单元进行配向膜印刷操作。
[0009] 作为可选的技术方案,所述工艺管理系统在将所述位置信息传送至第二配向膜印刷设备的步骤中,进一步包括:将所述位置信息传送给检测所述第二配向膜印刷设备工艺质量的一第二检测设备,使所述第二检测设备排除对所述对组基板中未被印刷的基板单元实施检测。
[0010] 本发明进一步提供了一种液晶显示器基板的印刷装置,包括:一信息获取模块,用于获得一基板的多个基板单元的位置信息,所述基板中阵列式排布的所述多个基板单元中包含一个或多个不良品基板单元;一第一信息传送模块,用于将所述位置信息发送至一工艺管理系统;一第二信息传送模块,用于使所述工艺管理系统将所述位置信息传送至一第一配向膜印刷设备,所述第一配向膜印刷设备用于对所述基板进行一配向膜印刷操作;一良率判断模块,用于确定所述基板中所述不良品基板单元的数量所占的比例是否超过预先设定的阈值,如果未超过阈值则继续实施所述配向膜印刷操作,如超过阈值则停止对所述基板进行所述配向膜印刷操作;及一第一配向膜印刷设备控制模块,用于控制所述第一配向膜印刷设备在所述配向膜印刷操作中,根据所获得的所述位置信息排除对所述不良品基板单元进行所述配向膜印刷操作。
[0011] 作为可选的技术方案,所述第二信息传送模块进一步进行如下步骤:将所述位置信息传送给用于检测所述第一配向膜印刷设备工艺质量的一第一检测设备;所述印刷装置进一步包括第一检测设备控制模块,用于控制所述第一检测设备排除对所述不良品基板单元实施检测。
[0012] 作为可选的技术方案,在所述第一信息传送模块之后,进一步包括如下模块:一第三信息传送模块,用于将所述位置信息传送给一第二配向膜印刷设备,所述第二配向膜印刷设备用于印刷与所述基板相对应的一对组基板;及一第二配向膜印刷设备控制模块,所述第二配向膜印刷设备在印刷所述对组基板时,根据获得的所述位置信息排除对所述对组基板的对应基板单元进行配向膜印刷操作。
[0013] 作为可选的技术方案,所述第三信息传送模块进一步进行如下步骤:将所述位置信息传送给用于检测所述第二配向膜印刷设备工艺质量的一第二检测设备;及所述印刷装置进一步包括第二检测设备控制模块,用于控制所述第二检测设备排除对所述对组基板中未被印刷的基板单元实施检测。
[0014] 本发明的优点在于,通过获得所述不良品基板单元在所述基板中的位置信息,并将此信息传送给后段包括印刷设备和检测设备在内的各个设备,以控制后段工艺排除对这些不良品基板单元实施印刷和检测等步骤,从而节约了印刷材料成本,并可以进一步节约检测等步骤中的工艺时间。

附图说明

[0015] 附图1是本发明所述方法的第一具体实施方式的流程图。
[0016] 附图2是本发明所述方法的第一具体实施方式所采用的设备的结构图。
[0017] 附图3是本发明所述方法的第二具体实施方式的流程图。
[0018] 附图4是本发明所述装置的具体实施方式的架构示意图。

具体实施方式

[0019] 下面结合附图对本发明提供的液晶显示器基板的印刷方法及装置的具体实施方式做详细说明。
[0020] 为了让本发明的目的、特征及优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合说明书所附图式,做详细的说明。本发明说明书提供不同的实施例来说明本发明不同实施方式的技术特征。其中,实施例中的各组件的配置是为清楚说明本发明揭示的内容,并非用以限制本发明。且不同实施例中图式标号的部分重复,是为了简化说明,并非意指不同实施例之间的关联性。
[0021] 首先介绍本发明所述方法的第一具体实施方式,图1是本具体实施方式所述方法的流程图,包括如下步骤:步骤S100,获得基板的一个或多个不良品基板单元的位置信息;步骤S110,将位置信息传送给工艺管理系统;步骤S120,确定基板中不良品基板单元的数量所占的比例是否超过预先设定的阈值;步骤S131,工艺管理系统将位置信息传送至第一配向膜印刷设备和第一检测设备;步骤S132,第一配向膜印刷设备根据所获得的位置信息排除对一个或多个不良品基板单元的印刷操作;步骤S133,第一检测设备排除对不良品基板单元实施检测。
[0022] 附图2是本具体实施方式所述方法所采用的设备的结构图,包括基板10、多个基板单元101~104、第一配向膜印刷设备12以及配向膜液滴13。
[0023] 接下来对以上各个步骤逐一作出具体解释。
[0024] 本具体实施方式中,配向膜印刷设备是在基板表面印刷聚酰亚胺配向膜的设备。在其他的实施方式中,所述印刷设备也可以是任何一种常见的在基板表面印刷薄膜的设备。
[0025] 步骤S100,获得基板10的一个或多个不良品基板单元的位置信息。所谓基板是指阵列式排布了多个基板单元的整块的基板。每一个基板单元的基板在被切割后都能够用于形成液晶显示器。参考附图2,基板10包括了四个基板单元,分别是101~104。在液晶面板生产过程中,不可避免地会产生一个或多个基板单元不良品,如蚀刻不良品,异物等。这些不良品基板单元的位置信息通常会由生产基板的企业预先标注,或者也可以通过检测手段来测出不良品基板单元的位置信息。本实施方式中假定基板单元101是不良品。所获得的位置信息将在后续步骤中被各种工艺设备读取,以避免对这些不良品基板单元再进行加工,能够节约工艺成本。
[0026] 步骤S110,将位置信息发送至工艺管理系统。所述工艺管理系统是指在生产线上用来调配各个工艺步骤之间的衔接关系以及整合不同工艺的专用系统,该系统能够和生产线上各种设备实现信息交互。
[0027] 步骤S120,确定基板10中不良品基板单元的数量所占的比例是否超过预先设定的阈值。判断的结果是:如果未超过阈值则继续实施下面的印刷步骤,如超过阈值则停止对基板进行印刷。此步骤是一可选步骤,目的在于进一步控制生产线的生产效率。如果基板中不良品基板单元的数目过多,则在后续工艺中仅加工很少数目的基板单元,无益于提高生产效率,因此可以通过设置一阈值保证在不良品基板单元过多的情况下就无需再进行后续工艺了。
[0028] 接下来的步骤S131至步骤S133是对基板的印刷和检测步骤。
[0029] 步骤S131,工艺管理系统将位置信息传送至第一配向膜印刷设备12和第一检测设备。本步骤中,第一配向膜印刷设备12是用于对基板10进行印刷操作,第一检测设备用于检测第一配向膜印刷设备的工艺质量(未图示)。工艺管理系统至少应当将不良品基板单元的位置信息传送至第一配向膜印刷设备12,以保证印刷设备排除对不良品基板单元(本实施方式为基板单元101)实施印刷的步骤,从而节约了印刷材料的成本。作为可选的步骤,工艺管理系统将位置信息进一步传送至第一检测设备。实质上,工艺管理系统还可以将此位置信息传递到后续更多的需要区别不良品基板单元的设备,以确保这些设备排除对不良品基板单元101实施工艺动作。故,工艺管理系统的将不良品基板单元的位置信息传送给后续各个设备这一动作的实质应当视为未超出本发明所记载的技术构思。
[0030] 步骤S132,第一配向膜印刷设备12根据所获得的位置信息排除对不良品基板单元101进行印刷操作。第一配向膜印刷设备12在此步骤中将对基板10的基板单元102~104的表面实施印刷工艺。在现有技术中,第一配向膜印刷设备12将对所有的基板单元
101~104进行印刷,造成了聚酰亚胺等材料的浪费。本实施方式中,由于第一配向膜印刷设备12之前已经获得了不良品基板单元101的位置信息,因此本步骤中排除对不良品基板单元101实施印刷,因此节约了印刷材料。
[0031] 步骤S133,第一检测设备排除对不良品基板单元101实施检测。此步骤是可选步骤,如果工艺管理系统的将不良品基板单元101的位置信息传送给后续各个设备,包括检测设备,则检测设备以及其他各种设备都不在对不良品基板单元101位置实施检测,这样不仅可以节约检测时间,还可以避免检测设备误认为印刷工艺的良率过低而产生误报。
[0032] 接下来给出本发明所述方法的第二具体实施方式,图3是本具体实施方式所述方法的流程图,包括如下步骤:步骤S100,获得基板的一个或多个不良品基板单元的位置信息;步骤S110,将位置信息传送给工艺管理系统;步骤S120,确定基板中不良品基板单元的数量所占的比例是否超过预先设定的阈值;步骤S131,工艺管理系统将位置信息传送至第一配向膜印刷设备和第一检测设备;步骤S132,第一配向膜印刷设备根据所获得的位置信息排除对一个或多个不良品基板单元的印刷操作;步骤S133,第一检测设备排除对不良品基板单元实施检测;步骤S141,工艺管理系统将位置信息传送至第二配向膜印刷设备和第二检测设备;步骤S142,第二配向膜印刷设备排除所获得的位置信息中记录的一个或多个基板单元的印刷操作;步骤S143,第二检测设备排除对对组基板中未被印刷的基板单元实施检测。
[0033] 以上步骤S100至步骤S133与第一具体实施方式相同,此处不再重复介绍。
[0034] 步骤S141至步骤S143是对基板的对组基板的印刷和检测步骤,是优选的步骤。印刷对组基板所采用的设备与附图2相同,故不再另行图示。
[0035] 在液晶显示器制造过程中,需要对两组基板分别实施印刷,并在后续的过程中将这两组基板贴合在一起,称之为对组工艺。实施对组工艺的两组基板互相称之为对组基板。如果对组基板中的某一块存在不良品基板单元,即使对组基板的另一对组基板单元是良品,对组贴合之后的产品显然也是不良品。步骤S141至步骤S143的目的在于进一步避免与不良品基板单元对应的对组基板上的基板单元被印刷,从而进一步节约印刷材料成本以及检测时间等。
[0036] 步骤S141,工艺管理系统将位置信息传送至第二配向膜印刷设备和第二检测设备。此步骤与步骤S131同步实施。本步骤中,第二配向膜印刷设备是用于对基板的对组基板进行印刷操作,第二检测设备用于检测第二配向膜印刷设备的工艺质量。
[0037] 步骤S142,第二配向膜印刷设备排除对所获得的位置信息中记录的一个或多个基板单元的印刷操作。此步骤中,无论对组基板上的这些位置上的基板单元是否是不良品基板单元,由于另一块基板上此位置的基板单元已经是不良品基板单元,因此再对对组基板上的基板单元实施印刷已经没有意义。
[0038] 步骤S143,第二检测设备排除对组基板中未被印刷的基板单元实施检测。与步骤S133类似,此步骤的实施不仅可以节约检测时间,还可以避免检测设备误认为印刷工艺的良率过低而产生误报。
[0039] 以上第二具体实施方式的优点在于进一步考虑到了对组基板的印刷步骤。因为无论对组基板上的基板单元是否是不良品基板单元,由于与之对应的另一块基板上的基板单元已经是不良品基板单元,因此再对对组基板上的基板单元实施印刷已经没有意义。故以上第二具体实施方式能够进一步节约工艺成本。
[0040] 接下来结合附图给出本发明所述装置的具体实施方式。附图4所示是本实施方式所述装置的架构示意图,包括:信息获取模块200、第一信息传送模块210、良率判断模块220、第二信息传送模块231、第一配向膜印刷设备控制模块232、第一检测设备控制模块233、第三信息传送模块241、第二配向膜印刷设备控制模块242以及第二检测设备控制模块243。
[0041] 信息获取模块200获得不良品基板单元的位置信息后,传送至第一信息传送模块210,并经过良率判断模块220对良率进行判断后,分别发送至第二信息传送模块231和第三信息传送模块241。第二信息传送模块231进一步将信息传送至第一配向膜印刷设备控制模块232与第一检测设备控制模块233对基板进行印刷和检测;第三信息传送模块241进一步将信息传送至第二配向膜印刷设备控制模块242与第二检测设备控制模块243对基板的对组基板进行印刷和检测。
[0042] 具体地说:信息获取模块200,用于获得基板的一个或多个不良品基板单元的位置信息,所述基板中阵列式排布有多个基板单元。
[0043] 第一信息传送模块210,用于将所述位置信息发送至工艺管理系统。
[0044] 良率判断模块220,用于确定所述基板中所述不良品基板单元的数量所占的比例是否超过预先设定的阈值,如果未超过阈值则继续实施下面的印刷步骤,如超过阈值则停止对所述基板进行印刷。
[0045] 第二信息传送模块231,用于使工艺管理系统将所述位置信息传送至第一配向膜印刷设备和第一检测设备,第一配向膜印刷设备用于对基板进行印刷操作,第一检测设备用于检测第一配向膜印刷设备的工艺质量。
[0046] 第一配向膜印刷设备控制模块232,用于控制第一配向膜印刷设备在印刷基板的步骤中,根据所获得的所述位置信息排除对所述不良品基板单元进行印刷操作。
[0047] 第一检测设备控制模块233,用于控制所述第一检测设备排除对所述不良品基板单元实施检测。
[0048] 第三信息传送模块241,用于将所述位置信息传送给第二配向膜印刷设备,第二配向膜印刷设备用于对基板的对组基板进行印刷操作,第二检测设备用于检测第二配向膜印刷设备的工艺质量。
[0049] 第二配向膜印刷设备控制模块242,所述第二配向膜印刷设备在印刷对组基板时,对获得的所述位置信息所记录的基板单元排除进行印刷操作。
[0050] 第二检测设备控制模块243,用于控制所述第二检测设备排除对所述对组基板中未被印刷的基板单元实施检测。
[0051] 更详细的介绍请参考前述有关方法的第一以及第二具体实施方式。
[0052] 以上仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。