触控面板及其多点触碰侦测方法以及触控显示装置

摘要

一种触控面板，其包括一基板、一感测阵列层以及一信号侦测层。感测阵列层设置于基板上，且具有阵列排列的多个感测垫，这些感测垫包括多个沿着第一方向延伸的第一感测垫以及多个沿着第二方向延伸的第二感测垫，其中第一方向与第二方向相交。信号侦测层位于感测阵列层与基板之间，信号侦测层具有多个彼此独立的信号侦测区块。每一信号侦测区块对应多个感测垫，并侦测对应因触碰而造成的电场变化。本发明可避免触控面板发生错误感测的问题。另外，本发明也提出一种触控面板的多点触碰侦测方法以及一种触控显示装置。

权利要求

1.一种触控面板，其特征在于，所述触控面板包括：基板；

感测阵列层，设置于所述基板上，所述感测阵列层具有阵列排列的多个感测垫，所述感测垫包括：多个第一感测垫，沿着第一方向排列；

多个第二感测垫，沿着第二方向排列，所述第一方向与所述第二方向相交；以及

信号侦测层，位于所述感测阵列层与所述基板之间，所述信号侦测层具有多个彼此独立的信号侦测区块，每一信号侦测区块对应多个感测垫，并侦测因触碰而造成的电场变化；

多个信号侦测线，每一信号侦测线分别电性连接每一信号侦测区块；

所述感测阵列层还包括：

多个第一桥接线，每一第一桥接线串接两相邻的第一感测垫，以构成第一感测串列；以及多个第二桥接线，每一第二桥接线串接两相邻的第二感测垫，以构成第二感测串列。

2.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于，所述第一感测垫、所述第二感测垫与所述第二桥接线为同一导电层所构成，而所述第一桥接线为另一导电层所构成；或者，所述第一感测垫、所述第二感测垫与所述第一桥接线为同一导电层所构成，而所述第二桥接线为另一导电层所构成。

3.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于，所述每一信号侦测区块实质上呈块状，且每一信号侦测区块的边缘与对应的所述感测垫的边缘实质上对齐；或者，所述每一信号侦测区块实质上呈条状，所述信号侦测区块彼此平行且沿着第三方向延伸，第三方向不同于第一方向与第二方向，且每一信号侦测区块的边缘与对应的所述感测垫的边缘实质上对齐。

4.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于，所述每一信号侦测区块包括多个信号侦测垫，每一信号侦测垫对应所述感测垫的其中之一，每一信号侦测垫具有一开口，所述开口的尺寸实质上等于每一感测垫的尺寸，且所述信号侦测垫实质上与所述感测垫之间的间隙重叠；或者，所述每一信号侦测区块包括多个信号侦测垫，每一信号侦测垫对应所述感测垫的其中之一，每一信号侦测垫为整面式，且每一信号侦测垫的尺寸实质上等于每一感测垫的尺寸。

5.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于，所述触控面板还包括控制器，电性连接所述信号侦测线，所述信号侦测区块将所侦测的因触碰而造成的电场变化输出至所述控制器，以将判断触碰事件的有无。

6.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于，所述触控面板还包括介电层，位于所述感测阵列层与所述信号侦测层之间。

7.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于，所述触控面板还包括显示面板，所述基板位于所述显示面板上，以使得所述信号侦测层位于所述显示面板与所述感测阵列层之间。

8.一种如权利要求1所述的触控面板的多点触碰侦测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：依据感测阵列层上的感测垫的电容值变化，以定位触碰位置；

信号侦测层的信号侦测区块依据因触碰而造成的电场变化，以判断碰触事件的有无；

以及

比对所述感测阵列层所定位的触碰位置与所述信号侦测层的判断。

9.如权利要求8所述的触控面板的多点触碰侦测方法，其特征在于，所述方法还包括：依据比对结果将错误感测位置遮蔽。

10.如权利要求8所述的触控面板的多点触碰侦测方法，其特征在于，所述方法还包括：依据比对结果将真实感测位置取出。

11.一种触控显示装置，其特征在于，所述触控显示装置包括：触控面板，包括：

基板；

感测阵列层，设置于所述基板上，所述感测阵列层具有阵列排列的多个感测垫，所述感测垫包括：多个第一感测垫，沿着第一方向延伸；

多个第二感测垫，沿着第二方向延伸，所述第一方向与所述第二方向相交；以及信号侦测层，位于所述感测阵列层与所述基板之间，所述信号侦测层具有多个彼此独立的信号侦测区块，每一信号侦测区块对应多个感测垫，并侦测因触碰而造成的电场变化；

多个信号侦测线，每一信号侦测线分别电性连接每一信号侦测区块；以及显示面板，相对于所述触控面板而设置，所述信号侦测层位于所述显示面板与所述感测阵列层之间；

所述感测阵列层还包括：

多个第一桥接线，每一第一桥接线串接两相邻的第一感测垫，以构成第一感测串列；以及多个第二桥接线，每一第二桥接线串接两相邻的第二感测垫，以构成第二感测串列。

说明书

触控面板及其多点触碰侦测方法以及触控显示装置

技术领域

[0001] 本发明是有关于一种触控装置及其侦测方法，且特别是有关于一种触控面板及其多点触碰侦测方法以及触控显示装置。

背景技术

[0002] 近年来，随着信息技术、无线行动通讯和信息家电的快速发展与应用，为了达到更便利、体积更轻巧化以及更人性化的目的，许多信息产品已由传统的键盘或鼠标等输入装置，转变为使用触控面板(Touch Panel)作为输入装置。

[0003] 图1绘示现有的一种触控面板，其中为了清楚说明，图1仅绘示触控面板的感测串列的结构，而省略了其它可能存在的膜层或是元件。如图1所示，现有的触控面板100包括多个第一感测串列120以及多个第二感测串列140。更详细而言，第一感测串列120沿Y方向延伸，其中每一第一感测串列120是由多个第一感测垫122与第一连接线124串接而成。第二感测串列140沿X方向延伸，其中每一第二感测串列140是由多个第二感测垫142与第二连接线144串接而成。第一感测垫122与第二感测垫142可构成一感测阵列，以达成面的感测。

[0004] 当使用者以手指接触触控面板100时，触控面板100的第一感测串列120与第二感测串列140会在手指所接触的位置上产生一电容的改变。此电容上的改变会转换为一控制信号传送至控制电路板上，并经运算处理而得出结果后，再输出一适当的指令以操作电子装置。

[0005] 如图1所示，图中一并绘示出当使用者触碰位置A以及位置B情况下波峰位置示意图。请参照图1，以X及Y两轴为例，触控面板在侦测碰触位置时，会分别扫描对应X轴及Y轴的第一感测串列120与第二感测串列140，由于触控面板上对应第一感测串列120与第二感测串列140各自有一个扫描线上的传感器因受碰触而产生电容耦合现象，经由将对应不同轴向的波峰位置进行交会，即可定位出碰触位置。

[0006] 如图1所示，使用者触碰位置A以及位置B情况下，被触碰的位置A以及被触碰的位置B会在X轴及Y轴各自产生两个波峰位置(例如：X1、X2、Y1及Y2)，将两个轴向的波峰位置进行交会则会产生4个交会点(例如：A、B、A’及B’)，其中非属真正碰触位置的两交会点(例如：A’及B’)称之为错误感测点(Ghost point)。在此情况下，触控面板会侦测出非真正的碰触位置，进而造成操作错误。

发明内容

[0007] 本发明提供一种触控面板，通过一信号侦测层辅助判断感测阵列上的触碰信号，以提升触控面板的定位精确度。

[0008] 本发明提供一种触控面板的多点触碰侦测方法，其可以消除多指碰触时的错误感测点。

[0009] 本发明提供一种触控显示装置，通过一信号侦测层辅助判断感测阵列上的触碰信号，以提升触控显示装置中触控面板的定位精确度。

[0010] 本发明提出一种触控面板，其包括基板、感测阵列层以及信号侦测层；其中，感测阵列层设置于基板上，感测阵列层具有阵列排列的多个感测垫，感测垫包括多个沿着第一方向延伸的第一感测垫，以及多个沿着第二方向延伸的第二感测垫，其中第一方向与第二方向相交；信号侦测层位于感测阵列层与基板之间，信号侦测层具有多个彼此独立的信号侦测区块，每一信号侦测区块对应多个感测垫，并侦测因触碰而造成的电场变化；多个信号侦测线，每一信号侦测线分别电性连接每一信号侦测区块；所述感测阵列层还包括：多个第一桥接线，每一第一桥接线串接两相邻的第一感测垫，以构成第一感测串列；以及多个第二桥接线，每一第二桥接线串接两相邻的第二感测垫，以构成第二感测串列。

[0011] 本发明另提出一种如上述触控面板的多点触碰侦测方法，其适于侦测上述的触控面板。此触控面板的多点触碰侦测方法包括下列步骤：依据感测阵列层上的感测垫的电容值变化，以定位触碰位置；信号侦测层的信号侦测区块依据因触碰而造成的对应的电场变化，以判断碰触事件的有无；比对感测阵列层所定位的触碰位置与信号侦测层的判断。

[0012] 本发明另提出一种触控显示装置，触控显示装置包括触控面板以及显示面板；其中触控面板包括基板、感测阵列层以及信号侦测层；感测阵列层设置于基板上，感测阵列层具有阵列排列的多个感测垫，感测垫包括多个沿着第一方向延伸的第一感测垫，以及多个沿着第二方向延伸的第二感测垫，其中第一方向与第二方向相交；信号侦测层位于感测阵列层与基板之间，信号侦测层具有多个彼此独立的信号侦测区块，每一信号侦测区块对应多个感测垫，并侦测因触碰而造成的电场变化；多个信号侦测线，每一信号侦测线分别电性连接每一信号侦测区块；显示面板相对于触控面板而设置，其中信号侦测层位于显示面板与感测阵列层之间；所述感测阵列层还包括：多个第一桥接线，每一第一桥接线串接两相邻的第一感测垫，以构成第一感测串列；以及多个第二桥接线，每一第二桥接线串接两相邻的第二感测垫，以构成第二感测串列。

[0013] 基于上述，本发明的触控面板及其多点触碰侦测方法以及触控显示装置通过具有信号侦测区块的信号侦测层来进一步侦测因触碰而造成的电场变化，以判断出真正的触控位置。从而，可消除触控面板多指碰触时所产生的错误感测点，以正确计算真正的碰触位置，提升定位精确度。

附图说明

[0014] 图1绘示了现有技术提供的一种触控面板。

[0015] 图2A与图2B分别为本发明的一实施例中的一种触控面板的立体示意图以及剖面示意图。

[0016] 图2C为图2A的触控面板的上视图。

[0017] 图2D为本发明一实施例提供的一种触控显示装置的剖面示意图。

[0018] 图3为图2A的触控面板中的信号侦测层的上视示意图。

[0019] 图4为本发明的一实施例中一种信号侦测层的上视示意图。

[0020] 图5为本发明的一实施例中一种信号侦测层的上视示意图。

[0021] 图6为本发明的一实施例中一种信号侦测层的上视示意图。

[0022] 图7分别为本发明的一种触控面板的多点触碰侦测方法的流程示意图。

具体实施方式

[0023] 为了使本发明的目的、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

[0024] 本发明提出一种触控面板及其多点触碰的侦测方法，其主要是在触控面板的感测阵列层上设置信号侦测层，并将信号侦测层区分为多个信号侦测区块，利用每一信号侦测区块上来侦测因触碰而造成的电场变化，经由比对信号侦测层所侦测的信号以及感测阵列层上所感测的触控点，以判断出真正触控点的位置，如此一来，可大幅地提升触控面板的判断精度，避免出现错误感测点的问题。以下将列举些许实施例搭配图式详细说明本发明的触控面板及其多点触碰的侦测方法。

[0025] 图2A与图2B分别为本发明的一实施例中的一种触控面板的立体示意图以及剖面示意图。请参照图2A与图2B，触控面板200包括：基板210、感测阵列层220以及信号侦测层230。其中，感测阵列层220设置于基板210上，感测阵列层220具有阵列排列的多个感测垫222，以达成面的感测。感测垫222包括多个沿着第一方向D1延伸的第一感测垫222A以及多个沿着第二方向D2延伸的第二感测垫222B，其中第一方向D1与第二方向D2相交，在本实施例中，第一方向D1例如是行方向，而第二方向D2例如是列方向，第一方向D1与第二方向D2在本实施例中为正交，当然，第一方向D1与第二方向D2之间的夹角也可以不为90度，视产品需求而定。特别的是，在感测阵列层220与基板210之间增设信号侦测层230，其中信号侦测层230具有多个彼此独立的信号侦测区块232，每一信号侦测区块232对应感测阵列层220中的多个感测垫222，并感应因触碰而造成的电场变化。以下将针对触控面板
200的相关构件进行说明。

[0026] 具体而言，感测阵列层220还包括：多个第一桥接线224A，每一第一桥接线224A串接两相邻的第一感测垫222A，以构成沿着行方向延伸的第一感测串列226A。另一方面，感测阵列层220还包括：多个第二桥接线224B，每一第二桥接线224B串接两相邻的第二感测垫222B，以构成沿着列延伸的第二感测串列226B。并且，如图2A的放大图所示，第一桥接线224A与第二桥接线224B相互交错，且在本实施例中，第一感测垫222A、第二感测垫222B以及第二桥接线224B是由单层透明导电层所构成，而第一桥接线224A则是利用另一导电层来跨越第二桥接线224B，并且由于第一桥接线224A与第二桥接线224B之间设置一绝缘层(未绘示)，因此即使第一桥接线224A与第二桥接线224B相互交错，也可使第一感测串列226A与第二感测串列226B彼此电性绝缘。当然，熟知此技术领域的人员也可以将第一感测垫222A、第二感测垫222B、第一桥接线224A以及第二桥接线224B的构成膜层稍作变化，例如第一感测垫222A、第二感测垫222B以及第一桥接线224A也可以由单层透明导电层所构成，而第二桥接线224B则是利用另一导电层来跨越第一桥接线224A，或者是，以有别第一感测垫222A与第二感测垫222B的二种不同导电层来分别形成第一桥接线224A与第二桥接线224B，值得一提的是，第一感测垫222A与第二感测垫222B可同为一种导电材质或不同导电材质。本发明并不限定第一感测垫222A、第二感测垫222B、第一桥接线224A以及第二桥接线224B的相对位置与构成。如此一来，第一感测垫222A与第二感测垫222B即可构成一面的感测阵列，且第一感测垫222A与第二感测垫222B为共平面，因而构成感测阵列层220，从而将使用者的触碰位置所产生的电容改变传递至控制器上。

[0027] 请继续参照图2A与图2B，触控面板200还包括：多个信号侦测线240以及控制器250，其中每一信号侦测线240分别电性连接每一信号侦测区块232，且控制器250电性连接信号侦测线240。值得一提的是，为清楚说明，图中仅示意性地标示出每一信号侦测线240分别与每一信号侦测区块232的相对电性连接关系，信号侦测线240实际的拉线位置可视需求而隐藏于各信号侦测区块232之中或适当位置，而不限定信号侦测线240必须同图2A中所示的布局型态。此外，在本实施例中，可在感测阵列层220与信号侦测层230之间设置一介电层280，以使得感测阵列层220与信号侦测层230之间彼此为电性绝缘。在实际的运作机制上，当使用者触碰感测阵列层220而使触碰处的感测垫222产生电容变化量时，信号侦测层230中对应真正触碰处的信号侦测区块232可以感应到触碰处所造成的电场变化。
接着，感测阵列层220与信号侦测层230分别将此电场变化的信号以及感测信号传递至控制器250，控制器250经由比对信号侦测层230所输出的电场变化信号以及感测阵列层220所输出的感测信号之后，以将判断触碰事件的有无。

[0028] 举例来说，图2C为本发明图2A的上视图，其中为清楚说明，一并于图2C中标示出信号侦测区块划分型态。请参照图2C，当使用者同时触碰位置A以及位置B时，信号侦测层230中对应真正触碰处的信号侦测区块232可以感应到触碰位置A以及位置B处所产生的电场变化，因此，即使感测阵列层220所感测出的触碰位置可能有位置A、位置B以及位置A’与位置B’，信号侦测层230所侦测到的电场变化信号(如信号侦测区块232a与信号侦测区块232b)可以作为感测阵列层220的感测信号的二次确认(double check)，如此一来，由于位置A’以及位置B’并未被碰触，因此位置A’以及位置B’下方的信号侦测层230并不会感应到电场变化。质言之，信号侦测层230所侦测到的信号可以辅助判断真正触控点的位置，进而解决现有触控面板200在多点触控时所产生错误感测点(Ghost point)的问题。

[0029] 当然，在实际的应用层面中，触控面板通常可搭配一显示面板而构成一触控显示装置。图2D为本发明一实施例的一种触控显示装置的剖面示意图。请参照图2D，触控面板200的基板210是位于显示面板260上而构成一触控显示装置300，其中信号侦测层230位于显示面板260与感测阵列层220之间。在一些特殊的应用层面上，显示面板260可以进一步与触控面板200电性连接，换言之，在本实施例的触控显示装置300中，显示面板260可依据触控面板200中触控点的定位位置来进行显示，因此，将本实施例的触控面板200与显示面板260一同搭配而构成触控显示装置300时，由于本实施例的触控显示装置300中的触控面板200可以解决现有触控面板100在多点触控时所产生错误感测点(Ghost point)的问题，因此显示面板260可以正确地显示使用者所欲操作的画面，避免误动作的情形发生。

[0030] 为清楚说明本发明的触控面板，下文再将以图2A所绘示的触控面板200为例，详细说明信号侦测层230的构成型态。

[0031] 图3为图2A的触控面板中的信号侦测层的上视示意图。请参照图2A与图3，本实施例中，每一信号侦测区块232实质上呈块状，每一信号侦测区块232的边缘与对应的感测垫222的边缘实质上对齐。详言之，请同时参照图2A与图3，在本实施例中，是将感测阵列层220划分为多个感测垫群组222G，且每一感测垫群组222G是由聚集在一起的感测垫222所构成，对应每一感测垫群组222G下方的信号侦测层230则被规划成一信号侦测区块232。每一信号侦测区块232包括多个信号侦测垫270，且每一信号侦测垫270大致上对应感测垫222的其中之一。举例而言，图2A与图3中所绘示的信号侦测区块232a的范围是对应于感测垫群组222Ga中的范围，信号侦测区块232a实质上呈块状，且信号侦测区块232a边缘大致上与感测垫群组222Ga中最外围的感测垫222的形状相同。

[0032] 更进一步而言，请继续参照图2A与图3，在本实施例中，每一信号侦测垫270具有一开口H，开口H的尺寸实质上等于每一感测垫222的尺寸，且信号侦测垫270实质上与感测垫222之间的间隙重叠。如图2A与图3所示，每一信号侦测垫270的开口H的对角线长例如为D，而每一感测垫222的对角线长例如为d，在本实施例中D实质上等于d。换言之，每一信号侦测垫270的尺寸实质上略大于每一感测垫222，以使得信号侦测垫270的开口H恰好暴露出其所对应的感测垫222，换言之，感测垫222是对应地设置于开口H的正上方，以使得在基板210的投影上，而感测垫222恰与开口H的区域重合。如此一来，信号侦测垫270的形状在基板210的投影方向上是对应位置于相邻感测垫222之间的间隙处，因此可以补偿光线通过感测阵列层220与信号侦测层230时产生色差的问题，有助于绘示于图2A的电容式触控面板200提供较佳的视觉效果。此外，由于信号侦测垫270具在基板210的投影上具有部分镂空区域，因此可以进一步改善触控面板200的整体透光度。

[0033] 此外，图3的作动方式如前述，不再赘述。

[0034] 并且，以下将针对本发明的信号侦测层列举几种变化型态进行说明。

[0035] 图4为本发明的一实施例中一种信号侦测层的上视示意图。请参照图4，本实施例的信号侦测层330与图3所示的信号侦测层230类似，其形状同样是实质上呈块状。惟，在本实施例中，每一信号侦测垫270为整面式并无镂空区域，且在本实施例中，每一信号侦测垫270的尺寸实质上等于每一感测垫222的尺寸。当本实施例的信号侦测层330与其它显示面板260搭配而构成如图2D的堆栈结构的触控显示装置300时，整面式的信号侦测垫270所构成的整面式信号侦测层330可以作为信号屏蔽层，有助于屏蔽来自于显示面板260(绘示于图2D)上的信号对于触控面板200的干扰，因此可以增加触控面板200的灵敏度。

[0036] 值得一提的是，设计者可依据基板使用空间、控制器的控制接脚数量、判断精细度、产品规格等需求来设计信号侦测层330上的信号侦测区块232的划分数量及形状。本发明并不用以限定信号侦测层330上的信号侦测区块232的形状与数量，当然，本领域的技术人员在参照该些实施方式之后，可在不脱离本发明的精神范围内调整相关的元件形状设计以及设置，以符合实际状况与需求。

[0037] 以下在介绍本发明的一实施例的几种信号侦测层的设计型态。

[0038] 图5为本发明的一实施例中一种信号侦测层的上视示意图。请参照图5，在本实施例的信号侦测层430中，每一信号侦测区块232实质上呈条状。详言之，信号侦测区块232彼此平行且沿着第三方向D3延伸，其中第三方向D3不同于第一方向D1与第二方向D2，在本实施例中，第三方向D3例如为沿着第一象限与第三象限的方向排列。每一信号侦测区块232的边缘与绘示于图2A中的感测阵列层220上的感测垫222的边缘实质上对齐。请参照图2与图5，换言之，在本实施例中，感测阵列层220依据条状信号侦测区块232的被划分为多个沿着第三方向D3延伸的感测垫群组222G，在本实施例中，感测垫群组222G呈条状。

[0039] 更详细而言，同前述，请同时参照图2与图5，在本实施例中，每一信号侦测垫270具有一开口H，开口H的尺寸D实质上等于每一感测垫222的尺寸d，且信号侦测垫270实质上与感测垫222之间的间隙重叠。换言之，每一信号侦测垫270的尺寸实质上略大于每一感测垫222，以使得信号侦测垫270的开口H恰好暴露出其所对应的感测垫222，换言之，感测垫222是对应地设置于开口H的正上方，以使得在基板210的投影上，而感测垫222恰与开口H的区域重合。如此一来，信号侦测垫270在基板210的投影上是对应位置于相邻感测垫222之间的间隙处，因此可以补偿光线通过感测阵列层220与信号侦测层430时产生色差的问题，有助于电容式触控面板200提供较佳的视觉效果。此外，由于信号侦测垫270具在基板的投影上具有部分镂空区域，因此可以进一步改善触控面板200的整体透光度。

[0040] 图6为本发明的一实施例中一种信号侦测层的上视示意图。请参照图6，本实施例的信号侦测层530与图5所示的信号侦测层430类似，其形状同样是实质上呈条状。惟，在本实施例中，每一信号侦测垫270为整面式并无镂空区域，且在本实施例中，每一信号侦测垫270的尺寸实质上等于每一感测垫222的尺寸。请参照图6与图2A，当本实施例的信号侦测层530与其它显示面板260(绘示于图2D)搭配时，整面式的信号侦测垫270可以作为信号屏蔽层，有助于屏蔽来自于显示面板260上的信号对于触控面板200的干扰，因此可以增加触控面板200的灵敏度。

[0041] 以下将以图2A所示的触控面板200为例，在此更提出一种触控面板200的多点触碰侦测方法，请同时参照图2A与图7，下文将一并说明。

[0042] 图7为本发明的几种触控面板的多点触碰侦测方法的流程示意图。请参照图7，其中步骤S1为以感测阵列层定位触碰位置，而步骤S2为以信号侦测层的信号侦测区块判断碰触事件的有无，步骤S1与步骤S2为独立事件，在执行上，可先执行步骤S1后再执行步骤S2，或可先执行步骤S2后再执行步骤S1，或者，步骤S1与步骤S2可同步执行。具体而言，在程序开始S0后，先执行步骤S1，依据感测阵列层220上的感测垫222的电容值变化，以定位触碰位置。接着，执行步骤S2，信号侦测层230的信号侦测区块232依据因触碰而造成的电场变化，以判断碰触事件的有无。之后，执行步骤S3，比对感测阵列层220所定位的触碰位置与信号侦测层230的判断。更具体来说，触控面板200的多点触碰侦测方法还可以进一步包括执行步骤S4A，依据比对结果将错误感测位置遮蔽。或者，触控面板200的多点触碰侦测方法还可以进一步包括执行步骤S4B，依据比对结果将真实感测位置取出。值得一提的是，上述的步骤S1与步骤S2的执行顺序也可以对调。

[0043] 当然，触控面板200的多点触碰侦测方法也可以如图7左方流程图所示。其与图7右方流程图类似，惟，上述的步骤S1与步骤S2也可以同步执行，换言之，感测阵列层与信号侦测层的信号也可以同步输出至控制器250上，本发明并不限定步骤S1、与步骤S2的执行顺序。

[0044] 综上所述，本发明的触控面板及其多点触碰侦测方法以及触控显示装置通过具有信号侦测区块的信号侦测层来进一步感应因触碰而造成的电场变化，以判断出真正的触控位置。从而，可消除触控面板多指碰触时所产生的错误感测点，以正确计算真正的碰触位置，提升定位精确度。

[0045] 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。