四针压敏电阻测试仪及其分级测试方法

摘要

一种四针压敏电阻测试仪及其分级测试方法，属于压敏电阻检测技术领域。包括处理装置和显示器，其特征在于：设置四探针测试头，四探针测试头的末端连接处理装置的输入端，处理装置的输出端连接显示器。其分级测试方法，其特征在于：包括以下步骤：1)将四探针测试头接触待测压敏电阻的电极；2)采集探针信息；3)判断探针信息的有效性；4)处理有效信息；5)显示结果。采用四探针测试头及其四针三极测试方法，可以减少测试中的对准工序，提高效率，减少人工，降低成本。并且由于减少了对准工序，避免了人工操作中的不足，使得测试更加可靠。

权利要求

1.一种四针压敏电阻测试仪，包括处理装置和显示器，其特征在于：设置四探针测试头，四探针测试头的末端连接处理装置的输入端，处理装置的输出端连接显示器；所述的四探针测试头的四根探针在同一圆周内均匀分布，相邻两根探针与圆心的连线互成90°角。

2.根据权利要求1所述的四针压敏电阻测试仪，其特征在于：所述的四探针测试头的四根探针的外端在同一平面上。

3.一种根据权利要求1所述四针压敏电阻测试仪的分级测试方法，其特征在于：包括以下步骤：

1）将四探针测试头接触待测压敏电阻的电极；

2）采集探针信息：给四根探针通电，循环测试两两探针之间的电压差，并且记录；

3）判断探针信息的有效性：将两两探针之间的电压差进行处理，确定一根无效探针和三根有效探针；

4）处理有效信息：将三根有效探针的信息，通过三极三针测试法计算；

5）显示结果。

4.根据权利要求3所述的分级测试方法，其特征在于：将两两探针之间的电压差进行处理，是指将两两探针之间的电压差进行判断和对比。

5.根据权利要求4所述的分级测试方法，其特征在于：将两两探针之间的电压差进行判断和对比，是指判断是否存在电压差为零的情况，如果有则将电压差为零的两根探针其中一根判定为无效探针，另外三根探针判定为有效探针，如果没有出现电压差为零的情况，则对比两两探针之间的电压差，将与其他三根探针电压差相等的探针判定为无效探针，另外三根探针判定为有效探针。

6.根据权利要求3所述的分级测试方法，其特征在于：将两两探针之间的电压差进行处理，是指将两两探针之间的电压差进行计算，到出任意三根探针之间的压比值，将四组压比值进行比较，将压比值最小的一组对应的三根探针作为有效探针，剩余一根作为无效探针。

说明书

四针压敏电阻测试仪及其分级测试方法

技术领域

[0001] 本发明提供一种四针压敏电阻测试仪及其分级测试方法，属于压敏电阻检测技术领域。

背景技术

[0002] 压敏电阻的三个电极均匀分布在圆周上。在压敏电阻生产企业，都要用到压敏电阻测试仪对生产的压敏电阻进行自动分级，这就涉及到一种测试方法的问题，传统的测试方法，采用三极三针测试，即用三个探针测试压敏电阻的三个电极，这就需要检测对准装置，使得压敏电阻的三个电极刚好对准三个探针，为了实现对准，必须增加光电检测和旋转装置，光电检测用于检测探头是否对准电极，旋转装置用于旋转压敏电阻芯片，使得探针能够对准电极，这样就多了一道对准工序，使得生产成本增加，并且容易出现故障。

[0003] 三极三针测试法，由于三个探针在一圆周内均匀分布，即成120℃角，在检测中会出现上图中的左边两种情况，即一种情况都落在电极之间的黑体上，另一种情况全部落在电极上，对于落在电极之间的黑体上的压敏电阻片，需要进行旋转，使探针对准电极。

发明内容

[0004] 根据以上现有技术中的不足，本发明要解决的问题是：提供一种可以去掉测试对准工序，使得生产简单，成本降低，并且测试可靠的四针压敏电阻测试仪；另外本发明还要解决该四针压敏电阻测试仪的分级测试方法。

[0005] 本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：四针压敏电阻测试仪，包括处理装置和显示器，其特征在于：设置四探针测试头，四探针测试头的末端连接处理装置的输入端，处理装置的输出端连接显示器。

[0006] 四探针测试头将检测数据输入处理装置进行计算，判断和处理，并且通过显示器显示数据，对压敏电阻进行分级。

[0007] 采用四探针测试头可以减少测试中的对准工序，提高效率，减少人工，降低成本。并且由于减少了对准工序，避免了人工操作中的不足，使得测试更加可靠。

[0008] 其中优选方案是：

[0009] 所述的四探针测试头的四根探针的外端在同一平面上。方便探针与压敏电阻的电极相接触。

[0010] 所述的四探针测试头的四根探针在同一圆周内均匀分布，相邻两根探针与圆心的连线互成90°角。四跟探针与压敏电阻的三个电极相适应，配合完成测试。

[0011] 一种四针压敏电阻测试仪分级测试方法，其特征在于：包括以下步骤：

[0012] 1)将四探针测试头接触待测压敏电阻的电极；

[0013] 2)采集探针信息：给四根探针通电，循环测试两两探针之间的电压差，并且记录；

[0014] 3)判断探针信息的有效性：将两两探针之间的电压差进行处理，确定一根无效探针和三根有效探针；

[0015] 4)处理有效信息：将三根有效探针的信息，通过三极三针测试法计算；

[0016] 5)显示结果。

[0017] 其中：

[0018] 有效探针是指通过该探针采集的数据用于三极三针测试法计算；无效探针是指该探针采集的数据不作为三极三针测试法计算。

[0019] 将两两探针之间的电压差进行处理，是指将两两探针之间的电压差进行判断和对比。提供一种可是实现的确定无效探针的判断方法：将两两探针之间的电压差进行判断和对比，是指判断是否存在电压差为零的情况，如果有则将电压差为零的两根探针其中一根判定为无效探针，另外三根探针判定为有效探针，如果没有出现电压差为零的情况，则对比两两探针之间的电压差，将与其他三根探针电压差相等的探针判定为无效探针，另外三根探针判定为有效探针。该运算简单，执行快速，准确率高。

[0020] 将两两探针之间的电压差进行处理，还可以指将两两探针之间的电压差进行计算，到出任意三根探针之间的压比值，将四组压比值进行比较，将压比值最小的一组对应的三根探针作为有效探针，剩余一根作为无效探针。这是另外一种方法。

[0021] 本发明四针压敏电阻测试仪所具有的有益效果是：通过设置四探针测试头，四探针测试头的末端连接处理装置的输入端，处理装置的输出端连接显示器，四探针测试头将检测数据输入处理装置进行计算，判断和处理，并且通过显示器显示数据，对压敏电阻进行分级。采用四探针测试头可以减少测试中的对准工序，提高效率，减少人工，降低成本。并且由于减少了对准工序，避免了人工操作中的不足，使得测试更加可靠。

[0022] 本发明的分级测试方法所具有的有益效果是：通过完成以下步骤：1)将四探针测试头接触待测压敏电阻的电极；2)采集探针信息：给四根探针通电，循环测试两两探针之间的电压差，并且记录；3)判断探针信息的有效性：将两两探针之间的电压差进行处理，确定一根无效探针和三根有效探针；4)处理有效信息：将三根有效探针的信息，通过三极三针测试法计算；5)显示结果，可以完成四根探针对压敏电阻三极的探测分级，运算简单，执行快速，准确率高。由于采用三极四针测量方法，省掉了对准工序，使得生产测试成本降低，减少了故障环节，并且测试可靠，给企业带来了更高的经济效益。

附图说明

[0023] 图1为本发明的结构示意图；

[0024] 图2为本发明的探针探测点1分布示意图；

[0025] 图3为本发明的探针探测点2分布示意图；

[0026] 其中：1、探针 2、测试头 3、处理装置 4、显示器 5、电极 6、绝缘体。

具体实施方式

[0027] 下面结合附图对本发明的实施例做进一步描述：

[0028] 实施例1：

[0029] 如图1所示，设置四探针测试头2，四探针测试头2的末端连接处理装置3的输入端，处理装置3的输出端连接显示器4。四探针测试头2的四根探针1的顶端在同一平面上。四探针测试头2的四根探针1在同一圆周内均匀分布，相邻两根探针1与圆心的连线互成90°角。

[0030] 四探针测试头将检测数据输入处理装置进行计算，判断和处理，并且通过显示器显示数据，对压敏电阻进行分级。

[0031] 如图2所示，四探针测试头接触待测压敏电阻的电极时，会出现这两种情况：即一种情况有一个探针1落在电极5之间的绝缘体6上，其它三个探针落在三个电极上，这样根据探针之间的电压差，可以判断哪个探针落在两电极之间的黑体上，以另外3个探针的测量数据用三极三针法对压敏电阻进行分级；

[0032] 如图3所示，另一种情况有两个探针1落在同一个电极5上，另两个探针分别落在其它两个电极5上，根据测量的探针之间的电压差，可以判断哪两个探针落在同一个电极上，落在同一个电极上的两个探针的测量数据作为一个数据，与其它两个探针测量的数据组成三极三针法，重新进行计算，这样就省去了光电检测和旋转机构，同样实现了三极三针测试。

[0033] 四针压敏电阻测试仪分级测试方法，为了便于说明将四根探针分别定义为A、B、C、D探针。主要步骤：

[0034] 1)将四探针测试头接触待测压敏电阻的电极；

[0035] 2)采集探针信息：给四根探针1毫安电流，循环测试探针A-探针B、探针B-探针C、探针C-探针D、探针D-探针A、探针C-探针A、探针B-探针D之间的电压并记录。

[0036] 3)判断探针信息的有效性：将两两探针之间的电压差进行判断和对比，是指判断是否存在电压差为零的情况，如果有则将电压差为零的两根探针其中一根判定为无效探针，另外三根探针判定为有效探针，如果没有出现电压差为零的情况，则对比两两探针之间的电压差，将与其他三根探针电压差相等的探针判定为无效探针，另外三根探针判定为有效探针。

[0037] 4)处理有效信息：将三根有效探针的信息，通过三极三针测试法计算；

[0038] 5)通过显示器显示结果，对压敏电阻进行分级。

[0039] 实施例2：

[0040] 其余步骤不变，确定有效探针时，将两两探针之间的电压差进行计算，到出任意三根探针之间的压比值，即，将四组压比值进行比较，将压比值最小的一组对应的三根探针作为有效探针，剩余一根作为无效探针。

[0041] 即分别计算第一组数据探针A-探针C-探针B之间的高电压、低电压、极差和极性差以及压比值，第二组数据探针A-探针C-探针D之间的高电压、低电压、极差和极性差以及压比值，第三组数据探针B-探针D-探针A之间的高电压、低电压、极差和极性差以及压比值，第四组数据探针B-探针D-探针C之间的高电压、低电压、极差和极性差以及压比值。

[0042] 压比值＝高电压*1000/(低电压+1)。

[0043] 既可以通过处理装置测得高电压、低电压，计算出极差、极性差、压比值，也可以直接测量压比值。

[0044] 本发明中提及的处理装置和显示器，以及三极三针测试法测试压敏电阻进行分级为普通现有技术，其实设置和使用为普通现有技术，为本行业技术人员所掌握。