本发明涉及一种带线路转换板的晶体振荡器测试夹具，包括夹具、线路转换板。夹具包括夹具底座、夹具盖以及夹具底座内多条金属导电针，夹具盖一端与夹具底座铰接，夹具盖和夹具底座另一端通过锁紧机构连接；夹具底座的上部设有凹槽工位，金属导电针上端穿过夹具底座从凹槽工位中伸出，金属导电针的下端穿过线路转接板并焊接固定在线路转接板上；夹具盖的扣合面设有半圆形凸起。内含弹簧的半圆头金属导电针，增大接触力度，避免因频繁的大范围的温度变化造成金属形变而带来的接触电阻过大或电路断路，提高了电连接的可靠性。不同规格的夹具，其金属导电针的间距规格也不同，线路转换板将不同间距规格的金属导电针转换成生产测试板上定义的统一管脚规格，线路转换板上的阻抗匹配电路，提高了测量信号的准确度。
1.一种带线路转换板的晶体振荡器测试夹具，其特征在于: 包括夹具（1）、设置在夹具（1）下方的线路转换板（2）及连接夹具（1）和线路转换板（2）的多根金属导电针（3），其中，所述夹具（1）包括夹具底座（4）和夹具盖（5），所述夹具盖（5）一端与夹具底座（4）活动铰接成活叶式开合设计，且铰接处装有联轴弹簧（6），夹具盖（5）和夹具底座（4）另一端通过锁紧机构连接；所述夹具底座（4）的上部设有一个用于放置待测贴片式晶体振荡器（8）的凹槽工位（45），所述金属导电针（3）埋设在夹具底座（4）中，其上端穿过夹具底座（4）从凹槽工位（45）中伸出，金属导电针（3）排列方式与其对应的贴片式晶体振荡器（8）输入输出端相对应，所述金属导电针（3）的下端穿过线路转接板（2）并焊接固定在线路转接板（2）上；所述夹具盖（5）的扣合面对应凹槽工位（45）位置设有一个用于顶压贴片式晶体振荡器（8）或其他IC电子元器件的凸起（52）；
所述夹具底座（4）与夹具盖（5）的对合面中部纵向设有凸台（41），所述凹槽工位（45）设置在凸台（41）中部，且凹槽工位（45）设置为倒梯形，凹槽工位（45）沿着横向和纵向分别设置有横向通道（42）和纵向通道（43）；夹具盖（5）对应凸台（41）位置设有与凸台（41）适配的凹槽（51），所述凸起（52）设置在凹槽（51）中部对应凹槽工位（45）位置且与凹槽工位（45）适配；
所述金属导电针（3）为4个以上，直立排列固定在倒梯形凹槽工位（45）内，金属导电针（3）伸至凹槽工位（45）的部分为内含弹簧的弹性伸缩端（31），弹性伸缩端（31）的顶部设为半圆头（32），弹性伸缩端（31）作为夹具（1）与贴片式晶体振荡器（8）的接触引脚，起供电及信号传输连接作用；金属导电针（3）的弹性伸缩端（31）与待检测的贴片式晶体振荡器（8）的供电及信号传输引脚以压触方式连接；
所述锁紧机构为弹性拨片，所述弹性拨片包括拨片本体（71）、设置在拨片本体（71）下部的钩接端（72）以及设置在拨片本体（71）上部的抵紧端（73），所述弹性拨片的钩接端（72）垂直于夹具底座（4）和夹具盖（5）的扣合面埋设在夹具底座（4）里，所述弹性拨片上部的抵紧端（73）垂直于夹具底座（4）和夹具盖（5）的扣合面向上伸出，所述抵紧端（73）为拨片本体（71）的顶部斜向下延伸并在延伸末端设置的圆弧弹圈，所述圆弧弹圈最低点与夹具底座（4）的垂直距离略小于夹具盖（5）在该处的厚度尺寸，夹具底座（4）上对应弹性拨片拨拉方向的位置设为斜面（44），所述夹具盖（5）与夹具底座（4）合上时，弹性拨片的抵紧端（73）压紧夹具盖（5），所述弹性拨片拨开后，夹具盖（5）在联轴弹簧（6）回复力的作用下自动弹开。
2.根据权利要求1所述的测试夹具, 其特征在于: 所述夹具底座（4）和夹具盖（5）的铰接端外侧分别设有限位斜面（46、54），限位斜面（46、54）的角度决定夹具底座（4）和夹具盖（5）开合的角度。
3.根据权利要求1所述的测试夹具, 其特征在于: 不同型号规格的贴片式晶体振荡器（8）用不同规格的夹具（1），夹具（1）的倒梯形凹槽工位（45）与其对应的贴片式晶体振荡器（8）外型尺寸相适配。
4.根据权利要求2所述的测试夹具, 其特征在于: 所述凸起（52）中部设有穿过夹具盖（5）的观察孔（53）。
5.根据权利要求4所述的测试夹具, 其特征在于: 所述凸起（52）的下部外边缘设为圆角。
一种带线路转换板的晶体振荡器测试夹具
技术领域
[0001] 本发明涉及电子元器件生产技术领域，具体是一种用于贴片式晶体振荡器生产过程中的带线路转换板的测试夹具。
背景技术
[0002] 晶体振荡器是很多电子产品不可或缺的部件, 从电子手表到计算机，从手机到卫星、雷达。晶体振荡器就像电源一样无处不在，有人认为它们的重要性等同于电源。晶体振荡器的主要作用是为系统提供基本的时钟信号，如果晶体振荡器不能正常工作，各元件之间就没有办法协调工作，从而导致错误频发，甚至引致整个系统崩溃、停机，所以晶体振荡器的稳定性十分重要。
[0003] 晶体振荡器在生产过程中需要在-50℃～125℃的温度环境中反复测试。测试结果要求十分精确。在测试过程中，接线端子的氧化或夹持力度的变化都会造成接触电阻变化，而影响测量结果，甚至电源线或测量信号线的摆放位置变化都会引起寄生电感或寄生电容变化，而带来测量误差。贴片式晶体振荡器在大批量生产过程中，生产测试板作为贴片式晶体振荡器的承载平台，并实现贴片式晶体振荡器与生产测试系统间的数据通讯、信号传输，因此固定贴片式晶体振荡器的夹具极为重要。
[0004] 为了提高生产效率，往往在一个可变温度的测试环境中，会将不同型号规格，但性能指标接近的产品，混和成批次生产，甚至一个生产测试板上搭载若干个型号的晶体振荡器。因此需要满足大批量生产测试的同时，尽可能的消除系统测量误差。而现有的夹具都只能满足单个或批量顺序测试，如：中国专利CN101576575A揭示的技术,无法满足在同一可变温度的测试环境中、大批量、高精度、高可靠性的生产测试。
发明内容
[0005] 本发明的目的在于针对上述存在的问题和不足，提供一种带线路转换板的晶体振荡器测试夹具，在生产贴片式晶体振荡器的过程中，能牢靠的将贴片式晶体振荡器固定在生产测试板上，实现在同一可变温度的生产测试环境中、大批量、高精度、高可靠性的生产测试。
[0006] 本发明的上述目的是通过以下技术方案予以实现：
[0007] 一种带线路转换板的晶体振荡器测试夹具，其结构包括夹具、设置在夹具下方的线路转换板及连接夹具和线路转换板的多根金属导电针，其中，夹具包括夹具底座和夹具盖，夹具盖一端与夹具底座活动铰接成活叶式开合设计，且铰接处装有联轴弹簧，夹具盖和夹具底座另一端通过锁紧机构连接；夹具底座的上部设有一个用于放置待测贴片式晶体振荡器的凹槽工位，所述金属导电针埋设在夹具底座中，其上端穿过夹具底座从凹槽工位中伸出，金属导电针排列方式与其对应的贴片式晶体振荡器或其他IC电子元器件输入输出端相对应，所述金属导电针的下端穿过线路转接板并焊接固定在线路转接板上；所述夹具盖的扣合面对应凹槽工位位置设有一个用于顶压贴片式晶体振荡器的半圆形凸起。凸起的半圆形结构使得夹具盖合上的过程中，贴片式晶体振荡器的顶端受力均衡。
[0008] 进一步地，夹具底座与夹具盖的对合面中部纵向设有凸台，凹槽工位设置在凸台中部，且凹槽工位设置为倒梯形，凹槽工位沿着横向和纵向分别设置有横向通道和纵向通道；夹具盖对应凸台位置设有与凸台适配的凹槽，凸起设置在凹槽中部对应凹槽工位位置且与凹槽工位适配。凹槽工位的倒梯形结构起导向作用，在放入贴片式晶体振荡器，合上夹具盖时，贴片式晶体振荡器在夹具盖的压力下，由斜面引导至正确的位置。
[0009] 上述金属导电针设置为4个或4个以上，直立排列固定在倒梯形凹槽工位内，金属导电针伸至凹槽工位的部分为内含弹簧的弹性伸缩端，弹性伸缩端的顶部设为半圆头，弹性伸缩端作为夹具与贴片式晶体振荡器的引脚，起供电及信号传输连接作用；金属导电针的弹性伸缩端与待检测的贴片式晶体振荡器的供电及信号传输引脚以压触方式连接。
[0010] 锁紧机构可以有多种结构形式，如锁紧机构可以采用弹性拨片，弹性拨片包括拨片本体、设置在拨片本体下部的钩接端以及设置在拨片本体上部的抵紧端，弹性拨片的钩接端垂直于夹具底座和夹具盖的扣合面埋设在夹具底座里，弹性拨片上部的抵紧端垂直于夹具底座和夹具盖的扣合面向上伸出，抵紧端为拨片本体的顶部斜向下延伸并在延伸末端设置的圆弧弹圈，圆弧弹圈最低点与夹具底座的垂直距离略小于夹具盖在该处的厚度尺寸，使得夹具盖合上时能被圆弧弹圈顶紧。夹具底座上对应弹性拨片拨拉方向的位置设为斜面空隙，当需要夹具盖与夹具底座合上时，拨拉弹性拨片使其抵紧端压紧夹具盖，当需要打开夹具盖时，拨开弹性拨片，夹具盖在联轴弹簧回复力的作用下自动弹开。锁紧机构还可以采用钩扣机构或其他锁扣机构。
[0011] 进一步地，夹具底座和夹具盖的铰接端外侧设有限位斜面，限位斜面的角度决定夹具底座和夹具盖开合的角度。不同型号规格的贴片式晶体振荡器用不同规格的夹具，夹具的倒梯形凹槽工位与其对应的贴片式晶体振荡器外型尺寸相适配。
[0012] 进一步地，凸起中部设有穿过夹具盖的观察孔。凸起的下部外边缘设为圆角。
[0013] 本发明由于使用内含弹簧的半圆头金属导电针，增大了接触力度，避免了因过高的温度变化造成金属形变而带来的接触电阻过大或电路断路，金属导电针的弹性伸缩端顶端的半圆形结构提高了电连接的可靠性。线路转换板将不同间距规格夹具的金属导电针转换成生产测试板上定义的统一管脚规格，同时线路转换板上的阻抗匹配电路，提高了测量信号的准确度。由于夹具与线路转换板在生产测试板上是直插式连接，减少了因导线引起寄生电感或寄生电容，减少了线路干扰提高了测量信号的准确度，也避免了众多导线带来的庞大体积。在实际应用中，一个生产测试板上通过本发明的夹具与线路转换板可同时搭载几十个甚至两三百个贴片式晶体振荡器进行测试，从而大大提高了劳动生产率。
[0014] 下面结合附图对本发明作进一步的说明。
附图说明
[0015] 图1为本发明生产测试工作原理结构图；
[0016] 图2为本发明测试夹具合上时的结构示意图；
[0017] 图3为本发明测试夹具打开时的结构示意图；
[0018] 图4为本发明夹具盖仰视时的结构示意图
[0019] 图5为本发明夹具底座图俯视的结构示意。
[0020] 【主要组件符号说明】
[0021] 1-夹具， 2-线路转换板， 3-金属导电针，[0022] 31-弹性伸缩端， 32-半圆头， 4-夹具底座，
[0023] 41-凸台， 42-横向通道， 43-纵向通道，
[0024] 44-斜面， 45-凹槽工位， 46/54-限位斜面，[0025] 5-夹具盖， 51-凹槽， 52-凸起，
[0026] 53-观察孔， 6-联轴弹簧， 71-拨片本体，
[0027] 72-钩接端， 73-抵紧端， 8-贴片式晶体振荡器。
具体实施方式
[0028] 如图1-5所示，本发明为一种带线路转换板的晶体振荡器测试夹具，其结构包括夹具1、设置在夹具1下方的线路转换板2及连接夹具1和线路转换板2的多根金属导电针3，其中，夹具1包括夹具底座4和夹具盖5，夹具盖5一端与夹具底座4活动铰接成活叶式开合设计，且铰接处装有联轴弹簧6，夹具盖5和夹具底座4另一端通过锁紧机构连接；夹具底座4的上部设有一个用于放置待测贴片式晶体振荡器8的凹槽工位45，金属导电针3埋设在夹具底座4中，其上端穿过夹具底座4从凹槽工位45中伸出，金属导电针3排列方式与其对应的贴片式晶体振荡器8输入输出端相对应，金属导电针3的下端穿过线路转接板2并焊接固定在线路转接板2上；夹具盖5的扣合面对应凹槽工位45位置设有一个用于顶压贴片式晶体振荡器8的凸起52。凸起52中部设有穿过夹具盖5的观察孔53，使凸起
52形成框形。凸起52的下部外边缘设为圆角，也可以是直角。本发明优选实施例凸起52的下部外边缘设为圆角。夹具底座4和夹具盖5的铰接端外侧分别设有限位斜面46、54，限位斜面46、54的角度决定夹具底座4和夹具盖5开合的角度。
[0029] 如图4、5所示，夹具底座4与夹具盖5的对合面中部纵向设有凸台41，凹槽工位45设置在凸台41中部，且凹槽工位45设置为倒梯形，凹槽工位45沿着横向和纵向分别设置有横向通道42和纵向通道43；夹具盖5对应凸台41位置设有与凸台41适配的凹槽51，凸起52设置在凹槽51中部对应凹槽工位45位置且与凹槽工位45适配。凹槽工位45的倒梯形结构起导向作用，在放入贴片式晶体振荡器，合上夹具盖时，贴片式晶体振荡器8在夹具盖的压力下，由斜面引导至正确的位置。
[0030] 金属导电针3为4个或4个以上，通常为4、6、8、10、12个，如图1-3、5所示，本发明优选实施例金属导电针3采用8个，金属导电针3直立排列固定在倒梯形凹槽工位45内，金属导电针3伸至凹槽工位45的部分为内含弹簧的弹性伸缩端31，弹性伸缩端31的顶部设为半圆头32，弹性伸缩端31作为夹具1与贴片式晶体振荡器8的接触引脚，起供电及信号传输连接作用；金属导电针3的弹性伸缩端31与待检测的贴片式晶体振荡器8的供电及信号传输引脚以压触方式连接。
[0031] 如图1-3所示，本发明优选实施例锁紧机构采用弹性拨片，弹性拨片包括拨片本体71、设置在拨片本体71下部的钩接端72以及设置在拨片本体71上部的抵紧端73，弹性拨片的钩接端72垂直于夹具底座4和夹具盖5的扣合面埋设在夹具底座4里，所述弹性拨片上部的抵紧端73垂直于夹具底座4和夹具盖5的扣合面向上伸出，抵紧端73为拨片本体71的顶部斜向下延伸并在延伸末端设置的圆弧弹圈，圆弧弹圈最低点与夹具底座4的垂直距离略小于夹具盖5在该处的厚度尺寸，使得夹具盖合上时能被圆弧弹圈顶紧。夹具底座4上对应弹性拨片拨拉方向的位置设为斜面44，夹具盖5与夹具底座4合上时，弹性拨片的抵紧端73压紧夹具盖5，弹性拨片拨开后，夹具盖5在联轴弹簧6回复力的作用下自动弹开。锁紧机构还可以采用钩扣机构或其他锁扣机构。
[0032] 本发明实施时，不同型号规格的贴片式晶体振荡器8采用不同规格的夹具1，夹具1的倒梯形凹槽工位45与其对应的贴片式晶体振荡器8外型尺寸相适配。
[0033] 上述实施例为本发明较佳的实施方式，但本发明的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本发明的保护范围之内。
