显示装置

摘要

本发明揭露一种显示装置包含背光模块、面板模块及多个双面胶带。背光模块包含框架。框架具有承载面。面板模块包含玻璃基板及多个芯片。玻璃基板设置于承载面上。玻璃基板的侧边具有接合区。芯片设置于接合区之上。芯片与承载面分别位于玻璃基板的两相对侧。双面胶带设置于承载面与接合区之间。每一双面胶带对齐两相邻芯片之间的间隔。

权利要求

1.一种显示装置，其特征在于，包含：

一背光模块，包含一框架，该框架具有一承载面；

一面板模块，包含一玻璃基板以及多个芯片，该玻璃基板设置于该承载面上，该玻璃基板的一侧边具有一接合区，这些芯片设置于该接合区之上，其中这些芯片与该承载面分别位于该玻璃基板的两相对侧；以及多个双面胶带，设置于该承载面与该接合区之间，并且每一这些双面胶带对齐两相邻这些芯片之间的一间隔。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，每一这些双面胶带不与两相邻这些芯片于该承载面上的垂直投影面重叠。

3.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，这些芯片沿一排列方向进行排列，每一这些双面胶带于该排列方向上的长度为在该排列方向上的对应的该间隔的1/4～1倍。

4.根据权利要求3所述的显示装置，其特征在于，每一这些双面胶带于该排列方向上的长度为对应的该间隔于该排列方向上的宽度的1/2～3/4倍。

5.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，每一这些双面胶带与两相邻这些芯片于该承载面上的垂直投影面部分地重叠。

6.根据权利要求5所述的显示装置，其特征在于，这些芯片沿一排列方向进行排列，每一这些双面胶带具有两重叠部，分别对应两相邻这些芯片，并且每一这些重叠部于该排列方向上的长度小于对应的该芯片于该排列方向上的长度的1/3倍～1/6倍。

7.根据权利要求6所述的显示装置，其特征在于，每一这些重叠部于该排列方向上的长度为对应的该芯片于该排列方向上的长度的1/6倍。

8.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，该玻璃基板为一薄膜晶体管阵列基板。

说明书

显示装置

技术领域

[0001] 本发明是有关于一种显示装置。

背景技术

[0002] 近年来，由于电子、信息工业的迅速发展，其相关的产品亦日益精密。就目前个人电脑领域观之，除了寻求更高速、运算能力更强的计算功能的运算单元和各式各样周边设备的配合来满足使用者需求外，针对轻薄短小的可携式电脑亦为业界发展的重点领域。以液晶显示器为例，其具有高画质、体积小、重量轻、低电压驱动、低消耗功率及应用范围广等优点，故广泛地应用于可携式电视、移动电话、摄录放影机、笔记型电脑、桌上型显示器等消费性电子产品中，成为显示器的主流。

[0003] 随着人们对显示装置的厚度要求有越来越薄的趋势，因此显示装置内的各主要元件(例如，面板模块、背光模块…等)也必须越做越薄。为满足这项要求，亦有考量直接将液晶显示器内部各元件尽可能做的更薄。举例来说，现有采用超视角高清晰(Advanced Hyper-Viewing Angle，AHVA)显示技术的平面内切换(In Plane Switching，IPS)液晶显示器逐渐采用薄型的玻璃基板(厚度未达0.5mm)的机型。

[0004] 在显示装置的玻璃覆晶构装(Chip-On-Glass，COG)制程中，为了使背光模块的框架与面板模块的玻璃基板相互固定，背光模块的框架与面板模块的玻璃基板之间通常会以整条双面胶带粘固。整条双面胶带粘固于玻璃基板的位置与芯片设置于玻璃基板上的位置分别位于玻璃基板的两相对侧，且相互对齐。

[0005] 然而，厚度较薄的玻璃基板因为其结构较弱，容易因为其本身重量或玻璃覆晶构装制程中双面胶带的粘附力等因素而受到局部的应力影响，且玻璃基板与芯片具有不同的胀缩系数，造成玻璃基板挠曲，进而使玻璃基板上对应于芯片的左上角或右上角的位置产生漏光现象，导致显示装置在显示画面时出现亮度不均匀的区块(亦即，COG mura)。此外，以此种玻璃基板构成的显示装置在遇到不预期的冲击时，也会造成端部破裂、缺口或发生玻璃基板整体断裂的情形。虽亦有考量使用树脂制的薄膜来代替玻璃基板的方案，然因受限于成膜温度等的限制，实用上并不可行。

[0006] 因此，发展出可降低玻璃基板的挠曲程度的组装技术，是此业界必须刻不容缓投入探讨与研究的课题。

发明内容

[0007] 为解决已知技术的问题，本发明的一技术方案是一种显示装置，其主要是于背光模块的框架的承载面上贴附分段式的双面胶带。并且，在面板模块的薄膜晶体管阵列基板固定至框架时，本发明是使双面胶带对齐薄膜晶体管阵列基板上的芯片之间的间隔(亦即，取消正对芯片位置的双面胶带)，借以有效改善薄膜晶体管阵列基板上对应于芯片的左上角或右上角的位置所产生的漏光现象，并尽可能避免显示装置在显示画面时出现亮度不均匀的区块。

[0008] 根据本发明一实施方式，一种显示装置包含背光模块、面板模块及多个双面胶带。背光模块包含框架。框架具有承载面。面板模块包含玻璃基板及多个芯片。玻璃基板设置于承载面上。玻璃基板的侧边具有接合区。芯片设置于接合区之上。芯片与承载面分别位于玻璃基板的两相对侧。双面胶带设置于承载面与接合区之间。每一双面胶带对齐两相邻芯片之间的间隔。

[0009] 于本发明的一实施例中，上述的每一双面胶带不与芯片于承载面上的垂直投影面重叠。于本发明的一实施例中，上述的芯片沿排列方向进行排列。每一双面胶带于排列方向上的长度为对应的间隔于排列方向上的宽度的1/4～1倍。

[0010] 于本发明的一实施例中，上述的每一双面胶带于排列方向上的长度为对应的间隔于排列方向上的宽度的1/2～3/4倍。

[0011] 于本发明的一实施例中，上述的每一双面胶带与两相邻芯片于承载面上的垂直投影面部分地重叠。于本发明的一实施例中，上述的芯片沿排列方向进行排列。每一双面胶带具有两重叠部，分别对应两相邻芯片。每一重叠部于排列方向上的长度小于对应的芯片于排列方向上的长度的1/3倍～1/6倍。

[0012] 于本发明的一实施例中，上述的每一重叠部于排列方向上的长度为对应的芯片于排列方向上的长度的1/6倍。

[0013] 于本发明的一实施例中，上述的玻璃基板为薄膜晶体管阵列基板。

[0014] 由以上对于本发明的具体实施例的详述，可以明显地看出，本发明的显示装置主要是于背光模块的框架的承载面上贴附分段式的双面胶带。并且，在面板模块的薄膜晶体管阵列基板固定至框架时，本发明是使双面胶带对齐薄膜晶体管阵列基板上的芯片之间的间隔(亦即，取消正对芯片位置的双面胶带)，借以有效改善薄膜晶体管阵列基板上对应于芯片的左上角或右上角的位置所产生的漏光现象，并尽可能避免显示装置在显示画面时出现亮度不均匀的区块。进一步来说，上述薄膜晶体管阵列基板上对应于芯片的左上角或右上角的位置产生漏光现象，主要是因为在面板模块进行芯片设置至薄膜晶体管阵列基板的接合区之上的模块前段制程之后，两者之间的局部应力使得薄膜晶体管阵列基板的接合区挠曲所造成，进而导致液晶受应力影响而改变旋转方向而使显示装置在显示画面时出现亮度不均匀的区块。本发明将双面胶带设置于框架的承载面上并对齐薄膜晶体管阵列基板上的芯片之间的间隔的作法，由于可减小薄膜晶体管阵列基板翘曲程度，因此可减轻薄膜晶体管阵列基板上对应于芯片的左上角或右上角的位置所产生的漏光现象，并尽可能避免显示装置在显示画面时出现亮度不均匀的区块。此外，上述所产生亮度不均匀的区块与分段式的双面胶带的长度有关。利用判别亮度不均匀的区块的规格尺度并将其量化得到一JND值，未检测到亮度不均匀的区块者的JND值是小于1.8，依照检测到亮度不均匀的区块的程度的加重，JND值逐步递增。本发明通过将双面胶带的长度适当地缩减的作法，可有效降低JND值，且在面板模块的各个制程所测得的JND值的增量值亦会降低。

附图说明

[0015] 图1为绘示依照本发明一实施例的显示装置的剖面示意图；

[0016] 图2A为绘示图1中的薄膜晶体管阵列基板与彩色滤光片阵列基板的局部立体图；

[0017] 图2B为绘示图2A中的薄膜晶体管阵列基板与彩色滤光片阵列基板的上视图；

[0018] 图3为绘示图1中的框架、薄膜晶体管阵列基板与彩色滤光片阵列基板的立体分解图；

[0019] 图4为测量接合区分别采用分段双面胶带与整条双面胶带于面板模块与背光模块组装的不同制程阶段中量化显示装置在显示画面时出现亮度不均匀的区块的JND值对比图；

[0020] 图5为绘示接合区分别采用分段双面胶带与整条双面胶带进行粘合后测量接合区于不同位置的翘曲度曲线图；

[0021] 图6A为绘示依照本发明一实施例的框架与接合区的局部立体分解图；

[0022] 图6B为绘示图6A中的框架与接合区的侧视图；

[0023] 图7为绘示接合区分别采用不与两相邻芯片于承载面上的垂直投影面重叠的不同长度的双面胶带于面板模块与背光模块组装的不同制程阶段量化显示装置在显示画面时出现亮度不均匀的区块的JND值对比图；

[0024] 图8A为绘示依照本发明一实施例的框架与接合区的局部立体分解图；

[0025] 图8B为绘示图8A中的框架与接合区的侧视图；

[0026] 图9为绘示接合区分别采用与两相邻芯片于承载面上的垂直投影面部分地重叠的不同长度的双面胶带于面板模块与背光模块组装的不同制程阶段量化显示装置在显示画面时出现亮度不均匀的区块的JND值对比图。

[0027] 【主要元件符号说明】

[0028] 1：显示装置

[0029] 10：背光模块

[0030] 100：光源

[0031] 102：导光板

[0032] 104：反射片

[0033] 106：电路板

[0034] 106a：背胶

[0035] 108：扩散片

[0036] 110：棱镜层

[0037] 112：光学膜片

[0038] 114：背板

[0039] 116：框架

[0040] 116a：承载面

[0041] 12：面板模块

[0042] 120：薄膜晶体管阵列基板

[0043] 120a：接合区

[0044] 122：彩色滤光片阵列基板

[0045] 124：上偏光片

[0046] 126：下偏光片

[0047] 128：芯片

[0048] 14：双面胶带

[0049] 140：重叠部

[0050] D：排列方向

[0051] G：间隔

具体实施方式

[0052] 以下将以附图揭露本发明的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本发明。也就是说，在本发明部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化附图起见，一些已知惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式绘示。

[0053] 本发明的一技术方案是一种显示装置。更具体地说，其主要是于背光模块的框架的承载面上贴附分段式的双面胶带。并且，在面板模块的薄膜晶体管阵列基板固定至框架时，本发明是使双面胶带对齐薄膜晶体管阵列基板上的芯片之间的间隔，借以有效改善薄膜晶体管阵列基板上对应于芯片的左上角或右上角的位置所产生的漏光现象，并尽可能避免显示装置在显示画面时出现亮度不均匀的区块。此外，上述漏光现象与分段式的双面胶带的长度有关。利用判别亮度不均匀的区块的规格尺度并将其量化得到一JND(Just Noticeable Differences，临界可视失真)值，未检测到亮度不均匀的区块者的JND值是小于1.8，依照检测到亮度不均匀的区块的程度的加重，JND值逐步递增。本发明通过将双面胶带的长度适当地缩减的作法，可有效降低JND值，且在面板模块的各个制程所测得的JND值的增量值亦会降低。

[0054] 请参照图1。图1为绘示依照本发明一实施例的显示装置1的剖面示意图。

[0055] 应用本发明的显示装置1的电子装置可以是可携式电脑装置(例如，笔记型电脑、平板电脑...等)或是手持式电子装置(例如，PDA、手机、游戏机...等)，但并不以此为限。换言的，应用本发明的显示装置1的电子装置可以是任何具有显示功能的电子产品，只要对于降低其玻璃基板的挠曲程度以减轻漏光现象有需求，皆可应用本发明的概念导入显示装置1的设计中。以下将进行本发明的实施例的详述。

[0056] 如图1所示，于本实施例中，本发明的显示装置1主要包含有背光模块10以及面板模块12。显示装置1的背光模块10至少包含发光源100、导光板102、反射片104、电路板106、扩散片108、棱镜层110、光学膜片112、背板114以及框架116。背光模块10的框架116以其外缘组合至背板114的内壁。背光模块10的框架116的边缘承载于背板114上，并且背板114环绕于面板模块12外。背光模块10的反射片104承载于背板114上，并且背光模块10的导光板102设置于反射片104上。背光模块10的发光源100设置于背板114上并邻近反射片104的侧边。

[0057] 于本实施例中，背光模块10的发光源100为发光二极体(LED)，但并不以此为限。于另一实施例中，背光模块10的发光源100亦可为冷阴极管(Cold Cathode Fluorescent Lamp，CCFL)。背光模块10的电路板106与发光源100电性连接，并通过背胶106a贴合于导光板102上。于一实施例中，背光模块10的电路板106可为软性电路板，但并不限于此。
背光模块10的扩散片108、棱镜层110以及光学膜片112依序设置于导光板102上，但本发明不以此为限，亦可任意增加或减少光学膜片。

[0058] 显示装置1的面板模块12的边缘承载于框架116上。显示装置1的面板模块12包含薄膜晶体管阵列基板120、彩色滤光片阵列基板122、上偏光片124以及下偏光片126。面板模块12的薄膜晶体管阵列基板120与彩色滤光片阵列基板122可由玻璃基板所制成。
面板模块12的彩色滤光片阵列基板122与薄膜晶体管阵列基板120相互粘合。面板模块
12的上偏光片124粘合至彩色滤光片阵列基板122上方。面板模块12的下偏光片126粘合至薄膜晶体管阵列基板120的下方。借此，背光模块10的发光源100即可发射光线进入导光板102，并受反射片104反射以依序通过扩散片108、棱镜层110、光学膜片112、下偏光片126、薄膜晶体管阵列基板120、彩色滤光片阵列基板122以及上偏光片124而离开面板模块12，进而可达到供使用者观赏的功能。

[0059] 如图1所示，于本实施例中，背光模块10的框架116具有承载面116a。面板模块12的薄膜晶体管阵列基板120设置于框架116的承载面116a上。薄膜晶体管阵列基板120的侧边具有接合区120a。于本实施例中，上述的接合区120a即为薄膜晶体管阵列基板120由彩色滤光片阵列基板122下方侧向地朝向显示装置1的边缘延伸而出的部份。显示装置
1的面板模块12还包含多个芯片128(图1中仅绘示一个)。面板模块12的芯片128设置于薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a之上。面板模块12的芯片128与框架116的承载面116a分别位于薄膜晶体管阵列基板120的两相对侧。显示装置1进一步包含双面胶带14。显示装置1的双面胶带14设置于框架116的承载面116a与薄膜晶体管阵列基板
120的接合区120a之间，用以使两者相互贴合。

[0060] 请参照图2A以及图2B。图2A为绘示图1中的薄膜晶体管阵列基板120与彩色滤光片阵列基板122的局部立体图。图2B为绘示图2A中的薄膜晶体管阵列基板120与彩色滤光片阵列基板122的上视图。

[0061] 如图2A与图2B所示，于本实施例中，在面板模块12进行芯片128设置至薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a之上的模块前段(JIZOKU，JI)制程之后，两者之间的受到局部应力影响，且薄膜晶体管阵列基板120与芯片128具有不同的胀缩系数，容易造成薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a挠曲，而并使薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a上对应于芯片128的左上角或右上角的位置(如图2B中虚线圆圈所示的区域)产生漏光现象，导致显示装置1在显示画面时出现亮度不均匀的区块。并且，在面板模块12的薄膜晶体管阵列基板120设置于框架116的承载面116a上，并使得接合区120a与承载面116a上的双面胶带14贴合之后，接合区120a上对应于芯片128的左上角或右上角的位置所产生的漏光现象会更严重，导致显示装置1在显示画面时出现亮度不均匀的区块往往会更加剧。

[0062] 请参照图3。图3为绘示图1中的框架116、薄膜晶体管阵列基板120与彩色滤光片阵列基板122的立体分解图。

[0063] 如图3所示，为了改善上述的漏光现象，显示装置1进一步包含多个双面胶带14。显示装置1的双面胶带14设置于框架116的承载面116a与薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a之间。显示装置1的每一双面胶带14隔着薄膜晶体管阵列基板120对齐两相邻芯片128之间的间隔G。换言之，本发明的显示装置1是采用了于背光模块10的框架116的承载面116a上贴附分段式的双面胶带14的作法，并使每一双面胶带14隔着薄膜晶体管阵列基板120对齐两相邻芯片128之间的间隔G，亦即，取消正对芯片128位置的双面胶带
14。

[0064] 请参照图4。图4为测量接合区120a分别采用分段双面胶带14与整条双面胶带于面板模块12与背光模块10组装的不同制程阶段中量化显示装置1在显示画面时出现亮度不均匀的区块的JND值对比图。

[0065] 如图4所示，此图是于面板模块12与背光模块10组装的不同制程阶段(亦即，JI制程阶段、面板模块12与背光模块10组装阶段以及显示装置1的完成品阶段)分别以30组接合区120a采用分段双面胶带14以及30组接合区120a采用整条双面胶带所测量出显示装置1在显示画面时出现亮度不均匀的区块的JND值的平均值所制成的统计图。由图4可以清楚地看出，在面板模块12与背光模块10组装阶段时，局部应力加剧而使得薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a可能产生挠曲现象，而采用本发明所提出的分段双面胶带14所测量出的JND值明显的比已知采用整条双面胶带所测量出的JND值降低许多。同样地，在显示装置1的完成品阶段，薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a采用本发明所提出的分段双面胶带14所测量出的JND值也比已知采用整条双面胶带所测量出的JND值降低许多。由此可知，本发明的显示装置1采用于背光模块10的框架116的承载面116a上贴附分段式的双面胶带14的作法，确实可以有效地抑制薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a的挠曲现象，并可减轻接合区120a上对应于芯片128的左上角或右上角的位置所产生的漏光现象，并有效避免显示装置1在显示画面时出现亮度不均匀的区块。

[0066] 请参照图5。图5为绘示接合区120a分别采用分段双面胶带14与整条双面胶带进行粘合后测量接合区120a于不同位置的翘曲度曲线图。

[0067] 如图5所示，曲线W1为接合区120a采用整条双面胶带进行粘合至框架116的承载面116a所测量出的翘曲度曲线(图5中的实线)，曲线W2为接合区120a采用本发明所提出的分段双面胶带14进行粘合至框架116的承载面116a所测量出的翘曲度曲线(图5中的虚线)。由图5可以清楚地看出，本发明的显示装置1采用于背光模块10的框架116的承载面116a上贴附分段式的双面胶带14的作法，确实可以有效地抑制薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a的翘曲程度，特别是接合区120a上对应于芯片128之间的间隔G处的区域，亦即，图5中箭头所指的区域。

[0068] 此外，上述漏光现象与分段式的双面胶带14的长度有关，因此本发明将双面胶带14的长度适当地缩减，进而有效避免显示装置1在显示画面时出现亮度不均匀的区块的产生，而达到降低JND值的效果。以下将进一步详述本发明的各实施例。

[0069] 请参照图6A以及图6B。图6A为绘示依照本发明一实施例的框架116与接合区120a的局部立体分解图。图6B为绘示图6A中的框架116与接合区120a的侧视图。

[0070] 如图2A与图2B、图6A与图6B所示，于本实施例中，显示装置1的每一不同长度的双面胶带14不与两相邻芯片128于承载面116a上的垂直投影面重叠。于本实施例中，面板模块12的芯片128沿排列方向D进行排列。芯片128之间的间隔G于排列方向D上的宽度以B表示。本发明为了尝试将双面胶带14的长度适当地缩减以避免显示装置1在显示画面时出现亮度不均匀的区块的产生，而达到有效降低JND值，进行了以下实验。

[0071] 请参照图7。图7为绘示接合区120a分别采用不与两相邻芯片128于承载面116a上的垂直投影面重叠的不同长度的双面胶带14于面板模块12与背光模块10组装的不同制程阶段量化显示装置1在显示画面时出现亮度不均匀的区块的JND值对比图。

[0072] 如图7所示，此图是于面板模块12与背光模块10组装的不同制程阶段(亦即，JI制程阶段、面板模块12与背光模块10组装阶段以及显示装置1的完成品阶段)分别以20组接合区120a采用不与两相邻芯片128于承载面116a上的垂直投影面重叠的不同长度的双面胶带14(亦即，双面胶带14于排列方向D上的长度缩减为对应的间隔G于排列方向D上的宽度B的1/4倍、1/2倍、3/4倍以及1倍)所测量出显示装置1在显示画面时出现亮度不均匀的区块的JND值的平均值所制成的统计图。在图4与图7的比对的下，可以清楚地看出，在面板模块12与背光模块10组装阶段时，局部应力加剧而使得薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a可能产生挠曲现象，而采用本发明所提出的不同长度的双面胶带14所测量出的JND值的平均值大体上皆低于2.3(如图7所示)，而已知采用整条双面胶带所测量出的JND值的平均值大体上都高于2.3(如图4所示)。同样地，在显示装置1的完成品阶段，薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a采用本发明所提出的分段双面胶带14所测量出的JND值的平均值大体上皆低于2.4(如图7所示)，而已知采用整条双面胶带所测量出的JND值的平均值大体上都高于2.4(如图4所示)。

[0073] 由此可知，于本实施例中，显示装置1的每一双面胶带14于排列方向D上的长度缩减为对应的间隔G于排列方向D上的宽度B的1/4～1倍时，相较于已知采用整条双面胶带的作法，确实可以有效降低JND值，而较佳降低JND值的双面胶带长度范围为每一双面胶带14于排列方向D上的长度缩减为对应的间隔G于排列方向D上的宽度B的1/2～3/4倍时。另将上述实验数据制作成如下表一，将各阶段制程所测量出的JND值的平均值与JI制程的JND值的平均值相减可得到一JND增量值，由此可知每一双面胶带14于排列方向D上的长度缩减为对应的间隔G于排列方向D上的宽度B的1/4～1倍时，相较于已知采用整条双面胶带的作法，JND增量值较低。因此，本发明通过将双面胶带14的长度适当地缩减至上述的长度范围内，可有效地抑制薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a的挠曲现象，并可减轻接合区120a上对应于芯片128的左上角或右上角的位置所产生的漏光现象，并尽可能避免显示装置1在显示画面时出现亮度不均匀的区块。

[0074] 表一、接合区分别采用不与两相邻芯片于承载面上的垂直投影面重叠的不同长度的双面胶带于面板模块与背光模块组装的不同制程阶段的JND值的平均值与JND增量值[0075]

[0076]

[0077] 请参照图8A以及图8B。图8A为绘示依照本发明一实施例的框架116与接合区120a的局部立体分解图。图8B为绘示图8A中的框架116与接合区120a的侧视图。

[0078] 如图2A与图2B、图8A与图8B所示，于本实施例中，显示装置1的每一不同长度的双面胶带14与两相邻芯片128于承载面116a上的垂直投影面部分地重叠。于本实施例中，面板模块12的芯片128沿排列方向D进行排列。显示装置1的每一双面胶带14具有两重叠部140，分别对应两相邻芯片128。芯片128的长度以A表示。芯片128之间的间隔G于排列方向D上的宽度以B表示。本发明为了尝试将双面胶带14的长度适当地缩减以有效的降低JND值，进行了以下实验。

[0079] 请参照图9。图9为绘示接合区120a分别采用与两相邻芯片128于承载面116a上的垂直投影面部分地重叠的不同长度的双面胶带14于面板模块12与背光模块10组装的不同制程阶段量化显示装置1在显示画面时出现亮度不均匀的区块的JND值对比图。

[0080] 如图9所示，此图是于面板模块12与背光模块10组装的不同制程阶段(亦即，JI制程阶段、面板模块12与背光模块10组装阶段以及显示装置1的完成品阶段)分别以20组接合区120a采用与两相邻芯片128于承载面116a上的垂直投影面部分地重叠的不同长度的双面胶带14(亦即，双面胶带14的重叠部140于排列方向D上的长度缩减为对应的芯片128于排列方向D上的长度A的1/3倍、1/6倍以及1倍)所测量出显示装置1在显示画面时出现亮度不均匀的区块的JND值的平均值所制成的统计图。在图4与图9的比对的下，可以清楚地看出，在面板模块12与背光模块10组装阶段时，局部应力加剧而使得薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a可能产生挠曲现象，而采用本发明所提出的不同长度的双面胶带14所测量出的JND值的平均值大体上皆低于2.3(如图9所示)，而已知采用整条双面胶带所测量出的JND值的平均值大体上都高于2.3(如图4所示)。同样地，在显示装置1的完成品阶段，薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a采用本发明所提出的分段双面胶带14所测量出的JND值的平均值大体上皆低于2.4(如图9所示)，而已知采用整条双面胶带所测量出的JND值的平均值大体上都高于2.4(如图4所示)。

[0081] 由此可知，于本实施例中，显示装置1的双面胶带14的每一重叠部140于排列方向D上的长度缩减为对应的芯片128于排列方向D上的长度A的1/3倍～1/6倍时，相较于已知采用整条双面胶带的作法，确实可以获得较低的JND值。另将上述实验数据制作成如下表二，将各阶段制程所测量出的JND值与JI制程的JND值相减可得到一JND增量值，可得到双面胶带14的每一重叠部140于排列方向D上的长度缩减为对应的芯片128于排列方向D上的长度A的1/3倍～1/6倍时，相较于已知采用整条双面胶带的作法，JND增量值较低。因此，本发明通过将双面胶带14的长度适当地缩减至上述的长度范围内，可有效地抑制薄膜晶体管阵列基板120的接合区120a的挠曲现象，并可减轻接合区120a上对应于芯片128的左上角或右上角的位置所产生的漏光现象，并尽可能避免显示装置1在显示画面时出现亮度不均匀的区块。

[0082] 表二、接合区分别采用与两相邻芯片于承载面上的垂直投影面部分地重叠的不同长度的双面胶带于面板模块与背光模块组装的不同制程阶段的JND值的平均值与JND增量[0083]

[0084] 由以上对于本发明的具体实施例的详述，可以明显地看出，本发明的显示装置主要是于背光模块的框架的承载面上贴附分段式的双面胶带。并且，在面板模块的薄膜晶体管阵列基板固定至框架时，本发明是使双面胶带对齐薄膜晶体管阵列基板上的芯片之间的间隔(亦即，取消正对芯片位置的双面胶带)，借以有效改善薄膜晶体管阵列基板上对应于芯片的左上角或右上角的位置所产生的漏光现象，并尽可能避免显示装置在显示画面时出现亮度不均匀的区块。进一步来说，上述薄膜晶体管阵列基板上对应于芯片的左上角或右上角的位置产生漏光现象，主要是因为在面板模块进行芯片设置至薄膜晶体管阵列基板的接合区之上的模块前段制程之后，两者之间的局部应力使得薄膜晶体管阵列基板的接合区挠曲所造成，进而导致液晶受应力影响而改变旋转方向而使显示装置在显示画面时出现亮度不均匀的区块。本发明将双面胶带设置于框架的承载面上并对齐薄膜晶体管阵列基板上的芯片之间的间隔的作法，由于可减小薄膜晶体管阵列基板翘曲程度，因此可减轻薄膜晶体管阵列基板上对应于芯片的左上角或右上角的位置所产生的漏光现象，并尽可能避免显示装置在显示画面时出现亮度不均匀的区块。此外，上述所产生亮度不均匀的区块与分段式的双面胶带的长度有关。利用判别亮度不均匀的区块的规格尺度并将其量化得到一JND值，未检测到亮度不均匀的区块者的JND值是小于1.8，依照检测到亮度不均匀的区块的程度的加重，JND值逐步递增。本发明通过将双面胶带的长度适当地缩减的作法，可有效降低JND值，且在面板模块的各个制程所测得的JND值的增量值亦会降低。

[0085] 虽然本发明已以实施方式揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。