本发明公开了一种玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构，包括托板，及安装在托板上的遮光罩，该遮光罩位于玻璃钝化工艺二极管测试头正下方，在所述托板上还装有三维托针调节架，三维托针调节架针尖与遮光罩中心重合，还包括有三维弹片调节架固定在托板上，使三维弹片调节架与遮光罩对应在同心圆周上，并位于玻璃钝化工艺二极管测试头触点正下方，在所述三维弹片调节架之间设有防护架，该防护架安装在托板上，并位于遮光罩的正上方。测试头吸取裸芯粒，裸芯粒另一侧与三维托针调节架针尖接触，该触点与三维弹片调节架上托臂触点接触形成闭合回路，三维托针调节架针尖与三维弹片调节架触点与测试仪器两极连接，完成测试头上的裸芯粒测试。
1.一种玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构,其特征是：托板（5），及安装在托板(5)上的遮光罩(3)，该遮光罩(3)位于玻璃钝化工艺二极管测试头A正下方，在所述托板(5)上还装有三维托针调节架(1)，三维托针调节架(1)针尖与遮光罩(3)中心重合，还包括有三维弹片调节架(2)固定在托板(5)上，使三维弹片调节架(2)与遮光罩（3）对应在同心圆周上，并位于玻璃钝化工艺二极管测试头A触点正下方，在所述三维弹片调节架（2）之间设有防护架（4），该防护架（4）安装在托板（5）上，并位于遮光罩（3）的正上方。
2.根据权利要求1所述的玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构, 其特征是：其中三维托针调节架(1)，包括支撑架（102），在所述支撑架（102）上安装带有X向螺母（101）的传动丝杆（103），通过传动丝杆（103）与安装在支撑架（102）上的双燕尾槽滑块（112）连接，在所述双燕尾槽滑块（112）上装有与双燕尾槽滑块（112）呈垂直的带有Y向螺母（101-1）的传动丝杆（103-1），通过传动丝杆（103-1）与L型双燕尾槽滑块（104）连接，在所述L型双燕尾槽滑块（104）上安装有带有Z向螺母（101-2）的传动丝杆（103-2），通过传动丝杆（103-2）与燕尾槽滑块（105）连接，所述燕尾槽滑块（105）连接T型托架（106），和安装在T型托架（106）上的探针安装架（107），在所述探针安装架（107）一端连接有托架探针（108），位于探针安装架（107）上还装有吹风管(109)。
3.根据权利要求1所述的玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构, 其特征是：其中三维弹片调节架(2)，包括L型安装块(204)，该L型安装块(204)上滑动连接有立柱(201)，通过L型安装块(204)上设置的螺钉(203)紧固在立柱(201)上，所述的立柱(201)安装有旋转螺母(202)，在所述L型安装块(204)上端的偏心孔上安装有绝缘连接块(205)，位于绝缘连接块(205)上端具有一弹片(208)，该弹片(208)一端设有绝缘片(206)，位于弹片(208)另一端有一触点(209)。
4.根据权利要求1所述的玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构, 其特征是：所述的遮光罩(3)为T形中空体。
一种玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构
技术领域
[0001] 本发明专利涉及一种玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构。
背景技术
[0002] 一直以来对玻璃钝化工艺二极管裸芯粒测试分选都采用人工抽测分选分类，玻璃钝化工艺二极管裸芯粒尺寸从1.0mmx1.0mm x0.3mm（长小x宽x厚度）至2.8.0mmx2.8mm x0.3mm（长小x宽x厚度）不等，目前玻璃钝化工艺二极管裸芯片生产厂家没法做到对每一粒裸芯粒都进行人工测试。随着二极管市场的激烈竞争，玻璃钝化工艺二极管封装厂家对裸芯粒的良品率质量要求也在不断的提升，对产品的良品率要求也提高哪个裸芯粒生产厂家生产的裸芯粒良品率高，就会占据着市场的主动权以及客户源。伴随着高压二极管裸芯粒市场的竞争激烈，裸芯粒的测试变得尤为重要，玻璃钝化工艺二极管裸芯粒具有体积小、薄和脆等特性，要求在裸芯粒测试时，裸芯片另一侧要与三维托针调节架针尖接触良好，接触应力不宜过大，测试头触点与三维弹片调节架弹片触点接触良好才能实现准确测试，接触不好会造成短路，接触应力过大会造成裸芯粒损伤以及崩粒。
发明内容
[0003] 鉴于上述现状，本发明的目的是提供一种玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构，能有效地对裸芯粒实现测试，提高了分选裸芯粒良品率。
[0004] 为实现上述目的，本发明的技术方案是：一种玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构,包括托板，及安装在托板上的遮光罩，该遮光罩位于玻璃钝化工艺二极管测试头正下方，在所述托板上还装有三维托针调节架，三维托针调节架针尖与遮光罩中心重合，还包括有三维弹片调节架固定在托板上，使三维弹片调节架与遮光罩对应在同心圆周上，并位于玻璃钝化工艺二极管测试头触点正下方，在所述三维弹片调节架之间设有防护架，该防护架安装在托板上，并位于遮光罩的正上方。测试头吸取裸芯粒，裸芯粒另一侧与三维托针调节架针尖接触，测试头上的触点与三维弹片调节架触点接触，形成闭合回路，三维托针调节架针尖与三维弹片调节架触点分别与测试仪器的两极相连接，完成对测试头上的裸芯粒测试。
[0005] 在本发明中，所述的三维托针调节架，包括支撑架，在所述支撑架上安装带有X向螺母的传动丝杆，通过传动丝杆与安装在支撑架上的双燕尾槽滑块连接，在所述双燕尾槽滑块上装有与双燕尾槽滑块呈垂直的带有Y向螺母的传动丝杆，通过传动丝杆与L型双燕尾槽滑块连接,在所述L型双燕尾槽滑块上安装有带有Z向螺母的传动丝杆，通过传动丝杆与燕尾槽滑块连接,所述燕尾槽滑块连接T型托架，和安装在T型托架上的探针安装架，在所述探针安装架一端连接有托架探针，位于探针安装架上还装有吹风管。
[0006] 在本发明中, 所述的三维弹片调节架，包括L型安装块，该L型安装块上滑动连接有立柱，通过L型安装块上设置的螺钉紧固在立柱上，所述的立柱安装有旋转螺母，在所述L型安装块上端的偏心孔上安装有绝缘连接块，位于绝缘连接块上端具有一弹片，该弹片一端设有绝缘片，位于弹片另一端有一触点。
[0007] 在本发明中，所述遮光罩为T形中空体。
附图说明
[0008] 图1为本发明的示意图;
[0009] 图2为图1三维托针调节架示意图；
[0010] 图3为图1三维弹片调节架示意图。
具体实施方式
[0011] 下面将结合附图实施例对本发明作进一步说明。
[0012] 参考图1，包括托板5，及安装在托板5上的遮光罩3，该遮光罩3位于玻璃钝化工艺二极管测试头A正下方，在所述托板5上还装有三维托针调节架1，三维托针调节架1针尖与遮光罩3中心重合，还包括有三维弹片调节架2固定在托板5上，与遮光罩3对应在同心圆周上，并位于玻璃钝化工艺二极管测试头A触点正下方，在所述三维弹片调节架2之间设有防护架4，该防护架4安装在托板5上，并位于遮光罩3的正上方。利用二极管测试头A吸取裸芯粒，裸芯粒另一侧与三维托针调节架1针尖接触，二极管测试头A上的触点与三维弹片调节架2触点接触，形成闭合回路，三维托针调节架1针尖与三维弹片调节架2触点分别与测试仪器（图中未给出）的两极相连接，完成对测试头上的裸芯粒测试。
[0013] 图2给出了三维托针调节架。所述的三维托针调节架，包括支撑架102，在所述支撑架102上安装带有螺母101的传动丝杆103，通过传动丝杆103与安装在支撑架102上的双燕尾槽滑块112连接，通过转动螺母101控制双燕尾槽滑块112作X方向移动。在所述双燕尾槽滑块112上装有与双燕尾槽滑块112呈垂直的带有螺母101-1的传动丝杆103-1，通过传动丝杆103-1与L型双燕尾槽滑块104连接，通过转动螺母101-1控制L型双燕尾槽滑块104作Y方向移动。在所述L型双燕尾槽滑块104上安装有带有螺母101-2的传动丝杆103-2，通过传动丝杆103-2与燕尾槽滑块105连接，通过转动螺母101-2控制燕尾槽滑块105作Z方向移动。本实施例的燕尾槽滑块105通过螺丝111连接T型托架106，和安装在T型托架106上的探针安装架107，该T型托架106与探针安装架107通过螺钉110固定连接，在所述探针安装架107一端连接有托架探针108，位于探针安装架107上还装有吹风管109，吹风管109与探针安装架107通过螺纹连接。本实施例通过设置的三个旋转螺母101、101-1、101-2，可实现托架探针108的X、Y、Z三方向细微调节。
[0014] 图3给出了三维弹片调节架。所述的三维弹片调节架，包括L型安装块204，该L型安装块204上滑动连接有立柱201，通过L型安装块204上设置的螺钉203紧固在立柱201上，所述的立柱201通过螺纹连接旋转螺母202，在所述L型安装块204上端的偏心孔上安装有绝缘连接块205，通过螺钉连接，位于绝缘连接块205上端具有一弹片208，该弹片
208一端设有绝缘片206，通过螺钉207紧固在绝缘连接块205上，位于弹片208另一端有一触点209，通过铆接与弹片208连接。调节时，通过正、反旋转旋转螺母202，实现触点209的Z向上下调节， 当松开安装块204与绝缘连接块205之间的螺钉可实现绝缘连接块205的U形轴方向旋转，同时通过旋转带有偏心孔的安装快204，可实现绝缘连接块205的X方向调节。
