X射线工业CT设备准直片分组方法转让专利

申请号 : CN201310340355.0

文献号 : CN103357588B

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法律信息:

相似专利:

发明人 : 段晓礁鲁诗忠

申请人 : 重庆大学

摘要 :

本发明公开了一种X射线工业CT设备准直片分组方法,首先测量各准直片厚度D和各准直片槽深即左侧槽深HL和右侧槽深HR;选取准直片厚度及准直片槽深均合格的N片准直片组数和每组的片数,然后以中央探测器D0为轴对称结构的对称点设置第一组准直片;最后依次从中心对称点为准向两侧设置第二、三组准直片,相邻每组准直片为相反类型的准直片;直至所有的准直片选择完毕。本发明综合考虑准直片厚度和左右侧槽深的方式,对线阵探测器的后准直片进行分组,使得每组准直片形成的准直孔中心位置及孔径宽度与理论设计值误差最小。通过该方法形成的准直器比以往仅依靠准直片厚度分组形成的准直器与理论计算值更接近,能获得更好的图像质量。

权利要求 :

1.X射线工业CT设备准直片分组方法,其特征在于:包括以下步骤:

S1:测量各准直片厚度D和各准直片槽深,所述准直片槽深包括左侧槽深HL和右侧槽深HR;

S2:选取准直片厚度及准直片槽深均合格的N片准直片,所述N片准直片包括N1片大片准直片和N2片小片准直片两种类型的准直片;

其中,N≥m*a+n*β,N1≥m*a,N2≥n*β,a为大片准直片组数,m为大片准直片每组片数,β为小片准直片组数,n为小片准直片每组片数;a、β、m、n由系统参数根据空间分辨率指标、视场直径和探测器数量来确定,且a=β+1;

S3:以中央探测器D0为轴对称结构的对称点设置第一组准直片;

S4:在第一组准直片左右两侧分别为第二组准直片和第三组准直片,所述第二组准直片和第三组准直片与第一组准直片为相反类型的准直片;

S5:依次在第二组准直片和第三组准直片远离第一组准直片的两侧设置第四组准直片和第五组准直片,所述第四组准直片和第五组准直片与第二组准直片和第三组准直片为相反类型的准直片;

S6:重复上述步骤,直至所有的准直片选择完毕。

2.根据权利要求1所述的X射线工业CT设备准直片分组方法,其特征在于:所述第一组准直片的选择通过以下步骤来实现:S31:选取准直片厚度、左侧槽深HL和右侧槽深HR与设计值方差最小的一片作为第一组准直片的第1片;

S32:从剩余准直片中选择一片准直片作为第2片,计算所述第2片左侧槽与第1片右侧槽组合成的准直孔中心位置,选取准直孔中心位置与理论位置差异最小的一片准直片作为第2片;

S33:重新从剩余准直片中选择一片准直片作为第3片,计算第3片左侧槽与第2片右侧槽组合成的准直孔中心位置,选取准直孔中心位置与理论位置差异最小的一片准直片作为第3片;

S34:重复上述步骤,直至从剩余准直片中选择一片准直片作为第一组最后一片,使得第一组准直片厚度与理论厚度差异最小的一片准直片作为最后一片准直片。

3.根据权利要求1所述的X射线工业CT设备准直片分组方法,其特征在于:除第一组准直片外的其余各组准直片中的准直片按以下方式来确定:S41:其余各组准直片的第1片的槽深选择与相邻准直片组中的准直片的槽深相等;

S42:从剩余准直片中选择一片准直片作为第2片,计算第2片左侧槽与第1片右侧槽组合成的准直孔中心位置,选取准直孔中心位置与理论位置差异最小的一片准直片作为第

2片;

S43:重新从剩余准直片中选择一片准直片作为第3片,计算第3片左侧槽与第2片右侧槽组合成的准直孔中心位置,选取准直孔中心位置与理论位置差异最小的一片准直片作为第3片;

S44:重复上述步骤,直至从剩余准直片中选择一片准直片作为每组最后一片,使得每组准直片厚度与理论厚度差异最小的一片准直片作为最后一片准直片。

4.根据权利要求1所述的X射线工业CT设备准直片分组方法,其特征在于:所述第一组准直片按以下方式来确定:判断大片准直片组数a的奇偶性,当大片准直片组数a为偶数时,将第一组准直片设置为小片准直片;当大片准直片组数a为奇数时,将第一组准直片设置为大片准直片。

5.根据权利要求1所述的X射线工业CT设备准直片分组方法,其特征在于:所述准直片厚度是通过以下步骤来测量的:S11:在每片准直片左侧和右侧上分别选取左端厚度测量点、右端厚度测量点和中点位置测量点;

S12:分别用测厚仪测量准直片左端厚度测量点、右端厚度测量点和中点位置测量点的厚度并计算平均值;

S13:将准直片左端厚度测量点和右端厚度测量点的平均值与中点位置测量点的较大值作为准直片厚度。

6.根据权利要求1所述的X射线工业CT设备准直片分组方法,其特征在于:所述准直片槽深是通过以下步骤来测量的:S14:在准直片左侧和右侧的孔槽上对称选取位于准直片左端测量点、右端测量点和中点测量点;

S15:在各测量点分别用测厚仪测量左端测量点、右端测量点和中点测量点的厚度,通过以下公式来计算准直片在各测量点的槽深:h=hB-hA,并将h值作为该测量点的槽深,其中,hA为准直片槽深中点位置的厚度,hB为准直片左右两侧厚度的平均值,h值为厚度差;

S16:将准直片左侧各测量点的槽深的平均值作为左侧槽深HL,将准直片右侧各测量点的槽深的平均值作为右侧槽深HR。

7.根据权利要求1所述的X射线工业CT设备准直片分组方法,其特征在于:所述步骤S2中选取准直片厚度及准直片槽深均合格的N片准直片通过以下方式进行:所述准直片上各测量点的厚度满足以下条件的为合格的准直片:

准直片的厚端厚度在(d1-Δd1,d1+Δd2)范围内,准直片的薄端厚度在(d2-Δd1,d2+Δd2)范围内,准直片的中点位置厚度在(d0-Δd1,d0+Δd2)范围内,槽深在(h0-Δh,h0+Δh)范围内,其中,d1为厚端设计厚度,d2为薄端设计厚度,d0为中点位置设计厚度,h0为槽深设计值,Δd1、Δd2为厚度的上下公差,Δh为槽深的公差。

8.根据权利要求6所述的X射线工业CT设备准直片分组方法,其特征在于:所述准直片上的测量点是通过以下方式确定:所述准直片的厚度测量点对称设置于准直片左侧和右侧,在每片准直片左侧和右侧上分别选取左端厚度测量点、右端厚度测量点和中点位置测量点;所述左端厚度测量点、右端厚度测量点分别距离准直片两端的距离均为L,所述中点位置测量点位于准直片中点位置处;

所述准直片的槽深测量点对称设置于准直片左侧和右侧,在每片准直片左侧和右侧上分别选取左端测量点、右端测量点和中点测量点;所述左端测量点、右端测量点分别距离准直片两端的距离均为L,所述中点测量点位于准直片中点位置处。

说明书 :

X射线工业CT设备准直片分组方法

技术领域

[0001] 本发明涉及X射线线阵探测器领域,特别涉及一种X射线工业CT设备准直片分组方法。

背景技术

[0002] X射线工业CT设备中,常见的探测器可以分为线阵和面阵两种。为抑制散射射线,提高系统空间分辨率,在线阵探测器前一般使用准直器,从而获得更好的图像质量。准直器分为前准直器和后准直器两种,通常由铅或钨等重金属材料制成。后准直器用于限定进入探测器的射线束,它决定了探测器中每个探测单元的窗口大小,是决定系统空间分辨率的主要因素之一。后准直器一般采用多组准直片进行组装,由于每片准直片的厚度和槽深的加工精度不同,在对准直片进行分组时需要考虑的因素很多,如每组准直片的厚度、槽深,相邻准直片组合成的准直孔位置、大小,每组准直片的厚度等,以往的分组方法只考虑了准直片厚度,未考虑准直孔位置等因素,因此理论计算时探测器位置与实际位置存在一定的偏差,从而导致图像引入一定的误差。
[0003] 因此急需一种线阵探测器后准直器的准直片分组方法。

发明内容

[0004] 有鉴于此,本发明所要解决的技术问题是提供一种线阵探测器后准直器的准直片分组方法。
[0005] 本发明的目的是这样实现的:
[0006] 本发明提供的X射线工业CT设备准直片分组方法,包括以下步骤:
[0007] S1:测量各准直片厚度D和各准直片槽深,所述准直片槽深包括左侧槽深HL和右侧槽深HR;
[0008] S2:选取准直片厚度及准直片槽深均合格的N片准直片,所述N片准直片包括N1片大片准直片和N2片小片准直片两种类型的准直片;
[0009] 其中,N≥m*a+n*β,N1≥m*a,N2≥n*β,a为大片准直片组数,m为大片准直片每组片数,β为小片准直片组数,n为小片准直片每组片数;a、β、m、n由系统参数根据空间分辨率指标、视场直径和探测器数量来确定,且a=β+1;
[0010] S3:以中央探测器D0为轴对称结构的对称点设置第一组准直片;
[0011] S4:在第一组准直片左右两侧分别为第二组准直片和第三组准直片,所述第二组准直片和第三组准直片与第一组准直片为相反类型的准直片;
[0012] S5:依次在第二组准直片和第三组准直片远离第一组准直片的两侧设置第四组准直片和第五组准直片,所述第四组准直片和第五组准直片与第二组准直片和第三组准直片为相反类型的准直片;
[0013] S6:重复上述步骤,直至所有的准直片选择完毕。
[0014] 进一步,所述第一组准直片的选择通过以下步骤来实现:
[0015] S31:选取准直片厚度、左侧槽深HL和右侧槽深HR与设计值方差最小的一片作为第一组准直片的第1片;
[0016] S32:从剩余准直片中选择一片准直片作为第2片,计算所述第2片左侧槽与第1片右侧槽组合成的准直孔中心位置,选取准直孔中心位置与理论位置差异最小的一片准直片作为第2片;
[0017] S33:重新从剩余准直片中选择一片准直片作为第3片,计算第3片左侧槽与第2片右侧槽组合成的准直孔中心位置,选取准直孔中心位置与理论位置差异最小的一片准直片作为第3片;
[0018] S34:重复上述步骤,直至从剩余准直片中选择一片准直片作为第一组最后一片,使得第一组准直片厚度与理论厚度差异最小的一片准直片作为最后一片准直片。
[0019] 进一步,所述除第一组准直片外的其余各组准直片中的准直片按以下方式来确定:
[0020] S41:其余各组准直片的第1片的槽深选择与相邻准直片组中的准直片的槽深相等;
[0021] S42:从剩余准直片中选择一片准直片作为第2片,计算第2片左侧槽与第1片右侧槽组合成的准直孔中心位置,选取准直孔中心位置与理论位置差异最小的一片准直片作为第2片;
[0022] S43:重新从剩余准直片中选择一片准直片作为第3片,计算第3片左侧槽与第2片右侧槽组合成的准直孔中心位置,选取准直孔中心位置与理论位置差异最小的一片准直片作为第3片;
[0023] S44:重复上述步骤,直至从剩余准直片中选择一片准直片作为每组最后一片,使得每组准直片厚度与理论厚度差异最小的一片准直片作为最后一片准直片。
[0024] 进一步,所述第一组准直片按以下方式来确定:判断大片准直片组数α的奇偶性,当大片准直片组数α为偶数时,将第一组准直片设置为小片准直片;当大片准直片组数α为奇数时,将第一组准直片设置为大片准直片。
[0025] 进一步,所述准直片厚度是通过以下步骤来测量的:
[0026] S11:在每片准直片左侧和右侧上分别选取左端厚度测量点、右端厚度测量点和中点位置测量点;
[0027] S12:分别用测厚仪测量准直片左端厚度测量点、右端厚度测量点和中点位置测量点的厚度并计算平均值;
[0028] S13:将准直片左端厚度测量点和右端厚度测量点的平均值与中点位置测量点的较大值作为准直片厚度。
[0029] 进一步,所述准直片槽深是通过以下步骤来测量的:
[0030] S14:在准直片左侧和右侧的孔槽上对称选取位于准直片左端测量点、右端测量点和中点测量点;
[0031] S15:在各测量点分别用测厚仪测量左端测量点、右端测量点和中点测量点的厚度,通过以下公式来计算准直片在各测量点的槽深:
[0032] h=hB-hA,并将h值作为该测量点的槽深,其中,hA为准直片槽深中点位置的厚度,hB为准直片左右两侧厚度的平均值,h值为厚度差;
[0033] S16:将准直片左侧各测量点的槽深的平均值作为左侧槽深HL,将准直片右侧各测量点的槽深的平均值作为右侧槽深HR。
[0034] 进一步,所述步骤S2中选取准直片厚度及准直片槽深均合格的N片准直片通过以下方式进行:
[0035] 所述准直片上各测量点的厚度满足以下条件的为合格的准直片:
[0036] 准直片的厚端厚度在(d1-Δd1,d1+Δd2)范围内,准直片的薄端厚度在(d2-Δd1,d2+Δd2)范围内,准直片的中点位置厚度在(d0-Δd1,d0+Δd2)范围内,槽深在(h0-Δh,h0+Δh)范围内,其中,Δd1、Δd2为厚度的上下公差,Δh为槽深的公差。
[0037] 进一步,所述准直片上的测量点是通过以下方式确定:
[0038] 所述准直片厚度测量点对称设置于准直片左侧和右侧,在每片准直片左侧和右侧上分别选取左端厚度测量点、右端厚度测量点和中点位置测量点;所述左端厚度测量点、右端厚度测量点分别距离准直片两端的距离均为L,所述中点位置测量点位于准直片中点位置处;
[0039] 所述准直片槽深测量点对称设置于准直片左侧和右侧,在每片准直片左侧和右侧上分别选取左端测量点、右端测量点和中点测量点;所述左端测量点、右端测量点分别距离准直片两端的距离均为L,所述中点测量点位于准直片中点位置处。
[0040] 本发明的优点在于:本发明采用综合考虑准直片厚度和左右侧槽深的方式,对线阵探测器的后准直片进行分组。通过选取多个测量点进行测量,将每片准直片的参数简化为厚度、左侧槽深和右侧槽深,通过选取合适的准直片,使得每一组准直片形成的准直孔中心位置及孔径宽度与理论设计值误差最小。通过该方法形成的准直器比以往仅依靠准直片厚度分组形成的准直器,探测器单元与理论计算值更接近,能获得更好的图像质量。

附图说明

[0041] 为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明作进一步的详细描述,其中:
[0042] 图1为线阵探测器结构示意图;
[0043] 图2为准直器结构示意图;
[0044] 图3为厚度测量点位置;
[0045] 图4为槽深测量点位置;
[0046] 图5为槽深测量方法;
[0047] 图6为X射线工业CT设备准直片分组方法流程图。

具体实施方式

[0048] 以下将结合附图,对本发明的优选实施例进行详细的描述;应当理解,优选实施例仅为了说明本发明,而不是为了限制本发明的保护范围。
[0049] 实施例1
[0050] 图1为线阵探测器结构示意图,A为射线源焦点位置,B为层厚调节装置,C为准直器阵列,D0为中央探测器,Di、Dj为边缘探测器,探测器为以AD0为轴的轴对称结构。图2为准直器结构示意图,准直器由两种不同规格的准直片组合而成,如图2所示,准直片外形呈双面单槽。两种准直片除宽度不一致外,其他参数完全相同,长度为L0,厚端设计厚度为d1,薄端设计厚度为d2,中点位置设计厚度为d0(d0=(d1+d2)/2),槽深设计值为h0,各设计值与X射线能量等设备参数有关。
[0051] 图6为X射线工业CT设备准直片分组方法流程图,如图所示:本发明提供的X射线工业CT设备准直片分组方法,包括以下步骤:
[0052] S1:测量各准直片厚度D和各准直片槽深,所述准直片槽深包括左侧槽深HL和右侧槽深HR;
[0053] S2:选取准直片厚度及准直片槽深均合格的N片准直片,所述N片准直片包括N1片大片准直片和N2片小片准直片两种类型的准直片;
[0054] 其中,N≥m*α+n*β,N1≥m*α,N2≥n*β,α为大片准直片组数,m为大片准直片每组片数,β为小片准直片组数,n为小片准直片每组片数;α、β、m、n由系统参数根据空间分辨率指标、视场直径和探测器数量来确定,且a=β+1;
[0055] S3:以中央探测器D0为轴对称结构的对称点设置第一组准直片;
[0056] S4:在第一组准直片左右两侧分别为第二组准直片和第三组准直片,所述第二组准直片和第三组准直片与第一组准直片为相反类型的准直片;
[0057] S5:依次在第二组准直片和第三组准直片远离第一组准直片的两侧设置第四组准直片和第五组准直片,所述第四组准直片和第五组准直片与第二组准直片和第三组准直片为相反类型的准直片;
[0058] S6:重复上述步骤,直至所有的准直片选择完毕。
[0059] 所述第一组准直片的选择通过以下步骤来实现:
[0060] S31:选取准直片厚度、左侧槽深HL和右侧槽深HR与设计值方差最小的一片作为第一组准直片的第1片;
[0061] S32:从剩余准直片中选择一片准直片作为第2片,计算所述第2片左侧槽与第1片右侧槽组合成的准直孔中心位置,选取准直孔中心位置与理论位置差异最小的一片准直片作为第2片;
[0062] S33:重新从剩余准直片中选择一片准直片作为第3片,计算第3片左侧槽与第2片右侧槽组合成的准直孔中心位置,选取准直孔中心位置与理论位置差异最小的一片准直片作为第3片;
[0063] S34:重复上述步骤,直至从剩余准直片中选择一片准直片作为第一组最后一片,使得第一组准直片厚度与理论厚度差异最小的一片准直片作为最后一片准直片。
[0064] 所述除第一组准直片外的其余各组准直片中的准直片按以下方式来确定:
[0065] S41:其余各组准直片的第1片的槽深选择与相邻准直片组中的准直片的槽深相等;
[0066] S42:从剩余准直片中选择一片准直片作为第2片,计算第2片左侧槽与第1片右侧槽组合成的准直孔中心位置,选取准直孔中心位置与理论位置差异最小的一片准直片作为第2片;
[0067] S43:重新从剩余准直片中选择一片准直片作为第3片,计算第3片左侧槽与第2片右侧槽组合成的准直孔中心位置,选取准直孔中心位置与理论位置差异最小的一片准直片作为第3片;
[0068] S44:重复上述步骤,直至从剩余准直片中选择一片准直片作为每组最后一片,使得每组准直片厚度与理论厚度差异最小的一片准直片作为最后一片准直片。
[0069] 所述第一组准直片按以下方式来确定:判断大片准直片组数a的奇偶性,当大片准直片组数a为偶数时,将第一组准直片设置为小片准直片;当大片准直片组数a为奇数时,将第一组准直片设置为大片准直片。
[0070] 所述准直片厚度是通过以下步骤来测量的:
[0071] S11:在每片准直片左侧和右侧上分别选取左端厚度测量点、右端厚度测量点和中点位置测量点;
[0072] S12:分别用测厚仪测量准直片左端厚度测量点、右端厚度测量点和中点位置测量点的厚度并计算平均值;
[0073] S13:将准直片左端厚度测量点和右端厚度测量点的平均值与中点位置测量点的较大值作为准直片厚度。
[0074] 所述准直片槽深是通过以下步骤来测量的:
[0075] S14:在准直片左侧和右侧的孔槽上对称选取位于准直片左端测量点、右端测量点和中点测量点;
[0076] S15:在各测量点分别用测厚仪测量左端测量点、右端测量点和中点测量点的厚度,通过以下公式来计算准直片在各测量点的槽深:
[0077] h=hB-hA,并将h值作为该测量点的槽深,其中,hA为准直片槽深中点位置的厚度,hB为准直片左右两侧厚度的平均值,h值为厚度差;
[0078] S16:将准直片左侧各测量点的槽深的平均值作为左侧槽深HL,将准直片右侧各测量点的槽深的平均值作为右侧槽深HR。
[0079] 所述步骤S2中选取准直片厚度及准直片槽深均合格的N片准直片通过以下方式进行:
[0080] 所述准直片上各测量点的厚度满足以下条件的为合格的准直片:
[0081] 准直片的厚端厚度在(d1-Δd1,d1+Δd2)范围内,准直片的薄端厚度在(d2-Δd1,d2+Δd2)范围内,准直片的中点位置厚度在(d0-Δd1,d0+Δd2)范围内,槽深在(h0-Δh,h0+Δh)范围内,其中,Δd1、Δd2为厚度的上下公差,Δh为槽深的公差。
[0082] 所述准直片上的测量点是通过以下方式确定:
[0083] 所述准直片厚度测量点对称设置于准直片左侧和右侧,在每片准直片左侧和右侧上分别选取左端厚度测量点、右端厚度测量点和中点位置测量点;所述左端厚度测量点、右端厚度测量点分别距离准直片两端的距离均为L,所述中点位置测量点位于准直片中点位置处;
[0084] 所述准直片槽深测量点对称设置于准直片左侧和右侧,在每片准直片左侧和右侧上分别选取左端测量点、右端测量点和中点测量点;所述左端测量点、右端测量点分别距离准直片两端的距离均为L,所述中点测量点位于准直片中点位置处。
[0085] 实施例2
[0086] 本实施例与实施例1的区别仅在于:本实施例以a为偶数为例来说明X射线工业CT设备准直片分组方法的具体过程:
[0087] 首先测量各准直片厚度。在每片准直片上分别选取12个点,如图3所示,1-6位于准直片左侧,7-12位于准直片右侧,点1、2、5、6、7、8、11、12距离准直片两端的距离均为L,点3、4、9、10位于准直片中点位置处。分别用测厚仪测量各点厚度,对厚端厚度在(d1-Δd1,d1+Δd2),薄端厚度在(d2-Δd1,d2+Δd2),中点位置厚度在(d0-Δd1,d0+Δd2)范围内的视为合格,其中Δd1、Δd2为厚度的上下公差,选取不同的值以满足机械安装要求。
[0088] 然后测量各准直片槽深。在每片准直片上分别选取6个点,如图4所示,41、42、43位于准直片左侧,44、45、46位于准直片右侧,点41、43、44、46距离准直片两端的距离均为L,点42、45位于准直片中点位置处。
[0089] 分别用测厚仪测量该点厚度hA及相邻厚度hB,厚度差h=hB-hA即为该点槽深,其中hB为左右两侧厚度的平均值,如图4中槽深点41对应的hB即图3中点1和点2厚度测量值的平均值。若6个点的槽深h1、h2、h3、h4、h5、h6均在(h0-Δh,h0+Δh)范围内,则该片槽深合格。
[0090] 准直片厚度D取值为两端厚度测量平均值与中点位置厚度测量平均值的较大值,左侧槽深HL取值为左侧三点槽深的平均值,右侧槽深HR取值为右侧三点槽深的平均值。
[0091] 选取厚度及槽深均合格的N片准直片(N1片大片,N2片小片)进行分组,如图所示,第一组用I表示,第二组用II表示,第三组用III表示。
[0092] (1)对中点位置第一组进行分组,由于a为偶数,该组为小片,从N2片小片准直片中选取厚度、左右槽深与设计值方差最小的一片作为该组左侧第1片;
[0093] (2)从剩余小片中选择一片,计算该片左侧槽与第1片右侧槽组合而成的准直孔中心位置,选取该位置与理论位置差异最小的一片作为第一组第2片。
[0094] (3)第一组第3片到第n-1片的选择方法与第2片的选择方法类似,需使得该片与相邻左侧片组成的准直孔位置与理论位置差异最小。
[0095] (4)从剩余小片中选择一片,使得第一组厚度与理论厚度差异最小,作为第一组的第n片。
[0096] (5)第一组左右两侧分别为第二、三组,这两组均为大片。
[0097] (6)第二组右侧第1片选择右侧槽深与第1组第1片左侧槽深相等的小片,第2到m-1片的选择方法与第一组第2到n-1片的选择方法相同,以满足各准直孔位置与理论位置差异最小为条件,第m片选择方法与第一组第n片选择方法相同,以满足第二组厚度与理论厚度差异最小为条件。
[0098] (7)第三组右侧第1片选择左侧槽深与第1组第n片右侧槽深相等的小片,第2到m-1片的选择方法与第一组第2到n-1片的选择方法相同,以满足各准直孔位置与理论位置差异最小为条件,第m片选择方法与第一组第n片选择方法相同,以满足第三组厚度与理论厚度差异最小为条件。
[0099] S:(8)其余各组分组方法与第二、三组类似。
[0100] 实施例3
[0101] 本实施例与实施例2的区别仅在于:本实施例以a为奇数为例来说明X射线工业CT设备准直片分组方法的具体过程:
[0102] 当a为奇数时,探测器D0前的准直片为大片,除第一组选择大片进行分组外,分组方式与a为偶数时相同。
[0103] 以上所述仅为本发明的优选实施例,并不用于限制本发明,显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。