插套式焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法

摘要

本发明提供一种插套式焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法，其步骤为：（a）以一块的弧形板为补偿块，补偿块的弧形半径与X射线照相时焦距一致；（b）在补偿块上加工若干个补偿孔，补偿孔直径是补偿块厚度的1.01～1.03倍，补偿孔深度保证焊缝距补偿块边缘距离不小于10mm；（c）X射线透照时，将插套式焊缝插入补偿孔内，插套式焊缝和补偿块构成一个整体放置在胶片上，采用中心曝光的方式进行透照，照相条件参数为焦距500—1000mm、曝光量15—40mA·min、透照电压150±30kV。本发明方法使得补偿块中不同区域的成像质量一致，补偿块厚度略小于补偿孔直径，有效减薄了透照厚度，较大地提高了照相检测灵敏度，保证了检测结果的准确性和可靠性。

权利要求

1.一种插套式焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法，其焊缝处为实心圆棒或中心带有微孔的圆棒，其特征在于：该方法包括如下步骤：(a)以一块长50mm～200mm、宽30mm～100mm、厚3～15mm的弧形板为补偿块(1)，该补偿块(1)的弧形半径与X射线照相时焦距一致；

(b)在补偿块(1)上加工若干个补偿孔(2)，具体为：以插套式焊缝(3)外径尺寸为基准、以板厚的中点为基点加工补偿孔(2)，补偿孔(2)直径是补偿块(1)厚度的1.01～1.03倍；补偿孔(2)深度保证焊缝距补偿块边缘距离不小于10mm；

(c)X射线透照时，将插套式焊缝(3)插入补偿孔(2)内，插套式焊缝(3)和补偿块(1)构成一个整体放置在胶片上，将识别标记(4)放置在补偿块(1)上没有焊缝的位置，此时整条焊缝的透照厚度基本是一致的，透照厚度比K为1；采用中心曝光的方式进行透照，将X射线源(5)的焦点位于弧形补偿块的圆心，保证弧形补偿块位于透照场中，照相条件参数为焦距500～1000mm、曝光量15～40mA·min、透照电压150±30kV。

2.根据权利要求1所述的一种插套式焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法，其特征在于，所述的补偿块(1)的材质须与被检材质相近或相同。

3.根据权利要求1所述的一种插套式焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法，其特征在于，所述的补偿孔(2)的加工精度控制在0.05mm～0.15mm，孔内壁光洁度不低于3.2μm。

4.根据权利要求1所述的一种插套式焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法，其特征在于，该方法采用的X射线机为定向或周向X射线机，高压调节范围为10～450kV，电流调节范围为0～10mA，电压、电流可以连续调节。

说明书

插套式焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法

技术领域

[0001] 本发明属于焊缝检测技术领域，具体涉及一种用于插套式焊缝或棒材内部缺陷的X射线照相检测方法。

背景技术

[0002] 插套式焊缝属于棒状焊缝，制造时先将端塞凹台塞入包壳管，然后用电子束焊接工艺将端塞和包壳管焊接在一起。插套式棒状焊缝通常采用焊缝厚度全补偿平板型照相法，该照相法中补偿块为平板状，补偿孔轴向垂直于平板的厚度方向，补偿孔直径远小于补偿板厚度，补偿孔轮廓全部位于补偿块厚度方向的内部，补偿块示意图如图1。照相时焊缝插入补偿孔中与补偿块形成一个厚度一致的整体，根据厚度选择合适的曝光条件进行照相，完成对焊缝的检测。焊缝厚度全补偿平板型照相法存在的不足，一是补偿块厚度偏厚，导致照相检验灵敏度偏低；二是采用平板型补偿块，补偿块中部和端部的透照厚度略有差异，导致成像质量略有不同。

发明内容

[0003] 本发明的目的在于提供一种插套式焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法，其解决了补偿块厚度偏厚导致照相检验灵敏度偏低和补偿块中部和端部的透照厚度差异导致的成像质量不同的问题。

[0004] 实现本发明目的的技术方案：一种插套式焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法，其焊缝处为实心圆棒或中心带有微孔的圆棒，该方法包括如下步骤：

[0005] （a）以一块长50mm～200mm、宽30mm～100mm、厚3～15mm的弧形板为补偿块，该补偿块的弧形半径与X射线照相时焦距一致；

[0006] （b）在补偿块上加工若干个补偿孔，具体为：以插套式焊缝外径尺寸为基准、以板厚的中点为基点加工补偿孔，补偿孔直径是补偿块厚度的1.01～1.03倍；补偿孔深度保证焊缝距补偿块边缘距离不小于10mm；

[0007] （c）X射线透照时，将插套式焊缝插入补偿孔内，插套式焊缝和补偿块构成一个整体放置在胶片上，将识别标记放置在补偿块上没有焊缝的位置，此时整条焊缝的透照厚度基本是一致的，透照厚度比K接近于1；采用中心曝光的方式进行透照，将X射线源的焦点位于弧形补偿块的圆心，保证弧形补偿块位于透照场中，照相条件参数为焦距500—1000mm、曝光量15—40mA·min、透照电压150±30kV。

[0008] 如上所述的一种插套式焊缝包壳管与端塞焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法，其所述的补偿块的材质须与被检材质相近或相同。

[0009] 如上所述的一种插套式焊缝包壳管与端塞焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法，其所述的补偿孔的加工精度控制在0.05mm～0.15mm，孔内壁光洁度不低于3.2μm。

[0010] 如上所述的一种插套式焊缝包壳管与端塞焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法，其采用的X射线机为定向或周向X射线机，高压调节范围为10～450kV，电流调节范围为0～10mA，电压、电流可以连续调节。

[0011] 本发明的效果在于：本发明根据插套式焊缝结构特点和检测技术要求，将补偿块的结构设计为弧形，采用了中心曝光技术，使得补偿块中不同区域的成像质量一致；使补偿块厚度略小于补偿孔直径，有效减薄了透照厚度，较大地提高了照相检测灵敏度，保证了检测结果的准确性和可靠性。

附图说明

[0012] 图1为平板型补偿块示意图；

[0013] 图2为本发明的弧形补偿块结构示意图；

[0014] 图3为本发明所述的插套式焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法示意图；

[0015] 图中：1—补偿块；2—补偿孔；3—插套式焊缝；4—识别标记；5—X射线源（透照场）。

具体实施方式

[0016] 下面结合附图和具体实施例对本发明所述的一种插套式包壳管与端塞焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法作进一步描述。

[0017] 如图2或图3所示，本发明所述的一种插套式包壳管与端塞焊缝厚度半补偿X射线照相检测方法，其包括如下步骤：

[0018] （a）如图2所示，以一块长100mm、宽50mm、厚8mm的弧形锆合金板为补偿块1，该补偿块1的弧形半径与X射线照相时焦距一致；

[0019] （b）如图2所示，在补偿块1上加工5～20个（例如：5个、10个或20个）直径相等的补偿孔2，其以插套式焊缝3外径尺寸为基准、以板厚的中点为基点加工补偿孔2；补偿孔2直径是补偿块1厚度的1.03倍；补偿孔2深度保证环焊缝距补偿块边缘距离不小于10mm。（补偿孔的加工精度控制在0.05mm～0.15mm，孔内壁光洁度不低于3.2μm）[0020] （c）如图3所示，X射线检测焊缝透照时，将插套式焊缝3插入补偿孔2内，插套式焊缝3和补偿块1构成一个整体放置在胶片上，将识别标记4放置在补偿块1中没有焊缝的位置，此时整条焊缝的透照厚度基本是一致的，透照厚度比K接近于1；采用中心曝光的方式进行透照，将X射线源5的焦点位于弧形补偿块的圆心，保证弧形补偿块位于透照场中，照相条件参数为焦距800mm（数值范围）、曝光量25mA·min（数值范围）、透照电压160kV。

[0021] 本发明主要针对焊缝厚度全补偿平板型照相法存在的不足，进行了降低透照厚度方案设计，并根据射线照相原理，通过对补偿块形状进行改进，消除了补偿块中部和端部成像质量不同的问题。其中，补偿块1的长度50mm～200mm、宽度30mm～100mm、厚度3～15mm；补偿孔2直径是补偿块1厚度的1.01～1.03倍；照相条件参数为焦距500～1000mm、曝光量15～40mA·min、透照电压150±30kV。

[0022] 本发明使用弧形补偿块的优点，一是补偿块的厚度降低了20%，相对灵敏度提高了0.5%；二是弧形补偿块的半径与X射线照相焦距一致，采用中心曝光方式，补偿块中任一区域的透照厚度均相同，有利于得到相同的照相质量。焊缝厚度半补偿弧形补偿块照相法成功地解决了焊缝厚度全补偿平板型照相法存在的不足，较大地提高了射线照相的灵敏度和成像质量，保证了射线照相检测的准确性和可靠性。