输送设备和计算输送校正值的方法转让专利

申请号 : CN201310421331.8

文献号 : CN103660623B

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法律信息:

相似专利:

发明人 : 江本勇气平手淳一增田圭志齐藤智之

申请人 : 佳能株式会社

摘要 :

本发明涉及一种输送设备和计算输送校正值的方法。基于由第一输送单元和第二输送单元这两者输送薄片的第二输送状态下的输送量是通过以第一输送单元或第二输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对仅由第一输送单元输送薄片的第一输送状态下的输送量和仅由第二输送单元输送薄片的第三输送状态下的输送量进行加权平均而获得的输送量的情况,根据第一、第二和第三输送状态的输送量中的任意两个输送量来计算剩下的输送量,并且根据计算出的输送量来设置输送的校正值。

权利要求 :

1.一种输送设备,其包括:

第一输送单元,用于在输送方向上输送薄片;以及

第二输送单元,其相对于所述第一输送单元设置在所述输送方向下游的位置,并用于在所述输送方向上输送薄片,其中,基于由所述第一输送单元和所述第二输送单元这两者输送薄片的情况下的输送量是通过以所述第一输送单元或所述第二输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对仅由所述第一输送单元输送薄片的情况下的输送量和仅由所述第二输送单元输送薄片的情况下的输送量进行加权平均而获得的输送量的情况,根据由所述第一输送单元和所述第二输送单元这两者输送薄片的情况下的输送量、仅由所述第一输送单元输送薄片的情况下的输送量以及仅由所述第二输送单元输送薄片的情况下的输送量中的任意两个输送量,来计算剩下的输送量,并且根据计算出的输送量来设置输送的校正值。

2.根据权利要求1所述的输送设备,其中,在将仅由所述第一输送单元输送薄片的状态定义为第一输送状态,将由所述第一输送单元和所述第二输送单元这两者输送薄片的状态定义为第二输送状态,并且将仅由所述第二输送单元输送薄片的状态定义为第三输送状态的情况下,基于所述第二输送状态下的薄片的输送量是通过以所述第一输送单元和所述第二输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对所述第一输送状态下的薄片的输送量和所述第三输送状态下的薄片的输送量进行加权平均而获得的输送量的情况,对所述三种输送状态中的任意两种状态下的输送量进行实际测量,根据实际测量到的输送量计算剩下的输送状态下的输送量,并且根据计算出的输送量来设置剩下的输送状态下的输送的校正值。

3.根据权利要求2所述的输送设备,其中,利用实际测量的输送来设置对输送量进行实际测量的输送状态下的校正值。

4.一种输送设备,其包括:

第一输送单元,用于在输送方向上输送薄片;以及

第二输送单元,其相对于所述第一输送单元设置在所述输送方向下游的位置,并用于在所述输送方向上输送薄片,其中,在将仅由所述第一输送单元输送薄片的状态定义为第一输送状态,将由所述第一输送单元和所述第二输送单元这两者输送薄片的状态定义为第二输送状态,并且将仅由所述第二输送单元输送薄片的状态定义为第三输送状态的情况下,基于所述第二输送状态下的薄片的输送量的校正值是通过以所述第一输送单元和所述第二输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对所述第一输送状态下的薄片的输送量的校正值和所述第三输送状态下的薄片的输送量的校正值进行加权平均而获得的校正值的情况,根据输送量的实际测量值来计算所述三种输送状态中的任意两种状态下的输送量的校正值,并且根据计算出的校正值来计算剩下的输送状态下的校正值。

5.一种记录设备,其包括:

第一输送单元,用于在输送方向上输送薄片;

第二输送单元,其相对于所述第一输送单元设置在所述输送方向下游的位置,并用于在所述输送方向上输送薄片;以及记录单元,其设置在所述第一输送单元和所述第二输送单元之间,并用于在所述第一输送单元和所述第二输送单元所输送的薄片上进行记录,其中,在将仅由所述第一输送单元输送薄片的状态定义为第一输送状态,将由所述第一输送单元和所述第二输送单元这两者输送薄片的状态定义为第二输送状态,并且将仅由所述第二输送单元输送薄片的状态定义为第三输送状态的情况下,基于所述第二输送状态下的薄片的输送量的校正值是通过以所述第一输送单元和所述第二输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对所述第一输送状态下的薄片的输送量的校正值和所述第三输送状态下的薄片的输送量的校正值进行加权平均而获得的校正值的情况,根据输送量的实际测量值来计算所述三种输送状态中的任意两种状态下的输送量的校正值,并且根据计算出的校正值来计算剩下的输送状态下的校正值。

6.一种输送设备,其包括:

设置在薄片的输送方向上的多个输送单元,

其中,利用实际测量来获得如下输送量中的、与所述输送单元的数量相对应的输送量:

所述多个输送单元中的被配置为协同输送薄片的两个或更多个输送单元的所有组合的输送状态下的输送量以及各个单个输送单元的输送状态下的输送量,以及其中,基于通过以各个输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对由各个输送单元单独输送薄片的情况下的输送量进行加权平均而获得的输送量,来计算剩下的输送状态下的输送量,并且根据计算出的输送量来设置剩下的输送状态下的输送的校正值。

7.一种输送设备,其包括:

设置在薄片的输送方向上的n个输送单元,

其中,利用实际测量来获得如下输送量中的n个输送量:所述n个输送单元中的被配置为协同输送薄片的两个或更多个输送单元的所有组合的输送状态下的输送量以及各个单个输送单元的输送状态下的输送量,以及其中,基于通过以各个输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对由各个输送单元单独输送薄片的情况下的输送量进行加权平均而获得的输送量,来计算剩下的输送状态下的输送量,并且根据计算出的输送量来设置剩下的输送状态下的输送的校正值。

8.一种计算输送设备的输送的校正值的方法,所述输送设备包括:第一输送单元,用于在输送方向上输送薄片;以及第二输送单元,其相对于所述第一输送单元设置在所述输送方向下游的位置,并用于在所述输送方向上输送薄片,所述方法包括:实际测量由所述第一输送单元和所述第二输送单元这两者输送薄片的情况下的输送量、仅由所述第一输送单元输送薄片的情况下的输送量和仅由所述第二输送单元输送薄片的情况下的输送量中的任意两个输送量;

基于由所述第一输送单元和所述第二输送单元这两者输送薄片的情况下的输送量是通过以所述第一输送单元或所述第二输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对仅由所述第一输送单元输送薄片的情况下的输送量和仅由所述第二输送单元输送薄片的情况下的输送量进行加权平均而获得的输送量的情况,根据实际测量到的输送量来计算剩下的输送量;以及根据计算出的输送量来计算输送的校正值。

9.一种用于计算输送设备的输送的校正值的方法,所述输送设备包括设置在薄片的输送方向上的n个输送单元,所述方法包括:利用实际测量来获得如下输送量中的n个输送量:所述n个输送单元中的被配置为协同输送薄片的两个或更多个输送单元的所有组合的输送状态下的输送量以及各个单个输送单元的输送状态下的输送量;

基于通过以各个输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对由各个输送单元单独输送薄片的情况下的输送量进行加权平均而获得的输送量,来计算剩下的输送状态下的输送量;以及根据计算出的输送量来计算剩下的输送状态下的输送的校正值。

说明书 :

输送设备和计算输送校正值的方法

技术领域

[0001] 本发明的各方面主要涉及在使输送单元夹持并输送记录介质以进行记录操作的记录设备中的输送设备的结构和控制。

背景技术

[0002] 近年来,诸如复印机或者打印机的图像形成设备具有大量机会来打印照片图像。特别地,在喷墨图像形成设备中,因为更小的墨的液滴或者图像处理技术的改进,能够使得以与卤化银照片相同的质量来形成图像。
[0003] 在要求高的图像质量的情况下,要求记录设备中的机械结构部件的精度非常高。特别地,对于用于输送记录介质的辊来说,通常已知记录介质的输送量与用于输送记录介质的辊的外径近似成比例。因此,对于辊,要求非常高的精度。然而,因为部件的加工精度有其局限性,并且部件的精度提高导致制造成本增加,因此存在对在不依赖于部件的精度的情况下执行高质量图像记录的技术的需要。
[0004] 通常,记录设备的主要记录单元包括记录头以及设置在记录头上游侧或者下游侧的多个输送辊。在由多个输送辊保持并输送记录介质的同时,记录头在记录介质上进行记录。在记录设备中输送记录介质时,记录介质的输送量根据诸如用于输送记录介质的辊的切换的输送条件而改变。因此,需要根据各个输送条件对输送量进行校正,以在记录介质的整个区域上执行高质量图像记录。
[0005] 为了与上述问题相对应,日本特开2008-30455A讨论了对记录介质的输送进行校正的方法。该方法在薄片上记录图案,读取记录的图案以实际测量输送量,并且使用根据实际测量值计算的校正值来进行校正。在这种校正方法中,讨论了如下技术:为了在记录介质的整个区域上记录尽可能多的图案,在记录介质的后缘从位于相对于记录头的输送方向的上游侧的输送辊离开的时刻,将要使用的喷嘴转移到输送下游侧。
[0006] 在涉及图案读取的用于对记录介质的输送进行校正的技术中,除了各个输送条件的高精度校正之外,还需要考虑缩短涉及输送量的实际测量的测量时间。如果测量时间越长,则例如,当在诸如工厂等制造设备的场所进行实际测量时,与设备制造相关的时间越长,相应地导致制造成本增加。即使在用户处进行实际测量的情况下,用户也可能感觉到关于测量时间的长度的压力。因此,能够在尽可能短的测量时间内进行高精度的校正很重要。
[0007] 然而,在日本特开2008-30455A中讨论的技术中,难以同时实现确保校正精度和缩短测量时间。这是因为在日本特开2008-30455A中描述的记录设备在记录介质的前缘和后缘之间的整个区域中进行实际测量,导致测量时间增加。因此,期望在适当选择的区域而非整个区域中进行实际测量以缩短测量时间,并且基于实际测量估计其它条件下的输送量。

发明内容

[0008] 本发明的各方面主要目的在于减少对用于获取输送校正值的输送量进行实际测量的所耗费的劳力和时间。
[0009] 根据本发明的第一方面,提供了一种输送设备,其包括:第一输送单元,用于在输送方向上输送薄片;以及第二输送单元,其相对于所述第一输送单元设置在所述输送方向下游的位置,并用于在所述输送方向上输送薄片,其中,基于由所述第一输送单元和所述第二输送单元这两者输送薄片的情况下的输送量是通过以所述第一输送单元或所述第二输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对仅由所述第一输送单元输送薄片的情况下的输送量和仅由所述第二输送单元输送薄片的情况下的输送量进行加权平均而获得的输送量的情况,根据由所述第一输送单元和所述第二输送单元这两者输送薄片的情况下的输送量、仅由所述第一输送单元输送薄片的情况下的输送量以及仅由所述第二输送单元输送薄片的情况下的输送量中的任意两个输送量,来计算剩下的输送量,并且根据计算出的输送量来设置输送的校正值。
[0010] 根据本发明的第二方面,提供了一种输送设备,其包括:第一输送单元,用于在输送方向上输送薄片;以及第二输送单元,其相对于所述第一输送单元设置在所述输送方向下游的位置,并用于在所述输送方向上输送薄片,其中,在将仅由所述第一输送单元输送薄片的状态定义为第一输送状态,将由所述第一输送单元和所述第二输送单元这两者输送薄片的状态定义为第二输送状态,并且将仅由所述第二输送单元输送薄片的状态定义为第三输送状态的情况下,基于所述第二输送状态下的薄片的输送量的校正值是通过以所述第一输送单元和所述第二输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对所述第一输送状态下的薄片的输送量的校正值和所述第三输送状态下的薄片的输送量的校正值进行加权平均而获得的校正值的情况,根据输送量的实际测量值来计算所述三种输送状态中的任意两种状态下的输送量的校正值,并且根据计算出的校正值来计算剩下的输送状态下的校正值。
[0011] 根据本发明的第三方面,提供了一种记录设备,其包括:第一输送单元,用于在输送方向上输送薄片;第二输送单元,其相对于所述第一输送单元设置在所述输送方向下游的位置,并用于在所述输送方向上输送薄片;以及记录单元,其设置在所述第一输送单元和所述第二输送单元之间,并用于在所述第一输送单元和所述第二输送单元所输送的薄片上进行记录,其中,在将仅由所述第一输送单元输送薄片的状态定义为第一输送状态,将由所述第一输送单元和所述第二输送单元这两者输送薄片的状态定义为第二输送状态,并且将仅由所述第二输送单元输送薄片的状态定义为第三输送状态的情况下,基于所述第二输送状态下的薄片的输送量的校正值是通过以所述第一输送单元和所述第二输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对所述第一输送状态下的薄片的输送量的校正值和所述第三输送状态下的薄片的输送量的校正值进行加权平均而获得的校正值的情况,根据输送量的实际测量值来计算所述三种输送状态中的任意两种状态下的输送量的校正值,并且根据计算出的校正值来计算剩下的输送状态下的校正值。
[0012] 根据本发明的第四方面,提供了一种输送设备,其包括:设置在薄片的输送方向上的多个输送单元,其中,利用实际测量来获得如下输送量中的、与所述输送单元的数量相对应的输送量:所述多个输送单元中的被配置为协同输送薄片的两个或更多个输送单元的所有组合的输送状态下的输送量以及各个单个输送单元的输送状态下的输送量,以及基于通过以各个输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对由各个输送单元单独输送薄片的情况下的输送量进行加权平均而获得的输送量,来计算剩下的输送状态下的输送量,并且根据计算出的输送量来设置剩下的输送状态下的输送的校正值。
[0013] 根据本发明的第五方面,提供了一种输送设备,其包括:设置在薄片的输送方向上的n个输送单元,其中,利用实际测量来获得如下输送量中的n个输送量:所述n个输送单元中的被配置为协同输送薄片的两个或更多个输送单元的所有组合的输送状态下的输送量以及各个单个输送单元的输送状态下的输送量,以及基于通过以各个输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对由各个输送单元单独输送薄片的情况下的输送量进行加权平均而获得的输送量,来计算剩下的输送状态下的输送量,并且根据计算出的输送量来设置剩下的输送状态下的输送的校正值。
[0014] 根据本发明的第六方面,提供了一种计算输送设备的输送的校正值的方法,所述输送设备包括:第一输送单元,用于在输送方向上输送薄片;以及第二输送单元,其相对于所述第一输送单元设置在所述输送方向下游的位置,并用于在所述输送方向上输送薄片,所述方法包括:实际测量由所述第一输送单元和所述第二输送单元这两者输送薄片的情况下的输送量、仅由所述第一输送单元输送薄片的情况下的输送量和仅由所述第二输送单元输送薄片的情况下的输送量中的任意两个输送量;基于由所述第一输送单元和所述第二输送单元这两者输送薄片的情况下的输送量是通过以所述第一输送单元或所述第二输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对仅由所述第一输送单元输送薄片的情况下的输送量和仅由所述第二输送单元输送薄片的情况下的输送量进行加权平均而获得的输送量的情况,根据实际测量到的输送量来计算剩下的输送量;以及根据计算出的输送量来计算输送的校正值。
[0015] 根据本发明的第七方面,提供了一种用于计算输送设备的输送的校正值的方法,所述输送设备包括设置在薄片的输送方向上的n个输送单元,所述方法包括:利用实际测量来获得如下输送量中的n个输送量:所述n个输送单元中的被配置为协同输送薄片的两个或更多个输送单元的所有组合的输送状态下的输送量以及各个单个输送单元的输送状态下的输送量;基于通过以各个输送单元相对于薄片的滑动的难度作为加权系数、对由各个输送单元单独输送薄片的情况下的输送量进行加权平均而获得的输送量,来计算剩下的输送状态下的输送量;以及根据计算出的输送量来计算剩下的输送状态下的输送的校正值。
[0016] 根据本公开,能够减少对用于获取输送校正值的输送量进行实际测量所耗费的劳力和时间。
[0017] 根据以下参考附图对典型实施例的描述,本公开的其它特征将变得显而易见。

附图说明

[0018] 图1是根据第一典型实施例的记录设备中的机械结构单元的立体图。
[0019] 图2是具体示出根据第一典型实施例的记录设备中的包括薄片输送单元的输送机构的侧视图。
[0020] 图3是具体示出根据第一典型实施例的记录设备中的包括薄片输送单元的输送机构的立体图。
[0021] 图4A至4C是示出根据第一典型实施例的记录设备中记录图像时的输送操作的状态变化的示意性截面图。
[0022] 图5是根据第一典型实施例的记录设备的控制框图。
[0023] 图6示出了根据第一典型实施例的记录设备中的用于实际测量各种输送状态下的输送量的测试图案的示例。
[0024] 图7示出了根据第一典型实施例的记录设备中用于对进行记录操作时的输送量进行校正的控制流程图。
[0025] 图8是具体示出根据第二典型实施例的记录设备中的包括薄片输送单元的输送机构的示意性截面图。
[0026] 图9示出了输送记录介质时的负荷和输送量之间的关系。
[0027] 图10是根据第一典型实施例的存储各种输送状态下的输送量校正值和计算该输送量校正值所需的值的表。
[0028] 图11是根据第二典型实施例的存储各种输送状态下的输送量校正值和计算该输送量校正值所需的值的表。

具体实施方式

[0029] 图1是根据第一典型实施例的记录设备的机械结构单元的立体图。
[0030] (A)记录单元
[0031] 记录单元通过安装在滑架50上的记录头7在作为薄片的记录介质上记录图像。台板34从下面支持由下面描述的薄片输送单元输送的记录介质。利用从位于记录介质上方的记录头7排出的墨来记录以记录图像信息为根据的图像。在滑架50上安装有记录头7和用于向记录头7供给墨的墨盒71,该滑架可以在与图1中的由X指示的输送方向相交的扫描方向上移动。滑架50在沿扫描方向移动的同时,在记录介质的宽度方向上进行图像记录。
[0032] (B)薄片输送单元
[0033] 薄片输送单元设置在薄片进给单元21的输送方向的下游侧,其高精度地输送一一分离并进给的记录介质。薄片输送单元的主要机械结构附着到通过弯曲薄片金属而形成的机架11以及通过浇铸形成的机架97和98。在薄片输送单元中,下面描述的输送辊36和排出辊40输送记录介质。输送辊36和排出辊40分别对应于根据本实施例的第一输送辊和第二输送辊。输送辊36通过使用陶瓷微粒涂覆金属轴的表面而形成,并在其端部包括金属部分。输送辊36的金属部分由附着到机架97和98的轴承部分支持。夹持辊保持器30保持多个夹持辊37,并且夹持辊弹簧31朝向输送辊36的表面推动这些多个夹持辊37。
夹持辊37与输送辊36的表面接触,并且利用输送辊36的转动来进行转动。
[0034] 图2和3是用于具体说明根据本典型实施例的记录设备中的包括薄片输送单元的输送机构的侧视图和立体图。当作为直流(DC)电机的输送电机35的驱动力经由正时皮带39传输至设置在输送辊36的轴上的滑轮齿轮361时,输送辊36接收到转动力。缝隙以150lpi至360lpi的间距而形成的编码轮362直接连接到输送辊36,由此编码轮362与输送辊36共轴。输送辊编码传感器363在图2所示的与编码轮362上的缝隙相对应的位置固定到机架98。根据本典型实施例,输送辊编码传感器363对编码轮362上的缝隙的数量进行计数,以对输送辊36和下面描述的排出辊40的转动量进行管理。
[0035] 滑轮齿轮361包括滑轮单元和齿轮单元。驱动力经由空转齿轮45从齿轮单元向排出辊齿轮404传输,由此驱动排出辊40。排出辊40包括设置在金属轴上的橡胶辊。多个棘轮附着到设置在面向排出辊40位置的棘轮保持器43,并且由作为棒状线圈弹簧的棘轮弹簧压向排出辊40。
[0036] 根据本典型实施例,输送辊36和排出辊40之间的转动速度比是1:1。另外,用作用于将驱动力传输到输送辊36和排出辊40的传输单元的各个滑轮齿轮361、空转齿轮45和排出辊齿轮404的转动速度比也是1:1。使用这种结构,输送辊36、排出辊40和传动齿轮的转动周期彼此相等。因此,如果输送辊36转动一圈,则排出辊40和传动齿轮也转动一圈。更具体地,输送辊36转动一圈,通过辊的偏心、齿轮的传动误差等而产生并且根据各个辊和齿轮的转动相位而变化的输送量误差的周期循环一次。
[0037] 在关注输送状态的变化的同时,参考图4A至4C,描述记录图像时的输送操作。如上所述,在用于输送记录介质的辊进行转动的同时,输送记录介质以记录图像。将进给的记录介质P导向纸导向件38和夹持辊保持器30,记录介质P的前缘进入输送辊36。
[0038] 如图4A所示,当在记录介质P的前缘区域上记录图像时,记录介质P仅由输送辊36输送。如图4B所示,当在记录介质P的中间区域上记录图像时,记录介质P的前缘进入排出辊40,并且记录介质P由输送辊36和排出辊40这两者输送。如图4C所示,当在记录介质P的后缘区域上记录图像时,记录介质P的后缘经过输送辊36,并且记录介质P仅由排出辊40输送。
[0039] 将这三种输送状态称为第一输送状态(仅输送辊36转动)、第二输送状态(输送辊36和排出辊40这两者转动)和第三输送状态(仅排出辊40转动)。因此,由于与记录介质的输送相关的辊根据记录介质的记录图像的区域的不同而不同,因此需要根据各种输送状态来控制输送量。利用设置在夹持辊保持器30上的用于检测记录介质的边缘的边缘传感器321,基于边缘传感器321的检测信息,来计算切换各种输送状态的定时。
[0040] (C)控制系统
[0041] 图5是示出根据本典型实施例的记录设备中的控制单元91的结构的框图。中央处理器(CPU)501基于存储在只读存储器(ROM)504中的各种程序,经由控制器502对设备中的各个机构进行控制。在这种情况下,随机存取存储器(RAM)503用作用于临时存储各种数据或者用于进行处理的工作区。从连接到记录设备的外部主机设备发送图像数据,并且CPU 501进行将图像数据转换为记录设备可以用来进行记录操作的记录信号的图像处理。电机驱动器507驱动各个电机506,并且记录头驱动器509驱动记录头7,从而在记录介质上记录图像。在图5中,电机506统一表示诸如输送电机35和用于驱动滑架50的电机的多个电机,并且电机驱动器507统一表示该多个电机的电机驱动器。
[0042] 电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)508存储在工厂或者在用户处设置的设置值以及要更新的数据,控制器502和CPU 501将这些数据作为控制参数来使用。传感器505统一表示设置在设备的各个位置处的温度传感器和编码传感器,并且传感器505还包括上述输送辊编码传感器363。每次在输送辊编码传感器363检测到缝隙时,CPU 501递增RAM503的环形缓冲器中的计数信息。下面描述的根据两个输送量计算剩下的一个输送量的计算公式存储在ROM 504中。通过实际测量或者计算而获得的输送量、输送量校正值等存储在EEPROM 508中。在适当地参考或者计算这些公式和值的同时,对输送量进行校正。
[0043] 然后,将要描述作为本实施例的特征的根据两种输送状态的输送量来计算剩下的一种输送状态下的输送量的计算公式。
[0044] 在这里的描述中,基于如下假设来计算在输送辊36和排出辊40协同输送记录介质的情况下的输送量:在输送辊36和排出辊40各自转动相同的预定转动量的情况下,输送辊36和排出辊40各自的输送量是已知的。更具体地,将要描述如下情况:根据第一和第三输送状态下各自的输送量来计算第二输送状态下的输送量。
[0045] 将与输送辊(即,LF辊)的预定转动量(预定转动角度)相对应的输送量(输送距离)定义为βLF,将与排出辊(即,EJ辊)的预定转动量(预定转动角度)相对应的输送量(输送距离)定义为βEJ。使用下面描述的用于实际测量输送量的技术,来预先分别实际测量并计算这两个输送量βLF和βEJ。另外,输送量βLF和βEJ满足关系βLF>βEJ(在使LF辊的直径大于EJ辊的直径的情况下,可以容易地实现这种情形)。将在输送辊36和排出辊40协同输送记录介质的情况下的输送量定义为输送量βLFEJ。根据已知的输送量βLF和βEJ来计算输送量βLFEJ。
[0046] 在仅由输送辊36输送的输送量(βLF)与仅由排出辊40输送的输送量(βEJ)不同的情况下,由输送辊36和排出辊40这两者输送的记录介质的输送量在这两个输送量之间。在这种情况下,在记录介质中出现以下现象。对应于预定转动量而将薄片输送较大的量的输送辊36,使经由记录介质在输送方向的下游方向对将薄片输送较小的量的排出辊40的外周面进行按压的力(前向张力),作用在排出辊40的外周面上。通过该力(前向张力),从输送辊36向排出辊40施加用于辅助记录介质的输送的力。结果,排出辊40的每预定转动角度(例如,单位转动角度)的记录介质的输送距离明显增加。
[0047] 另一方面,根据作用和反作用定律,在相反方向(相对于输送方向的上游方向)上在输送辊36的外周面上,出现与施加到排出辊40的力相等的力(后向张力)。该后向张力使得输送辊36的每预定转动角度(例如,单位转动角度)的记录介质的输送距离明显减小。经由记录介质在辊之间施加和接收这些力,从而使得每单位转动角度的两个辊的输送量看起来彼此相等。因此,输送量βLFEJ在输送量βLF和βEJ之间。因为力在辊之间进行相互作用,所以输送量βLFEJ受到各个辊的相对于外力(负荷)的输送特性的影响。
[0048] 以下将描述相对于负荷的输送特性。关于记录介质的输送量,已知:如果经由记录介质而产生负荷,则记录介质滑动从而减小进给量。通过在悬挂具有已知重量的重物并在对记录介质施加负荷的同时使辊转动预定转动角度的情况下来实际测量记录介质的输送量,能够在实验中容易地得知相对于该重量的负荷而产生多少滑动。例如,图9所示的曲线图可以在实验中获得。
[0049] 因此,随着负荷增大,滑动量增大,这使每预定转动角度的输送量减小。将图9所示的图形的斜率值称为输送特性系数α。输送特性系数α是表示相对于负荷的滑动量的值。具体地描述,根据{(施加负荷时的输送量)–(不施加负荷时的输送量)}/(负荷的大小),来计算输送特性系数α。因此,输送特性系数α以mm/N为单位进行表示,并且为负值。可以在实验中分别针对输送辊36和排出辊40获得输送特性系数α。将这两个值定义为αLF和αEJ。
[0050] 如上所述,因为在两个轴即输送辊36和排出辊40中的输送量βLFEJ,是在将负荷施加到各个辊的情况下的输送量,因此可以用使用各个辊的输送特性系数α的公式来表示输送量βLFEJ。因此,在针对辊之间进行相互作用的力而将施加到输送辊36的负荷定义为FLF并将施加到排出辊40的负荷定义为FEJ的情况下,输送量βLFEJ可以以针对各个辊的公式1和公式2的形式进行描述。
[0051] βLFEJ=αLF×FLF+βLF (公式1)
[0052] βLFEJ=αEJ×FEJ+βEJ (公式2)
[0053] 对于负荷FLF和FEJ之间的关系,根据作用和反作用定律,设置FLF=-FEJ。在使用这种关系对公式1和公式2进行变换的情况下,输送量βLFEJ可以通过使用输送量βLF和βEJ以及输送特性系数αLF和αEJ的公式3的形式来表示。
[0054] βLFEJ= ((1/αLF)/((1/αLF)+(1/αEJ)))×βLF+((1/αLF)/((1/αLF)+(1/αEJ)))×βEJ (公式3)
[0055] 根据由此得出的公式3,可以理解,通过使用1/αLF和1/αEJ对输送量βLF和βEJ进行加权平均来获得输送量βLFEJ。
[0056] 由于输送特性系数α是表示相对于负荷的滑动量的数值,因此倒数1/α是表示相对于负荷的滑动的难度的数值。因此,将表示相对于负荷的滑动的难度的值1/α称为输送强度。因此,可以通过使用各个辊的输送强度(滑动的难度)γLF(=1/αLF)和γEJ(=1/αEJ)对各个辊的输送量βLF和βEJ进行加权平均,来计算在辊进行协同输送的情况下的输送量βLFEJ。
[0057] βLFEJ=(γLF/(γLF+γEJ))×βLF+(γEJ/(γLF+γEJ))×βEJ (公式4)[0058] 然后,说明使用上述计算公式计算第一、第二和第三输送状态的各个输送操作中的输送量校正值的方法。在进行实际打印之前,在工厂或者用户处计算输送量校正值。
[0059] 在用于计算各个状态下的校正值的方法的基本过程中,首先,在对辊的转动量进行管理的状态下,输送记录介质。对三种输送状态中的任意两个输送状态下的记录介质的输送量进行实际测量。根据实际测量结果来换算预定转动量的输送量。然后,使用公式3或者公式4,根据所获得的两种输送状态下的输送量,计算剩下的一种输送状态下的输送量。然后,基于三个输送量,计算三个输送状态下的输送量校正值。根据本典型实施例,将说明如下情况:对处于第一输送状态的仅输送辊36的输送量进行实际测量,并且对处于第三输送状态的仅排出辊40的输送量进行实际测量。利用这两个实际测量的结果,来计算处于第二输送状态的两个轴即输送辊36和排出辊40的输送量。
[0060] 图10是存储根据第一典型实施例的各种输送状态下的输送量校正值以及用于计算这些输送量校正值所需的值的表。在图10中,输送量TLF、TLFEJ和TEJ表示预定转动量的输送量。根据本典型实施例,将输送量TLF、TLFEJ和TEJ作为辊转动一圈的输送量进行存储。如上所述,输送特性系数αLF和αEJ表示相对于负荷的滑动量,并且预先进行存储。输送量校正值SLF、SLFEJ和SEJ是如下所描述的存储校正值。
[0061] 然后,将说明用于获取图10所示的表中的输送量T的方法。图6示出了用于获取三个输送量中的与第一和第三输送状态相关的输送量TLF和TEJ的测试图案的示例。
[0062] 在记录测试图案时,首先,在处于第一输送状态的仅输送辊36的输送中,记录测试图案。在薄片经过输送辊36,并且被输送到测试图案记录位置之后,记录第一测试图案0701。在该图案记录结束之后,在对辊转动量进行管理的状态下使辊稍微转动,并且记录第二测试图案0702。类似地,使辊稍微转动,并且记录第三测试图案0703。
[0063] 在记录了三个图案之后,薄片被输送到与从第一测试图案0701的记录位置起辊转动一圈相对应的位置,并且记录第四测试图案0711。然后,在根据需要来转动辊以输送薄片的同时,在与从第二测试图案0702和第三测试图案0703的记录位置起辊转动一圈相对应的位置,记录第五测试图案0712和第六测试图案0713。由于上述操作,从而完成在第一输送状态下记录的测试图案。
[0064] 第一测试图案0701和第四测试图案0711之间的间隔(例如两个图案的下游侧边缘之间的距离),对应于输送辊36转动一圈的输送量。类似地,第二测试图案0702和第五测试图案0712之间的间隔以及第三测试图案0703和第六测试图案0713之间的间隔,也对应于输送辊36转动一圈的输送量。
[0065] 接着,在处于第三输送状态的仅排出辊40的输送中,进行测试图案的记录。在薄片的后缘经过输送辊36的辊隙部分,并且被输送到测试图案记录位置之后,记录第一测试图案0721。然后,在利用与上述在第一输送状态下测试图案的记录方法类似的方法来控制辊转动量的同时,记录五个测试图案0722至0733。相应地,测试图案0721和0731、测试图案0722和0732以及测试图案0723和0733之间的间隔,对应于排出辊40转动一圈的输送量。
[0066] 在完成了所有测试图案的记录之后,再次进给记录了图案的薄片。利用安装在滑架50中的光学传感器51(在图4中示出),测量测试图案0701和0711、测试图案0702和0712以及测试图案0703和0713之间的间隔。然后,利用类似的测量方法,测量测试图案
0721和0731、测试图案0722和0732以及测试图案0723和0733之间的间隔。
[0067] 由于以上测量的测试图案之间的间隔对应于输送辊36和排出辊40转动一圈的输送量,因此通过测量这些间隔,可以获取输送辊36和排出辊40转动一圈的输送量。将在第一和第三输送状态各自的区域中测量到的三个间隔的平均值,存储在第一和第三输送状态下的各个输送量TLF和TEJ中。根据本典型实施例,对三个测量到的间隔进行平均化,并且作为输送量T进行存储,以减小诸如在测试图案记录期间假设的辊的停止变化或者在测量期间假设的测量变化的误差。由于辊的偏心等,输送量根据辊的转动相位周期性地变化。由于在本典型实施例中考虑了辊的单位输送量(输送速度)的周期性变化的中心值的校正,因此对辊转动的一个周期即转动一圈的输送量进行实际的测量和计算。
[0068] 然后,计算并存储在不实际测量输送量的第二输送状态下的输送量TLFEJ。根据公式3使用预先存储的输送特性系数αLF和βEJ或者存储的输送量TLF和TEJ,来计算输送量TLFEJ。由于输送量TLF和TEJ表示每预定转动量的输送量,因此可以通过将输送量TLF和TEJ分别取代公式3的输送量βLF和βEJ,来计算输送量。将如此计算的输送量存储在TLFEJ中。因此,可以获得三种输送状态下的输送量T。
[0069] 然后,针对各种输送状态存储输送量校正值S。更具体地,将通过从在进行图像记录时辊转动一圈的理想输送量ITLF、ITLFEJ和ITEJ中减去各种输送状态的测量的实际输送量TLF、TLFEJ和TEJ而获得的值,作为校正值SLF、SLFEJ和SEJ进行存储。
[0070] SLF=ITLF-TLF (公式5)
[0071] SLFEJ=ITLFEJ-TLFEJ (公式6)
[0072] SEJ=ITEJ-TEJ (公式7)
[0073] 根据上述一系列过程,可以从两种输送状态下的输送量的实际测量值中获得所有三个输送状态下的输送量校正值S。由于在辊转动一圈而实际输送记录介质的情况下,发生了与输送量校正值相对应的输送偏差,因此通过增加与输送量校正值相对应的转动量,可以将记录介质输送理想输送量。
[0074] 根据本典型实施例,实际测量第一和第三输送状态下的输送量。然而,例如,可以实际测量第二和第三输送状态下的输送量,并且可以基于存储的输送量βLFEJ和βEJ来计算并获得输送量βLF。更具体地,可以通过实际测量三种输送状态中的任意两个输送状态下的输送量,根据公式3来计算剩下的一种输送状态下的输送量。
[0075] 测试图案不限于图6所示的图案。可以任意选择两种输送状态,并且可以利用与所选择的输送状态相对应的图案来实际测量输送量。对于测试图案之间的间隔,例如,可以对辊的转动一圈进行分割,并且可以利用间隔之和来实际测量输送量。当定义输送量T的预定转动量与测试图案之间的间隔的转动量不同时,需要将实际测量结果换算为预定转动量,并且存储实际测量结果。
[0076] 最后,将参考图7来描述用于在进行实际记录操作的同时在各种输送状态下进行输送量校正控制的方法。图7示出了在实际记录操作期间的各种输送状态下的输送量校正的控制流程图。
[0077] 首先,如果记录设备接收到图像记录操作的信号,则从薄片进给单元21进给薄片,薄片进入位于输送辊36的上游侧的边缘传感器321。在这种情况下,参考图7,在步骤S0801中,边缘传感器321检测薄片的前缘的位置,以计算到实际记录开始位置的辊转动量。然后,在步骤S0802中,基于计算出的辊转动量来输送薄片,并且将薄片定位到记录开始位置。在这种情况下,由于薄片的前缘经过输送辊36,因此薄片的输送进入第一输送状态。
[0078] 然后,在步骤S0803中,在薄片的前缘区域上进行记录操作。通过利用滑架50来反复进行记录头7的移动以及利用输送辊36反复进行输送,来执行记录操作。在输送辊36的输送中应用输送量校正值SLF,以调整辊转动量,并且相应地,执行第一输送状态下的输送量校正。
[0079] 更具体地,由于输送量校正值SLF是表示相对于辊转动一圈的理想输送量的输送偏差的校正值,因此通过使用输送量校正值SLF来将与输送偏差量相对应的转动量与实际辊转动量进行相加,来进行输送量校正。在将辊转动一圈的理想输送量定义为L,并且将实际辊转动量定义为θ的情况下,利用{(SLF/L)×θ}来计算转动量。因此,通过将辊驱动利用增加该转动量进行校正得到的转动量{(1+SLF/L)×θ},可以实现针对辊的转动量θ的理想输送量的输送。
[0080] 更具体地,通过对转动量(驱动量)进行校正,可以使实际输送量接近理想输送量。如上所述,通过利用输送辊编码传感器363对编码轮362上的缝隙的数量进行计数,来对转动量进行管理。持续进行上述利用校正值SLF的输送量校正,直到紧接在薄片的前缘进入排出辊40之前的输送为止。然后,在步骤S0804中,薄片的前缘进入排出辊40,并且状态进入第二输送状态。
[0081] 当处理到达步骤S0804时,然后在步骤S0805中,将一直应用到这里的输送量校正值切换为输送量校正值SLFEJ。在将利用校正值SLFEJ调整辊转动量的同时,执行薄片的中间区域的记录操作。以与在步骤S0803中所述的利用校正值SLF的换算来进行校正的方法类似的方式,进行应用校正值SLFEJ的输送量校正。持续进行利用校正值SLFEJ的输送量校正,直到紧接在薄片的后缘经过输送辊36之前的输送为止。可以基于薄片的前缘的检测位置和以记录的图像信息而输入的薄片长度,来计算薄片的后缘经过输送辊36的时刻。还可以通过由边缘传感器321新检测薄片的后缘的位置来计算该时刻。
[0082] 然后,当如在步骤S0806中,薄片的后缘经过输送辊36并且状态进入到第三输送状态时,在步骤S0807中,将应用的输送量校正值切换为校正值SEJ。然后,在以与上述校正方法类似的方式利用校正值SEJ对输送量进行校正的同时,执行薄片的后缘区域的记录操作。在记录操作结束之后,完成了对薄片的整个区域的图像记录。然后,利用排出辊40将记录了图像的薄片排出到排出托盘上,由此完成图像记录操作。
[0083] 如上所述,根据本典型实施例,可以在对记录介质的记录操作期间,仅通过对输送量不同的三种输送状态中的两种输送状态的输送量进行实际的测量,来进行所有三种输送状态下的输送量校正。因此,与对所有三种输送状态都进行实际测量的情况相比,可以缩短测量时间而不降低输送精度。作为这种效果,例如,在输送量在工厂等中进行实际测量的情况下,可以期望通过缩短单件产品生产时间来降低制造成本。在输送量在用户处进行实际测量的情况下,可以在没有缩短时间的压力的情况下,获取输送量校正值。
[0084] 在根据本典型实施例的配置中,输送辊36和传动齿轮之间的转动速度比是1:1。然而,输送辊36和传动齿轮之间的转动速度比不限于1:1。例如,输送辊36与空转齿轮45或排出辊40之间转动一圈的转动速度比可以是整数倍或者整数分之一。当在这种配置中利用测试图案等来实际测量输送量时,能够期望获取针对每种输送状态下转动一个周期的输送量。
[0085] 例如,即使当设置了输送辊转动:排出辊转动:空转齿轮转动=1:1/m:1/n时,也可以在第一输送状态下实际测量输送辊36转动一圈的输送量,而不管转动速度比如何(m和n为整数)。然而,在第二输送状态下,需要实际测量输送辊36转动m×n圈的输送量。将实际测量的输送量换算为预定转动量,并且存储在输送量T中,从而可以获得输送量校正值S。
[0086] 当在上述测试图案记录期间的薄片输送中对薄片施加了负荷时,需要基于负荷的大小对实际测量的输送量进行换算并获得输送量T。在这种情况下,可以使用用于表示相对于负荷的滑动量的输送特性系数α,来根据负荷的大小推测输送量。相应地,如果对薄片施加了负荷,则可以获得输送量T,并且可以进行各种输送状态下的输送量校正。
[0087] 根据本典型实施例,说明了使用基于实际测量结果的输送量对不同输送状态下的输送量进行的计算。然而,用于进行计算的值不限于输送量。例如,输送量校正值可以预先通过实际测量来获得,并且还可以使用预先获得的输送量校正值来获得不同输送状态下的输送量校正值。在这种情况下,可以将校正值的概念增加到在本典型实施例所述的计算公式中,从而对计算式进行变换。
[0088] 更具体地,可以根据公式5、6和7来设置公式8、9和10的关系。
[0089] TLF=ITLF-SLF (公式8)
[0090] TLFEJ=ITLFEJ-SLFEJ (公式9)
[0091] TEJ=ITEJ-SEJ (公式10)
[0092] 当将公式8、9和10代入公式4时,可以得出公式11的关系。
[0093] (ITLFEJ-SLFEJ) = (γLF/(γLF+γEJ))×(ITLF-SLF)+(γEJ/(γLF+γEJ))×(ITEJ-SEJ) (公式11)
[0094] 可以根据辊的直径和辊的转动角度,来获得理想输送量ITLF和ITEJ。理想输送量ITLF、ITEJ和ITLFEJ满足公式12的关系。
[0095] ITLFEJ=(γLF/(γLF+γEJ))×ITLF+(γEJ/(γLF+γEJ))×ITEJ (公式12)[0096] 当将公式12代入公式11时,得到公式13的关系。
[0097] SLFEJ=(γLF/(γLF+γEJ))×SLF+(γEJ/(γLF+γEJ))×SEJ (公式13)[0098] 可以通过使用各个辊的输送强度(滑动的难度)γLF(=1/αLF)和γEJ(=1/αEJ)作为权重对薄片由各个辊单独输送时的校正值进行加权平均,来计算由输送辊36和排出辊40这两者输送薄片时的校正值。
[0099] 如果通过实际测量输送量获得了校正值SLF、SEJ和SLFEJ中的两个校正值,则可以使用公式11或13来计算剩下的校正值。
[0100] 使用如此获得的校正值,进行图7所示的控制。
[0101] 在使用两个辊输送记录介质时,第一典型实施例根据两种输送状态下的输送量的实际测量,来计算剩下一种输送状态下的输送量,并且在各种输送状态下进行输送量校正。在第一典型实施例中描述的计算输送量的概念不仅可以应用到使用两个辊的情况中,还可以应用到使用多个辊的情况中。因此,在第二典型实施例中,说明如下情况:使用三个辊输送记录介质,并且通过实际测量或计算来获得各种输送状态下的输送量。
[0102] 图8是具体示出根据第二典型实施例的记录设备中的包括薄片输送单元的输送机构的示意性截面图。根据本典型实施例,使用三个辊即上游辊60、中间辊70和下游辊80来输送记录介质。进给的记录介质由引导构件(未示出)引导,进入包括上游辊60和夹持辊62的上游辊对,并且进行输送。由上游辊对输送的记录介质进入包括中间辊70和中间棘轮72的中间辊对,并进行进一步的输送。然后,记录介质进入包括下游辊80和下游棘轮82的下游辊对。由此,在上游辊60、中间辊70和下游辊80进行输送操作的同时,由记录头
67和68适当地进行图像记录,由此在记录介质上记录图像。在图像记录完成的情况下,记录介质最后由下游辊80排出到排出托盘(未示出)。
[0103] 在记录图像时,在输送状态改变的同时输送记录介质。作为记录介质的输送状态,将仅由上游辊60输送记录介质的输送状态定义为输送状态CA;将仅由中间辊70输送记录介质的输送状态定义为输送状态CB;并且将仅由下游辊80输送记录介质的输送状态定义为输送状态CC。此外,对于两个轴的输送状态,将由两个轴即上游辊60和中间辊70输送记录介质的输送状态定义为输送状态CAB。将由两个轴即中间辊70和下游辊80输送记录介质的输送状态定义为输送状态CBC。此外,对于三个轴的输送状态,将由三个轴即上游辊60、中间辊70和下游辊80输送记录介质的输送状态定义为输送状态CABC。根据记录介质在输送方向上的长度,利用最多六种输送状态来执行根据本典型实施例的输送。
[0104] 图11示出了根据本典型实施例的存储各种输送状态下的输送量校正值和计算这些输送量校正值所需的值的表。
[0105] 如图11所示,针对各种输送状态提供了预定转动量的输送量T、输送特性系数α、以及输送量校正值S。由于如上所述,输送特性系数α是表示各个单独的辊相对于负荷的滑动量的值,因此仅在作为仅利用一个辊的输送状态的输送状态CA、CB和CC下,设置输送特性系数α。对于校正值的计算,从根据多种输送状态的实际测量结果而存储的输送量T中,计算剩下的输送状态下的输送量T,并且获得各种输送状态下的输送量校正值S。当记录图像时,根据输送状态使用输送量校正值S,来进行针对输送量校正的辊转动控制。
[0106] 将说明计算各种输送状态下的输送量的方法。输送量的计算的基本概念与上面所描述的类似。更具体地,该概念以如下关系为根据:多个输送单元的协同输送量,是通过以各个输送单元相对于负荷的滑动的难度作为加权系数、对各个输送单元的输送量进行加权平均而获得的输送量。第一典型实施例描述了两个辊与输送相关的情况。然而,不仅在两个辊与输送相关的情况下,而且即使在更多的辊与输送相关的情况下,也可以应用该概念。
[0107] 首先,对于与两个辊相关的输送状态下的输送量,即,输送状态CAB和CBC下的输送量TAB和TBC,可以以与第一典型实施例中的公式3类似的形式,来描述下面的公式14和15。
[0108] TAB=((1/αA)/((1/αA)+(1/αB)))×TA+((1/αB)/((1/αA)+(1/αB)))×TB[0109] (公式14)
[0110] TBC=((1/αB)/((1/αB)+(1/αC)))×TB+((1/αC)/((1/αB)+(1/αC)))×TC[0111] (公式15)
[0112] 基于相同的概念,可以以下面的公式16的形式,来描述与三个辊相关的输送状态下的输送量,即,输送状态CABC下的输送量TABC。更具体地,通过根据输送强度1/αA、1/αB和1/αC对输送量TA、TB和TC进行加权平均,来表示输送量TABC。
[0113] TABC = ((1/αA)×TA+(1/αB)×TB+(1/αC)×TC)/((1/αA)+(1/αB)+(1/αC)) (公式16)[0114] 可以根据公式14、15和16,通过实际测量适当数量的输送状态下的输送量,来计算与图像记录相关的所有输送状态下的输送量。与在第一典型实施例相同,预先存储输送特性系数αA、αB和αC。因此,如果通过实际测量获得了输送量TA、TB和TC,则所有如下三组计算式,即公式4和5、公式6和7、以及式8、9和10的右边都是已知的。因此,可以获得所有输送状态下的输送量。更具体地,通过实际测量三种输送状态下的输送量,可以获得所有六种输送状态下的输送量校正值S,并且可以进行所有输送状态下的输送量校正。
[0115] 当在输送量的实际测量中使用的薄片的长度比上游辊60和下游辊80之间的间隔长时,不存在仅由中间辊70输送薄片的输送状态CB。同样,在这种情况下,根据如下组合的三种输送状态下的输送量的实际测量,可以获得所有输送状态下的输送量。例如,如果通过实际测量获得了输送量TA和TC以及输送量TAB,则可以根据公式14计算输送量TB。然后,如果使用计算出的输送量TB对公式15和16进行了求解,则可以获得所有输送状态下的输送量。此外,当通过实际测量获得了输送量TA、TAB和TABC时,可以通过类似的方法获得所有输送量。因此,当使用三个辊来输送记录介质时,可以根据适当选择的三种输送状态下的输送量的实际测量,来获得剩下的所有输送状态下的输送量。
[0116] 本典型实施例描述了使用三个辊的情况。然而,即使在使用更多的辊的情况下,也能够利用所使用的辊的数量的输送状态下的输送量的实际测量,来获得所有输送状态下的输送量。例如,当使用n个辊来输送记录介质时,存在最大数量为{n×(n+1)/2}的输送状态。例如,如果存在n个输送单元,则需要获得n个输送单元中的能够协同输送薄片的两个或更多个输送单元的所有组合的输送状态以及各个单个输送单元的输送状态的校正值。然而,不需要实际测量所有输送状态下的输送量,而可以对n种输送状态进行实际测量。这是因为可以利用各个辊中的输送量和输送特性系数,来写出在其它多个辊协作输送记录介质的情况下的输送状态下的输送量的计算公式,如果获得了各个辊中的输送量,则可以获得所有的输送量。此外,如果不实际测量任意一个辊中的输送量,则可以利用与该辊相关的输送状态下的输送量进行换算。
[0117] 与在第一典型实施例中相同,用于进行计算的值不限于输送量,可以基于输送量校正值来进行计算。更具体地,可以在不局限于基于关系“多个输送单元的协同输送量,是通过以各个输送单元相对于负荷的滑动的难度作为加权系数、对各个输送单元的输送量进行加权平均而获得的输送量”的计算处理的情况下,表现本实施例的效果。
[0118] 在第一典型实施例中,详细描述了如下例子:输送辊转动:排出辊转动:空转齿轮转动=1:1:1。然而,本发明可以应用于其它转动速度比。
[0119] 当仅由输送辊36输送记录介质时,将输送辊36设计为:输送辊36转动θLF,记录介质输送预定距离ILLF。更具体地,输送辊36的半径是确定的。当输送辊36转动θLF时,将输送辊36和排出辊40之间的设计转动速度比设置为使得排出辊40转动θEJ。此外,将排出辊40设计为:当仅由排出辊40输送记录介质时,排出辊40转动θEJ,记录介质输送该输送量ILLF。当输送辊36和排出辊40两者同时输送记录介质时,在输送辊36转动θLF以及排出辊40转动θEJ的情况下,将记录介质输送输送量ILLFEJ。
[0120] 将在当仅由输送辊36输送记录介质时,输送辊36转动θLF的情况下的输送量的实际测量值定义为TLLF。类似地,将在当仅由排出辊40输送记录介质时,排出辊40转动θEJ的情况下的输送量的实际测量值定义为TLEJ。将在当由输送辊36和排出辊40输送记录介质时,输送辊36转动θLF并且排出辊40转动θEJ的情况下的输送量的实际测量值定义为TLLFEJ。输送量的实际测量值和理想输送量之间的差是校正值。在将仅由输送辊36、仅由排出辊40以及由输送辊36和排出辊40输送记录介质的情况下的校正值,分别定义为SLLF、SLEJ和SLLFEJ的情况下,设置公式17、18和19的关系。
[0121] SLLF=ILLF-TLLF (公式17)
[0122] SLLFEJ=ILLFEJ-TLLFEJ (公式18)
[0123] SLEJ=ILEJ-TLEJ (公式19)
[0124] 在如在公式20、21和22中对公式17、18和19进行变形,并且代入公式4的情况下,可以得到公式23的关系。
[0125] TLLF=ILLF-SLLF (公式20)
[0126] TLLFEJ=ILLFEJ-SLLFEJ (公式21)
[0127] TLEJ=ILEJ-SLEJ (公式22)
[0128] (ITLLFEJ-SLLFEJ)= (γLF/(γLF+γEJ))×(ITLF-SLLF)+(γEJ/(γLF+γEJ))×(ITLEJ-SLEJ) (公式23)
[0129] 理想输送量ITLF、ITEJ和ITLFEJ满足式公24的关系。
[0130] ITLLFEJ=(γLF/(γLF+γEJ))×ITLF+(γEJ/(γLF+γEJ))×ITLEJ[0131] (公式24)
[0132] 在将公式24代入公式23的情况下,得到公式25的关系。
[0133] SLLFEJ=(γLF/(γLF+γEJ))×SLLF+(γEJ/(γLF+γEJ))×SLEJ (公式25)[0134] 更具体地,可以通过使用各个辊的输送强度作为权重,对在由各个辊单独输送记录介质时的校正值进行加权平均,来计算由输送辊36和排出辊40这两者输送记录介质时的校正值。各个辊的输送强度(即,滑动的难度)是γLF(=1/αLF)和γEJ(=1/αEJ)。
[0135] 如果通过输送量的实际测量获得了校正值SLLF、SLEJ和SLLFEJ中的两个校正值,则可以利用公式11或13来计算剩下的校正值。
[0136] 使用如此获得的校正值,来进行图7中的流程图的控制。
[0137] 当仅由输送辊36将记录介质输送了输送量ILLF时,将输送辊36驱动{(1+SLLF/ILLF)×θLF}。当仅由排出辊40将记录介质输送了输送量ILEJ时,将排出辊40驱动{(1+SLEJ/ILEJ)×θEJ}。当由输送辊36和排出辊40这两者将记录介质输送了输送量ILLFEJ时,输送辊36和排出辊40分别转动{(1+SLLFEJ/ILLFEJ)×θLF}和{(1+SLLFEJ/ILLFEJ)×θEJ}。
[0138] 可以基于这些值来获得所需的输送量的辊的转动角度,并且可以对其进行校正。
[0139] 因此,可以根据已知的输送状态下的输送量来计算未知的输送状态下的输送量。由于用来计算输送量的计算公式是以各个输送单元的输送量的关系式为根据,因此输送量的校正精度不降低。因此,与对所有输送状态下的输送量进行实际测量和校正的传统技术相比,上述典型实施例可以缩短测量时间而不降低校正精度。
[0140] 尽管参考典型实施例对本公开进行了说明,但是应当理解,本发明不限于所公开的典型实施例。所附权利要求的范围符合最宽的解释,以覆盖所有这类变型、等同结构及功能。