电子设备环境测试系统

摘要

本发明公开了一种电子设备环境测试系统，根据测试标准选定温箱温度时间曲线，在存储器中设定对应于该温度时间曲线的各个状态改变时间及温度浮动限值、门限电压，处理器根据温箱测试腔体的实时温度和测试计时，以及各个状态改变时间及温度浮动限值、门限电压，自动控制待测电子设备的上电、断电及停止测试。本发明的电子设备环境测试系统，根据温箱测试腔体的实时温度与预先选定的温箱的温度时间之间的对应关系，实时判断温箱运行是否正常，不仅关注时间参数，还关注检测环境温度，而且在测试过程中，待测电子设备的运行状态可以根据测试标准进行改变，能实现对待测电子设备运行状态的精确控制，最大程度符合测试标准的要求。

权利要求

1.一种电子设备环境测试方法，其特征在于，

利用温箱按照设定的温度时间曲线提供测试腔体温度；

利用温度传感器检测温箱测试腔体的温度；

利用存储器存储温度浮动限值以及依序增大的第一个到第2N个共2N个状态改变时间，第2N个状态改变时间小于温箱设定的温度时间曲线的时间长度，N为正整数；

利用处理器输出停止测试信号，处理器工作过程包括以下步骤：一.所述温箱加电运行后，如果所述温度传感器检测到温箱测试腔体的温度达到温箱设定的温度时间曲线的起点温度，则开始测试计时，并且i＝1；

二.如果开始测试计时后的一时刻，所述温度传感器检测的所述温箱测试腔体的温度与所述温箱设定的温度时间曲线对应于该时刻的温度的差值的绝对值大于温度浮动限值的绝对值，进行步骤五，否则进行步骤三；

三.当测试计时小于第i个状态改变时间时，处理器输出断电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源断开，进行步骤二；当测试计时大于等于第i个状态改变时间且小于第i+1个状态改变时间时，处理器输出上电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源接通，进行步骤二；当测试计时等于第i+1个状态改变时间时，处理器输出断电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源断开，并使i自增2；

四.如果i小于2N,则进行步骤二，否则进行步骤五；

五.控制输出停止测试信号。

2.根据权利要求1所述的电子设备环境测试方法，其特征在于，步骤五中，控制输出停止测试信号，控制温箱断电，控制待测电子设备断电，停止测试。

3.根据权利要求2所述的电子设备环境测试方法，其特征在于，还利用存储器存储门限电压；

利用电压采集电路采集待测电子设备的供电电压；

步骤三中，当测试计时大于等于第i个状态改变时间且小于第i+1个状态改变时间，处理器输出上电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源接通后，如果电压采集电路采集的待测电子设备的供电电压大于等于所述门限电压，则判断为待测电子设备上电工作，进行步骤二，如果电压采集电路采集的待测电子设备的供电电压小于所述门限电压，则判断为待测电子设备掉电不工作，进行步骤五。

4.根据权利要求3所述的电子设备环境测试方法，其特征在于，用户通过操作界面选择温箱的温度时间曲线，设定存储器中的温度浮动限值、门限电压、以及对应于所述温度时间曲线的2N个状态改变时间。

5.根据权利要求4所述的电子设备环境测试方法，其特征在于，所述温度浮动限值为2℃；

所述门限电压为10V。

6.根据权利要求4所述的电子设备环境测试方法，其特征在于，N为2，第一个状态改变时间为150分钟，第二个状态改变时间为160分钟，第三个状态改变时间为210分钟，第四个状态改变时间为410分钟。

7.根据权利要求1到6任一项所述的电子设备环境测试方法，其特征在于，所述待测电子设备为汽车电子设备。

说明书

电子设备环境测试系统

技术领域

[0001] 本发明涉及电子设备测试技术，特别涉及一种电子设备环境测试系统。

背景技术

[0002] 在电子设备环境测试中，以ISO16750-4中汽车电子设备温度循环测试为例，要求待测电子设备在指定的温度和时间内启动运行，在其余温度和时间内停止运行。目前对待测电子设备的运行状态控制主要有两种方式。

[0003] 1)在整个测试过程中，一直让待测电子设备处于运行状态。

[0004] 2)根据设定时间来控制电子设备运行状态。即测试标准中规定的时间达到后，启动/停止待测电子设备运行；

[0005] 第一种方式中，电子设备一直处于运行状态，测试过程不符合测试规范的要求。

[0006] 第二种方案中，仅关注时间参数，未同步检测环境温度是否达到设定温度，无法实现对待测电子设备运行状态的精确控制。

发明内容

[0007] 本发明要解决的技术问题是提供一种电子设备环境测试系统，能根据温度变化实时的精确控制待测电子设备的运行状态。

[0008] 为解决上述技术问题，本发明提供的电子设备环境测试系统，其包括温箱、温度传感器、存储器、处理器；

[0009] 所述温箱，用于按照设定的温度时间曲线提供测试腔体温度；

[0010] 所述温度传感器，用于检测温箱测试腔体的温度；

[0011] 所述存储器，用于存储温度浮动限值，以及依序增大的第一个到第2N个共2N个状态改变时间，第2N个状态改变时间小于温箱设定的温度时间曲线的时间长度，N为正整数；

[0012] 所述处理器，工作过程包括以下步骤：

[0013] 一.所述温箱加电运行后，如果所述温度传感器检测到温箱测试腔体的温度达到温箱设定的温度时间曲线的起点温度，则开始测试计时，并且i＝1；

[0014] 二.如果开始测试计时后的一时刻，所述温度传感器检测的所述温箱测试腔体的温度与所述温箱设定的温度时间曲线对应于该时刻的温度的差值的绝对值大于温度浮动限值的绝对值，进行步骤五，否则进行步骤三；

[0015] 三.当测试计时小于第i个状态改变时间时，处理器输出断电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源断开，进行步骤二；当测试计时大于等于第i个状态改变时间且小于第i+1个状态改变时间时，处理器输出上电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源接通，进行步骤二；当测试计时等于第i+1个状态改变时间时，处理器输出断电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源断开，并使i自增2；

[0016] 四.如果i小于2N,则进行步骤二，否则进行步骤五；

[0017] 五.控制器输出停止测试信号。

[0018] 较佳的，步骤五中，控制器输出停止测试信号，控制温箱断电，控制待测电子设备断电，停止测试。

[0019] 较佳的，所述电子设备环境测试系统，还包括一电压采集电路；

[0020] 所述存储器，还用于存储门限电压；

[0021] 所述电压采集电路，用于采集待测电子设备的供电电压；

[0022] 步骤三中，当测试计时大于等于第i个状态改变时间且小于第i+1个状态改变时间，处理器输出上电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源接通后，如果电压采集电路采集的待测电子设备的供电电压大于等于所述门限电压，则判断为待测电子设备上电工作，进行步骤二，如果电压采集电路采集的待测电子设备的供电电压小于所述门限电压，则判断为待测电子设备掉电不工作，进行步骤五。

[0023] 较佳的，所述电子设备环境测试系统，还包括一操作界面，用户通过所述操作界面选择温箱的温度时间曲线，设定存储器中的温度浮动限值、门限电压、以及对应于所述温度时间曲线的2N个状态改变时间。

[0024] 本发明的电子设备环境测试系统，根据测试标准选定温箱温度时间曲线，在存储器中设定对应于该温度时间曲线的各个状态改变时间及温度浮动限值、门限电压，处理器根据温箱测试腔体的实时温度和测试计时，以及各个状态改变时间及温度浮动限值、门限电压，自动控制待测电子设备的上电、断电及停止测试。本发明的电子设备环境测试系统，根据温箱测试腔体的实时温度与预先选定的温箱的温度时间之间的对应关系，实时判断温箱运行是否正常，不仅关注时间参数，还关注检测环境温度，而且在测试过程中，待测电子设备的运行状态可以根据测试标准进行改变，能实现对待测电子设备运行状态的精确控制，最大程度符合测试标准的要求。

附图说明

[0025] 为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面对本发明所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

[0026] 图1是本发明的电子设备环境测试系统一实施例示意图；

[0027] 图2是本发明的电子设备环境测试系统一实施例的所述处理器工作流程图；

[0028] 图3是一温箱温度时间曲线图；

[0029] 图4是图3温箱温度时间曲线图的相应温度浮动限值、门限电压、状态改变时间。

具体实施方式

[0030] 下面将结合附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

[0031] 实施例一

[0032] 电子设备环境测试系统，如图1所示，包括温箱、温度传感器、存储器、处理器、电压采集电路；

[0033] 所述温箱，用于按照设定的温度时间曲线提供测试腔体温度；

[0034] 所述温度传感器，用于检测所述温箱测试腔体的温度；

[0035] 所述存储器，用于存储温度浮动限值、门限电压，以及依序增大的第一个到第2N个共2N个状态改变时间，第2N个状态改变时间小于温箱设定的温度时间曲线的时间长度，N为正整数；

[0036] 所述电压采集电路，用于采集待测电子设备的供电电压；

[0037] 所述处理器，工作过程如图2所示，包括以下步骤：

[0038] 一.所述温箱加电运行后，如果所述温度传感器检测到所述温箱测试腔体的温度达到温箱设定的温度时间曲线的起点温度，则开始测试计时，并且i＝1；

[0039] 二.如果开始测试计时后的一时刻，所述温度传感器检测的所述温箱测试腔体的温度与所述温箱设定的温度时间曲线对应于该时刻的温度的差值的绝对值大于温度浮动限值的绝对值，则判断为温箱运行故障，进行步骤六，否则判断为温箱运行正常，进行步骤三；

[0040] 三.当测试计时小于第i个状态改变时间时，处理器输出断电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源断开，进行步骤二；当测试计时大于等于第i个状态改变时间且小于第i+1个状态改变时间时，处理器输出上电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源接通，进行步骤四；当测试计时等于第i+1个状态改变时间时，处理器输出断电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源断开，并使i自增2，进行步骤五；

[0041] 四.当测试计时大于等于第i个状态改变时间且小于第i+1个状态改变时间时，如果电压采集电路采集的待测电子设备的供电电压大于等于所述门限电压，则判断为待测电子设备上电工作，进行步骤二；如果电压采集电路采集的待测电子设备的供电电压小于所述门限电压，则判断为待测电子设备掉电不工作，进行步骤六；

[0042] 五.如果i小于2N,则进行步骤二，否则进行步骤六；

[0043] 六.控制器输出停止测试信号，控制温箱断电，控制待测电子设备断电，停止测试。

[0044] 实施例二

[0045] 基于实施例一，电子设备环境测试系统，还包括一操作界面，用户通过操作界面选择温箱的温度时间曲线，设定存储器中的温度浮动限值、门限电压、以及对应于所述温度时间曲线的2N个状态改变时间。

[0046] 实施例三

[0047] 基于实施例二，ISO16750-4标准中一汽车电子设备温度循环测试标准如图3所示，该测试标准要求，待测电子设备在温度时间曲线的起点后的第150分钟时上电启动运行，如果上电正常则在第160分钟使测电子设备断电停止运行；在第210分钟时待测电子设备重新上电启动运行，如果上电正常则在第410分钟时使测电子设备断电停止运行；如果待测电子设备上电不正常，则停止测试。

[0048] 电子设备环境测试系统，实现以上标准要求的汽车电子设备温度循环测试的过程如下：

[0049] 一.通过操作界面，选择如图3所示的温箱温度时间曲线，设定存储器中的温度浮动限值、门限电压，以及对应于该温度时间曲线的4个状态改变时间，如图4所示，该温度时间曲线的起点温度为20℃，温度浮动限值为2℃，门限电压为10V，第一个状态改变时间为150分钟，第二个状态改变时间为160分钟，第三个状态改变时间为210分钟，第四个状态改变时间为410分钟；

[0050] 二.使用温度传感器每隔30秒采集一次温箱测试腔体的温度，并将各采样时刻测试腔体的温度与温箱温度时间曲线对应于各采样时刻的温度分别作比较，如果差值在设定的温度浮动限值2℃内，则认为温箱运行正常，否则判断为温箱运行故障，停止测试；

[0051] 三.当温箱测试腔体的温度达到温度时间曲线的起点温度为20℃时，开始测试计时；

[0052] 四.当测试计时小于第一个状态改变时间150分钟时，处理器输出断电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源断开；

[0053] 当测试计时大于等于第一个状态改变时间150分钟且小于第二个状态改变时间160分钟，并且温箱运行正常时，处理器输出上电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源接通，使待测电子设备上电运行。在此期间，电压采集电路采集待测电子设备的供电电压，如果待测电子设备的供电电压小于门限电压10V，则认为待测电子设备上电失败，停止测试，否则认为待测电子设备上电成功，直到测试计时大于等于第二个状态改变时间160分钟时，处理器输出断电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源断开；

[0054] 当测试计时大于等于第三个状态改变时间210分钟且小于第四个状态改变时间410分钟，并且温箱运行正常时，处理器再次输出上电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源接通，使待测电子设备上电运行。在此期间，电压采集电路采集待测电子设备的供电电压，如果待测电子设备的供电电压小于门限电压10V，则认为待测电子设备上电失败，停止测试，否则认为待测电子设备上电成功，直到测试计时大于等于第四个状态改变时间
160分钟时，处理器输出断电状态控制信号，控制待测电子设备的工作电源断开。

[0055] 本发明的电子设备环境测试系统，根据测试标准选定温箱温度时间曲线，在存储器中设定对应于该温度时间曲线的各个状态改变时间及温度浮动限值、门限电压，处理器根据温箱测试腔体的实时温度和测试计时，以及各个状态改变时间及温度浮动限值、门限电压，自动控制待测电子设备的上电、断电及停止测试。本发明的电子设备环境测试系统，根据温箱测试腔体的实时温度与预先选定的温箱的温度时间之间的对应关系，实时判断温箱运行是否正常，不仅关注时间参数，还关注检测环境温度，而且在测试过程中，待测电子设备的运行状态可以根据测试标准进行改变，能实现对待测电子设备运行状态的精确控制，最大程度符合测试标准的要求。

[0056] 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。