本发明涉及3G通讯领域，尤其涉及一种用于校准3G网卡的系统及其校准方法，该系统包括PC、Agilent 8960综合测试仪、稳压电源和待测试板夹具，3G网卡固定在待测试板夹具上，所述Agilent 8960综合测试仪通过通用接口总线至所述PC，所述PC通过USB接口线与待测试板夹具进行连接，所述稳压电源为待测试板夹具提供电源，所述Agilent 8960综合测试仪通过射频线和3G网卡相连。本发明实现了3G网卡生产的自动化，减少人工对于测试环境的干预，避免人为校验操作出错，避免由于线路衰减的准确度对射频的测试结果造成影响，减少操作人员的工作量，提高了生产效率和准确度。
1.一种用于校准3G网卡的方法，其特征在于包括以下步骤：
步骤一，搭建测试环境，选择Agilent 8960综合测试仪、PC、稳压电源和待测试板夹具，将3G网卡固定在待测试板夹具上，所述Agilent 8960综合测试仪通过GPIB卡连接至所述PC，所述PC通过USB接口线与待测试板夹具进行连接，所述稳压电源为待测试板夹具提供电源，所述Agilent 8960综合测试仪通过射频线和3G网卡相连；
步骤二，利用Agilent 8960综合测试仪通过VISA库进行校准和测试，通过高通提供的QILB库，读写待测测试板中芯片内的参数；
将3G网卡放入待测试板夹具中，打开Agilent 8960综合测试仪，由Agilent8960综合测试仪进入校准模式并完成校准，再由Agilent 8960综合测试仪将校准参数写入3G网卡内；
步骤三，重启3G网卡，打开Agilent 8960综合测试仪，由Agilent 8960综合测试仪控制进入测试模式；
步骤四，断开所述Agilent 8960综合测试仪和3G网卡，得出测试结果。
2.根据权利要求1所述的一种用于校准3G网卡的方法，其特征在于：步骤二中，Agilent
AGC校准：通过所述Agilent 8960综合测试仪中信号源列表模式依次发射一组频率和功率组合的下行，并通过待测试板芯片的AGC参数读取指令读取AGC参数，计算调整AGC参数，通过待测试板芯片的AGC参数写入指令将调整后的AGC参数值写入存贮介质；
AFC校准：让装有3G网卡的通信设备在一系列特定的频率上发射信号，通过物理层信令模拟指令设定手机发射信号的频率和功率，使用所述Agilent 8960综合测试仪分析选件测量终端发射信号的频率误差，根据测量值计算调整AFC参数，通过芯3G网卡提供的AFC参数写入指令将调整后的AFC参数值写回存贮介质；
APC校准：通过物理层信令模拟指令设定手机发射信号的频率和功率，使用Agilent
8960综合测试仪对信号的功率进行测试，直到所有要求的频率、功率点测试完毕，根据测量值计算调整APC参数，通过芯片厂商提供的 APC参数写入指令将调整后的APC参数值写回存贮介质。
3.根据权利要求1所述的一种用于校准3G网卡的方法，其特征在于：步骤三中，Agilent
TX测试：通过所述Agilent 8960综合测试仪测试3G网卡的最大输出功率，最小输出功率，临道功率泄露，频谱发射模板和占用带；
RX测试：通过控制所述Agilent 8960综合测试仪，测试3G网卡的接收灵敏度。
一种用于校准3G网卡的方法
技术领域
[0001] 本发明涉及3G通讯领域，尤其涉及一种用于校准3G网卡的系统及其校准方法。
背景技术
[0002] 3G上网卡是目前无线广域通信网络应用广泛的上网介质。目前我国有中国移动的td-scdma和中国电信的CDMA2000以及中国联通的WCDMA三种网络制式，所以常见的无线上网卡就包括CDMA2000无线上网卡和TD、WCDMA无线上网卡三类。
[0003] 随着社会以及技术的发展，3G技术也越来越广泛的进入到人们的生活当中，3G网卡作为一种上网介质，也成为了人们日常生活当中常见的物品。旺盛的市场需求，需要相对应的生产力来满足要求。但是，3G上网卡的生产并不容易，在3G网卡的生产过程中，需要对射频指标进行校准及测试，射频参数直接影响到性能的优劣，进而影响产品通讯性能和用户体验。面对复杂的校准过程以及测试过程，人为的去手动操作仪器并记录测试结果显然是不可能的，同时，效率上面也远远不能够满足如今旺盛的市场需求以及批量化生产的要求。
发明内容
[0004] 本发明的目的在于提供一种用于校准3G网卡的系统及其校准方法，解决现有技术中，对3G网卡的射频指标校准及测试不仅效率低，而且准确率很低的问题。
[0005] 为解决上述问题，本发明所采取的技术方案是：
[0006] 一种用于校准3G网卡系统，包括PC、Agilent 8960综合测试仪、稳压电源和待测试板夹具，3G网卡固定在待测试板夹具上，所述Agilent 8960综合测试仪通过通用接口总线至所述PC，所述PC通过USB接口线与待测试板夹具进行连接，所述稳压电源为待测试板夹具提供电源，所述Agilent 8960综合测试仪通过射频线和3G网卡相连。
[0007] 更进一步的技术方案是，所述待测试板夹具和3G网卡均放置在屏蔽箱内。
[0008] 一种用于校准3G网卡的方法，包括以下步骤：
[0009] 步骤一，搭建测试环境，选择Agilent 8960综合测试仪、PC、稳压电源和待测试板夹具，将3G网卡固定在待测试板夹具上，所述Agilent 8960综合测试仪通过GPIB卡(通用接口总线)连接至所述PC，所述PC通过USB接口线与待测试板夹具进行连接，所述稳压电源为待测试板夹具提供电源，所述Agilent 8960综合测试仪通过射频线和3G网卡相连。
[0010] 步骤二，利用Agilent 8960综合测试仪通过VISA库进行校准和测试，通过高通提供的QILB库，读写待测测试板中芯片内的参数；
[0011] 将3G网卡放入待测试板夹具中，打开Agilent 8960综合测试仪，由Agilent 8960综合测试仪进入校准模式并完成校准，再由Agilent 8960综合测试仪将校准参数写入3G网卡内；
[0012] 步骤三，重启CG网卡，打开Agilent 8960综合测试仪，由Agilent 8960综合测试仪控制进入测试模式；
[0013] 步骤四，断开所述Agilent 8960综合测试仪和3G网卡，得出测试结果。
[0014] 更进一步的技术方案是，步骤二中，Agilent 8960综合测试仪校准的方法是：
[0015] AGC校准：通过所述Agilent 8960综合测试仪中信号源列表模式依次发射一组频率和功率组合的下行，并通过待测试板芯片的AGC参数读取指令读取AGC参数，计算调整AGC参数，通过待测试板芯片的AGC参数写入指令将调整后的AGC参数值写入存贮介质；
[0016] AFC校准：让装有3G网卡的通信设备在一系列特定的频率上发射信号，通过物理层信令模拟指令设定手机发射信号的频率和功率，使用所述Agilent 8960综合测试仪分析选件测量终端发射信号的频率误差，根据测量值计算调整AFC参数，通过芯3G网卡提供的AFC参数写入指令将调整后的AFC参数值写回存贮介质；
[0017] APC校准：通过物理层信令模拟指令设定手机发射信号的频率和功率，使用Agilent 8960综合测试仪对信号的功率进行测试，直到所有要求的频率、功率点测试完毕，根据测量值计算调整APC参数，通过芯片厂商提供的APC参数写入指令将调整后的APC参数值写回存贮介质。
[0018] 更进一步的技术方案是，步骤三中，Agilent 8960综合测试仪的测试方法 是：
[0019] TX测试：通过所述Agilent 8960综合测试仪测试3G网卡的最大输出功率，最小输出功率，临道功率泄露，频谱发射模板和占用带；
[0020] RX测试：通过控制所述Agilent 8960综合测试仪，测试3G网卡的接收灵敏度。
[0021] 采用上述技术方案所产生的有益效果在于：本发明实现了3G网卡生产的自动化，减少人工对于测试环境的干预，避免人为校验操作出错，避免由于线路衰减的准确度对射频的测试结果造成影响，减少操作人员的工作量，提高了生产效率和准确度。
附图说明
[0022] 图1是本发明一种用于校准3G网卡系统的连接框图。
[0023] 图2是本发明一种用于校准3G网卡的方法的流程示意图。
具体实施方式
[0024] 为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0025] 图1示出了本发明一种用于校准3G网卡系统的一个实施例：一种用于校准3G网卡系统，包括PC、Agilent 8960综合测试仪、稳压电源和待测试板夹具，3G网卡固定在待测试板夹具上，所述Agilent 8960综合测试仪通过通用接口总线(GPIB BUS)至所述PC，所述PC通过USB接口线与待测试板夹具进行连接，所述稳压电源为待测试板夹具提供电源，所述Agilent 8960综合测试仪通过射频线(RF Cable)和3G网卡相连。
[0026] 根据本发明一种用于校准3G网卡系统的一个优选实施例，所述待测试板夹具和3G网卡均放置在屏蔽箱内。
[0027] 图2示出了本发明一种用于校准3G网卡的方法的一个实施例：一种用于校准3G网卡的方法，包括以下步骤：
[0028] 步骤一，搭建测试环境，选择Agilent 8960综合测试仪、PC、稳压电源和待测试板夹具，将3G网卡固定在待测试板夹具上，所述Agilent 8960综合测试仪通过通用接口总线(GPIB BUS)至所述PC，所述PC通过USB接口线与待测试 板夹具进行连接，所述稳压电源为待测试板夹具提供电源，所述Agi lent 8960综合测试仪通过射频线和3G网卡相连；
[0029] 步骤二，利用Agilent 8960综合测试仪通过VISA库进行校准和测试，通过高通提供的QILB库，读写待测测试板中芯片内的参数；
[0030] 将3G网卡放入待测试板夹具中，打开Agilent 8960综合测试仪，由Agilent 8960综合测试仪进入校准模式并完成校准，再由Agilent 8960综合测试仪将校准参数写入3G网卡内；
[0031] 步骤三，重启CG网卡，打开Agilent 8960综合测试仪，由Agilent 8960综合测试仪控制进入测试模式；
[0032] 步骤四，断开所述Agilent 8960综合测试仪和3G网卡，得出测试结果。
[0033] 根据本发明一种用于校准3G网卡的方法的一个优选实施例，，步骤二中，Agilent 8960综合测试仪校准的方法是：
[0034] AGC校准：通过所述Agilent 8960综合测试仪中信号源列表模式依次发射一组频率和功率组合的下行，并通过待测试板芯片的AGC参数读取指令读取AGC参数，计算调整AGC参数，通过待测试板芯片的AGC参数写入指令将调整后的AGC参数值写入存贮介质；
[0035] AFC校准：让装有3G网卡的通信设备在一系列特定的频率上发射信号，通过物理层信令模拟指令设定手机发射信号的频率和功率，使用所述Agilent 8960综合测试仪分析选件测量终端发射信号的频率误差，根据测量值计算调整AFC参数，通过芯3G网卡提供的AFC参数写入指令将调整后的AFC参数值写回存贮介质；
[0036] APC校准：通过物理层信令模拟指令设定手机发射信号的频率和功率，使用Agilent 8960综合测试仪对信号的功率进行测试，直到所有要求的频率、功率点测试完毕，根据测量值计算调整APC参数，通过芯片厂商提供的APC参数写入指令将调整后的APC参数值写回存贮介质。
[0037] 根据本发明一种用于校准3G网卡的方法的另一个优选实施例，步骤三中，Agilent 8960综合测试仪的测试方法是：
[0038] TX测试：通过所述Agilent 8960综合测试仪测试3G网卡的最大输出功率，最小输出功率，临道功率泄露，频谱发射模板和占用带；
[0039] RX测试：通过控制所述Agilent 8960综合测试仪，测试3G网卡的接收灵敏度。
[0040] 尽管这里参照本发明的多个解释性实施例对本发明进行了描述，但是，应该理解，本领域技术人员可以设计出很多其他的修改和实施方式，这些修改和实施方式将落在本申请公开的原则范围和精神之内。更具体地说，在本申请公开、附图和权利要求的范围内，可以对主题组合布局的组成部件和/或布局进行多种变型和改进。除了对组成部件和/或布局进行的变形和改进外，对于本领域技术人员来说，其他的用途也将是明显的。
