CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法

摘要

本发明提供了一种CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，包括以下步骤：ATE用抓取RGB格式图像数据的方法抓取CIS芯片输出的YUV格式图像数据；将抓取到的YUV格式图像数据存储到一离线文件上；将存储在所述离线文件上的YUV格式图像数据与CIS芯片的预期图像处理结果进行比对；输出比对结果。ATE只需用抓取RGB格式图像数据的方法抓取CIS芯片输出的YUV格式图像数据，并与所述CIS芯片设计方提供的预期处理结果进行比对，以此来判断所述CIS芯片的ISP测试是否通过。即利用现有的支持RGB格式的ATE机台即可实现对YUV格式的测试，降低测试成本和风险，提高测试效率。

权利要求

1.一种CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，其特征在于，包括以下步骤：ATE用抓取RGB格式图像数据的方法抓取CIS芯片输出的YUV格式图像数据；

将抓取到的YUV格式图像数据存储到一离线文件上；

将存储在所述离线文件上的YUV格式图像数据与CIS芯片的预期图像处理结果进行比对；

若存储于所述离线文件上的数据与所述预期处理结果完全相同，则所述CIS芯片的ISP测试通过；若存储于所述离线文件上的数据与所述预期处理结果有差异，则所述CIS芯片的ISP测试没有通过。

2.如权利要求1所述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，其特征在于，所述ATE在抓取所述CIS芯片输出的YUV格式图像数据时，抓取的是所述YUV格式图像上的每一个像元的数字输出。

3.如权利要求2所述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，其特征在于，所述YUV格式图像上的每一个像元对应两个数字输出。

4.如权利要求3所述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，其特征在于，将所述YUV格式图像上的每一个像元对应的两个数字输出存储到所述离线文件上。

5.如权利要求4所述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，其特征在于，所述离线文件位于与所述ATE连接的主机上。

6.如权利要求1所述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，其特征在于，所述CIS芯片的预期图像处理结果为所述CIS芯片经过图像信号处理后图像的每一个像元的数字输出。

7.如权利要求6所述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，其特征在于，所述CIS芯片的预期图像处理结果的每一个像元对应两个数字输出。

8.如权利要求7所述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，其特征在于，所述CIS芯片的预期图像处理结果存储于与所述ATE相连接的主机上的一预期输出文件上。

9.如权利要求8所述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，其特征在于，将所述离线文件上的数字输出与所述预期输出文件上的数字输出进行比对。

10.如权利要求9所述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，其特征在于，所述离线文件上的数字输出与所述预期输出文件上的数字输出完全相同，则测试通过。

11.如权利要求9所述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，其特征在于，所述离线文件上的数字输出与所述预期输出文件上的数字输出有差异，则测试失败，并将所有出错的像元位置写入到分析结果文件，用做失效分析依据。

说明书

CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法

技术领域

[0001] 本发明涉及集成电路制造设备技术领域，尤其是一种CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法。

背景技术

[0002] CIS(CMOS Image Sensor，CMOS图像传感器)芯片的输出为图像，常用的图像格式有RGB格式、YUV格式两种。在CIS芯片量产测试中，对图像的测试即用专用的ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)机台抓取CIS芯片输出的图像并对其进行像素分析。目前，为了提高图像质量，越来越多的CIS芯片自带了ISP(Image Signal Process，图像信号处理)功能，很多芯片输出在经过ISP处理后会由原始的RGB格式变为YUV格式。但很多ATE机台只支持RGB格式，不支持YUV格式。

[0003] ISP是对图像进行分析、加工、处理的技术，可实现对图像进行坏点修正、白平衡校正、色彩补偿等处理，为确保图像质量，高像素的CIS芯片一般都具有ISP功能。这些CIS芯片的ATE量产测试也需要对ISP功能进行验证。

[0004] 目前测试ISP一般有两种方案，一种是用FPGA搭建系统版的方式。但是这种方法速度慢、效率低，测试成本高。一种是升级ATE机台，换成支持YUV格式输出的资源。但ATE机台价格昂贵，成本高，而且若芯片出货量不大，成本无法收回，风险大。

发明内容

[0005] 本发明的目的在于提供一种CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，以解决无法利用现有的支持RGB格式输出的ATE机台对YUV格式的图像信号处理输出进行测试的问题。

[0006] 为了达到上述目的，本发明提供了一种CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，包括以下步骤：

[0007] ATE用抓取RGB格式图像数据的方法抓取CIS芯片输出的YUV格式图像数据；

[0008] 将抓取到的YUV格式图像数据存储到一离线文件上；

[0009] 将存储在所述离线文件上的YUV格式图像数据与CIS芯片的预期图像处理结果进行比对；

[0010] 输出比对结果。

[0011] 优选的，在上述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法中，所述ATE在抓取所述CIS芯片输出的YUV格式图像数据时，抓取的是所述YUV格式图像上的每一个像元的数字输出。

[0012] 优选的，在上述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法中，所述YUV格式图像上的每一个像元对应两个数字输出。

[0013] 优选的，在上述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法中，将所述YUV格式图像上的每一个像元对应的两个数字输出存储到所述离线文件上。

[0014] 优选的，在上述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法中，所述离线文件位于与所述ATE连接的主机上。

[0015] 优选的，在上述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法中，所述CIS芯片的预期图像处理结果为所述CIS芯片经过图像信号处理后图像的每一个像元的数字输出。

[0016] 优选的，在上述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法中，所述CIS芯片的预期图像处理结果的每一个像元对应两个数字输出。

[0017] 优选的，在上述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法中，所述CIS芯片的预期图像处理结果存储于与所述ATE相连接的主机上的一预期输出文件上。

[0018] 优选的，在上述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法中，将所述离线文件上的数字输出与所述预期输出文件上的数字输出进行比对。

[0019] 优选的，在上述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法中，所述离线文件上的数字输出与所述预期输出文件上的数字输出完全相同，则测试通过。

[0020] 优选的，在上述的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法中，所述离线文件上的数字输出与所述预期输出文件上的数字输出有差异，则测试失败，并将所有出错的像元位置写入到分析结果文件，用做失效分析依据。

[0021] 在本发明提供的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法中，ATE只需用抓取RGB格式图像数据的方法抓取CIS芯片输出的YUV格式图像数据，将抓取到的结果存储在一离线文件上，并将所述存储结果与所述CIS芯片设计方提供的预期处理结果进行比对，若存储于所述离线文件上的数据与所述预期处理结果完全相同，则所述CIS芯片的ISP测试通过；若存储于所述离线文件上的数据与所述预期处理结果有差异，则所述CIS芯片的ISP测试没有通过。同时，所述ATE所抓取的结果存储在一离线文件上，在进行图像测试的同时还可以同时进行其他测试项，节省了资源。即利用现有的支持RGB格式的ATE机台即可实现对YUV格式的测试，降低测试成本和风险，且提高了测试效率。

附图说明

[0022] 图1为本发明实施例中CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法的流程图。

具体实施方式

[0023] 下面将结合示意图对本发明的具体实施方式进行更详细的描述。根据下列描述和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。

[0024] 发明人发现，在将CIS芯片的寄存器设置一定后，所述CIS芯片的输出图像是唯一的。CIS芯片的设计方会提供所述CIS芯片的一种配置以及与所述配置相对应的预期输出图像，所述配置能够使所述输出图像尽量覆盖ISP的处理功能。在对所述CIS芯片进行图像信号处理测试时，只要将所述CIS芯片按照设计方提供的配置来配置所述CIS的寄存器，就可以根据获得的图像与设计方所述提供的所述预期输出图像进行比对，就可判断所述CIS芯片的图像信号处理功能是否正确。

[0025] 进一步的，发明人还发现，所述CIS芯片设计方提供的所述预期输出图像是一个文本文件，是用数字输出描述的预期输出图像。用RGB格式的ATE抓取CIS芯片YUV格式的图像输出也是一个文本文件，因为所述ATE抓取的方法所对应的数据格式为RGB格式，与被抓取的图像数据的数据格式(YUV格式)不匹配，所抓取的数据无法重建成一张正确的图像，从而无法实现直接对图像进行测试。而当所述CIS芯片的寄存器配置一定时，所述CIS芯片输出图像的数字输出是一定的，也就是说，可以根据比对所述CIS芯片设计方提供的文本文件与所述RGB格式的ATE抓取的CIS芯片YUV格式的图像输出进行比对，即可实现对所述CIS芯片图像信号处理功能的判断。

[0026] 具体的，如图1所示，本发明提供了一种CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法，包括以下步骤：

[0027] S1：ATE用抓取RGB格式图像数据的方法抓取CIS芯片输出的YUV格式的图像数据。

[0028] 具体的，所述ATE为现有技术中的仅支持RGB格式图像数据的ATE，在抓取所述CIS芯片输出的YUV格式图像数据时，将所述YUV格式图像数据假设为RGB格式的图像数据，按照所述ATE抓取RGB格式图像数据的方法来抓取所述YUV格式图像数据。

[0029] 具体的，所述ATE在抓取所述YUV格式图像数据时，抓取的是所述YUV格式图像上的每一个像元的数字输出，而所述每一个像元对应两个数字输出。也就是说，例如：对于一个5M像元的图像来说，就需要有10M个数字输出。

[0030] 因为所述ATE抓取的方法所对应的数据格式与被抓取的图像数据的数据格式不匹配，所抓取的数据无法重建成一张正确的图像。具体的，所述ATE在抓取RGB格式的图像时，所述RGB格式的图像的每个像元只对应一个数字输出，而所述YUV格式的图像的每个像元对应两个数字输出，对于上述的一个5M像元的图像来说，所述YUV格式的图像有10M个数字输出，而所述RGB格式的图像就只有5M个数字输出，那么根据所述10M个数字输出无法重建成原来的图像。

[0031] S2：将抓取到的YUV格式图像数据存储到一离线文件上。

[0032] 将上述步骤S1中抓取到的不能重建成一张正确图像的数据存储到一离线文件中。所述离线文件位于与所述ATE连接的主机上。

[0033] 具体的，对于上述步骤S1中的5M像元的图像来说，就需要将所述10M个数字输出存储到所述主机上的所述离线文件上。在进行所述CIS芯片的图像测试的同时，还可以同时运行其他测试项，节省了资源和芯片测试时间，提高了测试效率。

[0034] S3：将存储在所述离线文件上的YUV格式图像数据与CIS芯片的预期图像处理结果进行比对。

[0035] 对于每一片CIS芯片，所述CIS芯片的设计方在提供所述CIS芯片时，会提供所述CIS芯片的一种配置与所述配置相对应的预期输出图像的文本文件，所述配置能够使所述输出图像提供尽量多的信息。所述预期输出图像的文本文件为所述CIS芯片经过ISP处理后每个像元的预期的数字输出，所述预期输出图像的每个像元对应两个预期数字输出，并将所述预期输出图像经过ISP处理后每个像元的两个预期数字输出存储在与所述ATE连接的主机上的一预期输出文件上。

[0036] 然后将存储于所述离线文件上的数字输出与所述预期输出文件上的数字输出进行比对。

[0037] 也就是说，对于上述步骤1中提到的5M像元的图像，所述CIS芯片的设计方会提供其经过ISP处理后预期的10M个数字输出，并将其存储在与所述ATE连接的主机上的一预期输出文件上。

[0038] 进一步的，将所述离线文件中存储的10M个数字输出和所述CIS芯片设计方提供的预期的10M个数字输出进行一一比对。

[0039] S4：输出比对结果。

[0040] 具体的，在上述步骤S3中，将离线文件中每个像元的数字输出与预期输出文件中的每个像素的预期数字输出进行比对，如果每个像素的数字输出都相同，即所述离线文件和所述预期输出文件中的数据完全相同，则说明所述CIS芯片的ISP功能完全正确，表示测试通过。如果所述离线文件和所述预期输出文件不完全相同，将数字输出不相等的像元的位置写入到一分析结果文件中。也就是说，即使所述离线文件和所述预期输出文件中只有2个数字输出不相同，即只有一个像元的数字输出不相同，就需要找到所述不相同的数字输出所对应的像元的位置，并将所述像元的所述位置写入到所述分析结果文件中。如果所述离线文件和所述预期输出文件中有多个数字输出不相同，就需要一一找出不相同的数字输出，与其对应的像元以及所述像元的对应位置，将所述对应位置写入所述分析结果文件中，给失效分析提供参考。

[0041] 更具体的，对于上述步骤S1中提到的所述5M像元的图像来说，将所述离线文件中存储的10M个数字输出和所述CIS芯片设计方提供的预期的10M个数字输出，如果两个文件中的10M个数字输出均相同，表明所述CIS芯片的图像信号处理功能正确，如果两个文件中的10M个数字输出有不相同的，就需要找出具体不同的数字输出所对应的像元的位置，并将所述像元的位置写入所述分析结果文件中，给失效分析提供参考。

[0042] 综上，在本发明实施例提供的CIS芯片YUV格式输出的ATE测试方法中，ATE只需用抓取RGB格式图像数据的方法抓取CIS芯片输出的YUV格式图像数据,将抓取到的结果存储在一离线文件上，并将所述存储结果与所述CIS芯片设计方提供的预期处理结果进行比对，若存储于所述离线文件上的数据与所述预期处理结果完全相同，则所述CIS芯片的ISP测试通过；若存储于所述离线文件上的数据与所述预期处理结果有差异，则所述CIS芯片的ISP测试没有通过。同时，所述ATE所抓取的结果存储在一离线文件上，在进行图像测试的同时还可以同时进行其他测试项，节省了资源。即利用现有的支持RGB格式的ATE机台即可实现对YUV格式的测试，降低测试成本和风险，且提高了测试效率。

[0043] 上述仅为本发明的优选实施例而已，并不对本发明起到任何限制作用。任何所属技术领域的技术人员，在不脱离本发明的技术方案的范围内，对本发明揭露的技术方案和技术内容做任何形式的等同替换或修改等变动，均属未脱离本发明的技术方案的内容，仍属于本发明的保护范围之内。