一种改善OLED显示面板色偏的方法、装置及显示装置

摘要

本发明公开了一种改善OLED显示面板色偏的方法、装置及显示装置，对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理；对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，得到各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率；在确定各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时，对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理，直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止，这样可以快速消耗各单色发光器件的初期使用寿命，改善在使用初期出现的影像残像的问题，同时各单色发光器件的寿命衰减速率变得平缓且趋于一致，可以有效改善了OLED显示产品长期使用后出现的显示图像发生色偏的现象。

权利要求

1.一种改善OLED显示面板色偏的方法，其特征在于，包括：

对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理；

对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率；

在确定各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时，对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理，直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理，具体包括：分别对OLED显示面板中的各单色发光器件输入不同的预设数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，之后冷却至室温；

所述预设数据电压根据所述各单色发光器件的发光层材料确定。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，具体包括：依次对经过老化处理后的各单色发光器件输入发光寿命衰减测试的数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减曲线。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，在对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时输入的预设数据电压大于对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时输入的数据电压。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差大于对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时，加载到所述各单色发光器件的阴极电压相同，加载到所述各单色发光器件的阳极电压相同。

7.如权利要求2-6任一项所述的方法，其特征在于，对OLED显示面板中的各单色发光器件输入预设数据电压进行老化处理时，使各单色发光器件发光工作的预设时长相同。

8.一种改善OLED显示面板色偏的装置，其特征在于，包括：老化处理单元、测试单元、处理单元；

所述老化处理单元，用于对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理；

所述测试单元，用于对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率；

所述处理单元，用于在确定出各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时，对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理，直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止。

9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述老化处理单元，具体用于分别对OLED显示面板中的各单色发光器件输入不同的预设数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，之后冷却至室温；所述预设数据电压根据所述各单色发光器件的发光层材料确定。

10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，所述测试单元，具体用于依次对经过老化处理后的各单色发光器件输入发光寿命衰减测试的数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减曲线。

11.如权利要求10所述的装置，其特征在于，所述老化处理单元，具体用于在对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时输入的预设数据电压，大于所述测试单元对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时输入的数据电压。

12.如权利要求11所述的装置，其特征在于，所述老化处理单元，具体用于对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差，大于所述测试单元对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差。

13.如权利要求12所述的装置，其特征在于，所述老化处理单元，具体用于对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时，加载到所述各单色发光器件的阴极电压相同，加载到所述各单色发光器件的阳极电压相同。

14.如权利要求9-13任一项所述的装置，其特征在于，所述老化处理单元，具体用于对OLED显示面板中的各单色发光器件输入预设数据电压进行老化处理时，使各单色发光器件发光工作的预设时长相同。

15.一种OLED显示装置，其特征在于，包括采用如权利要求1-7任一项所述的方法处理之后的OLED显示面板。

说明书

一种改善OLED显示面板色偏的方法、装置及显示装置

技术领域

[0001] 本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种改善OLED显示面板色偏的方法、装置及显示装置。

背景技术

[0002] 随着显示技术的发展，消费者对于影音产品的要求越来越高，对显示器厂商而言，生产高分辨率、高画质的显示器是发展方向，而有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)由于其具有自发光、高亮度、广视角、快速反应以及RGB全彩组件皆可制作等特质，已经被广泛应用于显示器中，目前OLED显示面板的应用已经进入实用化阶段，市场上已有汽车音响和移动电话使用OLED显示面板，今后OLED显示面板将广泛应用于行动产品、笔记本电脑、监视器、壁挂电视等轻薄型显示器中，且全彩化的发展将提高OLED产品的竞争力。

[0003] 随着OLED全彩化技术发展，目前较常见的全彩化技术有精细金属掩膜板真空蒸镀法(Fine-Metal-MASK，FMM)、彩色滤波片法(也叫“白光+滤色膜”法White+Color filter，W+CF)、以及蓝色转换法(Blue+color conversion method，Blue+CCM)等，其中，FMM是目前中小尺寸OLED显示产品的主流技术，但OLED显示产品存在一个较严重的问题，即由于OLED器件中发光层的有机材料的寿命衰减不一致造成显示器显示的图像发生色偏的问题，尤其以FMM方法制备出的OLED显示产品表现更为明显，其RGB有机材料的寿命衰减不一致，其中，蓝色有机材料的衰减速率最快(LT(R)≥LT(G)>>LT(B))，即如图1所示，蓝色有机材料寿命衰减较快，红色有机材料寿命衰减较慢，OLED显示产品长期使用后显示的图像蓝色亮度偏低，红色亮度偏高，进而易产生色偏的现象，如图2所示，OLED显示产品显示的图像颜色会沿着箭头所指方向偏移(其中“480”、“520”、“540”、“550”、“580”、“600”、“700”代表光的波长，单位为nm，600nm～700nm接近于红光范围)，另外，OLED器件在使用初期亮度下降很快，如图1所示，随着使用时间增长，RGB三种颜色的发光器件的发光亮度的衰减会越来越平缓，而在使用初期三种颜色的发光器件的亮度衰减比较快且不均匀，此时OLED显示产品显示的图像易出现影像残像的问题。

[0004] 因此，如何改善OLED显示产品在使用初期出现的影像残像和长期使用后出现的显示图像发生色偏的问题，是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

[0005] 本发明实施例提供了一种改善OLED显示面板色偏的方法、装置及显示装置，用以改善现有技术中存在的OLED显示产品在使用初期出现的影像残像和长期使用后出现的显示图像发生色偏的问题。

[0006] 本发明实施例提供了一种改善OLED显示面板色偏的方法，包括：

[0007] 对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理；

[0008] 对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率；

[0009] 在确定各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时，对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理，直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止。

[0010] 在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，所述对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理，具体包括：

[0011] 分别对OLED显示面板中的各单色发光器件输入不同的预设数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，之后冷却至室温；

[0012] 所述预设数据电压根据所述各单色发光器件的发光层材料确定。

[0013] 在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，所述对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，具体包括：

[0014] 依次对经过老化处理后的各单色发光器件输入发光寿命衰减测试的数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减曲线。

[0015] 在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，在对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时输入的预设数据电压大于对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时输入的数据电压。

[0016] 在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差大于对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时加载到各单色发光器件
的阴极电压和阳极电压之差。

[0017] 在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时，加载到所述各单色发光器件的阴极电压相同，加载到所述各单色发光器件的阳极电压相同。

[0018] 在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述方法中，对OLED显示面板中的各单色发光器件输入预设数据电压进行老化处理时，使各单色发光器件发光工作的预设时长相同。

[0019] 本发明实施例提供了一种改善OLED显示面板色偏的装置，包括：老化处理单元、测试单元、处理单元；

[0020] 所述老化处理单元，用于对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理；

[0021] 所述测试单元，用于对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率；

[0022] 所述处理单元，用于在确定出各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时，对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理，直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止。

[0023] 在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述老化处理单元，具体用于分别对OLED显示面板中的各单色发光器件输入不同的预设数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，之后冷却至室温；所述预设数据电压根据所述各单色发光器件的发光层材料确定。

[0024] 在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述测试单元，具体用于依次对经过老化处理后的各单色发光器件输入发光寿命衰减测试的数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减曲线。

[0025] 在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述老化处理单元，具体用于在对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时输入的预设数据电压，大于所述测试单元对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时输入的数据电压。

[0026] 在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述老化处理单元，具体用于对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差，大于所述测试单元对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差。

[0027] 在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述老化处理单元，具体用于对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时，加载到所述各单色发光器件的阴极电压相同，加载到所述各单色发光器件的阳极电压相同。

[0028] 在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述装置中，所述老化处理单元，具体用于对OLED显示面板中的各单色发光器件输入预设数据电压进行老化处理时，使各单色发光器件发光工作的预设时长相同。

[0029] 本发明实施例提供了一种OLED显示装置，包括采用本发明实施例提供的上述改善OLED显示面板色偏的方法处理之后的OLED显示面板。

[0030] 本发明实施例的有益效果包括：

[0031] 本发明实施例提供了一种改善OLED显示面板色偏的方法、装置及显示装置，通过对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理；对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，得到各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率；在确定各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时，对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理，直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止，这样经过上述处理方法处理后的OLED显示面板中，快速消耗了各单色发光器件的初期使用寿命，改善了OLED显示面板在使用初期出现的影像残像的问题，同时经过上述处理后的各单色发光器件的寿命衰减速率变得平缓且趋于一致，因此，将该OLED显示面板应用到相应的OLED显示产品中时，由于各单色发光器件的寿命衰减速率趋于一致，因此随着使用时间的增长，各单色发光器件的相对发光亮度趋于一致，有效改善了OLED显示产品长期使用后出现的显示图像发生色偏的现象。

附图说明

[0032] 图1为现有技术中RGB三基色亮度衰减示意图；

[0033] 图2为现有技术中OLED显示产品的显示图像发生色偏的示意图；

[0034] 图3为本发明实施例提供的对OLED显示面板进行老化处理的方法流程图；

[0035] 图4为本发明实施例提供的OLED显示面板老化处理后RGB三基色亮度衰减示意图；

[0036] 图5为本发明实施例提供改善OLED显示面板色偏的装置的结构示意图。

具体实施方式

[0037] 下面结合附图，对本发明实施例提供的改善OLED显示面板色偏的方法、装置及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。

[0038] 本发明实施例提供了一种改善OLED显示面板色偏的方法，如图3所示，具体可以包括以下步骤：

[0039] S101、对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理；

[0040] S102、对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率；

[0041] S103、确定各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值是否大于预设阈值；若是，则执行步骤S104；若否，则结束流程；

[0042] S104、在确定各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时，对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理，直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止。

[0043] 本发明实施例提供的上述改善OLED显示面板色偏的方法中，通过对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理；对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，得到各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率；在确定各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时，对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理，直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止，这样经过上述处理方法处理后的OLED显示面板中，快速消耗了各单色发光器件的初期使用寿命，改善了OLED显示面板在使用初期出现的影像残像的问题，同时经过上述处理后的各单色发光器件的寿命衰减速率变得平缓且趋于一致，因此随着使用时间的增长，各单色发光器件的相对发光亮度趋于一致，有效改善了OLED显示产品长期使用后出现的显示图像发生色偏的现象。

[0044] 需要说明的是，本发明实施例提供的上述改善OLED显示面板色偏的方法，可应用于包含各种颜色的单色发光器件的全彩OLED显示面板，对于单色发光器件的颜色在此不作限定。为了方便叙述以下实施例以OLED显示面板仅包含RGB三个颜色的单色发光器件为例进行说明。

[0045] 具体地，采用本发明实施例提供的上述改善OLED显示面板色偏的方法，对OLED显示面板进行处理，处理后的OLED显示面板中，R、G、B的单色发光器件的寿命衰减速率如图4所示，由图4可以看出，经过老化处理后的OLED显示面板中，R、G、B三种颜色的发光器件的发光寿命衰减速率趋于一致，因此随着使用时间的增长，各单色发光器件的相对发光亮度趋于一致，有效改善了OLED显示产品长期使用后出现的显示图像发生色偏的现象，进而保证了显示面板显示的画面质量。

[0046] 在具体实施时，本发明实施例提供的上述方法中，步骤S101的实现方式可以具体包括如下步骤：

[0047] 分别对OLED显示面板中的各单色发光器件输入不同的预设数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，之后冷却至室温。预设数据电压可控制流过各单色发光器件的电流，从而达到控制各单色发光器件发光强弱的目的。其中，对OLED显示面板中各单色发光器件进行老化处理的过程，可以采用同一时刻对所有单色发光器件进行老化处理的方式实现，也可以采用依次对各个颜色的发光器件进行老化处理的方式实现，在此不作限定。

[0048] 具体地，在对各单色发光器件进行老化处理时，由于各单色发光器件的发光层材料不同，因此驱动各单色发光器件发光发热的预设数据电压也不近相同，例如根据在进行老化处理前测量获得的各单色发光器件的IVL特性曲线数据可以确定出各单色发光器件在相对发光亮度相同的情况下其驱动电压各不相同，因此，根据各单色发光器件在进行老化处理前和老化处理后的IVL特性曲线比较可以选择合适的单色发光器件在进行老化处理时输入的数据电压，以保证在各单色发光器件进行老化处理后其相对发光亮度衰减不会过快。例如通过实验数据可以选择红色发光器件的预设数据电压为7.25V，绿色发光器件的预设数据电压可以为8.5V，蓝色发光器件的预设数据电压可以为7.5V，即对各单色发光器件进行老化处理的预设数据电压不同，对各单色发光器件的进行老化处理的预设数据电压可以根据各单色发光器件的发光层材料确定。

[0049] 因此，对应各单色发光器件进行老化处理时，则需要对应不同的颜色的发光器件分别输入驱动各单色发光器件发光发热的预设数据电压，使OLED显示面板中各单色发光器件内产生高电流，其高电流可以达到100mA～600mA，进而驱动各单色发光器件发光发热预定时长，实现对各单色发光器件的电流老化。这样经过老化处理的各单色发光器件，由于高电流使其发光发热，因此经过电流老化的各单色发光器件需要自然冷却至室温，以免影响后续对经过老化处理的各单色器件进行的发光寿命衰减测试。

[0050] 在具体实施时，本发明实施例提供的上述方法中，对OLED显示面板中的各单色发光器件输入预设数据电压进行老化处理时，使各单色发光器件发光工作的预设时长可以相同，也可以不同，在此不作限定。对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时，可以设定各单色发光器件发光工作的预设时长相同，其预设时长可以具体设定为30分钟左右，有利于控制OLED显示面板中各单色发光器件同时进行老化处理过程，便于快速实现
OLED显示面板的老化处理。

[0051] 在具体实施时，本发明实施例提供的上述方法中，步骤S102的实现方式可以具体采用如下实现方式实现：依次对经过老化处理后的各单色发光器件输入发光寿命衰减测试的数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，得到各单色发光器件对应的发光寿命衰减曲线，即输入驱动各单色发光器件进行发光的数据电压，一般为0-4V，在常温常湿环境中，通过相应的发光寿命衰减测试设备对OLED显示面板中各单色发光器件依次进行发光寿命衰减测试，测试时长一般至少为240小时，最终将得到老化处理后的各单色发光器件的发光寿命衰减曲线，为判定老化处理后的OLED显示面板中各单色发光器件的发光寿命衰减速率是否趋于一致，提供了更为直观的判定条件。

[0052] 在具体实施时，由于OLED显示产品中各单色发光器件在使用初期的寿命衰减和亮度衰减比较快，随着使用时间的增长，衰减速率变慢，因此本发明实施例提供的上述方法中，需要对OLED显示面板中各单色发光器件进行快速老化处理，获得OLED显示面板中各单色器件后期使用衰减速率减慢且趋于一致的OLED显示面板，即输入高于正常驱动OLED显示面板进行发光显示的数据电压，以使得OLED显示面板中各单色发光器件内产生高电流，进而使得各单色发光器件发光发热，快速消耗其前期的使用寿命，而对老化处理后的OLED显示面板中各单色发光器件进行寿命衰减测试时，则需要测试各单色发光器件正常发光状态下的寿命衰减速率，因此输入的数据电压为驱动各单色发光器件进行正常发光的数据电压，因此对OLED显示面板中各单色发光器件进行老化处理时输入的预设数据电压大于对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时输入的数据电压。

[0053] 在具体实施时，本发明实施例提供的上述方法中，为了快速消耗OLED显示面板中各单色发光器件的前期使用寿命，获得各单色发光器件衰减速率减慢且趋于一致的OLED显示面板，即在对OLED显示面板中各单色发光器件进行老化处理时，加载到各单色发光器件阴阳极之间的电压差大于驱动各单色发光器件进行正常发光时加载的阴阳极之间的电压差，这样可以使得OLED显示面板中各单色发光器件内产生高电流，进而使得各单色发光器件发光发热，快速消耗其前期的使用寿命，而对老化处理后的OLED显示面板中各单色发光器件进行寿命衰减测试时，则需要测试各单色发光器件正常发光状态下的寿命衰减速率，因此加载到各单色发光器件的阴阳极之间的电压差为驱动各单色发光器件进行正常发光
的阴阳极之间的电压差，因此，对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差大于对经过老化处理后的各单色发光器件
进行发光寿命衰减测试时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差。

[0054] 在具体实施时，本发明实施例提供的上述方法中，对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时，加载到各单色发光器件的阴极电压相同，加载到各单色发光器件的阳极电压相同，这样通过对各单色发光器件的阴阳极加载电压，使各单色发光器件内产生高电流，实现对各单色发光器件的快速电流老化，而对各单色发光器件的阴极加载相同电压，对各单色发光器件的阳极加载相同电压，便于控制OLED显示面板各单色发光器件进行同时处理，有助于快速实现OLED显示面板的老化处理。

[0055] 下面通过一个具体实例说明本发明实施例提供的上述方法应用于实际产品中时具体的实现过程，其步骤具体如下：

[0056] 1、对由RGB三个颜色的单色发光器件组成的OLED显示面板的各单色发光器件依次输入0-4V的第一数据电压，并将各单色发光器件的阴极电压设置为-8V，阳极电压设置为3V，依次测量R、G、B三种颜色的单色发光器件的相对发光亮度衰减曲线，此时得到的各单色发光器件的发光寿命衰减各不相同；

[0057] 2、对RGB三个颜色的单色发光器件分别输入高于第一数据电压(0-4V)的第二数据电压，其中，对R颜色的单色发光器件输入的第二数据电压为7.25V，对G颜色的单色发光器件输入的第二数据电压为8.5V，对B颜色的单色发光器件输入的第二数据电压为7.5V；并将各单色发光器件的阴极电压设置为-10V，阳极电压设置为6V，使各单色发光器件内产生高电流而对各单色发光器件进行电流老化处理30分钟，之后冷却至室温；

[0058] 3、对RGB三个颜色的单色发光器件依次输入0-4V的第一数据电压，并将各单色发光器件的阴极电压设置为-8V，阳极电压设置为3V，依次测量经过老化处理后的R、G、B三种颜色的单色发光器件的相对发光亮度衰减曲线，此时得到的各单色发光器件的发光寿命衰减相对于老化处理前的发光寿命衰减会趋于一致；

[0059] 4、对比经过老化处理后的各单色发光器件的发光寿命衰减，确定各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值是否大于预设阈值，例如当确定R颜色的单色发光器件的发光寿命衰减速率最慢，且与B颜色的单色发光器件之间的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值，与G颜色的单色发光器件之间的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值，则对B颜色的单色色发光器件再次进行老化处理。最终确定再次进行老化处理后的B颜色的单色色发光器件的发光寿命衰减速率与R颜色的单色发光器件的发光寿命衰减速率之差小于预设阈值时，确定各单色发光器件的发光寿命衰减趋于一致的OLED显示面板。

[0060] 基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种改善OLED显示面板色偏的装置，如图5所示，可以包括：老化处理单元01、测试单元02、处理单元03；

[0061] 老化处理单元01，用于对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理；

[0062] 测试单元02，用于对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率；

[0063] 处理单元03，用于在确定出各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时，对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理，直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止。

[0064] 本发明实施例提供的上述改善OLED显示面板色偏的装置中，通过老化处理单元01对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理；通过测试单元02对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，得到所述各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率；通过处理单元03确定出各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时，对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理，直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止，这样经过上述装置理后的OLED显示面板中，快速消耗了各单色发光器件的初期使用寿命，改善了OLED显示面板在使用初期出现的影像残像的问题，同时经过上述处理后的各单色发光器件的寿命衰减速率变得平缓且趋于一致，因此，将该OLED显示面板应用到相应的OLED显示产品中时，由于各单色发光器件的寿命衰减速率趋于一致，因此随着使用时间的增长，各单色发光器件的相对发光亮度趋于一致，有效改善了OLED显示产品长期使用后出现的显示图像发生色偏的现象。

[0065] 在具体实施时，本发明实施例提供的上述装置中，老化处理单元01具体用于分别对OLED显示面板中的各单色发光器件输入不同的预设数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，之后冷却至室温；预设数据电压根据所述各单色发光器件的发光层材料确定，即根据各单色发光器件的发光层材料确定对应各单色发光器件进行老化的预设数据电压，输入对应预设数据电压经过老化处理单元01，实现对OLED显示面板中各单色发光器件的老化处理。

[0066] 在具体实施时，本发明实施例提供的上述装置中，测试单元02具体用于依次对经过老化处理后的各单色发光器件输入发光寿命衰减测试的数据电压，使各单色发光器件发光工作预设时长，得到各单色发光器件对应的发光寿命衰减曲线，这样通过测试单元02对各单色发光器件依次进行发光寿命衰减测试，获得各单色发光器件的发光寿命衰减速率，为判定老化处理后的OLED显示面板中各单色发光器件的发光寿命衰减是否趋于一致，提供判定条件。

[0067] 在具体实施时，本发明实施例提供的上述装置中，由于需要对OLED显示面板中各单色发光器件进行快速老化，消耗其前期使用寿命，因此老化处理单元01在对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时输入的预设数据电压，大于测试单元02对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时输入的数据电压，这样可以使各单色发光器件内产生高于驱动各单色发光器件正常发光的高电流，使各单色发光器件发光发热，快速消耗各单色发光器件的使用寿命，实现对各单色发光器件的快速老化处理。

[0068] 在具体实施时，本发明实施例提供的上述装置中，为了实现对OLED显示面板中各单色发光器件的快速老化，消耗其前期使用寿命，老化处理单元01对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差，大于测试单元02对经过老化处理后的各单色发光器件进行发光寿命衰减测试时加载到各单色发光器件的阴极电压和阳极电压之差，这样可以使各单色发光器件内产生高于驱动各单色发光器件正常发光的高电流，使各单色发光器件发光发热，快速消耗各单色发光器件的使用寿命，实现对各单色发光器件的快速老化处理。

[0069] 在具体实施时，本发明实施例提供的上述装置中，老化处理单元01对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理时，加载到各单色发光器件的阴极电压相同，加载到各单色发光器件的阳极电压相同，这样通过对各单色发光器件的阴阳极加载电压，使各单色发光器件内产生高电流，实现对各单色发光器件的快速电流老化，而对各单色发光器件的阴极加载相同电压，对各单色发光器件的阳极加载相同电压，便于控制OLED显示面板中各单色发光器件同时进行老化处理，实现OLED显示面板的快速老化处理。

[0070] 在具体实施时，本发明实施例提供的上述装置中，老化处理单元01对OLED显示面板中的各单色发光器件输入预设数据电压进行老化处理时，可以使各单色发光器件发光工作的预设时长相同，这样有利于控制OLED显示面板中各单色发光器件进行同时老化处理，便于实现快速的OLED显示面板的老化处理。

[0071] 基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种OLED显示装置，包括采用本发明实施例提供的上述改善OLED显示面板色偏的方法处理之后的OLED显示面板，该显示装置可以应用于手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。由于该显示装置解决问题的原理与采用本发明实施例提供的上述改善OLED显示面板色偏的方法处理之后的OLED显示面板相似，因此该显示装置的实施可以参见采用本发明实施例提供的上述改善OLED显示面板色偏的方法处理之后的OLED显示面板的
实施，重复之处不再赘述。

[0072] 本发明实施例提供了一种改善OLED显示面板色偏的方法、装置及显示装置，通过对OLED显示面板中的各单色发光器件进行老化处理；对经过老化处理后的各单色发光器件分别进行发光寿命衰减测试，得到各单色发光器件对应的发光寿命衰减速率；在确定各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值大于预设阈值时，对发光寿命衰减速率最快的单色发光器件再次进行老化处理，直至各单色发光器件的发光寿命衰减速率之间的差值小于预设阈值为止，这样经过上述处理方法处理后的OLED显示面板中，快速消耗了各单色发光器件的初期使用寿命，改善了OLED显示面板在使用初期出现的影像残像的问题，同时经过上述处理后的各单色发光器件的寿命衰减速率变得平缓且趋于一致，因此，将该OLED显示面板应用到相应的OLED显示产品中时，由于各单色发光器件的寿命衰减速率趋于一致，因此随着使用时间的增长，各单色发光器件的相对发光亮度趋于一致，有效改善了OLED显示产品长期使用后出现的显示图像发生色偏的现象。

[0073] 显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。