一种基于AlGaN/GaNHEMT的生物表面微流道制备方法转让专利

申请号 : CN201510107077.3

文献号 : CN104815708B

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相似专利:

发明人 : 王智勇王青高鹏坤张绵

申请人 : 北京工业大学

摘要 :

一种基于AlGaN/GaN HEMT的生物表面微流道制备方法微流道工艺,该工艺包括以下步骤,使用MOCVD、PECVD等外延生长AlGaN/GaN HEMT的异质结材料结构;制作源漏金属形成欧姆接触;制备微流道;使用PECVD设备生长SiN钝化层。其中微流道制备方法使用双层胶工艺。实现快速的生物样品制备、反应、检测分析集成化。

权利要求 :

1.一种基于AlGaN/GaN HEMT的生物表面微流道制备方法微流道工艺,该工艺包括以下步骤,S1使用MOCVD、PECVD外延生长AlGaN/GaN HEMT的异质结材料结构;

S2制作源漏金属形成欧姆接触;

S3制备微流道;

1)在HEMT表面均匀涂上第一层光刻正胶;

2)使用步进投影光刻机进行曝光,显影,在厚度10μm的正胶膜上形成第一层胶窗口,即微流道的底部窗口;

3)采用涂布材料涂在底层胶表面,隔离上下层胶体;

4)涂上负lift-out图形工艺胶,厚度为1.0μm;

5)使用步进投影光刻机进行曝光;形成双层胶微流道完整的胶型结构;

6)采用ICPCVD设备,淀积SiN腔体材料,腔壁厚度为10μm;

7)使用剥离液剥离所有胶体,形成高10μm微流道;

S4使用PECVD设备生长SiN钝化层。

说明书 :

一种基于AlGaN/GaN HEMT的生物表面微流道制备方法

技术领域

[0001] 本发明涉及生物半导体芯片技术领域,特别涉及一种生物微流道芯片的制备方法。

背景技术

[0002] 宽禁带半导体材料氮化镓(GaN)作为第三代半导体材料的典型代表,具有禁带宽带大、耐高压、耐高温、耐酸碱腐蚀、抗辐射、电子饱和速度和漂移速度高、容易形成高质量异质结构的优异特性,非常适合制造高温、高频、大功率、抗辐照微波电子器件。
[0003] 2005年Kang等人开始开展AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)用于生物传感领域的研究,从而使得AlGaN/GaN HEMT器件在生物传感领域的应用得到了广泛的关注。与传统的硅基生物器件相比较,GaN基生物传感器件的化学性能更稳定,同时具备无毒性、可降低吸附细胞退化等优点,
[0004] 在AlGaN/GaN HEMT结构中,由于自发极化和压电极化效应,AlGaN/GaNHEMT器件的界面处会形成一个2DEG的表面通道,势阱中的2DEG受控于栅极电压,该结构用作生物传感器是将AlGaN/GaNHEMT的栅极用生物分子膜代替,器件工作时,待测抗原的引入引起生物分子膜表面电压的变化,从而引起势阱中2DEG浓度的改变,而2DEG浓度的改变会导致晶体管的源极(source)和漏极(drain)之间电流的变化,因此可通过电流的变化来检测引入待测抗原的浓度变化。
[0005] 传统的微流道芯片是以各种微管道网络为结构特征,用来实现对包含生化组份微流体的控制和检测分析,包括常见的毛细管电泳芯片、PCR反应芯片、介电电泳分离芯片等。
[0006] 本发明提出将生物微流道芯片与AlGaN/GaN HEMT器件集成及制造方法,实现快速的生物样品制备、反应、检测分析集成化。

发明内容

[0007] 为了解决上述问题,本发明提出了一种基于AlGaN/GaN HEMT的生物表面微流道芯片,并提出相应的制备方法,具体是在AlGaN/GaN HEMT制备过程中,由本发明提出的微流道工艺取代T型栅的制备。
[0008] 一种基于AlGaN/GaN HEMT的生物表面微流道制备方法微流道工艺,该工艺包括以下步骤,
[0009] 1.使用MOCVD、PECVD等外延生长AlGaN/GaN HEMT的异质结材料结构;
[0010] 2.制作源漏金属形成欧姆接触;
[0011] 3.制备微流道
[0012] 1)在HEMT表面均匀涂上第一层光刻正胶;
[0013] 2)使用步进投影光刻机(stepper)进行曝光,显影,在厚度10μm的正胶膜上形成第一层胶窗口,即微流道的底部窗口;
[0014] 3)采用涂布材料涂在底层胶表面,隔离上下层胶体;
[0015] 4)涂上负lift-out图形工艺胶,厚度为1.0um;
[0016] 5)使用步进投影光刻机进行曝光;形成双层胶微流道完整的胶型结构;
[0017] 6)采用ICPCVD设备,淀积SiN腔体材料,腔壁厚度约为10um;
[0018] 7)使用剥离液剥离所有胶体,形成高10um左右微流道
[0019] 4.使用PECVD设备生长SiN钝化层。

附图说明

[0020] 图1为第一层涂胶、光刻工艺;
[0021] 图2为涂涂布材料、光刻工艺;
[0022] 图3为涂第二层负胶、光刻工艺;
[0023] 图4为蒸发SiN腔体材料、去胶后形成微流道工艺。

具体实施方式

[0024] 如图1-4所示,一种基于AlGaN/GaN HEMT的生物表面微流道制备方法微流道工艺,该工艺包括以下步骤,
[0025] 1.使用MOCVD、PECVD等外延生长AlGaN/GaN HEMT的异质结材料结构;
[0026] 在SiC衬底上依次生长4μm厚的GaN/AlN缓冲层,2μm厚i-GaN层,25nm厚的Al0.25Ga0.75N势垒层,5nm厚的GaN帽层。
[0027] 2.制作源漏金属形成欧姆接触;
[0028] 对样品甩正胶 MIR-701,转速为5000转/min,在150℃的热板上烘2分钟,采用紫外光刻及显影、定影形成腐蚀窗口;
[0029] 使用ICP-RIE设备干法刻蚀AlGaN势垒层和GaN缓冲层,刻蚀深度为150nm,反应气体为Cl2/Ar。
[0030] 电子束蒸发Ti/Al/Ni/Au金属,在氮气氛围内快速热退火,在AlGaN势垒层上面的两侧形成源漏电极。该源漏电极间距为18μm,退火条件为,温度850℃下,退火时间1分钟。
[0031] 3.制备微流道
[0032] 1)在HEMT表面均匀涂上第一层光刻正胶;
[0033] 在外延层表面,使用 10XT正胶均匀涂上第一层光刻正胶,厚度10μm左右,在120℃下烘烤100秒,形成正胶膜;
[0034] 2)使用ASML5500/100D步进投影光刻机进行曝光,在120℃下烘烤100秒,使用浓度为2.38%的 AZ400K显影液进行显影,用去离子水冲洗30秒,在120℃下烘烤90秒,则在 10XT正胶膜上形成约为宽0.40μm第一层厚膜胶窗口,即微流道的底部侧壁窗口。
[0035] 3)对第一层胶进行处理,采用涂布材料 -500涂在底层胶表面,厚度0.35微米,然后进行烘焙热处理,85℃条件下烘烤70秒,110℃条件下烘烤70秒,使涂布材料-500与 10XT正胶表面形成一定厚度的稳定的薄膜。然后使用 R-2显影液,在23℃条件下对形成的薄膜进行70秒冲洗显影,保证残留的涂布材料 -500能够完全去除干净,这时 10XT正胶表面和栅条的侧壁将留下一定厚度的薄膜。
[0036] 4)涂上层胶,选用了厚度为1.0μm的负lift-out图形工艺胶 5214E。经过以下工艺步骤:
[0037] 首先在100℃下烘烤60秒;使用ASML5500/100D步进投影光刻机进行曝光;反转后在120℃温度烘烤90秒;使用浓度为2.38%的 AZ300MIF显影液,在23℃下浸泡60秒,使用浓度为50%的 Developer显影液,在23℃下浸泡60秒,使用浓度为25%的400K显影液,在23℃下浸泡60秒;用去离子水冲洗30秒;在120℃下烘烤120秒。这样形成微流道的胶体结构基本完成。
[0038] 4.采用ICPCVD设备,淀积SiN腔体材料,腔壁厚度为10μm。
[0039] 5.AZ剥离液剥离所有胶体:使用 400T Stripper常温下浸泡60秒剥离负lift-out图形工艺胶;使用 Remover 200高温下浸泡30秒剥离正胶。
[0040] 6.淀积钝化层:采用PECVD设备PH2-7-100,反应气体为NH3、SiH4和N2,在源漏电极的表面及AlGaN势垒层的表面淀积钝化层,所述的钝化层的材料为SiN,厚度为10nm。