[0164] 此外,一般而言,在垂直入射的情况(如果是倾斜射入,则通过LSP与SPP的交点的衍射光栅节距随入射角不同而变动,因此在说明上缺乏准确性,因而以垂直入射说明)下,当第一节距P1以及第二节距P2的值比激发光的波长小时,作用于金属粒子3之间的局域型表面等离子体的强度具有增大的趋势,相反,当第一节距P1以及第二节距P2的值接近于激发光的波长时,在金属层10上所产生的传播型表面等离子体的强度处于增大的趋势。并且,由于电场增强元件100的总体的电场增强度也依赖于热点密度(每单位面积的、电场增强度高的区域的比例)(HSD),因此第一节距P1以及第二节距P2的值越大,HSD越下降。因此,第一节距P1以及第二节距P2的值存在优选的范围,例如,优选在60nm≤P 1≤1310nm、60nm≤P2≤1310nm的范围内。
[0165] 1.4.表面增强拉曼散射
[0166] 本实施方式的电场增强元件100显示高的电场增强度。因此,这样的电场增强元件100能够优选用于表面增强拉曼散射(SERS:Surface enhanced Raman Scattering)测定。
[0167] 在拉曼散射中,在将激发光的波长设为λi、散射光的波长设为λs时,由拉曼散射所引起的偏移量(cm-1)由下述式(a)给出:
[0168] 拉曼散射的偏移量=(1/λi)-(1/λs)···(a)
[0169] 下面,作为显示拉曼散射效应的目标物质而列举丙酮为例进行说明。
[0170] 已经知道,丙酮在787cm-1、1708cm-1、2921cm-1处引起拉曼散射。
[0171] 根据上述式(a),当激发光的波长设定为λi=633nm时,由丙酮引起的斯托克斯拉曼散射光的波长λs对应于上述偏移量而分别成为666nm、709nm、777nm。另外,当激发光的波长设定为λi=785nm时,波长λs对应于上述偏移量而分别成为837nm、907nm、1019nm。
[0172] 另外,虽然也存在反斯托克斯拉曼散射,但是在原理上来说斯托克斯拉曼散射的产生概率高,在SERS测定中,通常大多使用散射波长比激发波长变长的斯托克斯散射。
[0173] 另一方面,SERS测定利用通过使用由表面等离子体所产生的电场增强效应而能够使强度非常低的拉曼散射光的强度飞跃地变大的现象。即,要求激发光的波长λi的电场增强度Ei和拉曼散射光的波长λs的电场增强度Es强且HSD大,SERS强度(SERS intensity)与下述式(b)成正比:
[0174] Ei2·Es2·HSD··(b)
[0175] 其中,Ei为在激发光的波长λi上的电场增强度,Es为在拉曼散射光的波长λs上的电场增强度,HSD表示热点密度(Hot Spot Density),是每单位面积的热点的个数。
[0176] 即,SERS的测定优选在掌握了所使用的激发光的波长和想要检测的目标物质的拉曼散射光的波长特性的基础上,为了使与上述式(b)成正比的SERS增强度变大,以激发光的波长、散射光的波长以及表面等离子体的电场增强度(反射率(Reflectance))光谱中的峰的波长设计成分别大体上一致。另外,SERS传感器优选电场增强度(反射率)光谱中的峰较宽且具有高增强度的值。
[0177] 另外,当通过激发光的照射而产生表面等离子体共振(SPR)时,发生起因于共振的吸收,反射率(Reflectance)下降。因此,SPR增强电场的强度能够使用反射率而由(1-r)表示。由于具有反射率R的值越接近于零,增强电场的强度越强这样的关系,因此能够将反射率用作SPR增强电场的强度的指标。因此,在本说明书中,认为增强度轮廓(增强度光谱)和反射率轮廓(反射率光谱)彼此相关,在立足于上述关系上将两者作为同等的图谱对待。
[0178] 1.5.热点的位置
[0179] 当将激发光照射至本实施方式的电场增强元件100上时,至少在金属粒子30的上表面侧的边缘、即金属粒子30的远离透光层20的一侧的角部(以下,有时将该位置称为“顶部”,在图中标记t符号),以及金属粒子的下表面侧的边缘、即金属粒子30的靠近透光层20的一侧的角部(以下,有时将该位置称为“底部”,在图中标记b符号)上产生增强电场大的区域。此外,所谓金属粒子30的远离透光层20的一侧的角部,相当于金属粒子30的顶部,在例如金属粒子30为将透光层20的法线方向作为中心轴的圆柱形状的情况下,是指离透光层20远的一侧的表面(圆形的面)的周围附近。另外,金属粒子30的靠近透光层20的一侧的角部,相当于金属粒子30的底部,在例如金属粒子30为将透光层20的法线方向作为中心轴的圆柱形状的情况下,是指离透光层20近的一侧的表面(圆形的面)的周围附近。
[0180] 由于金属粒子30在透光层20上配置成凸状,因此可以认为在目标物质接近电场增强元件100时,接触金属粒子30的顶部的概率比接触底部的概率大。
[0181] 在这种考察之下,如果着眼于在金属粒子30的顶部电场增强度变大的条件,则能够决定上述的透光层20的厚度G的范围。即,如上所述,本实施方式的电场增强元件100是如下的元件:包括金属层10、设于金属层10上并使激发光透过的透光层20、以及设于透光层20上并沿第一方向和与第一方向交叉的第二方向排列的多个金属粒子30,在被照射激发光的情况下,在金属粒子30(附近)上激发的局域型表面等离子体和在金属层10与透光层20的界面(附近)上所激发的传播型表面等离子体电磁地相互作用。而且,通过按照在“1.2.透光层”项中已说明的(i)、(ii)条件中的至少一个而选择透光层20的厚度G,从而能够使在金属粒子30的顶部的电场增强度变得非常大。
[0182] 另外,根据本实施方式的电场增强元件100的结构,在透光层20上设置多个金属粒子30。虽然已经说明过,但当透光层20的厚度G低于大约40nm时,金属粒子30附近的局域型表面等离子体与金属层10表面附近的传播型表面等离子体的相互作用增大,金属粒子30的顶部的增强度与底部的增强度之比变小。即、用于电场增强的能量的分配偏向于金属粒子30的底部。
[0183] 当透光层20的厚度G低于大约40nm时,可以认为即使在总电场增强度上没有变化,目标物质易于接触的金属粒子30顶部的电场增强度也会相对地下降,进而电场增强元件100的电场增强的效率降低。从这种观点出发,如果是按照(i)、(ii)条件中的至少一个而设定,将透光层20的厚度G的下限值设定为40nm以上,则无论透光层20的厚度G如何,在金属粒子30的上表面侧(顶部)所激发的局域型表面等离子体(LSP)的强度与在金属粒子30的下表面侧(底部)所激发的局域型表面等离子体的强度之比都为一定,因此也能够说电场增强的能量的利用效率高。
[0184] 此外,在此所谓“一定”包括特定的值没有变动的情况、特定的值在±10%的范围内变动的情况、以及优选特定的值在±5%的范围内变动的情况。
[0185] 1.6.激发光
[0186] 射入电场增强元件100的激发光的波长只要能够在金属粒子30的附近产生局域型表面等离子体(LSP)、且满足在“1.2.透光层”项中已说明的(i)、(ii)条件中的至少一个关系,则不受限制,可以是包括紫外光、可见光、红外光在内的电磁波。激发光可以是例如沿第一方向偏振的直线偏振光、沿第二方向偏振的直线偏振光以及圆偏振光中的至少一个。这样一来,能够通过电场增强元件100而获得非常大的光的增强度。
[0187] 此外,在将电场增强元件100用作SERS的传感器的情况下,通过使沿第一方向偏振的直线偏振光、沿第二方向偏振的直线偏振光以及圆偏振光适当组合使用而作为激发光,有时能够使电场增强光谱中的增强度峰的个数、大小、形状(宽度)与激发光的波长λi和目标物质的拉曼散射光的波长λs相匹配。
[0188] 本实施方式的电场增强元件100具有以下的特征。本实施方式的电场增强元件100能够基于通过光照射而激发的等离子体而以非常高的增强度将光增强。本实施方式的电场增强元件100由于具有高增强度,因此能够用于在例如医疗健康、环境、食品、公安等领域中用来高灵敏度、高精度、快速且简便地检测细菌、病毒、蛋白质、核酸、各种抗原抗体等生物体相关物质或含有无机分子、有机分子、高分子的各种化合物的传感器。例如,预先将抗体与本实施方式的电场增强元件100的金属粒子30结合而求出此时的增强度,进而能够根据抗原与该抗体结合后的情况下的增强度的峰值波长的变化、或者在峰值波长附近设定的波长上的反射率的变化而检查抗原的有无或者量。另外,能够利用本实施方式的电场增强元件100的光增强度而用于微量物质的拉曼散射光的增强。
[0189] 2.分析装置
[0190] 本实施方式的分析装置具备上述的电场增强元件、光源以及检测器。下面,将分析装置为拉曼光谱装置的情况作为例子而说明。
[0191] 图10是示意性显示本实施方式所涉及的拉曼光谱装置200的图。拉曼光谱装置200是检测来自目标物质的拉曼散射光而分析(定性分析、定量分析)的装置,如图7所示,包括:光源210、气体样品保持部110、检测部120、控制部130以及容纳有检测部120及控制部130的框体140。气体样品保持部110包括本发明所涉及的电场增强元件。以下,针对包括上述的电场增强元件100的例子进行说明。
[0192] 气体样品保持部110具有:电场增强元件100、覆盖电场增强元件100的盖112、吸引流路114以及排出流路116。检测部120具有:光源210、透镜122a、122b、122c、122d、半反射镜124以及光检测器220。控制部130具有通过处理在光检测器220中检测出的信号而进行光检测器220的控制的检测控制部132,以及控制光源210等的电力和电压的电力控制部134。如图7所示,控制部130可以与用于进行与外部的连接的连接部136电连接。
[0193] 在拉曼光谱装置200中,当使设置于排出流路116的吸引机构117动作时,吸引流路114以及排出流路116内变为负压,进而从吸引口113吸引含有成为检测对象的目标物质的气体样品。在吸引口113设置有除尘过滤器115,能够除去比较大的粉尘和部分水蒸气等。气体样品通过吸引流路114以及排出流路116,从排出口118排出。气体样品在通过这样的路径时与电场增强元件100的金属粒子30接触。
[0194] 吸引流路114以及排出流路116的形状是来自外部的光不会射入电场增强元件100的形状。由此,由于拉曼散射光以外的噪声的光不射入,因此能够使信号的S/N比提高。构成流路114、116的材料例如是难以反射光的材料和颜色。
[0195] 吸引流路114以及排出流路116的形状是对气体样品的流体阻力变小的形状。由此,可以进行高灵敏的检测。例如,通过将流路114、116的形状尽量采用无角部而圆滑的形状,从而能够消除气体样品在角部中的滞留。作为吸引机构117,例如使用对应于流路阻力的静压、风量的风扇马达或泵。
[0196] 在拉曼光谱装置200中,光源210向电场增强元件100照射激发光。光源210配置成能够照射在电场增强元件100的第一方向(金属粒子30并排的方向且金属粒子列31延伸的方向)上进行了直线偏振的光(与第一方向相同的方向的直线偏振光)、在第二方向上进行了直线偏振的光、以及圆偏振光中的至少一种。虽然未图示,但可以根据电场增强元件100的表面等离子体的激发条件而使从光源210照射的激发光的入射角θ适当变化。光源210可以设置于未图示的测角仪等。
[0197] 光源210照射的光与在“1.6.激发光”项中说明过的同样。具体而言,作为光源210,能够例示在半导体激光器、气体激光器、卤素灯、高压水银灯、疝气灯等上适当设置了波长选择元件、滤波器、偏光器等的光源。
[0198] 从光源210射出的光由透镜122a汇聚之后,经由半反射镜124以及透镜122b而射入电场增强元件100。从电场增强元件100发射SERS光,该光经由透镜122b、半反射镜124以及透镜122c、122d而到达光检测器220。即,光检测器220检测从电场增强元件100发射的光。由于在SERS光中含有与来自光源210的入射波长相同的波长的瑞利散射光,因而可以通过光检测器220的滤波器126而除去瑞利散射光。瑞利散射光被除去后的光作为拉曼散射光经由光检测器220的分光器127被受光元件128接收。作为受光元件128,使用例如光电二极管。
[0199] 光检测器220的分光器127例如由利用了法布里-珀罗共振的标准具等形成,能够使通过波长带域可变。通过光检测器220的受光元件128可以获得目标物质所特有的拉曼光谱,例如,通过将获得的拉曼光谱与预先保存的数据对照,从而能够检测目标物质的信号强度。
[0200] 此外,拉曼光谱装置200只要包括电场增强元件100、光源210以及光检测器220,使目标物质吸附于电场增强元件100,能够取得其拉曼散射光,则就不限于上述的示例。
[0201] 另外,在如上述的本实施方式所涉及的拉曼光谱法那样检测瑞利散射光的情况下,拉曼光谱装置200可以不具有滤波器126,而通过分光器将瑞利散射光与拉曼散射光分光。
[0202] 在拉曼光谱装置200中,包括上述的电场增强元件100。根据这种拉曼光谱装置200(分析装置),在增强度(反射率)光谱中能够获得非常高的增强度,进而能够高灵敏度地检测、分析目标物质。另外,由于在拉曼光谱装置200所具备的电场增强元件100中能够获得高增强度的位置,至少存在于金属粒子30的上表面侧(顶部),因此由于目标物质容易接触该位置,因而能够高灵敏度地检测、分析目标物质。
[0203] 另外,这种拉曼光谱装置由于按照在“1.2.透光层”项中已说明的(i)、(ii)条件中的至少一个而设定电场增强元件100的透光层20的厚度G,因此通过将透光层20的厚度G设定为大约20nm以上,从而能够取得较大的制造上的误差的允许范围。
[0204] 并且,根据这种拉曼光谱装置200,由于使用了无论透光层20的厚度G如何,在金属粒子30的上表面侧(顶部)所激发的局域型表面等离子体(LSP)的强度与在金属粒子30的下表面侧(底部)所激发的局域型表面等离子体的强度之比都为一定的电场增强元件100,因此电场增强的能量的利用效率高。
[0205] 3.电子设备
[0206] 接下来,一面参照附图,一面对本实施方式所涉及的电子设备300进行说明。图11是示意性显示本实施方式所涉及的电子设备300的图。电子设备300可以包括本发明所涉及的分析装置(拉曼光谱装置)。以下,对作为本发明所涉及的分析装置而包含上述的拉曼光谱装置200的例子进行说明。
[0207] 如图11所示,电子设备300包括:拉曼光谱装置200、根据来自光检测器220的检测信息而运算健康医疗信息的运算部310、存储健康医疗信息的存储部320以及显示健康医疗信息的显示部330。
[0208] 运算部310例如是个人计算机、便携式信息终端(PDA,Personal Digital Assistance,个人数字助理),接受从光检测器220发送的检测信息(信号等)。运算部310根据来自光检测器220的检测信息而运算健康医疗信息。运算出的健康医疗信息被存储于存储部320。
[0209] 存储部320例如是半导体存储器、硬盘驱动器等,可以与运算部310一体地构成。存储于存储部320的健康医疗信息被发送至显示部330。
[0210] 显示部330例如由显示板(液晶显示器等)、打印机、发光体、扬声器等构成。显示部330根据由运算部310运算出的健康医疗信息等,进行显示或发送警报,使得用户能够识别其内容。
[0211] 作为健康医疗信息,能够包括关于从由细菌、病毒、蛋白质、核酸以及抗原抗体组成的群所选择的至少一种生物体关联物质、或者选自无机分子以及有机分子的至少一种化合物的有无或量的信息。
[0212] 在电子设备300中,包括上述的拉曼光谱装置200。因此,在电子设备300中,能够高灵敏度、高效地进行微量物质的检测,进而能够提供高精度的健康医疗信息。
[0213] 例如,本发明所涉及的电场增强元件也能够用作检测如有无抗原抗体反应中的抗原吸附的有无等那样、检测有无物质吸附的亲和型传感器等。通过将白色光射入亲和型传感器,由分光器测定波长光谱,进而检测由于吸附所引起的表面等离子体共振波长的偏移量,该传感器能够高灵敏度地检测检测物质在传感器芯片的吸附。
[0214] 4.实验例
[0215] 以下示出实验例,进一步说明本发明,但是,本发明并非受以下示例任何限制。
[0216] 在各实验例中,使用如在图12示意性示出的模型。设计了使用金(Au)层作为充分地厚至光不透过的程度的金属层、在该金属层(金)上使用折射率1.46的SiO2层作为透光层、在其上以一定的周期形成了圆柱状的银而作为金属粒子的GSPP(Gap type Surface Plasmon Polariton,间隙型表面等离子体激元)模型。此外,金属层、金属粒子的材质不受限制,只要是在激发光的波长区域中介电常数的实数部为负且大、虚数部比实数部小的金属,则就能够使等离子体产生。此外,模型设定为在金的金属层上形成SiO2作为透光层,以规定的节距形成了银或金作为金属粒子,金属粒子的直径选择了LSP与PSP的相互作用增大的尺寸。
[0217] (计算模型的参数等)
[0218] 在各实验例中示出的曲线图等上使用了例如“X180Y780”等标注。“X180Y780”是指在第一方向(X方向)上以180nm节距(第一节距P1)、在第二方向(Y方向)上以780nm节距(第二节距P2)配置金属粒子。
[0219] 另外,在数值上添附有“D”、“T”这样的文字的情况下,是指用于模型的金属粒子为直径D、高度T的圆柱状。另外,在数值上添附有“G”这样的记号的情况下,是指透光层的厚度G为该数值[nm]。另外,在曲线图的横轴上标有“间隙厚度”是指透光层的厚度G。并且,在数值标注为具有例如“20-100”等这样的范围的情况下,表示在该范围内在计算上采用在该数值范围内连续或分散(离散的)值而进行了计算。
[0220] 并且,图中标有“Ag”或者“AG”处表示所关注的结构的材质是银,标有“Au”或者“AU”处表示所关注的结构的材质是金。另外,标有“@”是指“在接着@记载的波长上”,例如,如果是“SQRT_@815nm”这样的记载,则是指在波长815nm上的SQRT。
[0221] (计算的概要)
[0222] 计算使用了Rsoft公司(现Cybernet System株式会社)的FDTD soft FullWAVE。另外,在各实验例中,求出近场特性以及/或者远场特性。近场特性的FDTD计算条件使用在XY方向上均匀的1nm网格,在Z方向上1-5nm的网格等级(GG)(计算时间cT=10μm)或者XYZ方向上2-10nm的GG(计算时间cT=7μm)。另外,所使用的网格的条件在各实验例中示出,例如记载有“XY1Z1-5nmGG”的指“XY 1nmZ1-5nm Grid Grading”,记载有“2-10nmGG”的指“XYZ2-10nm Grid Grading”。金属粒子的周边折射率n0设为1。另外,关于激发光,采用从透光层的厚度方向(Z)的垂直射入,采用了X方向的直线偏振光。
[0223] 在增强位置(热点)上,由于由电场Ex和Ez两个成分构成,因此在以下的实验例中所有的增强度都用SQRT(Ex2+Ez2)表示。在此,E x表示入射光的偏振方向(第一方向)的电场强度,EZ表示厚度方向的电场强度。此外,在这种情况下,由于第二方向的电场强度小,因此不予考虑。另外,以下有时将SQRT(Ex2+Ez2)只称为“SQRT”。
[0224] 另外,当通过激发光的照射而产生表面等离子体共振(SPR)时,发生共振吸收,反射率下降。因此,SPR增强电场的强度能够使用反射率而由(1-r)表示。由于具有反射率r的值越接近于零,增强电场的强度越强这样的关系,因此有时将反射率用作SPR增强电场的强度(SQRT)的平方的指标。
[0225] 远场特性的FDTD计算条件设定为将监视器放置于元件的远方,使在0.5μm具有中心波长的脉冲光作为激发光而射入,进而取得反射率的波长特性。根据该方法,反射率的极小值表示增强度的最大值,同时也能够取得增强度成为最大的峰的波长。另外,远场特性虽然也是各部的热点的近场特性的积分值,但通常能够获得与近场特性大致相等的结果。远场特性主要在2-10nmGG取得,计算时间设定为cT=32.7μm。此外,在远场特性中,在产生了依赖于网格尺寸的异常值的情况下,将网格尺寸调整为1-5nmGG,进行了再计算。
[0226] 在计算上都使用了X方向的直线偏振光的入射光,例如,标有“X120Y160”的与在节距P1为120nm、节距P2为600nm的情况下由“第一方向”的直线偏振光的入射光所产生的结果等价,标有“X600Y120”的与在节距P1为120nm、列节距P2为600nm的情况下由“第二方向”的直线偏振光的入射光所产生的结果等价。
[0227] 另外,为了说明上的方便起见,有时将X180Y780以及X780Y180等XY方向的一方是激发光的波长附近的长度、另一方比其短的模型都称为一排(line)模型,有时将使在X方向(第一方向)上偏振的激发光射入至一排模型即X180Y780的情况(其方向沿着节距短的方向的直线偏振光)标记为“PSP⊥LSP”或者只标记为“⊥”,将使在Y方向(第二方向)上偏振的激发光射入的情况(其方向沿着节距长的方向的直线偏振光)标记为“PSP∥LSP”或者只标记为“∥”。
[0228] 4.1.实验例1
[0229] (一排⊥模型的峰波长相对于金属粒子大小的偏差的偏移)
[0230] 电场增强元件的金属粒子的尺寸的偏差很难在制造元件上完全排除。发明人们使用电子束描画装置(EB)而试制具有直径150nm的金属粒子的多个电场增强元件并进行了分析,结果发现,金属粒子的直径产生标准偏差σ=5nm的分布(偏差)。即,已经清楚,作为本实验例的前提,即金属粒子的直径的最大与最小之差平均为10nm左右。
[0231] (一排⊥模型)
[0232] 首先,作为用于633nm的激发波长的模型,计算了将金属层设定为150nm厚度的金(Au)、将透光层设定为10-50nm的SiO2、将金属粒子设定为80-90D30T的银(Ag)并按X140Y600排列后的模型。这样的模型用X140Y600_80-90D30T_AG简记。透光层的折射率设定为1.46,将使透光层的厚度(间隙G)从10nm以10nm刻度变化至50nm而取得的反射率的波长依赖性(反射率光谱)的结果显示于图13。
[0233] 激发光的条件为垂直入射,偏振方向为X方向。在该模型中,是LSP在X方向产生、PSP在Y方向产生的混合模式,不产生反交叉行为,在反射率光谱中发现了一个表示极小值的峰。
[0234] 由图13可知,在使金属粒子的直径分别变化为80、85、90nm时,10G的模型的反射率光谱中的极小值的波长分别大大地红移至700nm、730nm、745nm。另外,已判明,20G的模型的反射率极小值的波长虽然与10G的情况相比偏移量较小,但是也分别红移至615nm、640nm、652nm。
[0235] 与此相对,已判明,在使金属粒子的直径分别变化为80、85、90nm时,30G的模型的反射率极小值的波长分别红移至605nm、620nm、628nm,红移的偏移量非常地小,在40G以及50G的模型中,反射率极小值的波长几乎没有变化。
[0236] 由这种结果可知,透光层的厚度在20nm以下时,给出反射率的极小值的波长针对金属粒子直径的变化敏感地变化,但是厚度在30nm以上,则对金属粒子直径的变化迟钝,厚度在40nm以上,则相对于金属粒子直径的变化几乎不变化。因此可判明,通过透光层的厚度G设定为30nm至40nm左右以上,在产生金属粒子直径的偏差的情况下,给出反射率的极小值的波长难以变化,能够取得较大的制造上的偏差的允许范围。
[0237] 接着,作为785nm的激发光的模型,取得了一排X180Y780的尺寸的模型的反射率光谱。该模型考虑了在AG和AU中要使峰波长变为785nm前后,AG的直径比AU的直径大,并且反之AU的情况比AG的情况下的直径小这一点。在该模型中,是LSP在X方向产生、PSP在Y方向产生的混合模式,不产生反交叉行为,在反射率光谱中发现了一个表示极小值的峰。
[0238] 图14示出了一排_X180Y780_125-135D30T_AG_20-80G、以及一排_X180Y780_115-125D30T_AU_20-80G的反射率的波长特性(反射率光谱)。
[0239] 已判明,在透光层的厚度(G)为20nm的情况下,随着金属粒子的直径变化10nm,在金属粒子为银(AG)的情况下红移55nm,在金属粒子为金(AU)的情况下红移40nm。
[0240] 与此相对,随着透光层的厚度(G)增厚至40nm、60nm、80nm,反射率的极小值本身上升(变大),但是例如在60G的Ag的情况下,随着直径变化10nm,给出反射率的极小值的波长为35nm;在60G的Au的情况下给出反射率的极小值的波长为20nm,与20G的情况相比,可知给出反射率的极小值的波长的变化量下降了20nm左右。
[0241] 因此,由该结果可知,不论金属粒子是Ag还是Au都同样,透光层的厚度为20nm以下时,给出反射率的极小值的波长针对金属粒子直径的变化敏感地变化,透光层的厚度为40nm以上时,给出反射率的极小值的波长针对金属粒子直径的变化迟钝地变化。因此,可以判明,通过透光层的厚度G设定为30nm至40nm左右以上,从而在产生了金属粒子直径的偏差的情况下,给出反射率极小值的波长难以变化,进而能够取得较大的制造上的偏差的允许范围。
[0242] 图15是示出一排_X180Y780_130D30T_AG的反射率光谱中的极小峰的半值宽度(半峰全宽)与透光层的厚度(G)的关系的曲线图。图15的计算使用了1-5GG的网格。另外,此处的半值宽度是对向下的峰进行测定,图中标记为“FWHM”。FWHM是Full Width at Half Maximum的缩写,在本说明书中,Maximum对应于极小值。
[0243] 由图15可知,半值宽度(FWHM)>60nm的透光层的厚度G在20nm≤G≤140(nm)的范围。并且可知,显示出透光层的厚度G为100nm、半值宽度为100nm这样的较宽的特性。半值宽度较宽这一点因为下述的理由而在拉曼光谱测定中有效。
[0244] 对于拉曼散射波长λs、激发光的波长λi,(λs-λi)的值能够覆盖至100nm。在785nm波长的激发光的情况下,能够覆盖至1450cm-1的范围的拉曼位移。
[0245] 接下来,对一排_X180Y780_130D30T_AG以及一排_X180Y780_120D30T_AU研究了给出反射率光谱的极小值的波长的透光层的厚度G的依赖性。图16是将给出反射率光谱中的极小值的波长相对于透光层的厚度G绘图后的曲线图。在图16上,除了主要的极小峰(黑四边形(filled square))以外,还绘制出了次要的极小峰(黑菱形(黑斜四边形)(filled rhombus;filled diamond)),但是,后者是由于在透光层上所产生的干涉共振效应所产生的,并非产生了反交叉行为。
[0246] 观察图16,在金属粒子为AG的情况下透光层的厚度G在220nm附近处、在金属粒子为AU的情况下透光层的厚度G在260nm附近处观测到由于干涉共振效应所产生的反射率极小峰的值的最小值,在比这些厚度G小的情况下,反射率的极小值的值变大。
[0247] 因此,在AG的情况下透光层的厚度G在220nm处、在AU的情况下透光层的厚度G在260nm处分别取得了反射率光谱(远场特性)。其结果显示于图17。图17示出X180Y780_AG_
220G_120-140D以及X180Y780_AU_260G_110-130D模型在产生干涉共振的透光层厚度G下的远场特性。
[0248] 观察图17,干涉共振效应是短波长侧的峰,对于Ag,在220G时半值宽度FWHM为26nm,对于Au,在260G时半值宽度FWHM为46nm。与此相对,在图15的一排_X180Y780_
130D_AG模型中,在20G至140G的范围内,FWHM为60nm以上,因此通过对这些进行比较可知,在反射率光谱中干涉共振产生的峰的半值宽度窄,很难在宽波长频带上提高增强度,作为拉曼传感器,使用这种效应而设计电场增强元件未必最适合。例如,Ag的FWHM为26nm的情况下,只能测量0cm-1-400cm-1的拉曼位移,不适合作为拉曼传感器。例如,在日本专利特开
2009-115492号公报中公开的设备是利用干涉共振的设备,是使半值宽度变窄而检测由于感测物质的附着所引起的介电常数的变化的方式,即检测峰波长的偏移量或者峰波长附近的固定波长上的反射率的变化的方式,与通过使半值宽度增大而在宽波长频带上获得高增强度的本说明书中记载的方式不同。
[0249] 4.2.实验例2
[0250] (一排⊥模型的近场特性)
[0251] 参照在图16下段所示的远场的反射率特性,当透光层的厚度G变大时,反射率的极小值逐渐上升。可以认为其理由之一是,远场特性表示金属粒子的下部(底部)或上部(顶部)的热点的积分值。在本实验例中,为了研究各热点的透光层的厚度G依赖性,取得了该模型的近场特性。其结果显示于图18。
[0252] 底部表示金属粒子与SiO2(透光层)之间的界面的增强度、顶部表示金属粒子上表面的增强度、(顶部/底部)比表示各自的位置的SQRT的比值。如由上述的图16所知那样,由于给出增强度的峰的波长随透光层的厚度G而变化,因此图18的SQRT是分别求出给出最大增强度(最小反射率)的波长上的增强度(SQRT)而对其绘图后的曲线图。
[0253] 图18是一排⊥_X180Y780_130D30T_AG模型、以及一排⊥_X180Y780_120D30T_AU模型的SQRT相对于透光层的厚度G的绘图以及该模型的(顶部/底部)比相对于厚度G的绘图。
[0254] 观察图18,不管金属粒子是Ag、Au的哪一种材质,底部的SQRT都随着G的值从20nm开始变大而逐渐变小,而顶部的SQRT在金属粒子为Ag的情况下在G大约为60nm处显示最大值,在金属粒子为Au的情况下在G大约为80nm处显示最大值。
[0255] 也就是说,能够解释为,底部的电场增强度(SQRT)是以在透光层的厚度方向上所产生的LSP为主体的模式,顶部的电场增强度是以在金属层上所产生的PSP为主体的模式。这一点也与图18的模型通过复合的LSP与在金属层上产生的Y方向上的PSP相互作用而显示高增强度的机理相吻合,没有矛盾,其中,复合后的LSP是X方向(平行于透光层的平面的方向)上的金属粒子间所产生的LSP和在透光层的厚度方向上产生的LSP复合而成的LSP。
[0256] 已经说明过,样品中的目标物质容易附着于金属粒子的顶部的位置。在图18的模型中,显示透光层的厚度G为20nm时的SQRT以上的SQRT的透光层厚度G,能够读取为20nm以上170nm以下。另外,观察图18可知,(顶部/底部)比从透光层的厚度G超过40nm至50nm的附近开始成为一定值。即,透光层的厚度G为40nm以上时,即使G变动,(顶部/底部)比也难以变化,例如,能够取得较大的透光层制造上的膜厚的偏差的允许范围。另外,透光层的厚度G为40nm以上时,与小于40nm的情况相比,(顶部/底部)比大,因此能够将由激发光提供的能量更多地分配至顶部侧,因而能够更加有效地进行目标物质的测定。
[0257] 接着,对激发光的波长不同的情况进行了研究。图19是一排⊥_X180Y600_100D30T_AG模型、以及一排⊥_X180Y780_130D30T_AG模型的SQRT相对于透光层的厚度G的绘图以及该模型的(顶部/底部)比相对于厚度G的绘图。用于计算的网格是XY1nmZ1-
5nmGG。另外,与上述的图18的情况同样,由于给出增强度的峰的波长随透光层的厚度G而变化,因此图19的SQRT是分别求出给出最大增强度(最小反射率)的波长上的增强度(SQRT)而对其进行了绘图。
[0258] 观察图19,在Y600的情况(图19左侧)下,底部的SQRT虽然随着G的值从20nm开始变大而具有小的极大值,但是在逐渐地变小,在Y780的情况(图19右侧)下,底部的SQRT随着G的值从20nm开始变大而单调地逐渐变小。另一方面,顶部的SQRT在Y600的情况下在G为大约40nm至100nm处显示出最大值,在Y780的情况下在G大约为60nm处显示出最大值。
[0259] 在图19的模型中,显示透光层的厚度G为20nm时的SQRT以上的SQRT的透光层的厚度G,在Y600的情况(633nm激发模型)下能够读取为20nm以上140nm以下。另外,在Y780的情况(785nm激发模型)下,显示透光层的厚度G为20nm时的SQRT以上的SQRT的透光层的厚度G,能够读取为20nm以上175nm以下。
[0260] 并且,观察图19的下段的曲线图可知,(顶部/底部)比从透光层的厚度G超过40nm至50nm的附近开始大致成为一定值。即,透光层的厚度G为40nm以上时,即使G变动,(顶部/底部)比也难以变化,例如,能够取得较大的透光层制造上的膜厚的偏差的允许范围。另外,透光层的厚度G为40nm以上时,与小于40nm的情况相比,(顶部/底部)比大,因此能够将由激发光提供的能量更多地分配至顶部侧,因而能够更加有效地进行目标物质的测定。
[0261] 并且,可以认为,显示透光层的厚度G为20nm时的SQRT以上的SQRT的透光层厚度G的上限值与激发光的波长成正比,能够使用两者的值而进行标准化,能够将这种情况下的比例常数(校正项)设定为(633nm/785nm)。
[0262] 由图19的结果能够知道633nm激发模型与785nm激发模型之间的关系。即,在633nm激发模型(Y600)中,显示透光层的厚度G为20nm时的SQRT以上的SQRT的透光层的厚度G的上限值为140nm,在785nm激发模型(Y780)中,显示透光层的厚度G为20nm时的SQRT以上的SQRT的透光层的厚度G的上限值为175nm。
[0263] 于是能够确认,将785nm激发模型的情况下的透光层的厚度G的上限值175nm乘以(633nm/785nm)后就成为141nm,与633nm激发模型(Y600)的透光层的厚度G的上限值140nm基本一致。
[0264] 4.3.实验例3
[0265] (一排∥模型的远场特性)
[0266] 接着,将一排∥780Y180模型的反射率光谱显示于图20。激发光的偏振方向为X方向,是在X方向上产生PSP与LSP的混合的模式。这种情况产生反交叉行为,在反射率光谱上出现两个表示极小值的峰。
[0267] 在图20上,示出了一排∥_X780Y180_130-140D30T_AG_20-100G、以及一排∥_X780Y180_115-125D30T_AU_20-80G的反射率光谱。
[0268] 可知,在透光层的厚度G为20nm的情况下,780nm附近出现的峰(在具有极小值的曲线图上向下凸的峰)的峰波长不管金属粒子的材质为Ag、Au哪一种,都不依赖于其直径D而为一定,但是长波长侧的峰(在0.85μm~1μm的范围出现的峰)的峰波长不管金属粒子的材质为Ag、Au的哪一种,都随着其直径变化10nm而偏移大约30nm左右。
[0269] 另一方面,在透光层的厚度G为60nm的情况下,短波长的780nm附近的峰,反射率的极小值变大(峰变小),而峰波长不管金属粒子的材质为Ag、Au哪一种都不依赖于其直径D而为一定,都是780nm。并且可知,长波长侧的峰不管金属粒子的材质为Ag、Au哪一种,都随着其直径变化10nm,停留在偏移10nm左右。
[0270] 图21是将从图20示出的远场特性读取的极小峰的波长对每个模型绘图后的曲线图。观察图21可知,在1排∥的模型中,不管是哪一个模型,即使透光层(SiO2)的厚度G在40nm至140nm的范围内变化,短波长侧的峰的波长也几乎不变化(曲线图中的“黑四边形(filled square)”)。与此相对,长波长侧的峰的波长随着透光层(SiO2)的厚度G从40nm开始变大而向长波长侧单调地偏移(曲线图中的“黑三角形(filled triangle)”)。
[0271] 可以认为,长波长侧的峰的峰波长随着G的增大而向长波长侧偏移的现象的原因之一为,由金(Au)构成的金属层的周边的有效折射率与G的增大成正比地变高,在金属层上所产生的传播型等离子体(PSP)的色散关系向长波长侧偏移。
[0272] 4.4.实验例4
[0273] (一排∥模型的近场特性)
[0274] 与实验例2同样的方式,对一排∥X780Y180模型的金属粒子的顶部位置的增强度(SQRT)研究了对透光层厚度G的依赖性。给出增强度的峰的波长由于随透光层的厚度G而变化,因此SQRT分别使用了620nm、630nm以及640nm波长上的增强度(SQRT)。
[0275] 图22是将一排∥_X600Y180_100D30T_AU模型的、金属粒子顶部的SQRT相对于透光层的厚度G绘图后的曲线图。
[0276] 参照图22可判明,在透光层的厚度G为20nm时,当以630nm以及640nm的波长激发时,显示高的SQRT值。而且,可以读出,显示比这样的值大的SQRT值的透光层的厚度G的范围不管激发光的波长如何都为20nm以上130nm以下。
[0277] 由这些结果可知以下事项。可知,在一排∥模型的近场特性中,在透光层的厚度G为20nm时,不管模型的尺寸如何,(顶部/底部)比都变小,即、在金属粒子的底部所产生的等离子体相对地增强。可以认为,这是由于在透光层的厚度G为20nm左右的情况下,增强度由透光层的厚度方向的LSP主导。另外发现,透光层的厚度G为20nm左右时,由于金属粒子的直径D的偏差,表示反射率的极小值的峰的波长变化得较大,因此例如在制造时要求高的尺寸精度。并且可以认为,透光层的厚度G为20nm左右时,由于目标物质容易附着的金属粒子顶部端的增强度相对地变小,因此能量的利用效率下降。因此可知,在一排∥的633nm激发模型中,通过将透光层的厚度G设定为超过20nm且在130nm以下,从而成为综合性的电场增强效果高的电场增强元件。
[0278] 4.5.实验例5
[0279] (数值范围的一般化(关于校正项))
[0280] 正如在上述的各实验例中已获得的那样,20nm<G≤160nm这一优选的透光层的厚度G的范围,是从垂直入射的激发光的波长为785nm、透光层的材质为n=1.46的SiO2的某种情况导出的范围。另外,根据图19和图22,在785nm激发模型(X180Y780)以及633nm激发模型(X180Y600)中,显示超过G为20nm时的SQRT的SQRT的G的范围在一排⊥模型中,633nm激发模型为20nm<G≤140nm,785nm激发模型为20nm<G≤175nm。
[0281] 另外,在一排∥模型中,633nm激发模型为20nm<G≤130nm。
[0282] 因此,在785nm激发模型中,G的上限值导出130nm·(785nm/6633nm)=161nm,将式的上限设定为160nm,进而导出20nm<G≤160nm·(激发光的波长[nm])/785nm。
[0283] 另外,虽然上述模型中的优选的透光层厚度G成为将透光层的材质设定为SiO2的情况下的范围,但是该范围相对于透光层的折射率偏移。具体而言,在透光层的材质为SiO2时,20nm<G≤160nm的范围的情况能够对其他材料的透光层进行标准化。即,能够使用SiO2的折射率1.46而表达为20nm<G·(透光层的折射率/1.46)≤160nm。例如,在将透光层的材质设定为TiO2的情况下,透光层的折射率为2.49,可知范围成为11nm<G≤94nm。
[0284] 另外,透光层可以为多层,在那种情况下,能够使用有效折射率而同样地决定优选的范围。例如,在透光层具有10nm厚度的Al2O3层(折射率1.64)以及30nm厚度的SiO2层(折射率1.46)的层叠结构的情况下,成为(1.64·10nm+1.46·30nm)/1.46=41.2nm,可以认为与形成41.2nm厚度的SiO2透光层的情况同样。
[0285] 4.6.实验例6
[0286] (增强度轮廓的设计)
[0287] 如图16那样,在LSP与PSP强烈地相互作用的一排⊥模型中,在40nm以上160nm以下的透光层厚度G,峰波长的变化少且出现一个宽峰,因此能够设计透光层的厚度G,以便对拉曼位移量小的目标物质能够获得高增强度。
[0288] 在这种情况下,虽然根据模型不同,半值宽度(FWHM)有些不同,但是如图15所示,由于FWHM为60nm以上,比较大,因此在633nm激发模型中,能够覆盖对应于直至693nm的波长-1的拉曼位移、即在波数上直至1350cm 的拉曼位移。另一方面,在785nm激发模型中,能够覆盖对应于直至845nm的波长的拉曼位移、即在波数上直至900cm-1的拉曼位移。
[0289] 在图23示出一排⊥模型的反射率光谱中的峰的波长的透光层厚度G依赖性。另一方面,在一排∥模型中,如图21所示可知,不管模型的尺寸如何,在透光层设定为SiO2的情况下,短波长侧的峰的峰波长相对于透光层厚度G几乎不变化,而长波长侧的峰当透光层厚度G变大时向长波长侧偏移。
[0290] 可以认为,长波长侧的峰的波长随着透光层厚度G的增加而向长波长侧偏移的原因是,金属层周边的有效折射率与间隙厚度成正比地增高,金属层的传播型等离子体(PSP)的色散关系向长波长侧偏移。
[0291] 在633nm激发模型中,长波长侧的峰能够覆盖波长710nm以上即波数1750cm-1以-1上、853nm以下即4100cm 以下。另外,在785nm激发模型中,长波长侧的峰能够覆盖波长
880nm以上即波数1400cm-1以上、976nm以下即2500cm-1以下。
[0292] 图24的上图是在X180Y780_130D30T_60G_AG模型中将偏振方向设定为X方向(P1方向)的情况(⊥模型),图24的下图是将偏振方向设定为Y方向(P2方向)的情况(∥模-1型)。可知,在⊥模型中,能够检测丙酮的拉曼散射光787cm (785nm激发、837nm散射),在∥模型中,能够检测丙酮的拉曼散射光1708cm-1(785nm激发、907nm散射)。将这种情况一般化后的图是图25,由激发波长和欲感测的拉曼位移量导出拉曼散射波长,由图25可知,可以设定为在该拉曼散射波长上具有增强峰的透光层厚度。
[0293] 将以上情况归纳如下:
[0294] (1)633nm激发的情况
[0295] 在目标物质的拉曼位移为0cm-1~1350cm-1(692nm)的情况下使用一排⊥模型、在拉曼位移为1750cm-1(712nm)~4100cm-1(853nm)的情况下使用一排∥模型而设定为与拉曼位移的值对应的透光层厚度,由于在宽波长范围内能够提高增强度,因此是有效的。
[0296] (2)785nm激发的情况
[0297] 在目标物质的拉曼位移为0cm-1~900cm-1(845nm)的情况下使用一排⊥模型、在拉曼位移为1400cm-1(880nm)~2500cm-1(976nm)的情况下使用一排∥模型而设定为与拉曼位移的值对应的透光层厚度,由于在宽波长范围内能够提高增强度,因此是有效的。
[0298] 于是,在增强来自具有上述(1)的情况的1350cm-1(692nm)~1750cm-1(712nm)的拉曼位移、以及上述(2)的情况的900cm-1(845nm)~1400cm-1(880nm)的拉曼位移的目标物质的拉曼散射光的情况下,通过提高配置金属粒子的密度(例如,通过设定为X180Y400以代替X180Y600等而缩小Y方向的节距)、或者将金属粒子列的列数设定为多个(多排化),从而能够使反射率光谱比一排⊥模型的情况变宽,能够进行该波数区域的散射光的增强。
[0299] 以目标物质是丙酮的情况为例而具体地说明。首先,已知丙酮在787cm-1、1708cm-1、2921cm-1产生拉曼位移。然后,当将激发波长设定为λi=633nm时,斯托克斯拉曼散射后的波长λs对应于拉曼位移而分别成为666nm、709nm、777nm。另外,当设定为激发波长λi=785nm时,斯托克斯拉曼散射后的波长λs对应于拉曼位移而分别成为837nm、907nm、1019nm。
[0300] 图24是用于说明反射率(增强度)的波长特性与SERS的激发波长、散射波长的关系的图。例如,如图24所示,要检测丙酮的787cm-1的拉曼散射光,设定为激发波长λi=785nm,斯托克斯拉曼散射后的波长λs分别成为837nm,因此只要将偏振方向设定为X方向,形成为-1一排_X180Y780_130D30T_60G_AG,则能够强烈地增强丙酮的787cm 的拉曼散射光,进而能够获得强的SERS信号。
[0301] 另外,为了强烈地增强丙酮的拉曼位移1708cm-1的拉曼散射光,在设定为激发波长λi=785nm的情况下,斯托克斯拉曼散射后的波长λs成为907nm,因此只要将偏振方向设定为X方向,形成为一排_X780Y180_130D30T_AG_60G,则能够强烈地增强丙酮的1708cm-1的拉曼散射光,进而能够获得强的SERS信号。
[0302] 此外,将该偏振方向设定为X方向的一排_X780Y180_130D30T_AG_60G模型与偏振方向设定为Y方向的一排_X180Y780_130D30T_AG_60G模型完全地同义。因此,可以理解,在上述例子中,不必为了增强各个拉曼散射光而准备两个电场增强元件,只通过将激发光的偏振方向改变为X方向和Y方向,就能够通过一个电场增强元件而增强具有大范围的拉曼位移的拉曼散射光。另外,如果使用圆偏振光,则能够同时取得使用X方向的直线偏振光以及Y方向的直线偏振光而取得的SERS信号。
[0303] 在图25示出具有由图21求出的两个峰的系(一排∥模型)的峰波长的透光层厚度G依赖性、以及具有由图23求出的一个峰的系(一排⊥模型)的峰波长的透光层厚度G依赖性。
[0304] 可以理解,一排⊥模型和一排∥模型虽然在物理(结构)上成为相同的电场增强元件,但是根据将激发光的偏振方向设定为X方向还是设定为Y方向的不同,能够选择获得高增强度的波长区域,进而具有能够根据目标物质而取得高的SERS信号这样的自由度。
[0305] 4.7.实验例7
[0306] 上述实验例1-6将金属层作为全部由金(Au)构成的层而进行了计算。另一方面,虽然进行了设定为银(Ag)的情况的各实验,但是在两者中没有很大的差别。另外,透光层除了SiO2以外还能够设定为Al2O3、TiO2等。在透光层上使用SiO2以外的材质的情况下,可以将上述的实验例1-6的SiO2作为基本,考虑该SiO2以外的材质的折射率来设计透光层的厚度G。例如,在材质为SiO2的情况下的透光层的厚度优选为超过20nm且160nm以下的范围的情况下,如果将透光层的材质设定为TiO2,如果考虑TiO2的折射率(2.49),则优选的透光层的厚度G能够通过将(1.46/2.49)的值与材质为SiO2的情况下的透光层的厚度相乘而求得。因此,在将透光层的材质设定为TiO2的情况下,优选的透光层厚度G成为大约超过12nm且94nm以下。
[0307] 另外,在上述实验例1-6中,虽然作为633nm激发模型而使用以600nm节距排列金属粒子的模型和作为785nm激发模型而使用以780nm节距排列金属粒子的模型,但是不局限于此。
[0308] 另外,作为633nm激发的一排⊥模型,作为缩小Y方向的节距而提高了金属粒子的存在密度的一例,在图26示出对一排⊥_X140Y600_90D30T模型和一排⊥_X140Y400_90D30T模型的反射率光谱进行比较的曲线图。
[0309] 如图26所示,可以理解,即使如一排⊥_X140Y400_90D30T模型那样提高了金属粒子的存在密度的情况下,也显示与一排⊥_X140Y600_90D30T模型同样的行为。此外,比较细节时,与一排⊥_X140Y600_90D30T模型相比,一排⊥_X140Y400_90D30T模型的一方,虽然峰的增强度(反射率的最小值)下降,但是半值宽度变宽,可以认为,对于有些目标物质来说,成为更适合的电场增强元件。并且,SERS的信号强度与热点密度成正比,因此,由于提高了金属粒子的存在密度而使热点密度(HSD)增加,相应地,SERS信号的强度变高。
[0310] 另外,虽然上述实验例都是将金属粒子的形状形成为了圆柱,但是也可以是椭圆或棱柱。在将金属粒子的形状形成为棱柱的情况下,有时能够使增强度进一步地提高。并且,作为激发光的波长,虽然设想了HeNe激光的633nm和半导体激光的785nm,但是不局限于此。即使激发光的波长与这些波长不同,也能够根据该波长而决定透光层的厚度G,这一点正如已说明的那样。并且,虽然金属粒子的尺寸以80nm-160nm直径,以厚度30nm进行了计算,但是对这些也不限制。此外,如果使直径变小且使厚度变薄,或者使直径变大且使厚度变厚,则能够使其接近于与各实验例同样或类似的波长特性。即使是例如34D4T等小尺寸,也与上述已说明的同样。
[0311] 5.其他事项
[0312] 图27是示出金属粒子的排列与LSP(LSPR:Localized Surface Plasmon Resonance,局域型表面等离子体)以及PSP(PSPR:Propagating Surface Plasmon Resonance传播型表面等离子体)的关系的示意图。在本说明书中,为了说明的便利,作为LSP只考虑在金属粒子的周边产生的情况而进行了说明。本发明所涉及的电场增强元件由于在金属粒子的排列上具有各向异性(P1<P2),因此在本发明所涉及的电场增强元件中利用的SPR是LSP与PSP电磁地相互作用而产生的。
[0313] 在此,在金属粒子的周边所能够产生的LSP,已知存在在相邻的金属粒子间产生的模式(以下,称为“PPGM(Particle-Particle Gap Mode:粒子-粒子间模式)”)以及在金属粒子与金属层(也具有镜子的功能)之间产生的模式(以下,称为“PPGM(Particle-Mirror Gap Mode:粒子-镜间模式)”)两种模式(参照图27)。
[0314] PPGM以及PMGM两种模式的LSP都是通过将激发光射入至电场增强元件而产生。在这些中,对于PPGM的LSP,金属粒子越接近(金属粒子间的距离变小),强度变得越高。另外,对于PPGM的LSP,激发光的电场的振动的成分(偏振光成分)在接近的金属粒子并排的方向上越多,强度越变高。另一方面,PMGM模式的LSP不受金属粒子的排列和激发光的偏振方向大的影响,通过照射激发光而在金属粒子与金属层之间(金属粒子的下方)生成。然后,正如以前已说明的那样,PSP是在金属层与透光层的界面上传播的等离子体,通过将激发光射入至金属层而在金属层与透光层的界面上各向同性地传播。
[0315] 图27示意性地示出在实验例等中已说明的一排(line)结构与其他结构(基础(Basic)结构以及混合(Hybrid)结构)的比较。激发光的偏振方向在图中由箭头示出。此外,基础结构、一排结构以及混合结构这样的语句是在本说明书中为了将各自区别而使用的新词,在以下说明它们的意义。
[0316] 首先,基础结构是金属粒子紧密地配置在透光层上的结构,通过照射激发光而激发PPGM的LSPR以及PMGM的LSPR。在该例子中,PPGM的LSPR在激发光的偏振方向上的金属粒子的两端产生,但是基础结构由于金属粒子的排列的各向异性小,因此在激发光不是偏振光的情况下也同样地按照激发光的电场矢量的成分而产生。在基础结构中,金属粒子紧密地配置,其结果激发光难以到达金属层,因此几乎或者完全不产生PSPR,在图示中省略表示PSPR的示意性的波浪线。
[0317] 其次,混合结构是与基础结构相比金属粒子稀疏地配置于透光层上的结构,通过照射激发光而激发PMGM的LSPR。在该例子中,由于金属粒子间分离,因此与基础结构相比微弱地生成PMGM的LSPR,在图示中省略。在混合结构中,金属粒子稀疏地配置的结果产生PSPR(图中波浪线)。
[0318] 然后,一排结构是金属粒子以基础结构和混合结构的中间密度配置在透光层上的结构。一排结构由于金属粒子的排列具有各向异性,因此所产生的LSPR依赖于激发光的偏振方向。在一排结构中的LSPR⊥PSPR的情况(即射入其方向沿着金属粒子间的间隔窄的方向的直线偏振光的情况)下,通过照射该激发光而激发PPGM的LSPR以及PMGM的LSPR。而且,由于是一排结构,因此金属粒子稀疏地配置的结果产生PSPR(图中波浪线)。
[0319] 另外,在为一排结构中的LSPR∥PSPR的情况(即射入其方向沿着金属粒子间的间隔宽的方向的直线偏振光的情况)下,通过照射该激发光而激发PMGM的LSPR。在这种情况下,由于沿激发光的偏振方向的方向上的金属粒子间分离,因此与LSPR⊥PSPR的情况相比PMGM的LSPR微弱,在图示中省略。而且,由于是一排结构,因此金属粒子稀疏地配置的结果产生PSPR(图中波浪线)。
[0320] 此外,在图27中,虽然对射入偏振光的情况进行说明,但是不管在哪种结构中,在射入未被偏振的激发光或圆偏振光的情况下,都对应于其电场的振动方向的成分而产生上述的SPR。
[0321] 各结构中的总体的SPR强度(电场增强度)与各自所产生的SPR的总和(或者积)关联。如上所述,PSPR对总SPR强度的贡献度按基础结构<一排结构<混合结构的顺序变大。另外,从金属粒子的密度(HSD)的观点出发,LSPR(PPGM以及PMGM)对总SPR强度的贡献度按混合结构<一排结构<基础结构的顺序变大。并且,如果着眼于HSD以及PPGM的LSPR,则PPGM的LSPR对总SPR强度的贡献度按混合结构<一排∥结构<一排⊥结构<基础结构的顺序变大。
[0322] 正如已说明的那样,由于本发明所涉及的电场增强元件中的金属粒子的配置满足式(1)P1<P2≤Q+P1···(1)
[0323] [在此,P1表示所述第一节距,P2表示所述第二节距,将在所述金属粒子的列上激发的局域型等离子体的角频率设为ω、将构成所述金属层的金属的介电常数设为ε(ω)、将所述金属粒子的周边的介电常数设为ε、将真空中的光速设为c、将作为所述激发光的照射角的来自所述金属层的厚度方向的倾斜角设为θ,Q表示满足下述式(2)的衍射光栅的节距:
[0324] (ω/c)·{ε·ε(ω)/(ε+ε(ω))}1/2=ε1/2·(ω/c)·sinθ+2aπ/Q(a=±1,±2,…)···(2)]的关系,因此在结构上如果按图27所示的结构分类,属于一排⊥结构或一排∥结构。
[0325] 一排⊥结构和一排∥结构与其他结构相比是中间强度的LSPR与PSPR电磁增大地相互作用(相乘耦合)的结构。另外,在一排⊥结构中,强度大的PPGM的LSPR与PSPR电磁增大地相互作用。另外,在一排∥结构中,以中间的密度(比混合结构高的密度)产生的PMGM的LSPR与PSPR电磁增大地相互作用。
[0326] 因此,可以说,一排⊥结构以及一排∥结构与几乎不产生PSPR的基础结构或几乎不产生PPGM的LSPR的混合结构,至少金属粒子的密度以及各SPR的贡献率不同,电场增强的机理不同。于是,在属于一排结构的本发明的电场增强元件中,通过LSPR与PSPR相乘地相互作用,从而能够获得极高的电场增强度。
[0327] 本发明并非局限于上述的实施方式,还可以进行各种变形。例如,本发明包括与在实施方式中已说明的结构实质上相同的结构(例如,功能、方法以及结果相同的结构,或者目的及效果相同的结构)。另外,本发明包括将在实施方式中已说明的结构的不是本质性的部分替换后的结构。另外,本发明包括能够取得与在实施方式中已说明的结构相同的作用效果的结构或能够达到相同的目的的结构。另外,本发明包括在实施方式中已说明的结构上附加了公知技术的结构。