一种USB拔插测试系统及其方法

摘要

本发明公开了一种USB拔插测试系统及其方法，USB拔插测试系统与待测手机连接，包括测试终端和USB连接器；测试终端发出设置指令控制USB连接器与待测手机之间的USB接口连接或断开，测试终端检测USB接口连接时查询待测手机的状态信息；通过设置指令模拟USB接口的断开和连接，实现自动化模拟拔插USB的测试；通过查询能检查多次拔插测试后待测手机是否会出现死机，不识别等不稳定的问题，不会占用测试人员的时间和精力，解放了测试人员的劳动力。

权利要求

1.一种USB拔插测试系统，与待测手机连接，其特征在于，包括测试终端和USB连接器；

测试终端发出设置指令控制USB连接器与待测手机之间的USB接口连接或断开，测试终端检测USB接口连接时查询待测手机的状态信息；

所述测试终端包括：

GPIB控制模块，用于发出设置指令将USB连接器的VCOM接口上的电压置高或置低；

查询模块，用于检测USB连接器的VCOM接口上的电压值为高电平时，发送AT命令查询待测手机的状态信息；

所述查询模块采用串口硬件接口与USB连接器连接，所述查询模块发送AT命令给待测手机后，对待测手机反馈的值进行相应的匹对和判断，以完成对待测手机状态信息的判断。

2.根据权利要求1所述的USB拔插测试系统，其特征在于，所述GPIB控制模块内设置有GPIB卡，并安装NI-488驱动程序。

3.根据权利要求1所述的USB拔插测试系统，其特征在于，所述设置指令为set ConnectMsg "VOLT 5"，将USB连接器的VCOM接口上的电压置为+5V的高电平；或所述设置指令为set ConnectMsg "VOLT 0"，将USB连接器的VCOM接口上的电压置为0V的低电平。

4.根据权利要求1所述的USB拔插测试系统，其特征在于，所述USB连接器包括：安捷伦电源模块，用于根据所述设置指令进行高低电平转换，将其输出电压置高或置低；

USB集线器，用于根据输出电压将其VCOM接口上电压对应置高或置低，及根据高低电平控制USB接口的通断。

5.一种采用权利要求1所述的USB拔插测试系统的USB拔插测试方法，其特征在于，包括：A、测试终端发出置高的设置指令控制USB连接器与待测手机之间的USB接口连接；

B、测试终端检测待测手机的状态信息；

C、测试终端发出置低的设置指令控制USB连接器与待测手机之间的USB接口断开；

D、判断置低的设置指令是否发出预设测试次数：是则结束USB拔插测试；否则返回步骤A；

所述步骤A具体包括：

A1、GPIB控制模块发出置高的设置指令给安捷伦电源模块；

A2、安捷伦电源模块根据置高的设置指令输出+5V的高电平至USB集线器的VCOM接口；

A3、USB集线器得电工作，将待测手机与测试终端连接；

所述步骤B具体包括：

B1、查询模块检测所述VCOM接口为高电平时，发出AT命令查询待测手机的状态信息；

B2、本次查询完成后，查询模块发出更改指令给GPIB控制模块；

查询模块采用串口硬件接口与USB连接器连接，查询模块发送AT命令给待测手机后，对待测手机反馈的值进行相应的匹对和判断，以完成对待测手机状态信息的判断。

6.根据权利要求5所述的USB拔插测试方法，其特征在于，所述步骤C具体包括：C1、GPIB控制模块收到所述更改指令后发出置低的设置指令；

C2、安捷伦电源模块根据置低的设置指令输出0V的低电平至所述VCOM接口；

C3、USB集线器掉电不工作，将待测手机与测试终端断开连接。

7.根据权利要求6所述的USB拔插测试方法，其特征在于，所述步骤D具体包括：GPIB控制模块记录当前发出置低的设置指令的次数，并判断该次数是否等于预设测试次数，是则结束USB拔插测试；否则返回步骤A。

说明书

一种USB拔插测试系统及其方法

技术领域

[0001] 本发明涉及测试技术领域，尤其涉及的是一种USB拔插测试系统及其方法。

背景技术

[0002] 随着手机的发展，手机通过USB线与PC机连接后可以实现越来越多的功能，U盘存储，USB共享网络，相册，充电等等，因此越来越多用户在平时的使用中会用到USB线与PC机连接。

[0003] 基于现有的USB连接比较频繁，手机厂商需要进行USB的专项的稳定性测试（Reliability testing），测试拔插过程中是否会出现USB不识别，手机死机等问题。但是，测试时通常需要人工拔插USB接口几百次，操作比较繁琐，将占用测试人员是非常大的时间和精力。

[0004] 因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

[0005] 本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种USB拔插测试系统及其方法，旨在解决现有USB稳定性测试需要人工拔插USB接口导致人力耗费的问题。

[0006] 本发明解决技术问题所采用的技术方案如下：

[0007] 一种USB拔插测试系统，与待测手机连接，其包括测试终端和USB连接器；

[0008] 测试终端发出设置指令控制USB连接器与待测手机之间的USB接口连接或断开，测试终端检测USB接口连接时查询待测手机的状态信息。

[0009] 所述的USB拔插测试系统中，所述测试终端包括：

[0010] GPIB控制模块，用于发出设置指令将USB连接器的VCOM接口上的电压置高或置低；

[0011] 查询模块，用于检测USB连接器的VCOM接口上的电压值为高电平时，发送AT命令查询待测手机的状态信息。

[0012] 所述的USB拔插测试系统中，所述GPIB控制模块内设置有GPIB卡，并安装NI-488驱动程序。

[0013] 所述的USB拔插测试系统中，所述设置指令为set ConnectMsg "VOLT 5"，将USB连接器的VCOM接口上的电压置为+5V的高电平；所述设置指令为set ConnectMsg "VOLT 0"，将USB连接器的VCOM接口上的电压置为0V的低电平。

[0014] 所述的USB拔插测试系统中，所述USB连接器包括：

[0015] 安捷伦电源模块，用于根据所述设置指令进行高低电平转换，将其输出电压置高或置低；

[0016] USB集线器，用于根据输出电压将其VCOM接口上电压对应置高或置低，及根据高低电平控制USB接口的通断。

[0017] 一种采用所述的USB拔插测试系统的USB拔插测试方法，其包括：

[0018] A、测试终端发出置高的设置指令控制USB连接器与待测手机之间的USB接口连接；

[0019] B、测试终端检测待测手机的状态信息；

[0020] C、测试终端发出置低的设置指令控制USB连接器与待测手机之间的USB接口断开；

[0021] D、判断置低的设置指令是否发出预设测试次数：是则结束USB拔插测试；否则返回步骤A。

[0022] 所述的USB拔插测试方法中，所述步骤A具体包括：

[0023] A1、GPIB控制模块发出置高的设置指令给安捷伦电源模块，；

[0024] A2、安捷伦电源模块根据置高的设置指令输出+5V的高电平至USB集线器的VCOM接口；

[0025] A3、USB集线器得电工作，将待测手机与测试终端连接。

[0026] 所述的USB拔插测试方法中，所述步骤B具体包括：

[0027] B1、查询模块检测所述VCOM接口为高电平时，发出AT命令查询待测手机的状态信息；

[0028] B2、本次查询完成后，查询模块发出更改指令给GPIB控制模块。

[0029] 所述的USB拔插测试方法中，所述步骤C具体包括：

[0030] C1、GPIB控制模块收到所述更改指令后发出置低的设置指令；

[0031] C2、安捷伦电源模块根据置低的设置指令输出0V的低电平至所述VCOM接口；

[0032] C3、USB集线器掉电不工作，将待测手机与测试终端断开连接。

[0033] 所述的USB拔插测试方法中，所述步骤D具体包括：GPIB控制模块记录当前发出置低的设置指令的次数，并判断该次数是否等于预设测试次数，是则结束USB拔插测试；否则返回步骤A。

[0034] 相较于现有技术，本发明提供的USB拔插测试系统及其方法，通过测试终端发出设置指令控制USB连接器与待测手机之间的USB接口连接或断开，测试终端检测USB接口连接时查询待测手机的状态信息；通过设置指令模拟USB接口的断开和连接，实现自动化模拟拔插USB的测试；通过查询能检查多次拔插测试后待测手机是否会出现死机，不识别等不稳定的问题，不会占用测试人员的时间和精力，解放了测试人员的劳动力。

附图说明

[0035] 图1是本发明提供的USB拔插测试系统应用实施例的结构框图。

[0036] 图2是本发明提供的USB拔插测试方法流程图。

具体实施方式

[0037] 本发明提供一种USB拔插测试系统及其方法，基于GPIB命令模拟USB接口的断开和连接，实现自动化模拟拔插USB的测试，以检查上百次拔插测试后手机是否会出现死机，不识别等不稳定的问题，不会占用测试人员的时间和精力，解放了测试人员的劳动力。为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

[0038] 请参阅图1，本发明提供的USB拔插测试系统包括测试终端10和USB连接器20。所述测试终端10与USB连接器20连接，待测手机与USB连接器20连接。所述测试终端10发出设置指令控制USB连接器20与待测手机之间的USB接口连接或断开，测试终端10检测USB接口连接时查询待测手机的状态信息。这样进行USB的稳定性测试时，无需测试人员手动拔插USB线，实现了USB模拟拔插的自动化控制，不会占用测试人员的时间和精力，解放了测试人员的劳动力。

[0039] 本实施例中，测试终端10发出设置指令控制USB连接器20与待测手机之间的USB连接或断开，主要是基于GPIB命令将USB连接器20的VCOM接口上的电压置高（连接）或置低（断开）。所述测试终端10为安装了GPIB卡及其对应驱动的PC（Personal Computer，个人电脑），能够支持SCPI语言。

[0040] 如图1所示，所述测试终端10包括GPIB控制模块110和查询模块120。所述GPIB控制模块110 通过GPIB（General-Purpose Interface Bus，通用接口总线）线与USB连接器20连接。GPIB控制模块110内设置有GPIB卡并安装了对应的驱动，能发出设置指令将USB连接器的VCOM接口上的电压置高或置低，即发出GPIB命令来设置VCOM接口上的电压值为+5V或0V。所述GPIB命令是指使用GPIB卡及其GPIB线进行通信时所使用的命令。基于每种驱动都会自己携带一些基本的通讯工具，本实施例的NI-488的驱动采用Measurement&Automation Explorer (MAX)工具，支持GPIB控制模块。

[0041] 查询模块120采用串口硬件接口与USB连接器20连接，检测USB连接器的VCOM接口上的电压值为高电平时，发送AT命令实现对待测手机状态信息的查询，可以扩展多项查询，包括手机是否能正常拨打电话等。

[0042] 所述MAX工具是提供若干搜索连接设备和与设备进行通信的工具，能简化GPIB控制模块的识别和控制。确定USB连接器20的GPIB地址后，即可与USB连接器20快速建立连接，并检查能否正常收发信息。USB连接器20通常会返回生厂商名称、型号名以及生厂商用来追踪固件版本的字母和数字构成的字符。使用TCL脚本语言将GPIB命令（即设置指令）通过GPIB线发送给USB连接器20。如GPIB命令为set ConnectMsg "VOLT 5"，即是将USB连接器20的VCOM接口上的电压置为+5V的高电平。GPIB命令为set ConnectMsg "VOLT 0"，即是将USB连接器20的VCOM接口上的电压置为0V的低电平。

[0043] 所述USB连接器20包括安捷伦电源模块210和USB集线器（USB HUB）220。安捷伦电源模块210连接USB集线器220，USB集线器220连接待测手机。安捷伦电源模块210根据所述GPIB命令进行高低电平转换，将其输出电压置高或置低，该输出电压传输至USB集线器220的VCOM接口上，从而使VCOM接口的电压对应置高或置低。

[0044] 所述USB集线器220是可将一个USB接口扩展为多个USB接口（通常为4个），并可使这些USB接口同时使用的装置。本案例中，通过控制USB集线器220中 VCOM接口上的电压来实现USB的通断。

[0045] 例如，GPIB命令为set ConnectMsg "VOLT 5"时，安捷伦电源模块210输出+5V的高电平，使USB集线器220的VCOM接口上的电压变为+5V；此时USB集线器220得电正常工作，通过USB集线器220将待测手机与测试终端10连接，相当于USB连接。当GPIB命令set ConnectMsg "VOLT 0"时，安捷伦电源模块210输出+0V的低电平，使所述VCOM接口上的电压变为0V；此时没有电源提供给USB集线器220内的芯片，USB集线器220无电压驱动而停止工作，待测手机与测试终端10断开连接，相当于USB断开。

[0046] 查询模块120检测USB集线器220连接时即可进行待测手机状态信息的自动查询，主要是发出AT命令通过USB集线器220传输给待测手机，对待测手机反馈的值进行相应的匹对和判断，以完成对待测手机状态信息的判断。

[0047] 本实施例中，状态信息包括检查手机的基本功能和设备信息。AT命令的格式可为ATDxxxx。例如，发送的AT命令为ATD10010，即为拨打一个电话去测试手机的通话功能是否正常。还可以发送相应的AT命令测试短息功能，多次拔插后是否会死机、或无法识别等功能。设备信息主要是发送相应的AT命令，可获取待测手机的制造商信息、版本型号等信息。

[0048] 基于上述的USB拔插测试系统，本发明还提供一种USB拔插测试方法，请一并参阅图2，所述USB拔插测试方法包括：

[0049] S100、测试终端发出置高的设置指令控制USB连接器与待测手机之间的USB接口连接；

[0050] S200、测试终端检测待测手机的状态信息；

[0051] S300、测试终端发出置低的设置指令控制USB连接器与待测手机之间的USB接口断开；

[0052] S400、判断是否达到预设测试次数：是则结束USB拔插测试；否则返回步骤S100。

[0053] 本实施例中，测试终端的GPIB控制模块先发出置高的设置指令，当查询模块完成一次状态信息查询后通知GPIB控制模块，GPIB控制模块再发出置低的设置指令，并且，GPIB控制模块还需判断置低的设置指发送了多少次，是否达到预设测试次数（如300次）。若未达到预设测试次数，则GPIB控制模块再次先发出置高的设置指令实现USB连接，查询模块继续进行状态信息查询。

[0054] 在所述步骤S100中，GPIB控制模块发出置高的设置指令给安捷伦电源模块，安捷伦电源模块根据置高的设置指令输出+5V的高电平至USB集线器的VCOM接口，USB集线器得电工作，将待测手机与测试终端连接。具体请参见上述实施例。

[0055] 在所述步骤S200中，查询模块检测USB集线器的VCOM接口为高电平时，发出AT命令通过USB集线器传输给待测手机，查询待测手机的状态信息。当本次查询完成后，查询模块发出更改指令通知GPIB控制模块更改设置指令。

[0056] 在所述步骤S300中，GPIB控制模块收到所述更改指令后发出置低的设置指令，安捷伦电源模块根据置低的设置指令输出0V的低电平至所述VCOM接口，USB集线器掉电不工作，将待测手机与测试终端断开连接。具体请参见上述实施例。

[0057] 接着，在所述步骤S400中，GPIB控制模块记录当前发出置低的设置指令的次数，并判断该次数是否等于300次，是则可结束测试，否则返回步骤S100继续测试。

[0058] 综上所述，本发明采用GPIB接口实现对安捷伦电源模块输出电压高低电平的自动化控制，以实现USB集线器的VCOM接口上的电压值的高低电平切换，使USB集线器得电工作或掉电停止工作，从而实现待测手机与测试终端的USB连接的通断控制，从而实现USB的模拟插拔，并在USB连接时查询待测手机的状态信息；不会占用测试人员的时间和精力，解放了测试人员的劳动力。

[0059] 应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。