一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具

摘要

本发明公开了一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具，涉及微波器件测试工具技术领域，该测试夹具包括基座、夹持面板，夹持面板分别位于基座的竖向段的两侧，测试夹具还包括用于将夹持面板与基座的竖向段结合在一起的卡箍，在夹持面板上设有推顶销，在基座的竖向段的顶面上设有测试槽，测试槽为贯通竖向段两侧面的长方形槽体，在两个夹持面板的相背侧面上分别设有相对设置的SMA连接头，SMA连接头的SMA针头从两个夹持面板的相对侧面上露出。该夹具能够有效保持微带端口与SMA针头的紧密接触，能够有效形成回路地面，减少SMA针在被测产品微带端口与SMA连接头之间的单线传输距离，保证测试准确度。

权利要求

1.一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具，其特征是：该测试夹具包括截面呈倒T形的基座、两个相对设置且可在竖直方向移动的夹持面板（1），所述夹持面板（1）分别位于基座的竖向段（2）的两侧，所述测试夹具还包括用于将夹持面板（1）与基座的竖向段（2）结合在一起的卡箍（4），在夹持面板（1）上设有推顶销（5），在所述基座的竖向段（2）的顶面上设有测试槽（6），所述测试槽（6）为贯通竖向段（2）两侧面的长方形槽体，在两个夹持面板（1）的相背侧面上分别设有相对设置的SMA连接头（7），所述SMA连接头（7）的SMA针头（8）从两个夹持面板（1）的相对侧面上露出。

2.根据权利要求1所述的一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具，其特征是：所述卡箍（4）的数量为两个且分别位于基座的竖向段（2）的两侧，所述卡箍（4）的截面呈U形且两个卡箍（4）相对设置，在夹持面板（1）上分别设有带有内螺纹的通孔（12），在通孔（12）内设有带有外螺纹且与通孔（12）相适配的用于推顶基座侧面的推顶销（5），所述推顶销（5）的端部设有旋转钮（9）。

3.根据权利要求2所述的一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具，其特征是：在基座的竖向段（2）的两侧分别设有用于阻止卡箍（4）向下运动的定位卡檐（10），所述卡箍（4）通过螺栓与基座固定连接，在所述基座的横向段（3）设有固定孔（11），所述夹持面板（1）、基座和卡箍（4）的材质为黄铜。

说明书

一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具

技术领域

[0001] 本发明涉及微波器件测试工具技术领域。

背景技术

[0002] 随着微波通信技术的发展，小型化平面微带结构电路越来越多。这种微带结构的端口产品，除了微型的可以通过探针来测试外，其它像微带输入输出结构陶瓷绝缘子及类似的无源器件如滤波器等体积相对较大的产品测试无法采用探针批量测试，技术工程师开发了许多测试的方法，还是不能快速、无痕的测试其微波参数。如通过键丝连接端口与测试板或焊接连通来进行测试，但这样破坏了产品的外观完整性，影响后续的使用。微带结构端口较难测试的主要原因是微带线由平面传输线和地面组成，传输线测试时必须有地面形成传输回路，其微带传输结构才完整，同时还要保证微带端口与SMA针头接触良好，信号通过测试针横向传输信号时，必须保证带SMA连接头的夹持面板与基座侧面的紧密接触，尽可能减小被测试件微带端口与夹持面板之间的距离，即减少传输信号没有回路地面的缝隙，才能真实测试出微波参数，这也是具有微带端口的微波产品测试难点所在。SMA连接头为现有技术，是一种应用广泛的小型螺纹连接的同轴连接器，它具有频带宽.性能优.高可靠.寿命长的特点。SMA连接头适用于微波设备和数字通信系统的射频回路中连接射频电缆或微带线。

[0003] 所以针对以上情况，现在需要一种测试夹具，能够快速方便准确的完成测试工作。

发明内容

[0004] 本发明要解决的技术问题是提供一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具，该夹具能够有效保持微带端口与SMA针头的紧密接触，能够有效的形成回路地面，减少SMA针在被测产品微带端口与SMA连接头之间的单线传输距离，保证测试的准确度。

[0005] 为解决上述问题，本发明采取的技术方案是：一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具，该测试夹具包括截面呈倒T形的基座、两个相对设置且可在竖直方向移动的夹持面板，所述夹持面板分别位于基座的竖向段的两侧，所述测试夹具还包括用于将夹持面板与基座的竖向段结合在一起的卡箍，在夹持面板上设有推顶销，在所述基座的竖向段的顶面上设有测试槽，所述测试槽为贯通竖向段两侧面的长方形槽体，在两个夹持面板的相背侧面上分别设有相对设置的SMA连接头，所述SMA连接头的SMA针头从两个夹持面板的相对侧面上露出。

[0006] 优选的，所述卡箍的数量为两个且分别位于基座的竖向段的两侧，所述卡箍的截面呈U形且两个卡箍相对设置，在夹持面板上分别设有带有内螺纹的通孔，在通孔内设有带有外螺纹且与通孔相适配的用于推顶基座侧面的推顶销，所述推顶销的端部设有旋转钮。

[0007] 优选的，在基座的竖向段的两侧分别设有用于阻止卡箍向下运动的定位卡檐，所述卡箍通过螺栓与基座固定连接，在所述基座的横向段设有固定孔，所述夹持面板、基座和卡箍的材质为黄铜。

[0008] 采用上述技术方案所产生的有益效果在于：该夹具能够很好的对SMA针头和微带端口的接触面进行有效地调节，保证其充分的接触，最大限度的减小SMA针头在被测产品微带端口与SMA连接头之间的单线传输距离，保证测试结果的准确度，且高效方便，操作快捷，不会对微带产品带来损伤。

附图说明

[0009] 图1为本发明的结构示意图；

[0010] 图2 为图1另一角度下的结构示意图；

[0011] 图3为图1中基座的结构示意图；

[0012] 图4 为图1中一侧夹持面板和SMA连接头的结构示意图。

[0013] 其中、1、夹持面板，2、竖向段，3、横向段，4、卡箍，5、推顶销，6、测试槽，7、SMA连接头，8、SMA针头，9、旋转钮，10、定位卡檐，11、固定孔，12、通孔。

具体实施方式

[0014] 下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明：如图1、图2、图3和图4所示，一种带有微带端口的微波器件专用测试夹具，该测试夹具包括截面呈倒T形的基座、两个相对设置且可在竖直方向移动的夹持面板1，所述夹持面板1分别位于基座的竖向段2的两侧，所述测试夹具还包括用于将夹持面板1与基座的竖向段2结合在一起的卡箍4，在夹持面板1上设有推顶销5，在所述基座的竖向段2的顶面上设有测试槽6，所述测试槽6为贯通竖向段2两侧面的长方形槽体，在两个夹持面板1的相背侧面上分别设有相对设置的SMA连接头7，所述SMA连接头7的SMA针头8从两个夹持面板1的相对侧面上露出。

[0015] 所述卡箍4的数量为两个且分别位于基座的竖向段2的两侧，所述卡箍4的截面呈U形且两个卡箍4相对设置，在夹持面板1上分别设有带有内螺纹的通孔12，在通孔12内设有带有外螺纹且与通孔12相适配的用于推顶基座侧面的推顶销5，所述推顶销5的端部设有旋转钮9。

[0016] 在基座的竖向段2的两侧分别设有用于阻止卡箍4向下运动的定位卡檐10，所述卡箍4通过螺栓与基座固定连接，在所述基座的横向段3设有固定孔11，所述夹持面板1、基座和卡箍4的材质为黄铜。

[0017] 如图1、图2、图3、图4所示，基座为倒T形形状，其为整个装置的载体，其竖向段2的两侧为两个较平整的面，同时也是与夹持面板1的接触面，夹持面板1为两个，夹在竖向段2的两侧，卡箍4的为U形，其在两侧将竖向段2和两个夹持面板1套夹在一起，但是并没有将两者紧紧的夹在一起，使其留有一定的缝隙便于夹持面板1在竖直方向进行滑动调节，SMA连接头7设在夹持面板1上且相对设置，其SMA针头8露出，夹持面板1的厚度设计成与SMA连接头7的绝缘环的宽度一致，SMA针头8用于与微带端口接触，在使用该装置之前，先将基座的横向段3通过固定孔11与地面固定，然后将待测试的微波器件放在测试槽6上，测试槽6的槽深保证在被测件高度的3～5倍即可，以防止信号泄露，然后调节夹持面板1的高度，也就是调节SMA针头8的位置高度，SMA连接头7通过夹持面板1上下移动，使SMA针头8与被测件的微带端口充分的接触，待位置调节好之后，对两侧的推顶销5进行拧动，使推顶销5推顶基座的侧面，这样使夹持面板1与卡箍贴紧相对固定，保证测试的准确度，待以上工作完毕后，将夹持面板1上的SMA连接头7与同轴电缆以及相应的测试仪器相连，进行测试工作，夹具测试频率范围为DC至12GHz。

[0018] 在夹持面板1上设有一竖排孔，SMA连接头7可以选择适合高度的孔，其中最底部的孔为带有内螺纹的通孔12，推顶销5插在通孔12内，在基座上还设有定位卡檐10，卡箍4通过螺栓与基座固定，并且两个卡箍4都放在定位卡檐10上，这样能够使两侧的卡箍4等高，夹持面板1、基座和卡箍4的材质为黄铜，整体传输效果较好。

[0019] 采用上述技术方案所产生的有益效果在于：该夹具能够很好的对SMA针头和微带端口的接触面进行有效地调节，保证其充分的接触，最大限度的减小SMA针在被测产品微带端口与SMA连接头之间的单线传输距离，保证测试结果的准确度，且高效方便，操作快捷，不会对微带产品带来损伤。