能够保持测试头方向的治具

摘要

一种能够保持测试头方向的治具，用于插入并安装至少一个测试头，其包含有一中空架体，中空架体的内部由上到下依次设有上平衡组件、滑动板及下平衡组件，上述的两个平衡组件均具有连接件和位移引导结构，并且，该两个平衡组件与滑动板能够通过上述引导结构的抵顶而间隔设置；由此，当测试头受外力拉扯时，滑动板只能维持在同一高度作水平移动，因此测试头不易因外力的影响而改变其与待测基板的连接角度，从而防止测试结果受到影响。

权利要求

1.一种能够保持测试头方向的治具，用于安装至少一个测试头，所述治具包含：一中空架体，其具有顶板、底板以及设置于所述顶板与所述底板之间的滑动板，并且，所述顶板、所述滑动板以及所述底板上分别对应地开设有开孔，以供所述测试头通过，所述测试头固定连接于所述滑动板的开孔，并且所述顶板与所述底板的开孔的孔径大于所述测试头的外径；

两个平衡组件，分别设置于所述顶板与所述滑动板之间、以及所述滑动板与所述底板之间，各所述平衡组件包含有连接件和设置于所述连接件上的位移引导结构，其中，各所述连接件具有通孔以供所述测试头通过，各所述位移引导结构的两端分别抵顶于所述顶板与所述滑动板、以及所述滑动板与所述底板。

2.如权利要求1所述的能够保持测试头方向的治具，其特征在于，

各所述连接件呈板形，各所述连接件在其通孔的两侧分别开设有三个以上的圆孔，并且，各所述位移引导结构由一一对应地设置于各所述圆孔的三个以上的滑珠构成。

3.如权利要求2所述的能够保持测试头方向的治具，其特征在于，各所述连接件的各所述滑珠围绕各所述通孔排列。

4.如权利要求1所述的能够保持测试头方向的治具，其特征在于，还包含有侧壁，并且所述侧壁的两端分别与所述顶板和所述底板连接。

5.如权利要求4所述的能够保持测试头方向的治具，其特征在于，所述顶板以能够拆卸的方式与所述侧壁连接。

6.如权利要求1所述的能够保持测试头方向的治具，其特征在于，各所述通孔的孔径大于所述测试头的外径。

7.如权利要求4所述的能够保持测试头方向的治具，其特征在于，各所述连接件均与所述侧壁连接。

8.如权利要求1所述的能够保持测试头方向的治具，其特征在于，各所述位移引导结构由多个滚柱构成。

说明书

能够保持测试头方向的治具

技术领域

[0001] 本发明涉及一种治具，特别是涉及一种用于固定射频测试头方向的治具改良结构。

背景技术

[0002] 随着无线通信技术的蓬勃发展，各式各样的无线通信产品不断地推陈出新。而这些无线通信产品在制造过程中，其内部基板上的射频连接器(RF Connector)在利用表面贴装技术(Surface Mount Technology，SMT)进行打件，以及利用后续的红外线加热炉(以下简称IR炉)进行加热时，基板上的射频连接器或多或少会偏离原先所预设的位置。

[0003] 传统上用来对上述基板进行的各项测试，例如：输出功率、误差向量幅度等等，其中所使用的射频测试头(RF Test Probe)通常是装设在中空架体70上，请参考图1。上述中空架体70具有底板71与顶板72，底板71与顶板72各对应开设有开孔74，使测试头73能够插入中空架体70，并且开孔74的孔径略大于测试头73的外径。此外，底板71与测试头73之间设有弹性体(图中未示出)，并且测试头73的前端设有导角(图中未示出)，因此当基板的射频连接器位置偏移时，可以通过微调测试头73的位置以及其导角的帮助来重新导正测试头73，使测试头73可以紧密地结合射频连接器。

[0004] 然而，传统的中空架体70在使用时缺乏能够使测试头73平行移动的机制，当测试头73受到外力的拉扯而使测试头73倾斜时，将导致测试头73无法紧密地连接射频连接器，这样将容易使噪声变大并影响测试结果。

发明内容

[0005] 有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种治具，当治具上的测试头受到外力时，治具仍能够将测试头保持在原先不受外力时的角度，避免测试头与射频连接器的连接角度受到影响。

[0006] 为了实现上述目的，本发明提供了一种能够保持测试头方向的治具，用于安装至少一个测试头，所述治具包含有一中空架体、一滑动板以及两个平衡组件。其中，中空架体具有顶板、底板以及设于顶板与底板之间的滑动板，并且，顶板、滑动板以及底板分别对应地开设有至少一个开孔，以供至少一个测试头通过。测试头连接于滑动板的开孔，并且顶板与底板的开孔的孔径大于测试头的外径。

[0007] 所述两个平衡组件分别设于顶板与滑动板之间、以及滑动板与底板之间，各所述平衡组件包含有连接件和设置于所述连接件上的位移引导结构，其中，各所述连接件具有通孔以供测试头通过，各所述位移引导结构的两端分别抵顶于顶板与滑动板、以及滑动板与底板。

[0008] 由此，当测试头受到外力的拉扯时，由于滑动板的顶面与底面同时受到位移引导结构的抵顶，因此测试头被局限地只能维持在同一高度作水平移动。整个测试头的移动过程中并不会改变测试头的角度，因此不会影响到测试头与射频连接器的连接角度，从而防止测试结果受到影向。

[0009] 较佳的，上述位移引导结构由三个以上的滑珠构成，具有相对低的摩擦力以确保平衡组件稳定工作。

附图说明

[0010] 图1是传统治具的侧视图，用于说明测试头受到外力影响而发生角度倾斜的情形。

[0011] 图2是本发明较佳实施例的能够保持测试头方向的治具的立体图。

[0012] 图3是本发明较佳实施例的能够保持测试头方向的治具的俯视图。

[0013] 图4是图3沿4-4剖视线的剖视图。

[0014] (符号说明)

[0015] 1治具                10中空架体

[0016] 11顶板                            12底板

[0017] 13侧壁                            14开孔

[0018] 15开孔                            16容置空间

[0019] 20滑动板                          21开孔

[0020] 30上平衡组件                      31上连接件

[0021] 32上滑珠                          33上通孔

[0022] 34上圆孔                          40下平衡组件

[0023] 41下连接件                        42下滑珠

[0024] 43下通孔                          44下圆孔

[0025] 60测试头                          61导角

[0026] 62连接线                          70中空架体

[0027] 71底板                            72顶板

[0028] 73测试头                          74开孔

[0029] D孔径                             d外径

[0030] R矩形

具体实施方式

[0031] 为了能够更加了解本发明的特点所在，本发明提供了一个较佳实施例，并结合附图说明如下，请参考图2～图4。

[0032] 本发明的能够保持测试头方向的治具1的主要组件包含有：中空架体10、滑动板20、上平衡组件30以及下平衡组件40，其中治具1能够用于安装两个测试头60，该两个测试头60能够对应地连接待测基板的射频连接器(图中未示出)，并且，各测试头60的前端设有向内凹的导角61，各测试头60的后端设有射频连接线(RF cable)62。

[0033] 请首先参考图2和图4，中空架体10具有顶板11以及底板12，底板12上方连接有侧壁13，侧壁13围绕底板12的四周，并且顶板11是能够拆卸的，以连接侧壁13的顶端。顶板11、侧壁13以及底板12三者围绕形成容置空间16，顶板11上开设有两个开孔14，底板12上开设有两个开孔15，且开孔14与开孔15一一对应，使得该两个测试头60能够同时通过这些开孔14、15而呈直线地且实质上垂直地穿过中空架体10。其中，顶板11和底板12的开孔14、15的孔径D大于测试头60的外径d(如图3)，由此腾出空间让测试头60能够发生适度的位移。

[0034] 请回到图2，滑动板20以能够移动的方式设置于容置空间16中，并且滑动板20、顶板11以及底板12是呈上下间隔设置。滑动板20也开设有两个开孔21，用于与测试头60连接，在本实施例中，测试头60是通过螺丝(图中未示出)而锁附在滑动板20的开孔21上。

[0035] 上平衡组件30设置在顶板11与滑动板20之间，其包含有呈板形的上连接件31以及位移引导结构(位移引导结构由三个以上的上滑珠32构成，本实施例中的上滑珠32的数量为四个)，上连接件31开设有两个上通孔33以供测试头60通过，上连接件31在上通孔33的两侧均各开设有两个上圆孔34，四个上圆孔34设置于虚拟的矩形R的四个顶点(如图3所示)，并且，四个上滑珠32能够滚动且一一对应地设置于四个上圆孔34内。每个上滑珠32的两端都凸出上连接件31，并能够实质上同时抵顶顶板11的底面与滑动板20的顶面。

[0036] 下平衡组件40的构造与上平衡组件30大致相同，其具有下连接件41和四个下滑珠42，下连接件41也开设有能够供测试头60通过的下通孔43以及用于设置下滑珠42的四个下圆孔44。差别在于下平衡组件40是设置在滑动板20与底板12之间，并且，每个下滑珠42的两端能够实质上同时抵顶滑动板20的底面与底板12的顶面。

[0037] 使用时，当测试头60受到外力拉扯时，外力所施加的机械能会传递到滑动板20与上、下平衡组件30、40，由于与测试头60连接的滑动板20的顶面与底面同时受到上述多个上滑珠32与下滑珠42的抵顶，因此仅有平行于底板12方向的水平分量可推动测试头60与滑动板20作横向运动，直到滑动板20达到位移的极限位置而停止。而整个移动过程中，测试头60都能保持着原先未受外力前垂直于底板12的方向而不会倾斜，因此不会影响测试头60与射频连接器的连接角度，使测试头60能够紧密地与射频连接器连接而不易影响测试结果。

[0038] 此外，如果待测基板上的射频连接器在制造过程当中有稍许的偏移，使用者还可以借助滑动板20的帮助来水平推动测试头60，并配合测试头60前端的导角61来导正测试头60，使测试头60能够紧密地结合射频连接器。

[0039] 值得说明的是，可以根据实际需要来增减上述多个圆孔34、44的设置数量或是改变其设置位置，例如将圆孔34、44及滑珠32、42的数量减少为三个或增加为四个以上，且这些圆孔34、44及滑珠32、42不是设置于一条直线上，还可以环绕着通孔33、43排列，也不限定将其设置于虚拟的矩形R的四个顶点，可以是设置于虚拟的三角形或是多边形的顶点、边线或者内部。而这些滑珠32、42也可以选择改为与上连接件31或下连接件41固定连接，或者将这些滑珠32、42改为圆柱形的滚柱，并使滚柱的圆周面靠抵于顶板、底板与滑板，这样也能够实现本发明的效果。在本实施例中，使用呈板形的连接件31、41来设置这些滑珠32、42，本领域技术人员可视实际需要将连接件31、41的结构加以改变，例如让上连接件31以及下连接件41都连接侧壁13，或者是使用连接杆(图中未示出)来连接这些滑珠32、42，而不是在呈板状的连接件31、41上开设圆孔34、44以连接这些滑珠32、42。

[0040] 另外，本领域技术人员也可以选择在测试头60与滑动板20之间设置弹性体(图中未示出)以连接测试头60与滑动板20。借助弹性体的帮助能够使测试头60稍具弹性地相对于中空架体10进行移动，以避免结构过紧。并且，在测试完毕后，测试头60也能够通过弹性体的弹力而恢复至未测试前的位置，方便下一次测试。

[0041] 最后，必须再次说明的是，本发明在上述实施例中所揭示的构成部件仅为举例说明，并非用来限制本发明的范围，凡是其它容易想到的结构变化，或者其它等效部件的替代变化，也应被本发明的权利要求所涵盖。