多频分光光度计的修正值的获取方法

摘要

本发明公开了一种多频分光光度计的修正值的获取方法，其包括：建立目标色阻在不同膜厚下与其对应的频谱的映射关系的数据库；准确测量目标色阻的待测色片的膜厚DX；从数据库中选取与待测色片的膜厚DX相近的第一膜厚D1、第二膜厚D2及其对应的频谱T1、T2作为参考频谱；利用公式T1＝Aeat1和T2＝Aeat2得到一定波长下目标色阻的第一常数A和第二常数a，根据第一常数A和第二常数a，利用公式T＝Aeat计算出待测色片的膜厚DX对应的参考频谱T，并将待测色片的膜厚DX对应的参考频谱T作为多频分光光度计的修正值。通过上述方式，本发明直接利用朗伯定律公式计算出的参考频谱T作为多频分光光度计的修正值，能够降低多频分光光度计的修正值的偏差，进一步有效降低测试成本。

权利要求

1.一种多频分光光度计的修正值的获取方法，其特征在于，所述方法包括：建立目标色阻在不同膜厚下与其对应的频谱的映射关系的数据库；

准确测量所述目标色阻的待测色片的膜厚DX；

从所述数据库中选取与所述待测色片的膜厚DX相近的第一膜厚D1、第二膜厚D2及其对应的频谱T1、T2作为参考频谱；

利用公式T1＝Aeat1和T2＝Aeat2得到一定波长下所述目标色阻的第一常数A和第二常数a，其中：t1的取值为所述第一膜厚D1，T1为所述第一膜厚D1对应的频谱；t2的取值为所述第二膜厚D2，T2为所述第二膜厚D2对应的频谱，e为自然对数的底数；

根据所述第一常数A和所述第二常数a，利用公式T＝Aeat计算出所述待测色片的膜厚DX对应的参考频谱T，其中，t的取值为所述待测色片的膜厚DX，并将所述待测色片的膜厚DX对应的所述参考频谱T作为所述多频分光光度计的修正值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多频分光光度计为单光束的紫外可见分光光度计。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测色片的膜厚DX处于所述第一膜厚D1和所述第二膜厚D2之间。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述建立目标色阻在不同膜厚下与其对应的频谱的映射关系的数据库的步骤包括：制作不同膜厚的所述目标色阻的纯色片；

利用双光束的紫外可见分光光度计分别测量所述不同膜厚的所述目标色阻的纯色片以得到每一所述膜厚对应的参考频谱；

建立并储存所述目标色阻的纯色片的膜厚与所述参考频谱的映射关系，以通过所述映射关系查找所述不同膜厚的所述目标色阻的纯色片对应的所述参考频谱。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述不同膜厚的所述目标色阻的纯色片的膜厚的差值范围为0.5-1微米。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述不同膜厚的所述目标色阻的纯色片的面积为n*n平方厘米，其中，所述n大于所述双光束的紫外可见分光光度计测量光斑的直径。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述n的范围为5-10厘米。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标色阻包括红色阻、蓝色阻和绿色阻。

说明书

多频分光光度计的修正值的获取方法

技术领域

[0001] 本发明涉及液晶技术领域，特别是涉及一种多频分光光度计的修正值的获取方法。

背景技术

[0002] 液晶显示器的色彩品质很大部分取决于其CF(彩色滤光阵列基板)侧色阻的色度表现，因此在产品开发及生产阶段，对色阻的色度的准确测量与控制显得尤为重要。多频分光光度计(Multi Channel Photo Detector，MCPD)作为量测色阻的色度的重要设备，其测量的准确性对于色阻的色度评估与控制有着重要的作用。由于设备成本的原因，很多厂家在选择MCPD时往往会选择价格相对便宜的设备进行购买使用，但是这样的设备往往配置较为低端，多采用单光束的分光光度计，而单光束的分光光度计测试结果相较于双光束的分光光度计的测量值有一定的偏差。为使测量结果更准确，测量人员在使用单光束的分光光度计进行测量时，需要对测量的频谱进行修正。

[0003] 目前对单光束的分光光度计进行色度测量的频谱进行修正主要按照以下方法进行：制作与待测色片的膜厚一致的纯色片，用双光束的紫外可见分光光度计进行测量并得到频谱，将该频谱作为修正值存储到单光束的分光光度计。但是这样的修正值往往会存在以下问题：制作与待测色片的色阻膜厚一致的纯色片时，因制作工艺的影响，使得制作的纯色片的膜厚与待测色片的膜厚不能完全一致，膜厚的差异性使得修正值会有一定的偏差；另外，如果彩色滤光阵列基板的制程条件改变时，使得待测色片的膜厚发生变更，则作为修正值的纯色片也需要重新制作，增加测试成本。

[0004] 综上所述，有必要提供一种多频分光光度计的修正值的获取方法以解决上述问题。

发明内容

[0005] 本发明主要解决的技术问题是提供一种多频分光光度计的修正值的获取方法，能够降低多频分光光度计的修正值的偏差，降低测试成本。

[0006] 为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种多频分光光度计的修正值的获取方法，该方法包括：建立目标色阻在不同膜厚下与其对应的频谱的映射关系的数据库；准确测量目标色阻的待测色片的膜厚DX；从数据库中选取与待测色片的膜厚DX相近的第一膜厚D1、第二膜厚D2及其对应的频谱T1、T2作为参考频谱；利用公式T1＝Aeat1和T2at2＝Ae 得到一定波长下目标色阻的第一常数A和第二常数a，其中：t1的取值为第一膜厚D1，T1为第一膜厚D1对应的频谱；t2的取值为第二膜厚D2，T2为第二膜厚D2对应的频谱，e为自然对数的底数；根据第一常数A和第二常数a，利用公式T＝Aeat计算出待测色片的膜厚DX对应的参考频谱T，其中，t的取值为待测色片的膜厚DX，并将待测色片的膜厚DX对应的参考频谱T作为多频分光光度计的修正值。

[0007] 其中，多频分光光度计为单光束的紫外可见分光光度计。

[0008] 其中，待测色片的膜厚DX处于第一膜厚D1和第二膜厚D2之间。

[0009] 其中，建立目标色阻在不同膜厚下与其对应的频谱的映射关系的数据库的步骤包括：制作不同膜厚的目标色阻的纯色片；利用双光束的紫外可见分光光度计分别测量不同膜厚的目标色阻的纯色片以得到每一膜厚对应的参考频谱；建立并储存目标色阻的纯色片的膜厚与参考频谱的映射关系，以通过映射关系查找不同膜厚的目标色阻的纯色片对应的参考频谱。

[0010] 其中，不同膜厚的目标色阻的纯色片的膜厚的差值范围为0.5-1微米。

[0011] 其中，不同膜厚的目标色阻的纯色片的面积为n*n平方厘米，其中，n大于双光束的紫外可见分光光度计测量光斑的直径。

[0012] 其中，n的范围为5-10厘米。

[0013] 其中，目标色阻包括红色阻、蓝色阻和绿色阻。

[0014] 本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明的多频分光光度计的修正值的获取方法包括：建立目标色阻在不同膜厚下与其对应的频谱的映射关系的数据库；准确测量目标色阻的待测色片的膜厚DX；从数据库中选取与待测色片的膜厚DX相近的第一膜厚D1、第二膜厚D2及其对应的频谱T1、T2作为参考频谱；利用公式T1＝Aeat1和T2＝Aeat2得到一定波长下目标色阻的第一常数A和第二常数a，根据第一常数A和第二常数a，利用公式T＝Aeat计算出待测色片的膜厚DX对应的参考频谱T，并将待测色片的膜厚DX对应的参考频谱T作为多频分光光度计的修正值。通过上述方式，本发明通过直接准确测量目标色阻的待测色片的膜厚，不需制作与待测色片的膜厚一致的纯色片，避免制作的纯色片的膜厚与待测色片的膜厚不能完全一致的问题；即使彩色滤光阵列基板的制程条件改变，也只需准确测量改变后得到膜厚即可通过本发明的方法得到其相应的修正值，不需要重新制作修正值的纯色片，提高了测试的便利性、降低的测试成本；另外，本发明直接利用朗伯定律公式计算出的参考频谱T作为多频分光光度计的修正值，能够有效降低多频分光光度计的修正值的偏差，进一步提高多频分光光度计对待测色阻的色度测量的准确性。

附图说明

[0015] 图1是本发明多频分光光度计的修正值的获取方法的流程示意图；

[0016] 图2是图1中步骤S101的子步骤流程示意图。

具体实施方式

[0017] 本发明公开一种多频分光光度计的修正值的获取方法，如图1所示，该方法包括以下步骤：

[0018] 步骤S101：建立目标色阻在不同膜厚下与其对应的频谱的映射关系的数据库。

[0019] 在本实施例中，目标色阻包括红色阻、蓝色阻和绿色阻。应理解，本发明的目标色阻并不限定于红色阻、蓝色阻和绿色阻，还可以是其他色阻，具体需要根据实际情况而定。

[0020] 如图2所示，步骤S101包括以下子步骤：

[0021] 步骤S1011：制作不同膜厚的目标色阻的纯色片。

[0022] 在本实施例中，不同膜厚的目标色阻的纯色片的膜厚的差值范围为0.5-1微米。当然，在一些实施例中，不同膜厚的目标色阻的纯色片的膜厚的差值范围也可以为其他范围值。优选地，不同膜厚的目标色阻的纯色片的面积为n*n平方厘米，其中，n大于双光束的紫外可见分光光度计测量光斑的直径，n的范围为5-10厘米。另外，在一些实施例中，不同膜厚的目标色阻的纯色片的面积可以为n*m平方厘米，m可以为大于n的自然数，又或者m也可以为小于n的自然数。

[0023] 在一些实施例中，不同膜厚的目标色阻的纯色片的膜厚形成等差数列递增，其公差d范围为0.5-1微米。如目标色阻的纯色片的膜厚为D1、D2、D3、D4····、Da，其中a为大于3的自然数，D2和D1的公差为d，D3和D2的公差为d，D4和D3的公差为d，公差d的范围为0.5-1微米。

[0024] 在一些实施例中，不同膜厚的目标色阻的纯色片的膜厚形成等比数列递增，其公比q范围为0.5-1微米。如目标色阻的纯色片的膜厚为D1、D2、D3、D4····、Da，D2和D1的公比为q，D3和D2的公比为q，D4和D3的公比为q，公比q的范围为0.5-1微米。

[0025] 步骤S1012：利用双光束的紫外可见分光光度计分别测量不同膜厚的目标色阻的纯色片以得到每一膜厚对应的参考频谱。

[0026] 在步骤S1012中，并不限定利用双光束的紫外可见分光光度计测量不同膜厚的目标色阻的纯色片外，只要其他多频分光光度计能够准确测量不同膜厚的目标色阻的纯色片一一对应的参考频谱即可。

[0027] 步骤S1013：建立并储存目标色阻的纯色片的膜厚与参考频谱的映射关系，以通过映射关系查找不同膜厚的目标色阻的纯色片的膜厚对应的参考频谱。

[0028] 在步骤S1013中，建立目标色阻的纯色片与参考频谱的映射关系，并将该映射关系存储到数据库中，具体如下表一所示：

[0029] 表一

[0030]

[0031] 在表一中，目标色阻的纯色片的膜厚D1对应的参考频谱为T1；目标色阻的纯色片的膜厚D2对应的参考频谱为T2；目标色阻的纯色片的膜厚D3对应的参考频谱为T3；目标色阻的纯色片的膜厚Da对应的参考频谱为Ta。

[0032] 步骤S102：准确测量目标色阻的待测色片的膜厚DX。

[0033] 步骤S103：从数据库中选取与待测色片的膜厚DX相近的第一膜厚D1、第二膜厚D2及其对应的频谱T1、T2作为参考频谱。

[0034] 在步骤S103中，查询数据库(例如上述表一的形式)，根据待测色片的膜厚DX，从目标色组的纯色片的膜厚DX1至Da中选取与DX最接近的两个第一膜厚D1、第二膜厚D2、第一膜厚D1对应的参考频谱T1以及第二膜厚D2对应的参考频谱T2。优选地，待测色片的膜厚DX处于第一膜厚D1和第二膜厚D2之间。当然，在一些实施例中，第一膜厚D1和第二膜厚D2可以均大于待测色片的膜厚DX，又或者第一膜厚D1和第二膜厚D2也可以均小于待测色片的膜厚DX。

[0035] 步骤S104：利用公式T1＝Aeat1和T2＝Aeat2得到一定波长下目标色阻的第一常数A和第二常数a。

[0036] 在步骤S104中，根据已知的第一膜厚D1、第二膜厚D2、第一膜厚D1对应的参考频谱T1、第二膜厚D2对应的参考频谱T2和自然对数的底数e，利用朗伯定律公式T1＝Aeat1和T2＝Aeat2计算出朗伯定律公式的第一常数A和第二常数a，t1的取值为第一膜厚D1，t2的取值为第二膜厚D2。其中，波长范围为380-780纳米。

[0037] 步骤S105：根据第一常数A和第二常数a，利用公式T＝Aeat计算出待测色片的膜厚DX对应的参考频谱T，并将待测色片的膜厚DX对应的参考频谱T作为多频分光光度计的修正值。

[0038] 其中，t的取值为待测色片的膜厚DX，在步骤S105中，根据已知的第一常数A、第二常数a、待测色片的膜厚t和自然对数的底数e，通过朗伯定律公式T＝Aeat计算出待测色片的膜厚DX对应的参考频谱T。

[0039] 在本实施例中，多频分光光度计为单光束的紫外可见分光光度计。另外，在一些实施例中，多频分光光度计还可以为其他单光束的分光光度计。

[0040] 多频分光光度计根据修正值对多频分光光度计测量的目标色阻的待测色片的膜厚对应的频谱进行修正。

[0041] 综上所述，本发明通过直接准确测量目标色阻的待测色片的膜厚，不需制作与待测色片的膜厚一致的纯色片，避免制作的纯色片的膜厚与待测色片的膜厚不能完全一致的问题；即使彩色滤光阵列基板的制程条件改变，也只需准确测量改变后得到膜厚即可通过本发明的方法得到其相应的修正值，不需要重新制作修正值的纯色片，提高了测试的便利性、降低的测试成本；另外，本发明直接利用朗伯定律公式计算出的参考频谱T作为多频分光光度计的修正值，能够有效降低多频分光光度计的修正值的偏差，进一步提高多频分光光度计对待测色阻的色度测量的准确性。

[0042] 以上仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。