一种射频性能测试装置

摘要

本发明公开了一种射频性能测试装置，其包括：屏蔽箱、天线和夹具；所述屏蔽箱包括屏蔽腔，所述屏蔽腔内设有固定板，所述固定板上固定连接所述天线，所述天线的长度方向垂直所述固定板，所述夹具包括支架和托盘，所述支架沿靠近或远离所述天线的方向滑动连接于所述固定板上，所述托盘滑动连接于所述支架上，所述托盘的滑动方向垂直所述固定板，所述托盘用以安装所述终端设备，其中，所述天线向所述终端设备发送射频信号。本发明的射频性能测试装置，通过设有可调节终端设备位置的夹具来快速和准确地调整终端设备相对天线的位置，便于信号传达，提高了射频性能测试的效率和测试结果的准确性。

权利要求

1.一种射频性能测试装置，用以测试终端设备的天线耦合射频，其特征在于，包括：屏蔽箱、天线和夹具；

所述屏蔽箱包括屏蔽腔，所述屏蔽腔内设有固定板，所述固定板上固定连接所述天线，所述天线的长度方向垂直所述固定板，所述夹具包括支架和托盘，所述支架沿靠近或远离所述天线的方向滑动连接于所述固定板上，所述托盘滑动连接于所述支架上，所述托盘的滑动方向垂直所述固定板，所述托盘用以安装所述终端设备，其中，所述天线向所述终端设备发送射频信号。

2.根据权利要求1所述的射频性能测试装置，其特征在于，所述屏蔽箱包括一屏蔽盒和转动装于所述屏蔽盒上的屏蔽盖，所述屏蔽盖转动连接于所述屏蔽盒上，所述屏蔽腔位于所述屏蔽盒内，所述屏蔽盖盖于所述屏蔽盒上以密封所述屏蔽腔。

3.根据权利要求2所述的射频性能测试装置，其特征在于，所述屏蔽箱还包括伸缩杆；

所述伸缩杆包括相对设置的第一端和第二端，所述第一端和第二端分别转动连接于所述屏蔽盒和所述屏蔽盖。

4.根据权利要求1所述的射频性能测试装置，其特征在于，所述固定板一表面上开设第一滑槽，所述夹具的支架滑动装于所述第一滑槽内。

5.根据权利要求4所述的射频性能测试装置，其特征在于，所述固定板设有所述第一滑槽的表面设有一凹槽，所述天线包括底座、限位盘和固定于所述底座上的辐射杆，所述底座固定于所述凹槽内，所述限位盘固定于所述底座远离所述凹槽的表面并遮蔽所述凹槽，所述辐射杆穿过所述限位盘位于所述屏蔽腔内。

6.根据权利要求1所述的射频性能测试装置，其特征在于，所述支架上开设有第二滑槽及滑动装于所述第二滑槽内的第一调节杆，所述托盘与所述第一调节杆固定连接。

7.根据权利要求6所述的射频性能测试装置，其特征在于，所述托盘包括主托盘及转盘；所述主托盘固定连接所述第一调节杆，所述转盘转动连接于所述主托盘上，所述转盘的转动方向平行所述固定板。

8.根据权利要求1所述的射频性能测试装置，其特征在于，所述屏蔽箱设有控制接口，所述控制接口电连接所述天线，用以从外部信号设备获取射频信号。

9.根据权利要求8所述的射频性能测试装置，其特征在于，所述射频性能测试装置还包括延时继电器；

所述延时继电器电连接所述天线，所述延时继电器控制所述天线发送所述射频信号的时长。

10.根据权利要求1所述的射频性能测试装置，其特征在于，所述射频性能测试装置还包括吸波层；

所述吸波层覆盖于所述屏蔽箱的内壁表面，用于吸收反射电磁波。

说明书

一种射频性能测试装置

技术领域

[0001] 本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种射频性能测试装置。

背景技术

[0002] 在无线终端的生产过程中，为了保证产品的生产品质，往往要进行天线的耦合测试，进而通过测试判断无线终端中的天线是否满足性能要求。

[0003] 目前，现有的测试方式主要有以下两种：第一种是采用耦合三角锥屏蔽箱，通过采用信令测试设备的方式进行终端的天线射频性能测试，上述屏蔽箱需要对通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)进线口进行改造才能连接USB线，但采用所述方式会降低屏蔽性，从而影响测试结果，且由于终端位置固定，不便于在进行不同频段测试时对被测试对象的位置进行灵活调整。第二种是采用带平板天线的屏蔽箱，对于多天线的手机，采用所述装置难以调整其放置位置以使测试结果准确度不高。

发明内容

[0004] 本发明实施例提供一种射频性能测试装置，通过设有可调节终端设备位置的夹具来快速和准确地调整终端设备相对天线的位置，便于信号传达，提高射频性能测试的效率和测试结果的准确性。

[0005] 本发明实施例提供了一种射频性能测试装置，包括：屏蔽箱、天线和夹具；

[0006] 所述屏蔽箱包括屏蔽腔，所述屏蔽腔内设有固定板，所述固定板上固定连接所述天线，所述天线的长度方向垂直所述固定板，所述夹具包括支架和托盘，所述支架沿靠近或远离所述天线的方向滑动连接于所述固定板上，所述托盘滑动连接于所述支架上，所述托盘的滑动方向垂直所述固定板，所述托盘用以安装所述终端设备，其中，所述天线向所述终端设备发送射频信号。

[0007] 其中，所述屏蔽箱包括一屏蔽盒和转动装于所述屏蔽盒上的屏蔽盖，所述屏蔽盖转动连接于所述屏蔽盒上，所述屏蔽腔位于所述屏蔽盒内，所述屏蔽盖盖于所述屏蔽盒上以密封所述屏蔽腔。

[0008] 其中，所述屏蔽箱还包括伸缩杆；所述伸缩杆包括相对设置的第一端和第二端，所述第一端和第二端分别转动连接于所述屏蔽盒和所述屏蔽盖。

[0009] 其中，所述固定板一表面上开设第一滑槽，所述夹具的支架滑动装于所述第一滑槽内。

[0010] 其中，所述固定板设有所述第一滑槽的表面设有一凹槽，所述天线包括底座、限位盘和固定于所述底座上的辐射杆，所述底座固定于所述凹槽内，所述限位盘固定于所述底座远离所述凹槽的表面并遮蔽所述凹槽，所述辐射杆穿过所述限位盘位于所述屏蔽腔内。

[0011] 其中，所述支架上开设有第二滑槽及滑动装于所述第二滑槽内的第一调节杆，所述托盘与所述第一调节杆固定连接。

[0012] 其中，所述托盘包括主托盘及转盘；所述主托盘固定连接所述第一调节杆，所述转盘转动连接于所述主托盘上，所述转盘的转动方向平行所述固定板。

[0013] 其中，所述屏蔽箱设有控制接口，所述控制接口电连接所述天线，用以从外部信号设备获取射频信号。

[0014] 其中，所述射频性能测试装置还包括延时继电器；所述延时继电器电连接所述天线，所述延时继电器控制所述天线发送所述射频信号的时长。

[0015] 其中，所述射频性能测试装置还包括吸波层；所述吸波层覆盖于所述屏蔽箱的内壁表面，用于吸收反射电磁波。

[0016] 本发明所述的射频性能测试装置采用可滑动调节横向和纵向位移的夹具来承载待测试的终端设备，便于根据射频性能测试要求调整所述终端设备相对于所述天线的位置，以实现在不同频段测试时对所述终端设备的位置进行快速和准确地调整，便于信号传达，提高了射频性能测试的效率和测试结果的准确性。

附图说明

[0017] 为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

[0018] 图1是本发明实施例提供的射频性能测试装置的示意图；

[0019] 图2是图1的射频性能测试装置沿II-II部分的剖视图；

[0020] 图3是图1的提供的射频性能测试装置的内部结构示意图。

具体实施方式

[0021] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

[0022] 请参照图1-3，图1为本发明实施例提供的射频性能测试装置的示意图。图2射频性能测试装置沿II-II部分的剖视图。图3为射频性能测试装置的内部结构示意图，本发明提供了一种射频性能测试装置包括：屏蔽箱1、天线2和夹具3。

[0023] 所述屏蔽箱1包括屏蔽腔11。所述屏蔽腔11内设有固定板111。所述固定板111上固定连接所述天线2，所述天线2的长度方向垂直所述固定板111。所述夹具3包括支架31和托盘32。所述支架31沿靠近或远离所述天线2的方向滑动连接于所述固定板111上，所述托盘32滑动连接于所述支架31上。所述托盘32的滑动方向垂直所述固定板111，所述托盘32用以安装所述终端设备，其中，所述天线2向所述终端设备4发送射频信号。

[0024] 进一步的，所述屏蔽箱1包括一屏蔽盒12和转动装于所述屏蔽盒12上的屏蔽盖13，所述屏蔽盖13转动连接于所述屏蔽盒12上，所述屏蔽腔11位于所述屏蔽盒12内，所述屏蔽盖13盖于所述屏蔽盒12上以密封所述屏蔽腔11。

[0025] 具体的，所述屏蔽盒12矩形中空体，其包括底壁(未示出)及围绕底壁表面设置的周侧壁(未示出)。所述屏蔽盖13通过转轴等方式可翻转的装于所述屏蔽盒12的周侧壁(未示出)边缘并将所述屏蔽盒12封闭。所述屏蔽腔11可以是通过屏蔽盒12和盖于所述屏蔽盒12的屏蔽盖13所形成的封闭的空间，也可以是所述屏蔽箱1内单独设置的空间。本实施例中，所述屏蔽腔11为所述屏蔽盒12的空腔并由所述屏蔽盖13封闭，所述固定板111设于所述屏蔽盒12的底壁(未示出)。当所述屏蔽盖13转动至打开状态时，测试人员可以进行所述天线2更换或对所述夹具3的位置进行调节，当进行测试过程中，可以通过转动所述屏蔽盖13将所述屏蔽箱1进行封闭。在其他实施例中，所述屏蔽箱1也可以设计为所述屏蔽盖13可滑动连接于所述屏蔽盒12的形式，将所述屏蔽盖13滑动至完全盖住所述屏蔽盒12的开口即可封闭所述屏蔽箱1。通过将所述屏蔽箱1设置为所述屏蔽盒12和所述屏蔽盖13两部分，可方便测试人员对所述屏蔽箱1的开启和关闭，从而便于对所述天线2和所述终端设备4位置的调节或更换，提高了测试人员测试的便捷性。

[0026] 需要说明的是，在进行射频性能测试中，所述屏蔽箱1主要起到屏蔽外部干扰信号的作用。本实施例中的所述天线2是指360度全向天线，根据测试需要，所述天线2固定连接于所述固定板11上，所述天线2的长度方向垂直固定板111，以使所述天线2所发送的射频信号可以被置于所述天线2周围的所述终端设备4所接收。本射频性能测试装置可以支持一个或多个终端设备4同时进行测试。在进行测试时，可以通过所述支架31沿靠近或远离所述天线2的方向进行滑动来调整所述支架31相对所述托盘32的位置，从而控制所述天线2相对于所述托盘32上的终端设备4的位置。所述托盘32可以垂直于所述固定板111进行上下滑动，以调节所述终端设备4的测试高度。本实施例中，所述终端设备4可以是在所述托盘32上设置一收纳槽321，将终端设备4放置于所述收纳槽321内。在其他实施例中，所述终端设备4可以通过夹爪直接夹持在托盘32上。

[0027] 本发明的射频性能测试装置应用于对终端进行天线耦合测试，其中所述终端设备4可以包括如平板电脑、智能手机、笔记本电脑、掌上电脑以及移动互联网设备(Mobile Internet Device，MID)等。本实施例中，所述终端设备4为智能手机，在进行测试前，所述终端设备4放置于所述托盘32的收纳槽321中，通过所述托盘32在所述支架31上滑动以及所述支架31在所述固定板111上的滑动来调整所述终端设备4在垂直和水平方向相对所述天线2的位置。所述天线2可以通过信号线与外部信号设备进行连接，将外部信号设备提供的射频信号进行发送，以使所述终端设备4能够获取到所述射频信号从而进行射频性能的测试，例如，信号线一端连接于所述天线2，另一端可连接于信号输入装置，如使用面向仪器系统的外围组件互连扩展(Peripheral Component Interconnection extensions for Instrumentation，PXI)总线设备，设备中每个矢量信号发生器(Vector Signal Generator，VSG)发射出一个频点信号(或在VSG规定带宽内通过波形文件发射出两个频点信号)，多个频点通过合路器或功分器将信号合成一路信号，所述天线2可通过信号线接收所述射频信号，并在测试时发送所述射频信号。

[0028] 本发明所述的射频性能测试装置采用可滑动调节横向和纵向位移的所述夹具3来承载待测试的终端设备，便于根据射频性能测试要求调整所述终端设备4相对于所述天线2的位置，以实现在不同频段测试时对所述终端设备4的位置进行快速和准确地调整，便于信号传达，提高了射频性能测试的效率和测试结果的准确性。

[0029] 进一步地，所述屏蔽箱1还包括伸缩杆14；所述伸缩杆14包括相对设置的第一端141和第二端142，所述第一端141和第二端142分别转动连接于所述屏蔽盒12和所述屏蔽盖
13。

[0030] 具体的，本实施例中为了方便地对所述屏蔽盖13的开启和关闭进行控制，所述屏蔽箱1还设置有所述伸缩杆14。所述伸缩杆14可以呈柱状或条状，其长度可以通过内部的弹簧装置等伸缩进行改变，其包括相对设置的第一端141和第二端142。所述伸缩杆14的第一端141可转动连接于所述屏蔽盒12的侧面上，第二端142可转动连接于所述屏蔽盖13的侧面上，所述第一端141和第二端142位于所述屏蔽盖13和所述屏蔽盒12的同一平面上。所述伸缩杆14也可以有两个，分别位于所述屏蔽箱1的两侧面。本实施例中，所述屏蔽盒12的侧面设有连接轴143。所述屏蔽盖13与屏蔽盒12设有连接轴同一方向的侧面设有连接轴144。所述第一端141转动装于连接轴143上并通过轴承等防止实现转动。所述第二端142转动装于所述连接轴144上。

[0031] 所述伸缩杆14可以通过气缸等动力装置进行控制，并通过与气缸进行电性连接的控制开关来控制伸缩杆14的伸缩，从而控制所述屏蔽箱1的开启或者闭合，方便测试人员的操作。所述伸缩杆14的第一端141和第二端142的转动方向均平行于所述屏蔽盖13的转动方向，即当所述伸缩杆14的第二端142进行旋转时，其第一端141以第二端142的端点为圆心，以所述伸缩杆14的长度为半径进行圆周运动，同时连接于所述屏蔽盖13的第一端141带动所述屏蔽盖13进行盖合或者开启。通过所述伸缩杆14控制屏蔽箱的自动开启和关闭，减小了测试人员的工作量，提高了测试的效率。

[0032] 进一步地，所述固定板111一表面上开设第一滑槽1111，所述夹具3滑动连接于所述第一滑槽1111。本实施例中所述的夹具3可以是一个或多个夹具3，本射频性能测试装置可以支持多个终端设备4同时进行测试。为了方便对所述夹具3进行位置调节，可以在所述固定板111一表面上开设所述第一滑槽1111，且所述第一滑槽1111可以是多个，以供多个夹具3进行滑动连接。本实施例中，两个第一滑槽1111为一组，有两组第一滑槽1111，供两个夹具3进行使用，即可以检测两个终端设备4。所述天线2位于所述固定板111表面中部，所述每一组第一滑槽1111的延伸方向是位于所述天线2一侧远离所述天线2且平行于所述固定板111的长度延伸方向。通过所述夹具3在所述方向上的第一滑槽1111的移动，可以控制所述夹具3靠近或者远离所述天线2，在所述方向上设置多个第一滑槽1111可以同时对靠近或者远离所述天线2的不同位置进行射频性能测试，其中，所述第一滑槽1111上可以设置有刻度，用于测量所述夹具3的具体位置。通过所述第一滑槽1111将所述夹具3进行滑动，方便测试人员调整当前所述夹具3相对天线2的具体位置，以使所述终端设备4对应调整到测试要求位置，提高了测试的便捷性。

[0033] 进一步地，所述固定板111设有第一滑槽1111的表面设有一凹槽1112，所述天线2包括底座21、限位盘22和固定所述底座21上的辐射杆23，所述底座21固定于所述凹槽1112内，所述限位盘22固定于底座远离所述凹槽1112的表面并遮蔽所述凹槽1112，所述辐射杆23穿过所述限位盘22位于所述屏蔽腔内。

[0034] 具体的，所述凹槽1112可以是圆形凹槽，也可以是外边缘高、中间部分低的凹形圆盘，所述凹槽1112设置于所述第一滑槽1111的表面的中心位置。在本实施例中，所述凹槽1112用于容纳所述底座21。所述天线2的底座21为圆形，放置于所述凹槽1112内。所述凹槽
1112的半径应大于所述底座21的半径。在其它实施例中，天线2的底座21也可以是任意与凹槽1112匹配的形状。在本实施例中，所述限位盘22为一种中间穿孔的圆盘，其用于固定所述天线2的位置。所述辐射杆23可以通过所述穿孔穿过所述限位盘22，因此所述辐射杆23的半径应小于所述限位盘22中心穿孔半径。在本实施例中，所述凹槽1112的深度可以略大于所述天线2的底座21，且所述限位盘22的周缘与所述固定板111的凹槽1112周缘所贴合的位置采用非金属的螺栓等紧固件进行固定。在其他实施例中，也可以通过将所述天线2的底座21吸附于所述固定板111上以固定所述天线2。通过所述限位盘22和所述凹槽1112对所述天线
2进行位置固定，便于测试过程中进行所述天线2固定，也方便测试人员在测试前对所述天线2的更换。

[0035] 进一步地，所述支架31上开设有第二滑槽311及滑动装于所述第二滑槽311内第一调节杆312，所述托盘32与所述第一调节杆312固定连接。

[0036] 具体的，所述支架31的长度方向与所述固定板111的表面相垂直，所述支架的一端固定在所述固定板111上。本实施例中，所述支架31上开设的所述第二滑槽311的滑动方向与所述支架31的长度方向相同，并且与所述固定板111表面相垂直。所述托盘32与所述第一调节杆312固定连接，且所述托盘32的与所述固定板111相平行。当所述第一调节杆312沿所述第二滑槽311进行上下滑动时，可以调节所述托盘32的高度。本实施例中，所述第二滑槽311上设置有刻度，测试人员可以通过读取所述第一调节杆312对应的刻度获取当前的高度值。通过所述支架31上的第二滑槽311和所述第一调节杆312，可以便于测试人员对所述托盘32的高度进行调整，从而调整位于所述托盘32的终端设备4的高度。

[0037] 进一步地，所述托盘32包括主托盘322及转盘323；所述主托盘322固定连接所述第一调节杆312，所述转盘323转动连接于所述主托盘322上，所述转盘323的转动方向平行所述固定板111。

[0038] 具体的，所述主托盘321一侧固定连接所述第一调节杆312，通过所述第一调节杆312对所述主托盘322的高度进行调节。所述转盘323装设于所述主托盘322上并以所述主托盘322的中心为轴心进行旋转。所述转盘323上设有一弧形滑槽，所述主托盘322上设有螺栓，当所述转盘323沿所述弧形滑槽滑动到测试要求的位置后，所述螺栓穿过所述转盘323的弧形滑槽将转盘323的位置进行固定，所述主托盘322上设置有刻度，测试人员可以根据所述刻度获取旋转的角度。所述转盘323上可以设置所述收纳槽321，所述收纳槽321固定连接于所述转盘323上，所述终端设备4可装入所述收纳槽23中进行测试。在其他实施例中，所述转盘323上也可以设置固定夹，可用于将终端设备4固定在所述转盘323上。通过所述转盘
323的转动可以对装入所述收纳槽321内的终端设备的方位进行调整，从而能够解决多天线手机的放置位置的调整，以便于所述天线2的稳定测试。

[0039] 进一步地，所述屏蔽箱1设有控制接口15，所述控制接口15电连接所述天线2，用以从外部信号设备获取射频信号。

[0040] 具体的，所述屏蔽箱1的外侧壁上设有控制接口15。所述控制接口15可用于传递控制指令或射频信号，使测试人员可以通过外部控制装置对测试过程进行控制，提高了测试的效率。本实施例中，所述控制接口15的位置设置于外侧壁且靠近所述屏蔽盒12底部的位置，以方便信号线的接入。所述控制接口15可以是连接外部信号设备的通信接口，例如串行通信接口或USB通信接口等。本实施例中，所述控制接口15的一端通过信号线连接于外部信号设备，另一端连接于所述天线2，所述外部信号设备发送的射频信号可通过所述控制接口15发送给所述天线2。在其他实施例中，所述控制接口15也可以用于传递控制指令或反馈信息。所述控制接口15可以是一个或多个，以根据测试需要与不同的外部信号设备或其它外部设备进行连接。

[0041] 进一步地，所述射频性能测试装置还包括延时继电器5；所述延时继电器5电连接所述天线2，所述延时继电器5控制所述天线2发送所述射频信号的时长。

[0042] 具体的，所述延时继电器5电连接于天线2。在测试过程中，所述延时继电器2可根据需要自由调节延时时间，以对测试过程进行时间管理。本实施例中，所述延时继电器5控制所述天线2发送的射频信号的时长，也可以是监控测试过程中的测试时间。本实施例中，所述延时继电器5可以在测试过程中进行时间管理，提高测试效率。

[0043] 进一步地，所述射频性能测试装置还包括吸波层6；所述吸波层6覆盖于所述屏蔽箱1的内壁表面，用于吸收反射电磁波。

[0044] 具体的，由于在测试过程中会产生大量的电磁波，为了避免电磁波通过屏蔽盒12的内壁进行反射，防止电磁波辐射对测试环境的影响，采用所述吸波层6覆盖于所述屏蔽箱1的内壁表面，以吸收反射电磁波。所述吸波层6的吸波材料一般有平面吸波，角锥吸波棉，蜂窝吸波材料，地板吸波铁氧体等，一般吸波材料的主要成分都是吸波铁氧体，通过耗能材料铁氧体把电磁波中的电场和磁场转化成热量损耗或吸收掉，由于本装置中的被测试对象频率一般都在300MHz-6000MHz之间，对于2.4GHz以下的吸波材料优选是吸波棉。本实施例中的吸波材料不局限于吸波棉，具有吸波功能的其它吸波材料也在本发明的保护范围之内。

[0045] 更进一步的，所述射频性能测试装置还包括有控制组件7，所述控制按钮可以安装于所述屏蔽箱1的外围。在本实施例中，所述控制组件7包括开关控制按键、气动按键和操作控制按键，也可以根据具体测试需要所扩展的其它的功能性按键等。通过设置所述控制组件7来直接控制射频性能测试装置，提高测试过程的便捷性。

[0046] 以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。