一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法及其系统

摘要

本发明提供了一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法及其系统，通过在光学仿真软件中构建出：光源模型、内部含有缺陷的偏光片模型和接收屏模型，且所述光源模型为黑白条纹光源或者利用点光源发出的光经过光栅后形成的条纹光源，所述偏光片模型由多层透明、各向同性的聚合物薄膜组合形成，并建立内部透明缺陷的薄透镜模型，从而实现偏光片内部缺陷检测的仿真成像系统，通过调节所述成像仿真系统中的各项参数，找到缺陷成像效果最佳时的系统各项参数，从而为实际的偏光片内部缺陷检测系统设计提供指导，克服了现有技术在检测系统设计、以及在进行缺陷检测时的盲目性，能有效提高偏光片内部透明缺陷的检测准确率和速度。

权利要求

1.一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法，其特征在于，通过光学仿真软件实现，包括：A、采用多层聚合物薄膜构建偏光片本体和采用薄透镜模型等效偏光片内部透明缺陷，建立偏光片模型；

B、在所述偏光片模型的两侧分别构建出条纹光源模型和接收屏模型；

C、利用构建出的条纹光源模型、偏光片模型和接收屏模型所组成的成像仿真系统对偏光片内部透明缺陷进行成像仿真；

D、分别获得接收屏上缺陷的成像效果与像距、缺陷深度和物距的关系，并从所述关系中获取缺陷成像对比度最佳时的系统参数；

所述偏光片模型由多层透明、各向同性的聚合物薄膜组合形成；

所述薄透镜模型位于其中的任意一层；

所述薄透镜模型中设置的透镜材料的折射率与偏光片模型中任意一层聚合物薄膜的折射率差值等于或小于10-3量级。

2.根据权利要求1所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法，其特征在于，所述步骤D还包括：D11、固定光源模型与偏光片模型之间的物距，固定偏光片模型内部薄透镜模型的厚度，调节偏光片模型与接收屏模型之间像距的大小；

D12、获得接收屏上缺陷的成像效果与像距的关系。

3.根据权利要求1所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法，其特征在于，所述步骤D还包括：D21、固定光源模型与偏光片模型之间的物距，固定偏光片模型与接收屏模型之间像距的大小，调节偏光片模型内部薄透镜模型的厚度大小；

D22、获得接收屏上缺陷的成像效果与薄透镜模型厚度的关系。

4.根据权利要求1所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法，其特征在于，所述步骤D还包括：D31、固定偏光片模型内部薄透镜模型的厚度，固定偏光片模型与接收屏模型之间的像距，调节光源模型与偏光片模型之间物距的大小；

D32、获得接收屏上缺陷的成像效果与物距的关系。

5.根据权利要求2-4任一项所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法，其特征在于，所述步骤D还包括：D2、根据获取的所述关系，得到缺陷成像对比度最佳时的物距、像距和薄透镜厚度的数据值。

6.一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真系统，其特征在于，包括：偏光片构建模块，用于采用多层聚合物薄膜构建偏光片本体和采用薄透镜模型等效偏光片内部透明缺陷，建立偏光片模型；

其他构建模块，用于在所述偏光片模型的两侧分别构建出条纹光源模型和接收屏模型；

成像仿真模块，用于利用构建出的条纹光源模型、偏光片模型和接收屏模型所组成的成像仿真系统对偏光片内部透明缺陷进行成像仿真；

系统参数分析模块，用于分别获得接收屏模型上缺陷成像效果与像距、缺陷深度和物距的关系，并从所述关系中获取缺陷成像对比度最佳时的系统参数；

所述偏光片模型由多层透明、各向同性的聚合物薄膜组合形成；

所述薄透镜模型位于其中的任意一层；

所述薄透镜模型中设置的透镜材料的折射率与偏光片模型中任意一层聚合物薄膜的折射率差值等于或小于10-3量级。

7.根据权利要求6所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真系统，其特征在于，所述系统参数分析模块包括：调节像距单元，用于固定光源模型与偏光片模型之间的物距，固定偏光片模型内部薄透镜模型的厚度，调节偏光片模型与接收屏模型之间像距的大小；

第一获取单元，用于获取接收屏模型上缺陷成像效果与像距的关系。

8.根据权利要求6所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真系统，其特征在于，所述系统参数分析模块包括：调节深度单元，用于固定光源模型与偏光片模型之间的物距，固定偏光片模型与接收屏模型之间像距的大小，调节偏光片模型内部薄透镜模型的厚度大小；

第二获取单元，用于获取接收屏模型上缺陷成像效果与薄透镜模型深度的关系。

9.根据权利要求6所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真系统，其特征在于，所述系统参数分析模块包括：调节物距单元，用于固定偏光片模型内部薄透镜模型的深度，固定偏光片模型与接收屏模型之间的像距，调节光源模型与偏光片模型之间物距的大小；

第三获取单元，用于获取接收屏模型上缺陷成像效果与物距的关系。

说明书

一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法及其系统

技术领域

[0001] 本发明涉及光学仿真领域，尤其涉及的是一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法及其系统。

背景技术

[0002] 偏光片（偏光膜）是一种常见的偏振光学元件，应用非常广泛，例如在TFT-LCD液晶面板中，必有两层偏振方向正交的偏光片。一般而言，TFT-LCD型偏光片成品由6层透明聚合物薄膜组成，如图1所示，从上到下依次排列有：保护膜01、TAC膜02、PVA膜03、TAC膜04、压敏胶05和离型膜06，每层厚度约为几十微米。每层材料的折射率非常接近，因此透射率较高（42%左右，只有一个偏振方向的入射光可以通过；如果入射光是线偏振光，且偏振方向与透光轴方向一致，则透射率大约94%）。作为液晶显示面板三种关键原材料之一，偏光片的性能对液晶面板的质量有重要影响，其存在的外观缺陷（业内俗称“外观欠点”）会造成整个面板的报废。因此，偏光片缺陷检测对保证产品优良品率、降低成本有重要的意义。

[0003] 偏光片外观缺陷没有标准、统一的定义，我们将之定义为：使用者目视可能观察到的影响美观或观感的缺陷与异常。目前对外观缺陷的在线和离线自动检测，普遍采用机器视觉技术实现，如图2a-图2c所示，在线或离线检测，都可以采用反射或透射成像，。图2a和图2b所示，分别为在线检测的反射式和在线检测的透射式，均由光源012提供检测光，由相机011采集图像，然后由计算机处理图像，识别缺陷并提取缺陷特征。在图2c中，为离线检测，偏光片023放置在工作台024上，由工作台024下方的均匀光源022发出的光，穿过偏光片023后，位于其上方的线阵CCD021接收透射光信息，并将接收到的透射光信息传输到计算机上，由计算机处理图像，识别缺陷并提取缺陷特征，可见，缺陷的成像效果（对比度）对检测结果影响很大。

[0004] 上述方案检测普通外观缺陷效果良好，已经达到实用化程度。但是，我们发现偏光片内部存在特殊的透明缺陷，该缺陷区域与正常区域具有几乎相同的透射/反射特性，在普通照明条件下难以成像，难以检测，需要特殊设计的条纹光源照明，才能提高成像对比度，才能采用机器视觉技术来检测缺陷。另外，在条纹光照明情况下的透明缺陷成像增强的效果，与光源参数、检测系统参数密切相关，不同的缺陷形状、尺寸、深度和折射率差，最佳成像增强的条件（或参数）都有差别。

[0005] 目前已有的机器视觉检测系统，都是操作人员在实验过程中，反复摸索、尝试，调整系统参数，寻找目标（缺陷）成像增强的最佳参数，存在较大的盲目性，效率很低，难以进一步提高缺陷检测准确率和检测速度。

[0006] 因此，现有技术有待于进一步的改进。

发明内容

[0007] 鉴于上述现有技术中的不足之处，本发明的目的在于为用户提供一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法及其系统，克服现有技术中在寻找成像增强的最佳参数，进行偏光片内部缺陷检测时，存在盲目性高和效率低的缺陷。

[0008] 本发明解决技术问题所采用的技术方案如下：

[0009] 一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法，其中，通过光学仿真软件实现，包括：

[0010] A、采用多层聚合物薄膜构建偏光片本体和采用薄透镜模型等效偏光片内部透明缺陷，建立偏光片模型；

[0011] B、在所述偏光片模型的两侧分别构建出条纹光源模型和接收屏模型；

[0012] C、利用构建出的条纹光源模型、偏光片模型和接收屏模型所组成的成像仿真系统对偏光片内部透明缺陷进行成像仿真；

[0013] D、分别获得接收屏模型上缺陷成像效果与像距、缺陷深度和物距的关系，并从所述关系中获取缺陷成像效果最佳时的系统参数。

[0014] 所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法，其中，所述步骤D还包括：

[0015] D11、固定光源模型与偏光片模型之间的物距，固定偏光片模型内部薄透镜模型的厚度，调节偏光片模型与接收屏模型之间像距的大小；

[0016] D12、获取接收屏模型上缺陷成像对比度与像距的关系。

[0017] 所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法，其中，所述步骤D还包括：

[0018] D21、固定光源模型与偏光片模型之间的物距，固定偏光片模型与接收屏模型之间像距的大小，调节偏光片模型内部薄透镜的厚度；

[0019] D22、获取接收屏模型上缺陷成像对比度与薄透镜模型厚度的关系。

[0020] 所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法，其中，所述步骤D还包括：

[0021] D31、固定偏光片模型内部薄透镜模型的厚度，固定偏光片模型与接收屏模型之间的像距，调节光源模型与偏光片模型之间物距的大小；

[0022] D32、获取接收屏模型上缺陷成像对比度与物距的关系。

[0023] 所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法，其中，所述步骤D还包括：

[0024] D2、根据获取的所述关系，得到偏光片内部缺陷成像对比度最佳时的物距、像距和深度的数据值。

[0025] 一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真系统，其中，包括：

[0026] 偏光片模块，采用多层聚合物薄膜构建偏光片本体和采用薄透镜模型等效偏光片内部透明缺陷，建立偏光片模型；

[0027] 其他模块，在所述偏光片模型的两侧分别构建出条纹光源模型和接收屏模型；

[0028] 成像仿真模块，利用构建出的条纹光源模型、偏光片模型和接收屏模型所组成的成像仿真系统对偏光片内部透明缺陷进行成像仿真；

[0029] 系统参数分析模块，用于分别获得接收屏模型上缺陷成像效果与像距、缺陷深度和物距的关系，并从所述关系中获取缺陷成像对比度最佳时的系统参数。

[0030] 所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真系统，其中，所述系统参数分析模块包括：

[0031] 调节像距单元，用于固定光源模型与偏光片模型之间的物距，固定偏光片模型内部薄透镜模型的厚度，调节偏光片模型与接收屏模型之间像距的大小；

[0032] 第一获取单元，用于获取接收屏上缺陷成像效果与像距的关系。

[0033] 所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真系统，其中，所述系统参数分析模块包括：

[0034] 调节深度单元，用于固定光源模型与偏光片模型之间的物距，固定偏光片模型与接收屏模型之间像距的大小，调节偏光片模型内部薄透镜模型的厚度大小；

[0035] 第二获取单元，用于获取接收屏上缺陷成像效果与薄透镜模型厚度的关系。

[0036] 所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真系统，其中，所述系统参数分析模块包括：

[0037] 调节物距单元，用于固定偏光片模型内部薄透镜模型的厚度，固定偏光片模型与接收屏模型之间的像距，调节光源模型与偏光片模型之间物距的大小；

[0038] 第三获取单元，用于获取接收屏上缺陷成像效果与物距的关系。

[0039] 所述用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真系统，其中，所述薄透镜模型中设置的-3透镜材料的折射率与偏光片模型中任意一层聚合物薄膜的折射率差值等于或小于10 量级。

[0040] 有益效果，本发明提供了一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法及其系统，通过在光学仿真软件中构建出：光源模型、内部含有缺陷的偏光片模型和接收屏模型，且所述光源模型为黑白条纹光源或者利用点光源发出的光经过光栅后形成的条纹光源，所述偏光片模型由多层透明、各向同性的聚合物薄膜组合形成，并建立内部透明缺陷的薄透镜模型，从而实现偏光片内部缺陷检测的仿真成像系统，通过调节所述成像仿真系统中的各项参数，找到缺陷成像效果最佳时的系统参数，从而为实际的偏光片内部缺陷检测系统设计提供指导，克服了现有技术在检测系统设计、以及在进行缺陷检测时的盲目性，能有效提高偏光片内部透明缺陷的检测准确率和速度。

附图说明

[0041] 图1是偏光片的结构示意图。

[0042] 图2a是现有技术采用反射式对偏光片外观缺陷进行在线检测的系统结构示意图。

[0043] 图2b是现有技术采用透射式对偏光片外观缺陷进行在线检测的系统结构示意图。

[0044] 图2c是现有技术采用透射式对偏光片外观缺陷进行离线检测的系统结构示意图。

[0045] 图3是本发明一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法的步骤流程图。

[0046] 图4为本发明所述方法中构造出的偏光片内部缺陷模型的结构示意图。

[0047] 图5是本发明所述方法在具体实施例中当缺陷深度固定时，获取的透明缺陷成像增强效果与像距之间的关系图。

[0048] 图6是本发明所述方法在具体实施例中当固定像距和物距时，获取的透明缺陷成像增强效果与深度之间的关系图。

[0049] 图7是本发明一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真系统的原理结构图。

[0050] 图8是本发明一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真系统的示意图。

具体实施方式

[0051] 为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。

[0052] 本发明提供一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法，通过将偏光片的内部透明缺陷等效为一个薄透镜，来仿真缺陷的成像效果，具体的，如图3所示，所述方法包括：

[0053] S1、采用多层聚合物薄膜构建偏光片本体和采用薄透镜模型等效偏光片内部透明缺陷，建立偏光片模型。

[0054] 首先在光学仿真软件中，构建出内部含有透明缺陷的偏光片模型。本发明通过建立内部透明缺陷的薄透镜模型，从而构建含有缺陷的偏光片模型。

[0055] 具体的，所述偏光片模型由多层透明、各向同性的聚合物薄膜组合形成；每一层的折射率近似相等。由于透明缺陷可能位于其中的任意一层，则可以设置所述薄透镜位于其中的任意一层。

[0056] 由于所述薄透镜模型用于替换偏光片内部透明缺陷，因此优选的，所述薄透镜模-3型中设置的透镜材料的折射率与任意一层薄膜模型的折射率差值等于或小于10 量级。因为若该差值过大，则该内部缺陷很明显，属于不透明缺陷。

[0057] S2、在所述偏光片模型的两侧分别构建出条纹光源模型和接收屏模型。

[0058] 在构建出的偏光片模型的两侧构建，用于发出光的光源模型和用于接收成像的接收屏模型，从而组成成像仿真系统。

[0059] S3、利用构建出的条纹光源模型、偏光片模型和接收屏模型所组成的成像仿真系统对偏光片内部透明缺陷进行成像仿真。

[0060] 具体的，在本步骤中为了可以通过调节所述系统设置参数来进行成像仿真，在接收屏模型中得到所述光源通过薄透镜模型（内部透明缺陷）后所呈的像。

[0061] S4、分别获得接收屏上缺陷的成像效果与像距、缺陷深度和物距的关系，并从所述关系中获取缺陷成像对比度最佳时的系统参数。

[0062] 通过调节成像仿真系统的各项参数，对比缺陷成像效果，具体的，本发明通过获取缺陷成像效果与参数之间的关系，从所述关系中分析出最佳成像检测系统参数。

[0063] 具体的，本步骤包括：

[0064] S411、固定光源模型与偏光片模型之间的物距，固定偏光片模型内部薄透镜模型的厚度，调节偏光片模型与接收屏模型之间像距的大小；

[0065] S412、获取接收屏模型上缺陷成像效果与像距的关系。

[0066] 所述步骤S4还包括：

[0067] S421、固定光源模型与偏光片模型之间的物距，固定偏光片模型与接收屏模型之间像距的大小，调节偏光片模型内部薄透镜模型的深度大小；

[0068] S422、获取接收屏模型上缺陷成像效果与薄透镜模型深度的关系。

[0069] 所述步骤S4还包括：

[0070] S431、固定偏光片模型内部薄透镜模型的深度，固定偏光片模型与接收屏模型之间的像距，调节光源模型与偏光片模型之间物距的大小；

[0071] S432、获取接收屏模型上缺陷成像效果与物距的关系。

[0072] 所述步骤S4还包括：

[0073] S42、根据获取的所述关系，得到缺陷成像对比度最佳时的物距、像距和深度的数据值。

[0074] 下面以其具体应用实施例为例，对其进行更加详细的说明：

[0075] 在TracePro或者Zemax等光学仿真软件中，构建仿真系统。采用普通点光源+光栅的方法，产生黑白条纹光源，照明偏光片模型；如图4所示，以多层透明（无吸收）、各向同性的聚合物薄膜202，建立偏光片20的等效光学模型，不考虑偏振效应，每层厚度约为几十微米，每层折射率近似相等，约为1.5左右。采用平凸透镜模型，建立内部透明缺陷的薄透镜模型，所述薄透镜模型201的透镜通光孔径处于80μm～2mm，深度（最大厚度）为1μm～20μm（超过20μm的缺陷，成像为黑点，容易检测出，采用本发明的仿真方法，意义不明显），薄透镜模-3型201的折射率与周围薄膜材料（即聚合物薄膜202）的折射率差值选择为10 量级或更小，折射率差值越小，缺陷越透明、细微，难以检测。如果折射率差值较大，例如达到10-2量级及以上，则属于不透明缺陷，而且容易检测出。无论折射率差值的大小，本发明公开的方法都可以正确仿真缺陷的成像情况，只不过，在折射率差值小的情况下，本发明提供的仿真方法意义更加明显。透镜形状可以是平凸、双凸、弯月形，缺陷可以位于内部任一薄膜层。

[0076] 上述仿真成像系统构建完成后，对于某一个固定的内部透明缺陷模型，可以在接收屏模型上得到不同强度的缺陷图像，例如：固定物距可以得到如图5所示的缺陷成像增强效果与像距之间的关系图，从而得到最佳像距，用于指导检测系统设计。同理，固定像距、物距，改变缺陷深度（即透镜模型的厚度），可以观测到不同深度的缺陷与成像增强效果的变化，从而得到如图6所示的不同深度与成像光强之间的关系图，从而说明，不同的缺陷深度，需要选择不同的像距与之配合，才能达到缺陷成像最佳对比度。

[0077] 同理，对于某一个固定的缺陷模型，改变光源的条纹宽度，例如0.1mm～8mm之间，可以仿真得到条纹宽度与缺陷成像增强效果之间的关系，从而优化设计光源的条纹宽度。

[0078] 在上述本发明公开的所述方法的基础上，本发明公开了一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真系统，如图7所示，所述系统包括：

[0079] 偏光片构建模块110，用于采用多层聚合物薄膜构建偏光片本体和采用薄透镜模型等效偏光片内部透明缺陷，建立偏光片模型；其功能如上述步骤S1所述。

[0080] 其他构建模块120，用于在所述偏光片模型的两侧分别构建出条纹光源模型和接收屏模型；其功能如上述步骤S2所述。

[0081] 成像仿真模块130，用于利用构建出的条纹光源模型、偏光片模型和接收屏模型所组成的成像仿真系统对偏光片内部透明缺陷进行成像仿真；其功能如上述步骤S3所述。

[0082] 系统参数分析模块140，用于分别获得接收屏模型上缺陷成像效果与像距、缺陷深度和物距的关系，并从所述关系中获取缺陷成像对比度最佳时的系统参数。其功能如上述步骤S4所述。

[0083] 所述系统参数分析模块包括：

[0084] 调节像距单元，用于固定光源模型与偏光片模型之间的物距，固定偏光片模型内部薄透镜模型的厚度，调节偏光片模型与接收屏模型之间像距的大小；

[0085] 第一获取单元，用于获取接收屏模型上缺陷成像效果与像距的关系。

[0086] 所述系统参数分析模块包括：

[0087] 调节深度单元，用于固定光源模型与偏光片模型之间的物距，固定偏光片模型与接收屏模型之间像距的大小，调节偏光片模型内部薄透镜模型的厚度大小；

[0088] 第二获取单元，用于获取接收屏模型上缺陷成像效果与薄透镜模型深度的关系。

[0089] 所述系统参数分析模块包括：

[0090] 调节物距单元，用于固定偏光片模型内部薄透镜模型的深度，固定偏光片模型与接收屏模型之间的像距，调节光源模型与偏光片模型之间物距的大小；

[0091] 第三获取单元，用于获取接收屏模型上缺陷成像效果与物距的关系。

[0092] 所述薄透镜模型中设置的透镜材料的折射率与偏光片模型中任意一层聚合物薄膜的折射率差值等于或小于10-3量级。

[0093] 具体的，在具体实施过程中，如图8所示，在光学仿真软件中构建出光源模型10、内部含有薄透镜模型201的偏光片模型20和接收屏模型30；

[0094] 所述光源模型10，为黑白条纹光源模型或者利用点光源发出的光经过光栅后形成的条纹光源模型。

[0095] 所述偏光片模型20由多层透明、各向同性的聚合物薄膜模型202组合形成；每一层的折射率近似相等。

[0096] 所述薄透镜模型201中设置的透镜材料的折射率与任意一层聚合物薄膜模型202的折射率差值等于或小于10-3量级。所述薄膜模型202每层的厚度为几十微米。所述薄透镜模型为平凸透镜模型、双凸透镜模型或弯月型透镜模型。所述薄透镜模型可以设置在所述偏光片模型的任意一个膜层内，也即是说偏光片中的内部透明缺陷可能出现在偏光片的任意一层，因此所述薄透镜模型也可以设置在偏光片模型的任意一层中。

[0097] 所述薄透镜模型的通光孔径范围为：80μm～2mm（小于80μm，超出了人眼观测极限，认为不存在外观缺陷），深度（也即薄透镜的最大厚度）为：1μm～20μm。

[0098] 具体的，当上述成像仿真系统完成后，则可以通过改变上述成像仿真系统的各项参数，通过对比接收屏上缺陷成像效果，获取各项参数与缺陷成像对比度之间的关系，为实践中的缺陷检测提供技术支持。

[0099] 本发明提供了一种用于检测偏光片内部缺陷的成像仿真方法及其系统，通过在光学仿真软件中构建出：光源模型、内部含有缺陷的偏光片模型和接收屏模型，且所述光源模型为黑白条纹光源或者利用点光源发出的光经过光栅后形成的条纹光源，所述偏光片模型由多层透明、各向同性的聚合物薄膜组合形成，并建立内部透明缺陷的薄透镜模型，所述薄透镜模型中设置的透镜材料的折射率与聚合物薄膜的折射率差值等于或小于10-3量级，从而实现偏光片内部缺陷检测的仿真成像系统，通过调节所述成像仿真系统中的各项参数，找到缺陷成像效果最佳时的系统参数，从而为实际的偏光片内部缺陷检测系统设计提供指导，克服了现有技术在检测系统设计、以及在进行缺陷检测时的盲目性，能有效提高偏光片内部透明缺陷的检测准确率和速度。

[0100] 可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。