自电容触控面板的缺陷检测装置及其检测方法

摘要

本发明公开了一种自电容触控面板的缺陷检测装置及其检测方法，该缺陷检测装置设置有与多行触控电极分别连接的多个驱动电路，驱动电路包括：预充单元，用于产生为各触控电极同时预置第一电压的第一充电控制信号；锁存同步单元，用于存储逐行启动各驱动电路的触发信号，并产生为各触控电极逐行施加第二电压的第二充电控制信号；输出单元，根据充电控制信号分别输出第一电压与第二电压对触控电极进行充电；截止单元，根据各行触控电极所具有的电压控制位于该行触控电极前面一行的触控电极的主充电控制路径的开启与关闭。本发明能进一步检测出存在于触控电极矩阵中各行触控电极之间的短路缺陷的情况，结构简单，可靠性高。

权利要求

1.一种自电容触控面板的缺陷检测装置，设置有与多行触控电极分别一一对应连接的多个驱动电路，所述驱动电路包括由顺次串联的锁存同步单元、截止单元和输出单元构成的主充电控制路径、以及由彼此连接的预充单元和所述输出单元构成的辅充电控制路径，其中：所述预充单元，设置为产生为各触控电极同时预置第一电压的第一充电控制信号；

所述锁存同步单元，设置为存储用于逐行启动各驱动电路的触发信号，并产生为各触控电极逐行施加第二电压的第二充电控制信号；

所述输出单元，设置为受控于所述第一充电控制信号来向所述触控电极输出所述第一电压，受控于所述第二充电控制信号来向所述触控电极输出所述第二电压；

所述截止单元，设置为根据各行触控电极所具有的电压，控制位于该行触控电极前面一行的触控电极所对应的驱动电路的主充电控制路径的开启与关闭；

并且，所述锁存同步单元包括第一开关元件、第二开关元件、第一反相器、第二反相器和第三反相器，所述第一开关元件和所述第二开关元件均受控于同一时钟信号，所述第一开关元件的输入端连接触发信号输入端，所述第一开关元件的输出端同时连接所述第一反相器的输入端和第二反相器的输出端，所述第一反相器的输出端、所述第二反相器的输入端和第三反相器的输入端均连接所述第二开关元件的输入端，所述第二开关元件的输出端和所述第三反相器的输出端均连接所述截止单元的输入端；所述第一开关元件处于导通/截止状态时，所述第二开关元件处于截止/导通状态。

2.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，

所述第一开关元件为PMOS晶体管，且所述第二开关元件为NMOS晶体管；或者所述第一开关元件为NMOS晶体管，且所述第二开关元件为PMOS晶体管。

3.根据权利要求2所述的缺陷检测装置，其特征在于，当前一行触控电极对应的驱动电路的锁存同步单元的输出端连接后面一行触控电极对应的驱动电路的锁存同步单元的输入端。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述截止单元包括第三开关元件；当前一行触控电极对应的驱动电路的输出单元的输出端连接前面一行触控电极对应的驱动电路的截止单元的第三开关元件的控制端。

5.根据权利要求4所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述主充电控制路径通过所述第一电压开启，并通过所述第二电压关闭。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述预充单元包括第四开关元件，其控制端连接初始控制信号输入端，其输入端连接初始触发信号输入端，其输出端连接所述输出单元的输入端。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述输出单元包括第四反相器、第五反相器和信号传输门，所述截止单元的输出端依次通过所述第四反相器和所述第五反相器连接所述信号传输门的第一控制端，所述截止单元的输出端通过所述第四反相器连接所述信号传输门的第二控制端，所述信号传输门的输入端连接触控信号输入端，所述信号传输门的输出端连接触控电极。

8.一种采用如权利要求1至7中任一项所述的自电容触控面板的缺陷检测装置的检测方法，包括：将所述自电容触控面板区域内的各像素电极充电到第三电压；

利用所述预充单元将各触控电极同时充电到第一电压，以开启各触控电极对应的驱动电路的主充电控制路径；

利用所述锁存同步单元将各触控电极逐行充电到第二电压；

根据各行触控电极区块所对应的显示画面来判断是否存在短路缺陷。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，根据各行触控电极区块所对应的显示画面来判断是否存在短路缺陷，包括：当某行触控电极区块所对应的测试画面未显示预设的画面时，则确定该行触控电极与其前面至少一行和/或后面一行触控电极之间存在短路缺陷。

10.根据权利要求8或9所述的检测方法，其特征在于，所述第三电压等于所述第一电压。

说明书

自电容触控面板的缺陷检测装置及其检测方法

技术领域

[0001] 本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种自电容触控面板的缺陷检测装置，还涉及一种采用该缺陷检测装置的检测方法。

背景技术

[0002] 随着显示技术的飞速发展，触摸屏已经逐渐遍及人们的生活中。目前，内嵌式触摸屏(In Cell Touch Panel)能够将触控部件内嵌至显示屏内部，这既可以减薄模组整体的厚度，又可以大大降低触摸屏的制作成本。因此内嵌式触摸屏受到了各大面板厂商的青睐，同时内嵌式触摸屏的检测方式也成为研究的热点。

[0003] 针对现有技术中的自电容式内嵌式触摸屏，通常将可操作区(AA,Active Area)内的公共电极分成小区块作为触控电极。每个触控电极都通过感测信号线(即Rx信号线)连接到触控电路输出端的引脚。在显示阶段，触控电路通过Rx信号线向每个触控电极写入公共电极电压。目前连接触控电极的Rx信号线都是贯穿AA区的，在制程中会发生Rx信号线与非对应触控电极的公共电极短路的情况。现有技术中一般采用图1所示的自电容触控面板的缺陷检测装置来检测上述短路情况。

[0004] 参照图1，在现有的检测装置中，奇数列的Rx连接到TPDO数据线，偶数列的Rx信号线连接到TPDE数据线。在检测时，首先通过控制TFT开关器件(由TPSW信号线控制各个TFT开关器件20的导通与关闭)来向奇、偶数列Rx信号线对应的触控电极写入不同电位，然后通过观察显示画面来检测是否存在Rx信号线与公共电极短路的情况。例如，检测时首先向奇数列Rx信号线对应的触控电极写入4.5V电位，向偶数列Rx信号线对应的触控电极写入0V电位，向AA区所有的数据线写入4.5V的信号。这样奇数列Rx信号线对应的触控电极区块10应显示黑色画面，偶数列Rx信号线对应的触控电极区块10应显示白色画面。然后观察显示效果，如果有触控电极区块10未按预期画面显示，则说明此区块的公共电极与某一级的Rx信号线发生短路。

[0005] 可见，上述检测装置的缺陷在于：该装置只能检测奇数列与偶数列之间的短路情况，而无法检测具体是哪一根Rx信号线与公共电极发生了短路。

发明内容

[0006] 本发明所要解决的技术问题是：现有技术中的自电容触控面板的缺陷检测装置只能检测奇数列与偶数列之间的短路情况，而无法检测具体是哪一根Rx信号线与公共电极发生了短路。

[0007] 为了解决上述技术问题，本发明提供了一种自电容触控面板的缺陷检测装置及其检测方法。

[0008] 根据本发明的一个方面，提供了一种自电容触控面板的缺陷检测装置，其设置有与多行触控电极分别一一对应连接的多个驱动电路，所述驱动电路包括由顺次串联的锁存同步单元、截止单元和输出单元构成的主充电控制路径、以及由彼此连接的预充单元和所述输出单元构成的辅充电控制路径，其中：

[0009] 所述预充单元，设置为产生为各触控电极同时预置第一电压的第一充电控制信号；

[0010] 所述锁存同步单元，设置为存储用于逐行启动各驱动电路的触发信号，并产生为各触控电极逐行施加第二电压的第二充电控制信号；

[0011] 所述输出单元，设置为受控于所述第一充电控制信号来向所述触控电极输出所述第一电压，受控于所述第二充电控制信号来向所述触控电极输出所述第二电压；

[0012] 所述截止单元，设置为根据各行触控电极所具有的电压，控制位于该行触控电极前面一行的触控电极所对应的驱动电路的主充电控制路径的开启与关闭；

[0013] 并且，所述锁存同步单元包括第一开关元件、第二开关元件、第一反相器、第二反相器和第三反相器，所述第一开关元件和所述第二开关元件均受控于同一时钟信号，所述第一开关元件的输入端连接触发信号输入端，所述第一开关元件的输出端同时连接所述第一反相器的输入端和第二反相器的输出端，所述第一反相器的输出端、所述第二反相器的输入端和第三反相器的输入端均连接所述第二开关元件的输入端，所述第二开关元件的输出端和所述第三反相器的输出端均连接所述截止单元的输入端；所述第一开关元件处于导通/截止状态时，所述第二开关元件处于截止/导通状态。

[0014] 优选的是，所述第一开关元件为PMOS晶体管，且所述第二开关元件为NMOS晶体管；或者

[0015] 所述第一开关元件为NMOS晶体管，且所述第二开关元件为PMOS晶体管。

[0016] 优选的是，当前一行触控电极对应的驱动电路的锁存同步单元的输出端连接后面一行触控电极对应的驱动电路的锁存同步单元的输入端。

[0017] 优选的是，所述截止单元包括第三开关元件；当前一行触控电极对应的驱动电路的输出单元的输出端连接前面一行触控电极对应的驱动电路的截止单元的第三开关元件的控制端。

[0018] 优选的是，所述主充电控制路径通过所述第一电压开启，并通过所述第二电压关闭。

[0019] 优选的是，所述预充单元包括第四开关元件，其控制端连接初始控制信号输入端，其输入端连接初始触发信号输入端，其输出端连接所述输出单元的输入端。

[0020] 优选的是，所述输出单元包括第四反相器、第五反相器和信号传输门，所述截止单元的输出端依次通过所述第四反相器和所述第五反相器连接所述信号传输门的第一控制端，所述截止单元的输出端通过所述第四反相器连接所述信号传输门的第二控制端，所述信号传输门的输入端连接触控信号输入端，所述信号传输门的输出端连接触控电极。

[0021] 根据本发明的另一方面，提供了一种采用如上述自电容触控面板的缺陷检测装置的检测方法，其包括：

[0022] 将所述自电容触控面板区域内的各像素电极充电到第三电压；

[0023] 利用所述预充单元将各触控电极同时充电到第一电压，以开启各触控电极对应的驱动电路的主充电控制路径；

[0024] 利用所述锁存同步单元将各触控电极逐行充电到第二电压；

[0025] 根据各行触控电极区块所对应的显示画面来判断是否存在短路缺陷。

[0026] 优选的是，根据各行触控电极区块所对应的显示画面来判断是否存在短路缺陷，包括：

[0027] 当某行触控电极区块所对应的测试画面未显示预设的画面时，则确定该行触控电极与其前面至少一行和/或后面一行触控电极之间存在短路缺陷。

[0028] 优选的是，所述第三电压等于所述第一电压。

[0029] 与现有技术相比，上述方案中的一个或多个实施例可以具有如下优点或有益效果：

[0030] 本发明能够进一步检测出存在于触控电极矩阵中各行触控电极之间的短路缺陷的情况，且该装置结构简单，可靠性高。

[0031] 本发明的其他优点、目标，和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本发明的实践中得到教导。本发明的目标和其他优点可以通过下面的说明书，权利要求书，以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

[0032] 附图用来提供对本申请的技术方案或现有技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分。其中，表达本申请实施例的附图与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，但并不构成对本申请技术方案的限制。

[0033] 图1示出了现有技术中自电容触控面板的缺陷检测装置的示意图；

[0034] 图2示出了本发明实施例自电容触控面板的缺陷检测装置的示意图；

[0035] 图3示出了图2中的局部区域S的放大示意图；

[0036] 图4示出了本发明实施例中驱动电路的原理方框图；

[0037] 图5示出了本发明实施例中驱动电路的电路示意图；

[0038] 图6示出了本发明实施例缺陷检测装置的检测时序图；以及

[0039] 图7示出了采用本发明实施例缺陷检测装置的检测方法的流程示意图。

具体实施方式

[0040] 以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成相应技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。本申请实施例以及实施例中的各个特征，在不相冲突前提下可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。

[0041] 本发明所要解决的技术问题是：现有技术中的自电容触控面板的缺陷检测装置只能检测奇数列与偶数列之间的短路情况，而无法检测具体是哪一根Rx信号线与公共电极发生了短路。为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种自电容触控面板的缺陷检测装置。

[0042] 参照图2至图6，本发明自电容触控面板的缺陷检测装置包含设置在触控电极矩阵40的边缘处与多行触控电极分别连接的多个驱动电路30，每个驱动电路30包括预充单元
31、锁存同步单元34、输出单元32和截止单元33。其中，锁存同步单元34、截止单元33和输出单元32依次串联形成主充电控制路径，预充单元31与输出单元32串联，形成辅充电控制路径。

[0043] 下面结合图5说明本发明实施例中驱动电路的具体结构。

[0044] 预充单元31用于产生为各触控电极同时预置第一电压的第一充电控制信号(图5中所示的SW信号)。具体地，预充单元31包含一个第四开关元件311，该第四开关元件311的信号输入端接由初始触发信号输入端的SW信号，控制端接初始控制信号输入端的GAS信号。当GAS信号为高电平时，第四开关元件311开启，SW信号通过第四开关元件311的信号输出端施加于输出单元32的控制信号输入端(如图5中的A点所示)。当GAS信号为低电平时，第四开关元件311关闭，其所在的支路呈高阻状态，不会对驱动电路30的其他部分产生影响。在预充单元31的第一充电控制信号SW信号的作用下，可以使触控电极矩阵40的所有触控电极在初始时刻被充电至第一电压。

[0045] 锁存同步单元34由三个反相器和两个开关元件组成，用于存储逐行启动各驱动电路的触发信号ST，并产生为各触控电极逐行施加第二电压的第二充电控制信号(图5中的SE信号)。锁存同步单元34的输出端与截止单元33的输入端相连接，通过时钟信号CK的高低信号分别控制相邻两级的信号传输，可以依据各行触控电极的充电时序(逐行充电时序)分别为各行的触控电极充入第二电压。

[0046] 参照图5，锁存同步单元34的结构简单，仅包括第一开关元件341、第一反相器342、第二反相器343、第二开关元件344和第三反相器345。所述第一开关元件341和所述第二开关元件344均受控于同一时钟信号CK，所述第一开关元件341的输入端连接触发信号输入端，所述第一开关元件341的输出端同时连接所述第一反相器342的输入端和第二反相器343的输出端，所述第一反相器342的输出端、所述第二反相器343的输入端和第三反相器
345的输入端均连接所述第二开关元件344的输入端。所述第二开关元件344的输出端和所述第三反相器345的输出端均连接所述截止单元33的输入端。所述第一开关元件341和第二开关元件344分别为PMOS/NMOS晶体管和NMOS/PMOS晶体管。在图5所示的实施例中，第一开关元件341为PMOS晶体管，第二开关元件344为NMOS晶体管。在其它实施例中，第一开关元件
341也可以为NMOS晶体管，此时第二开关元件344为PMOS晶体管。

[0047] 当前一行触控电极对应的驱动电路的锁存同步单元的输出端连接后面一行触控电极对应的驱动电路的锁存同步单元的输入端。即以第n-1行的锁存同步单元34的输出端的触发信号ST[n-1]作为第n行的锁存同步单元34的输入端信号，进而实现触发信号的移位锁存。另外，各锁存同步单元34的低电平信号可以通过异步复位端RE进行预先设置。

[0048] 图5所示实施例中锁存同步单元34的工作原理如下：当前一行ST[n-1]提供一个高电平信号后，同步将CK信号置为低电平信号，图5中第一开关元件341打开，第二开关元件344关闭。此时，由于第一反相器342和第二反相器343的互锁功能，将ST[n-1]的信号锁住。
在下一阶段将CK信号置为高电平信号，图5中第一开关元件341关闭，第二开关元件344开启。此时，ST[n-1]信号与由第一反相器342和第二反相器343构成的互锁单元断开，同时将互锁单元中的信号传递到ST[n]中。然后在下一阶段，CK信号重新置为低电平信号，同理，第一开关元件341打开，第二开关元件344关闭。由于此时ST[n-1]信号已经为低电位，锁存同步单元34将ST[n]置低。从而实现触发信号的锁存、同步和传递。

[0049] 输出单元32接收预充单元31产生的第一充电控制信号输出第一电压，以及锁存同步单元34产生的第二充电控制信号输出第二电压，然后利用第一电压或者第二电压来对各触控电极进行充电。具体地，如图5所示，输出单元32包括第四反相器321、第五反相器322和信号传输门323，所述截止单元33的输出端依次通过所述第四反相器321和所述第五反相器322连接所述信号传输门323的第一控制端，所述截止单元33的输出端还通过所述第四反相器321连接所述信号传输门323的第二控制端，所述信号传输门323的输入端连接触控信号输入端(触控信号输入端输入RX信号)，所述信号传输门323的输出端连接触控电极。第一充电控制信号或者第二充电控制信号经由A点接入输出单元32的控制信号输入端。当充电控制信号(SE信号或SW信号)为低电平时，信号传输门323开启，信号Rx经信号传输门323输出给触控电极。当充电控制信号为高电平时，信号传输门323关闭，触控电极的电压维持不变。
此处，信号Rx为具有第一电压或第二电压的电压信号。

[0050] 截止单元33用于控制主充电控制路径的导通与关闭。当某一行的触控电极被充电为第二电压时，位于前面一行的触控电极所对应的驱动电路的截止单元33将关闭该驱动电路的主充电控制路径。具体地，如图5所示，截止单元33包含一个第三开关元件331，该第三开关元件331串联接于锁存同步单元34与输出单元32之间，即其信号输入端接锁存同步单元34的输出端，其信号输出端接输出单元32的控制信号输入端，该第三开关元件331提供第一充电控制信号SE信号到输出单元32的传输路径。

[0051] 进一步地，第三开关元件331的控制端与下一级驱动电路的输出单元的输出端连接。即，位于第n行的第三开关元件331由第n+1行的触控电极所对应的驱动电路的输出信号Out[n+1]控制。当Out[n+1]为高电平时，SE信号到输出单元32的传输路径导通，在SE信号的作用下，输出单元32输出第二电压为该行触控电极进行充电。当Out[n+1]为低电平时，SE信号到输出单元32的传输路径关闭，该行触控电极不能被充电，维持为第一电压。通过截止单元33的阻断作用，可以使第[n+1]行触控电极区块与第[n]行触控电极区块所对应的显示画面表现出不同，并可以籍此进一步确定短路缺陷的位置。

[0052] 在本申请实施例的缺陷检测装置中，各行驱动电路30的连接方式如图3所示，相应于每行触控电极设置一个驱动电路30，各驱动电路30的输出单元32的输出信号反馈到位于其前面一行的驱动电路30的截止单元33的控制输入端，各锁存同步单元34的输出端分别与位于其后面一行的锁存同步单元34的输入端相连接。各行触控电极对应的驱动电路的锁存同步单元34均连接时钟信号CK。各驱动电路30的预充单元31的控制端与信号输入端、各驱动电路30的锁存同步单元34的异步复位端RE分别并接在一起。

[0053] 本申请实施例的缺陷检测装置能够实现以下功能，为各触控电极同时预置第一电压，为各触控电极逐行施加第二电压。通过初始时刻的触发信号ST[0]逐行启动各驱动电路进行检测。当由于短路缺陷致使位于后面行的触控电极先于其前面的触控电极被充电为第二电压时，关闭前一行触控电极的主充电控制路径，使其保持为第一电压。下面结合图6的时序图详细说明上述过程。

[0054] 首先，需要先对驱动电路30进行预充电以开启各行触控电极的主充电控制路径。通过GAS信号的高电平开启第四开关元件311，期间使SW信号保持低电平，进而使信号传输门323导通，Rx信号通过信号传输门323输出，并对由信号传输门323驱动的触控电极进行充电。在SW信号的低电平期间使Rx信号为高电平，可以使各行触控电极均充电到高电平，如图
6中的Out[1]、Out[2]及Out[3]所示。由于各触控电极的电压均为高电平，所以每一行的第三开关元件331均被开启，即所有触控电极的主充电控制路径均处于导通的状态。

[0055] 然后，将信号传输门323调整为稳定的关闭状态。分为两步，在第四开关元件311开启期间，先使SW信号变为高电平来关闭信号传输门323，再通过负脉冲复位信号RE将锁存同步单元34复位。VGH高电平信号使各锁存同步单元34的输出端均为低电平，如图6中的ST[1]和ST[2]所示。ST[1]和ST[2]通过截止单元33传输到输出单元32的控制信号输入端，使信号传输门323关闭，因此，在GAS回到低电平后，信号传输门323仍然可以处于稳定的关闭状态。

[0056] 接下来，通过时钟信号CK的高低信号分别控制相邻两级的信号传输，从而逐级使每行触控电极充到第二电压。

[0057] 从上述工作过程可以看出，该缺陷监测装置无需复杂的扫描方式，只需进行相应的初始设置，就可以在触发信号和时钟信号的作用下对触控电极的缺陷进行检测，测试信号简单易实施，可靠性更高。

[0058] 利用上述自电容触控面板的缺陷监测装置进行缺陷检测的方法如图7所示，该方法包括以下步骤：

[0059] 步骤S1：将自电容触控面板区域内的各像素电极充电到第三电压。

[0060] 步骤S2：利用预充单元31将各触控电极同时充电到第一电压以开启各触控电极的主充电控制路径。

[0061] 步骤S3：利用锁存同步单元34将各触控电极逐行充电到第二电压。

[0062] 步骤S4：根据各行触控电极区块所对应的显示画面来判断是否存在短路缺陷。具体地：

[0063] 首先，通过自电电触控操作区域内的所有数据线(data线)将该区域内的各像素电极充电到第三电压，例如4.5V。然后，再将各触控电极充电到第一电压，第一电压可以与第三电压相等，即第一电压也取为4.5V。对像素电极的充电可以通过液晶显示面板的驱动电路完成，对触控电极的充电则可以通过上述的缺陷监测装置的预充电时序完成。由于触控电极与公共电极层同层设置，因此当像素电极与触控电极所具有的电压相等时，IPS液晶显示器中与各行触控电极区块所对应的初始画面显示为黑色。进一步地，在第一电压的作用下，各行触控电极的主充电控制路径均被开启。

[0064] 接下来，开始逐行对各触控电极施加第二电压，例如0V，在没有被充电之前各像素电极仍维持在第三电压，上述过程可以通过缺陷监测装置在t时刻之后的检测时序完成。由于各个驱动电路的主充电控制路径均处于开启状态，因此各行触控电极可以被依次充电到0V后，其对应的区块显示的画面将变成白色画面。若有不同行的触控电极与信号线之间发生短路缺陷，则可以根据显示画面发生变化的情况来确定缺陷的位置。

[0065] 具体的，当某行或某几行触控电极区块所对应的画面未显示预设的画面时，则判断为该行触控电极与其前面至少一行和/或后面一行触控电极之间存在短路缺陷。举例而言，假设位于第1行的触控电极的信号线与位于第4行的触控电极发生短路，那么在给第1行触控电极充电时会同时给第4行的触控电极充电。而当第4行的触控电极被充电到0V后，将导致第3行触控电极的主充电控制路径被关闭，因此，第3行触控电极就不能被充电到指定的0V，与该第3行触控电极区块所对应的画面仍保持为黑色，进而根据上述画面的显示情况，可以确定第4行可能与第1行、第2行或第3行中的某一行或某几行触控电极(或触控电极的信号线)发生了短路。

[0066] 再例如，当短路缺陷存在于第3行触控电极与第4行触控电极之间时，第3行触控电极将与第4行触控电极同时开始充电，当第4行触控电极的电压增加至一定值时将通过第3行的截止单元33关闭第3行触控电极的主充电控制路径，而此时第3行触控电极还未被充电到设定的第二电压，因此第3行触控电极对应的区块会显示出介于白色画面和黑色画面之间的灰色画面，即可以判断在相邻的两行之间存在缺陷。

[0067] 需要注意的是，在确定上述缺陷发生的范围后，具体是哪几行触控电极(或触控电极与触控电极的信号线)之间发生了短路，可以在已经确定的范围内进行进一步的检测以消除缺陷。

[0068] 还需要注意的是，在上述实施例中，为了便于操作，分别将第一电压与第三电压取为4.5V，将第二电压取为0V，这样画面的区别更显著，有利于观测到画面之间的区别。当然也可以将第一电压、第二电压与第三电压取为其他设定的值，只要保证能够通过第一电压和第二电压的值控制主充电控制路径的导通与关闭即可。还可以将第一电压与第三电压取为不同的值，均可以用于实现本发明。

[0069] 虽然本发明所揭露的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。