一种快速筛检金属件尺寸缺陷的方法及装置

摘要

本发明公开了一种快速筛检金属件尺寸缺陷的方法及装置，所述方法是利用金属件的导电性，通过金属件与检测金属浮动触头、指示灯、电源及检测平台之间能否构成电路回路使指示灯点亮进行直观判断是否存在尺寸缺陷，所述尺寸缺陷包括平面度缺陷和槽/孔高度尺寸缺陷。所述装置包括底座、导电金属平台、平面度检测金属浮动触头、高度检测金属浮动触头、单色指示灯、双色指示灯、弹簧、导电金属片、限位金属触头和电源。使用本发明所述方法和装置，只需将待检金属件放置在检测区，通过观察指示灯颜色的变化，即可直观判断待检金属件的平面度、高度尺寸是否存在缺陷，可实现对大批量金属件的尺寸缺陷进行快速筛检。

权利要求

1.一种快速筛检金属件尺寸缺陷的装置，其特征在于：包括底座和导电金属平台，在所述导电金属平台上设有检测区，在所述检测区内设有若干平面度检测金属浮动触头和若干高度检测金属浮动触头，在位于检测区外周的导电金属平台上设有若干单色指示灯和若干双色指示灯；所述平面度检测金属浮动触头和高度检测金属浮动触头均绝缘穿设在检测区内的导电金属平台上，且在其位于导电金属平台下方的部位上均套设有弹簧，所述弹簧的底端均与设在底座表面上的导电金属片相抵触；其中，在位于所述高度检测金属浮动触头正下方的导电金属片上开设有穿孔，在所述底座上开设有与所述穿孔相连通的螺孔，在所述螺孔内设有限位金属触头，所述高度检测金属浮动触头能穿过穿孔与限位金属触头相抵触；并且，位于平面度检测金属浮动触头正下方的导电金属片通过金属导线分别与一个单色指示灯电连接，位于同一个高度检测金属浮动触头正下方的导电金属片和限位金属触头分别通过金属导线与同一个双色指示灯电连接，所述单色指示灯和双色指示灯均通过金属导线与电源的正极电连接，所述电源的负极通过金属导线与导电金属平台电连接。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：在自然状态下，所述平面度检测金属浮动触头的最高点位于待检金属件平面度的上限位置，所述平面度检测金属浮动触头的下端距离导电金属片的间距值为待检金属件平面度的最大允许误差值。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：在自然状态下，所述高度检测金属浮动触头的最高点位于待检金属件待测点高度的上限位置，所述高度检测金属浮动触头的下端距离限位金属触头顶端的间距值为待检金属件待测点高度的最大允许上限误差值与最大允许下限误差值之和。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：所述平面度检测金属浮动触头和高度检测金属浮动触头均包括上部、中部和下部，且位于上部与下部之间的中部形成凸台。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于：在所述上部与导电金属平台的接触面间设有绝缘套，在所述中部与导电金属平台的接触面间设有绝缘垫。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：所述限位金属触头通过螺纹连接设置在所述螺孔内。

7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：所述单色指示灯和双色指示灯均为LED灯。

说明书

一种快速筛检金属件尺寸缺陷的方法及装置

技术领域

[0001] 本发明是涉及一种快速筛检金属件尺寸缺陷的方法及装置，属于质量控制技术领域。

背景技术

[0002] 由于金属件都是通过多道成型工序加工而成，在加工成型中，容易形成向外的凸起或向内的凹陷等变形情况，以致会影响金属件的装配性能和使用性能，因此，为了避免影响金属件的装配性能和使用性能，需要对所加工的金属件的平面度、凹槽、孔等高度尺寸进行缺陷筛检，以及时剔除不良产品。

[0003] 目前，实现金属件尺寸检测通常采用如下方法：

[0004] 1、三次元量测仪，其基本原理就是通过探测传感器(探头)与测量空间轴线运动的配合，对被测几何元素进行离散的空间点位置的获取，然后通过一定的数学计算，完成对所测的点(点群)的分析拟合，最终还原出被测的几何元素，并在此基础上计算其与理论值之间的偏差。虽然这种检测方法的精度非常高，但存在检测效率低、检测成本高等缺陷，不适用于批量化检测，只适用于抽检，以致不能满足批量化生产高精度金属件的质检要求；

[0005] 2、采用激光感应器检测，通过探针组件的多次移动以检测产品各点，这种检测方法不仅存在效率低、检测精度不能调节等缺陷，而且结构复杂、成本高、稳定度不足、容易受环境因素影响，因此，此检测方法也不适用于批量化生产高精度金属件的质检要求。

发明内容

[0006] 针对现有技术存在的上述问题，本发明的目的是提供一种快速筛检金属件尺寸缺陷的方法及装置，以实现对所加工金属件的尺寸缺陷进行批量化筛检，保证所出售的金属件的品质能满足高精度装配要求。

[0007] 为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

[0008] 一种快速筛检金属件尺寸缺陷的方法，是利用金属件的导电性，通过金属件与检测金属浮动触头、指示灯、电源及检测平台之间能否构成电路回路使指示灯点亮进行直观判断是否存在尺寸缺陷，所述尺寸缺陷包括平面度缺陷和槽/孔高度尺寸缺陷。

[0009] 一种快速筛检金属件尺寸缺陷的装置，包括底座和导电金属平台，在所述导电金属平台上设有检测区，在所述检测区内设有若干平面度检测金属浮动触头和若干高度检测金属浮动触头，在位于检测区外周的导电金属平台上设有若干单色指示灯和若干双色指示灯；所述平面度检测金属浮动触头和高度检测金属浮动触头均绝缘穿设在检测区内的导电金属平台上，且均在位于导电金属平台下方的部位上套设有弹簧，所述弹簧的底端均与设在底座表面上的导电金属片相抵触；其中，在位于所述高度检测金属浮动触头正下方的导电金属片上均开设有穿孔，在所述底座上开设有与所述穿孔相连通的螺孔，在所述螺孔内设有限位金属触头，所述高度检测金属浮动触头能穿过穿孔与限位金属触头相抵触；并且，位于平面度检测金属浮动触头正下方的导电金属片通过金属导线分别与一个单色指示灯电连接，位于同一个高度检测金属浮动触头正下方的导电金属片和限位金属触头分别通过金属导线与同一个双色指示灯电连接，所述单色指示灯和双色指示灯均通过金属导线与电源的正极电连接，所述电源的负极通过金属导线与导电金属平台电连接。

[0010] 作为一种实施方案，在自然状态下，所述平面度检测金属浮动触头的最高点位于待检金属件平面度的上限位置，所述平面度检测金属浮动触头的下端距离导电金属片的间距值为待检金属件平面度的最大允许误差值。

[0011] 作为一种实施方案，在自然状态下，所述高度检测金属浮动触头的最高点位于待检金属件高度的上限位置，所述高度检测金属浮动触头的下端距离限位金属触头顶端的间距值为待检金属件高度的最大允许上限误差值与最大允许下限误差值之和。

[0012] 作为进一步实施方案，所述平面度检测金属浮动触头和高度检测金属浮动触头均包括上部、中部和下部，且位于上部与下部之间的中部形成凸台，从而达到对所述弹簧的限位。

[0013] 作为优选方案，在所述上部与导电金属平台的接触面间设有绝缘套，在所述中部与导电金属平台的接触面间设有绝缘垫。

[0014] 作为一种实施方案，所述限位金属触头通过螺纹连接设置在所述螺孔内。

[0015] 作为优选方案，所述单色指示灯和双色指示灯均为LED灯。

[0016] 相较于现有技术，本发明的有益技术效果在于：

[0017] 使用本发明所述方法和装置，只需将待检金属件放置在检测区，通过观察指示灯颜色的变化，即可直观判断待检金属件的平面度、高度尺寸是否存在缺陷，不仅操作简单、快速，而且结构简单、受外界因素影响小、检测结果准确可靠、检测精度可控；因此，本发明可实现对大批量金属件的尺寸缺陷进行快速筛检，以保证所出售的金属件的品质能满足高精度装配要求，相对于现有技术具有明显的工业应用价值和显著性进步。

附图说明

[0018] 图1为实施例提供的一种快速筛检金属件尺寸缺陷的装置的结构示意图；

[0019] 图2为图1中A处的局部放大图；

[0020] 图3为图1中B处的局部放大图。

[0021] 图中标号示意如下：1、底座；2、导电金属平台；21、检测区；3、平面度金属浮动触头；31、上部；32、中部；33、下部；4、高度金属浮动触头；41、上部；42、中部；43、下部；5、单色指示灯；6、双色指示灯；7、弹簧；8、导电金属片；81、穿孔；9、电源；10、螺孔；11、限位金属触头；12、金属件；13、绝缘套；14、绝缘垫。

具体实施方式

[0022] 以下结合附图和具体实施例，对本发明的技术方案做进一步清楚、完整地描述。

[0023] 实施例

[0024] 结合图1至图3所示：本实施例提供的一种快速筛检金属件尺寸缺陷的装置，包括底座1和导电金属平台2，在所述导电金属平台2上设有检测区21，在所述检测区21内设有若干平面度检测金属浮动触头3和若干高度检测金属浮动触头4；在位于检测区21外周的导电金属平台2上设有若干单色指示灯5和若干双色指示灯6；所述平面度检测金属浮动触头3和高度检测金属浮动触头4均绝缘穿设在检测区21内的导电金属平台2上，且均在位于导电金属平台2下方的部位上套设有弹簧7，所述弹簧7的底端均与设在底座1表面上的导电金属片8相抵触；其中，在位于所述高度检测金属浮动触头4正下方的导电金属片8上均开设有穿孔
81，在所述底座1上开设有与所述穿孔81相连通的螺孔10，在所述螺孔10内设有限位金属触头11，所述高度检测金属浮动触头4能穿过穿孔81与限位金属触头11相抵触；并且，位于平面度检测金属浮动触头3正下方的导电金属片8通过金属导线分别与一个单色指示灯5电连接，位于同一个高度检测金属浮动触头4正下方的导电金属片8和限位金属触头11分别通过金属导线与同一个双色指示灯6电连接，所述单色指示灯5和双色指示灯6均通过金属导线与电源9的正极电连接，所述电源9的负极通过金属导线与导电金属平台2电连接。

[0025] 在自然状态下：所述平面度检测金属浮动触头3的最高点位于待检金属件12平面度的上限位置，所述平面度检测金属浮动触头3的下端距离导电金属片8的间距值为待检金属件12平面度的最大允许误差值；所述高度检测金属浮动触头4的最高点位于待检金属件12待测点高度的上限位置，所述高度检测金属浮动触头4的下端距离限位金属触头11顶端的间距值为待检金属件12待测点高度的最大允许上限误差值与最大允许下限误差值之和。

[0026] 作为优选方案：所述平面度检测金属浮动触头3和高度检测金属浮动触头4均包括上部31/41、中部32/42和下部33/43，且位于上部31/41与下部33/43之间的中部32/42形成凸台，从而达到对所述弹簧7的限位。在所述上部31/41与导电金属平台2的接触面间设有绝缘套13，在所述中部32/42与导电金属平台2的接触面间设有绝缘垫14，以避免形成短路，影响测试准确性。所述限位金属触头11通过螺纹连接设置在所述螺孔10内，以方便安装和调节限位金属触头11的位置。所述单色指示灯5和双色指示灯6均选用LED灯，以实现节能和延长使用寿命。

[0027] 本发明所述装置的工作原理如下：

[0028] 1、平面度的检测：由于在自然状态下，所述平面度检测金属浮动触头3的最高点位于待检金属件12平面度的上限位置，所述平面度检测金属浮动触头3的下端距离导电金属片8的间距值为待检金属件12平面度的最大允许误差值；因此，如果待测面平面度在规定的误差范围内，则当将待检金属件12放置在检测区21上时，待测面会触碰到对应位置的平面度检测金属浮动触头3的最高点，从而使金属件12与平面度检测金属浮动触头3、弹簧7、导电金属片8、单色指示灯5、电源9及导电金属平台2之间构成导通回路，使得单色指示灯5点亮，表示所检测面的平面度符合要求；相反，如果待测面平面度超出了最大允许误差值，则当将待检金属件12放置在检测区21上时，待测面不能与其相应位置的平面度检测金属浮动触头3相接触，从而使金属件12与平面度检测金属浮动触头3、弹簧7、导电金属片8、单色指示灯5、电源9及导电金属平台2之间不能构成导通回路，使得单色指示灯5不亮，表示所检测面的平面度不符合要求。

[0029] 2、高度的检测：

[0030] 由于在自然状态下，所述高度检测金属浮动触头4的最高点位于待检金属件12待测点高度的上限位置，所述高度检测金属浮动触头4的下端距离限位金属触头11顶端的间距值为待检金属件12待测点高度的最大允许上限误差值与最大允许下限误差值之和；因此，如果待测点的高度超出最大允许上限位置，则当将待检金属件12放置在检测区21上时，待测点将无法触碰到高度检测金属浮动触头4的最高点，从而也就无法导通该高度检测金属浮动触头4与弹簧7、导电金属片8、双色指示灯6、电源9及导电金属平台2之间的电路回路，也就不能使该电路中的双色指示灯6点亮；如果待测点的高度在规定的误差范围内(即：最大允许上限与最大允许下限之间)，则当将待检金属件12放置在检测区21上时，待测点将触碰到高度检测金属浮动触头4的最高点，从而导通该高度检测金属浮动触头4与弹簧7、导电金属片8、双色指示灯6、电源9及导电金属平台2之间的电路回路，使该电路中的双色指示灯6以一种颜色点亮(例如：亮绿色)；如果待测点的高度超出最大允许下限位置，则当将待检金属件12放置在检测区21上时，待测点将下压高度检测金属浮动触头4的最高点，使高度检测金属浮动触头4的下端与限位金属触头11顶端相抵触，从而使该高度检测金属浮动触头4与限位金属触头11、双色指示灯6、电源9及导电金属平台2之间的电路回路导通，使该电路中的双色指示灯6以另一种颜色(例如：红色)点亮。

[0031] 实际使用时，可以根据待检金属件12的大小和形状调整平面度检测金属浮动触头3和高度检测金属浮动触头4的安装位置和数量。

[0032] 综上所述可见：使用本发明所述方法和装置，只需将待检金属件放置在检测区，通过观察指示灯颜色的变化，即可直观判断待检金属件的平面度、高度尺寸是否存在缺陷，不仅操作简单、快速，而且结构简单、受外界因素影响小、检测结果准确可靠、检测精度可控；因此，本发明可实现对大批量金属件的尺寸缺陷进行快速筛检，以保证所出售的金属件的品质能满足高精度装配要求，相对于现有技术具有明显的工业应用价值和显著性进步。

[0033] 最后有必要在此指出的是：以上所述仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。