试验装置以及其校正方法

摘要

本发明提供一种试验装置以及其校正方法。一种试验装置，其特征在于，具备：信号发生部，发生用于输出至被试验装置的第1信号；输出部，被连接到被试验装置；路径选择部，被设置在信号发生部和输出部之间，且对多个路径的其中一个进行选择；输入部，输入来自被试验装置的第2信号；信号接收部，接收第2信号；修正值计算部，计算用于校正路径选择部具有的各路径的损失的修正值；输出侧回送部，被设置在路径选择部和输出部之间，且被连接到将第1信号回送至信号接收部侧的回送路径或者输出部的其中一个；以及输入侧回送部，被设置在信号接收部和输入部之间，且被连接到回送路径以及输入部的其中一个。

权利要求

1.一种试验装置，其特征在于，具备：

信号发生部(20)，发生用于输出至被试验装置(11)的第1信号；

输出部(37)，被连接到所述被试验装置(11)；

路径选择部(30)，被设置在所述信号发生部(20)和所述输出部(37)之间，且对多个路径的其中一个进行选择；

输入部(38)，输入来自所述被试验装置(11)的第2信号；

信号接收部(23)，接收所述第2信号；

修正值计算部(6a)，计算用于校正所述路径选择部(30)具有的各路径的损失的修正值；

输出侧回送部(31)，被设置在所述路径选择部(30)和所述输出部(37)之间，且被连接到将所述第1信号回送至所述信号接收部(23)侧的回送路径(3a)或者所述输出部(37)的其中一个；以及输入侧回送部(34)，被设置在所述信号接收部(23)和所述输入部(38)之间，且被连接到所述回送路径(3a)以及所述输入部(38)的其中一个，其中，所述路径选择部(30)能够在输入输出间从多个路径之中选择其中一个路径，所述多个路径包括以下两种路径：包含用于放大所述第1信号的放大器(305)的至少一个放大器路径(30a、30b)，以及不包含所述放大器(305)的至少一个无放大器路径(30c)，所述修正值计算部(6a)在所述路径选择部(30)选择了所述无放大器路径(30c)时，在表示所述信号发生部(20)发生的所述第1信号的所述输出部(37)中的信号电平成为预先决定的校正的发送基准电平的状态的校正电平输出状态下，根据所述信号接收部(23)经由所述回送路径(3a)而接收到的信号电平与所述信号接收部(23)接收的每个路径的信号电平之差，计算用于校正所述路径选择部(30)具有的各路径的损失的修正值。

2.如权利要求1所述的试验装置，其特征在于，具备：

输入输出部(39)，从所述被试验装置(11)输入所述第2信号，并且将所述第1信号输出至所述被试验装置(11)；

分波部(36)，被连接到所述输入输出部(39)，且将从所述被试验装置(11)输入的信号和输出至所述被试验装置(11)的信号进行分波；

第1切换部(32)，被设置在所述输出侧回送部(31)和所述输出部(37)之间，且将所述第

1信号输出至所述输出部(37)以及所述分波部(36)的其中一个；以及第2切换部(33)，被设置在所述输入侧回送部(34)和所述输入部(38)之间，且从所述输入部(38)以及所述分波部(36)的其中一个输入所述第2信号。

3.如权利要求1所述的试验装置，其特征在于，

所述信号发生部(20)具备：

信号发生源(201)，发生信号；

电平可变部(203)，使所述信号发生源(201)发生的信号的电平可变；

第1电平调整部(206)，将第1控制信号输出至所述电平可变部(203)，以使相应于所述电平可变部(203)的输出电平，所述信号发生部(20)的输出电平成为预先决定的目标电平；

输出调整部(6b)，将第2控制信号送出至所述第1电平调整部(206)，使所述第1控制信号的电平可变；以及存储部(4)，在工厂出厂时，在所述校正电平输出状态下，存储所述第2控制信号的电平，其中，所述输出调整部(6b)在工厂出厂后，从所述存储部(4)中读出所述第2控制信号的电平，设定到所述第1电平调整部(206)。

4.如权利要求1所述的试验装置，其特征在于，具备：

发送侧出厂时信号电平存储部(4)，在工厂出厂时，在所述校正电平输出状态下，存储所述路径选择部(30)选择了包含1个放大器(305)的放大器路径(30a、30b)的情况下的所述信号接收部(23)中的出厂时信号电平，其中，所述修正值计算部(6a)在工厂出厂后，在所述校正电平输出状态下，将所述路径选择部(30)选择了包含所述1个放大器(305)的放大器路径(30a、30b)的情况下的所述信号接收部(23)中的出厂后信号电平与所述出厂时信号电平之差量，设为用于校正包含所述1个放大器(305)的放大器路径(30a、30b)的电平变动的修正值。

5.如权利要求1所述的试验装置，其特征在于，

具备权利要求1所述的所述路径选择部(30)作为第1路径选择部(30)，且具备：第2路径选择部(35)，被设置在所述信号接收部(23)和所述输入部(38)之间，且从多个路径之中选择其中一个路径，所述多个路径包括以下两种路径：包含用于放大所述第2信号的放大器(353)的至少一个放大器路径(35a、35b)以及不包含所述放大器(353)的至少一个无放大器路径(35c)，其中，在所述校正电平输出状态下，所述第2路径选择部(35)选择所述无放大器路径(35c)，所述修正值计算部(6a)根据所述信号接收部(23)经由所述回送路径(3a)而接收到的信号电平与所述信号接收部(23)接收的每个路径的信号电平之差，计算用于校正所述第

2路径选择部(35)具有的各路径的损失的修正值。

6.如权利要求5所述的试验装置，其特征在于，

具备权利要求1所述的所述输出侧回送部(31)、所述输入侧回送部(34)以及所述回送路径(3a)分别作为第1输出侧回送部(31)、第1输入侧回送部(34)以及第1回送路径(3a)，且具备：第2输出侧回送部(21)，被设置在所述信号发生部(20)和所述第1路径选择部(30)之间，且被连接到将所述第1信号回送至所述信号接收部(23)侧的第2回送路径(2a)以及所述第1路径选择部(30)的其中一个；

第2输入侧回送部(22)，被设置在所述信号接收部(23)和所述第2路径选择部(35)之间，且被连接到所述第2回送路径(2a)以及所述第2路径选择部(35)的其中一个；以及存储部(4)，在工厂出厂时，在所述校正电平输出状态下，存储所述信号接收部(23)经由所述第2回送路径(2a)而接收到的信号电平，其中，在工厂出厂后，在所述校正电平输出状态下，所述修正值计算部(6a)将所述信号接收部(23)经由所述第2回送路径(2a)而接收到的工厂出厂后信号电平与所述存储部(4)存储的信号电平之差量，设为用于校正所述信号发生部(20)的电平变动的修正值。

7.如权利要求5所述的试验装置，其特征在于，具备：

接收侧出厂时信号电平存储部(4)，在工厂出厂时，在所述校正电平输出状态下，存储所述第2路径选择部(35)选择了包含1个放大器(353)的放大器路径(35a、35b)的情况下的所述信号接收部(23)中的出厂时信号电平，其中，在工厂出厂后，在所述校正电平输出状态下，所述修正值计算部(6a)将所述第2路径选择部(35)选择了包含所述1个放大器(353)的至少一个放大器路径(35a、35b)的情况下的所述信号接收部(23)中的出厂后信号电平与所述出厂时信号电平之差量，设为用于校正包含所述1个放大器(353)的至少一个放大器路径(35a、35b)的电平变动的修正值。

8.一种用于校正权利要求1所述的试验装置的校正方法，其特征在于，包含以下步骤：对所述路径选择部(30)设定所述无放大器路径(30c)的步骤；

在所述输出侧回送部(31)和所述输入侧回送部(34)之间设定所述回送路径(3a)的步骤；以及在所述校正电平输出状态下，基于所述信号接收部(23)经由所述回送路径(3a)而接收到的信号电平，计算用于校正所述路径选择部(30)具有的各路径的损失的修正值的修正值计算步骤。

9.一种用于校正权利要求5所述的试验装置的校正方法，其特征在于，包含以下步骤：对所述第1路径选择部以及所述第2路径选择部(30、35)设定所述无放大器路径(30c、

35c)的步骤；

在所述输出侧回送部(31)和所述输入侧回送部(34)之间设定所述回送路径(3a)的步骤；以及在所述校正电平输出状态下，基于所述信号接收部(23)经由所述回送路径(3a)而接收到的信号电平，计算用于校正所述第2路径选择部(35)具有的各路径的损失的修正值的修正值计算步骤。

说明书

试验装置以及其校正方法

[0001] 相关申请的交叉引用

[0002] 本申请基于并主张2014年9月17日提交的日本专利申请2014-189022号的优先权，其全部内容通过引用而合并于此。

技术领域

[0003] 本发明涉及对例如便携终端的电特性进行试验的试验装置以及其校正方法。

背景技术

[0004] 以往，作为这种试验装置已知例如，专利文献1(特开2003-18104号公报(日本))记载的移动终端试验系统。专利文献1记载的试验装置具备有：发生信号的信号发生部、切换该信号发生部和测定对象终端之间的路径的接口单元(IF单元)、在试验的实施之前代替测定对象终端而连接到IF单元的输出侧的校正用功率计(power meter)以及校正用接收机。

[0005] 根据该结构，以往的试验装置在试验的实施之前，使用校正用功率计以及校正用接收机，按每个路径来测定IF单元的输出，预先求出路径损失的校正值并且注册到校正表格，从而对实际的输出信号电平(level)进行修正。

[0006] 然而，在以往的试验装置中，例如，在具有单一或者少数的天线的测定对象终端的试验中，能够比较容易地求出校正值，但是，在对近年的CA(载波聚合(Carrier Aggregation))或MIMO(多输入多输出(Multiple Input M ultiple Output))技术进行试验的情况下，存在需要庞大的校正时间的课题。

[0007] 在CA或MlMO技术的试验中，需要用于合成发送信号的合成器或用于分配接收信号的分配器，相应于合成器或分配器的个数增加，信号发生部或信号接收部的个数增加。将以往的IF单元的结构作为基础，用于进行CA或MlMO技术的试验的发送侧的IF单元的结构成为图13～图15所示那样。图13是表示设置了2个信号发生部111a以及111b的情况下的IF单元110的结构的图。图14是表示设置了4个信号发生部121a～121d的情况下的IF单元120的结构的图。图15是表示设置了8个信号发生部131a～131h的情况下的I F单元130的结构的图。
如图13～图15所示那样，伴随信号发生部增加，IF单元的结构复杂化。

[0008] 在图13～图15中，IF单元110、120、130具备有：可变衰减器112、切换SW(开关)113、合成器114、放大器115。因此，若在IF单元中采用这些结构，则信号的电平损失变大，存在不满足试验对象机要求的试验装置的性能的问题。

[0009] 作为解决该问题的对策方法，进行以下考虑。

[0010] (1)设为在信号发生部能够进行大功率输出。

[0011] (2)在IF单元中具备放大器。

[0012] (3)在IF单元中具备放大器，且在IF单元中具备电平检测部而进行A LC(自动电平控制(Auto Level Control))，从而使试验装置的输出信号的电平精度(Level Accuracy)提高。

[0013] 关于(1)，通过信号发生部输出大功率，从而能够补偿IF单元的电平损失。可是，需要具备线性性能优秀的放大器，存在功率、安装面积、以及发热增加，设备的成本变高这样的问题。进而，伴随CA数或MlMO天线数的增加，上述问题变得更加显著。此外，由于没有考虑对试验装置的输入信号，因此，存在以下问题：相应于IF单元中的电平损失量，输入信号的SN比恶化。

[0014] 关于(2)，能够通过在IF单元中具备的放大器来补偿IF单元中的电平损失。可是，存在以下问题：通常放大器因经时变化或温度变化而引起的放大率的变动，导致输出以及输入的电平精度恶化。

[0015] 关于(3)，通过放大器补偿IF单元的电平损失，通过在IF单元中具备电平检测部，从而解决在(2)中成为问题的电平精度。可是，需要具备电平检测部的结构，产生以下问题：设备安装面积变大、设备的成本增加。该问题与信号发生部的数目成比例地恶化。

[0016] 如上所述，在现有技术中，信号发生部或信号接收部的个数增加，用于传输信号的路径复杂化，因此，在CA或MlMO技术等的试验中，存在不能实现校正时间的缩短化的课题。

发明内容

[0017] 因此，本发明的目的在于，提供一种能够实现校正时间的缩短化的试验装置以及其校正方法。

[0018] 本发明的技术方案1所涉及的试验装置具备：

[0019] 信号发生部(20)，发生用于输出至被试验装置(11)的第1信号；

[0020] 输出部(37)，被连接到所述被试验装置(11)；

[0021] 路径选择部(30)，被设置在所述信号发生部(20)和所述输出部(37)之间，且对多个路径的其中一个进行选择；

[0022] 输入部(38)，输入来自所述被试验装置(11)的第2信号；

[0023] 信号接收部(23)，接收所述第2信号；

[0024] 修正值计算部(6a)，计算用于校正所述路径选择部(30)具有的各路径的损失的修正值；

[0025] 输出侧回送部(31)，被设置在所述路径选择部(30)和所述输出部(37)之间，且被连接到将所述第1信号回送(loop back)至所述信号接收部(23)侧的回送路径(3a)或者所述输出部(37)的其中一个；以及

[0026] 输入侧回送部(34)，被设置在所述信号接收部(23)和所述输入部(38)之间，且被连接到所述回送路径(3a)以及所述输入部(38)的其中一个，

[0027] 其中，所述路径选择部(30)能够在输入输出间选择包含用于放大所述第1信号的放大器(305)的至少一个放大器路径(30a、30b)以及不包含所述放大器(305)的至少一个无放大器路径(30c)之中的其中一个路径，

[0028] 所述修正值计算部(6a)在所述路径选择部(30)选择了所述无放大器路径(30c)时，在表示所述信号发生部(20)发生的所述第1信号的所述输出部(37)中的信号电平成为预先决定的校正的发送基准电平的状态的校正电平输出状态下，基于所述信号接收部(23)经由所述回送路径(3a)而接收到的信号电平，计算用于校正所述路径选择部(30)具有的各路径的损失的修正值。

[0029] 根据该结构，在本发明的技术方案1所涉及的试验装置中，修正值计算部基于在校正电平输出状态下信号接收部经由回送路径而接收到的信号电平，计算用于校正路径选择部具有的各路径的损失的修正值，因此，能够实现校正时间的缩短化。

[0030] 在本发明的技术方案2所涉及的试验装置中，提供一种如下的技术方案1所涉及的试验装置，

[0031] 所述试验装置具备：

[0032] 输入输出部(39)，从所述被试验装置(11)输入所述第2信号，并且将所述第1信号输出至所述被试验装置(11)；

[0033] 分波部(36)，被连接到所述输入输出部(39)，且将从所述被试验装置(11)输入的信号和输出至所述被试验装置(11)的信号进行分波；

[0034] 第1切换部(32)，被设置在所述输出侧回送部(31)和所述输出部(37)之间，且将所述第1信号输出至所述输出部(37)以及所述分波部(36)的其中一个；以及

[0035] 第2切换部(33)，被设置在所述输入侧回送部(34)和所述输入部(38)之间，且从所述输入部(38)以及所述分波部(36)的其中一个输入所述第2信号。

[0036] 根据该结构，不论被试验装置是单向(simplex)通信或者双工(duplex)通信的哪一个的对应机种，本发明的技术方案2所涉及的试验装置都能够实现校正时间的缩短化。

[0037] 在本发明的技术方案3所涉及的试验装置中，提供一种如下的技术方案1所涉及的试验装置，

[0038] 所述信号发生部(20)具备：

[0039] 信号发生源(201)，发生信号；

[0040] 电平可变部(203)，使所述信号发生源(201)发生的信号的电平可变；

[0041] 第1电平调整部(206)，将第1控制信号输出至所述电平可变部(203)，以使相应于所述电平可变部(203)的输出电平，所述信号发生部(20)的输出电平成为预先决定的目标电平；

[0042] 输出调整部(6b)，将第2控制信号送出至所述第1电平调整部(206)，使所述第1控制信号的电平可变；以及

[0043] 存储部(4)，在工厂出厂时，在所述校正电平输出状态下，存储所述第2控制信号的电平，

[0044] 其中，所述输出调整部(6b)在工厂出厂后，从所述存储部(4)中读出所述第2控制信号的电平，设定到所述第1电平调整部(206)。

[0045] 根据该结构，本发明的技术方案3所涉及的试验装置能够校正信号发生部的输出中的由经时或温度变化引起的电平变动，能够得到与工厂出厂时同等的信号电平。

[0046] 在本发明的技术方案4所涉及的试验装置中，还具备发送侧出厂时信号电平存储部，

[0047] 即提供一种如下的技术方案1所涉及的试验装置，

[0048] 具备发送侧出厂时信号电平存储部(4)，在工厂出厂时，在所述校正电平输出状态下，存储所述路径选择部(30)选择了包含1个放大器(305)的放大器路径(30a、30b)的情况下的所述信号接收部(23)中的出厂时信号电平，

[0049] 其中，所述修正值计算部(6a)在工厂出厂后，在所述校正电平输出状态下，将所述路径选择部(30)选择了包含所述1个放大器(305)的放大器路径(30a、30b)的情况下的所述信号接收部(23)中的出厂后信号电平与所述出厂时信号电平之差量，设为用于校正包含所述1个放大器(305)的放大器路径(30a、30b)的电平变动的修正值。

[0050] 根据该结构，本发明的技术方案4所涉及的试验装置能够校正路径选择部的放大器的由经时或温度变化引起的电平变动，能够得到与工厂出厂时同等的信号电平。

[0051] 在本发明的技术方案5所涉及的试验装置中，提供一种如下的技术方案1所涉及的试验装置，

[0052] 具备技术方案1所述的所述路径选择部(30)作为第1路径选择部(30)，[0053] 且具备：第2路径选择部(35)，被设置在所述信号接收部(23)和所述输入部(38)之间，且选择包含用于放大所述第2信号的放大器(353)的至少一个放大器路径(35a、35b)以及不包含所述放大器(353)的至少一个无放大器路径(35c)之中的其中一个路径，[0054] 其中，在所述校正电平输出状态下，所述第2路径选择部(35)选择所述无放大器路径(35c)，所述修正值计算部(6a)基于所述信号接收部(23)经由所述回送路径(3a)而接收到的信号电平，计算用于校正所述第2路径选择部(35)具有的各路径的损失的修正值。

[0055] 根据该结构，在本发明的技术方案5所涉及的试验装置中，在校正电平输出状态下，第2路径选择部选择无放大器路径，修正值计算部基于信号接收部经由回送路径而接收到的信号电平，计算用于校正第2路径选择部具有的各路径的损失的修正值，因此，能够实现校正时间的缩短化。

[0056] 在本发明的技术方案6所涉及的试验装置中，提供一种如下的技术方案5所涉及的试验装置，

[0057] 具备技术方案1所述的所述输出侧回送部(31)、所述输入侧回送部(34)以及所述回送路径(3a)分别作为第1输出侧回送部(31)、第1输入侧回送部(34)以及第1回送路径(3a)，

[0058] 且具备：第2输出侧回送部(21)，被设置在所述信号发生部(20)和所述第1路径选择部(30)之间，且被连接到将所述第1信号回送至所述信号接收部(23)侧的第2回送路径(2a)以及所述第1路径选择部(30)的其中一个；

[0059] 第2输入侧回送部(22)，被设置在所述信号接收部(23)和所述第2路径选择部(35)之间，且被连接到所述第2回送路径(2a)以及所述第2路径选择部(35)的其中一个；以及[0060] 存储部(4)，在工厂出厂时，在所述校正电平输出状态下，存储所述信号接收部(23)经由所述第2回送路径(2a)而接收到的信号电平，

[0061] 其中，在工厂出厂后，在所述校正电平输出状态下，所述修正值计算部(6a)将所述信号接收部(23)经由所述第2回送路径(2a)而接收到的工厂出厂后信号电平与所述存储部(4)存储的信号电平之差量，设为用于校正所述信号发生部(20)的电平变动的修正值。

[0062] 根据该结构，本发明的技术方案6所涉及的试验装置能够校正信号发生部的输出中的由经时或温度变化引起的电平变动，能够得到与工厂出厂时同等的信号电平。

[0063] 在本发明的技术方案7所涉及的试验装置中，还具备接收侧出厂时信号电平存储部(4)，

[0064] 即提供一种如下的技术方案5所涉及的试验装置，

[0065] 在工厂出厂时，在所述校正电平输出状态下，所述接收侧出厂时信号电平存储部(4)存储在所述第2路径选择部(35)选择了包含1个放大器(353)的放大器路径(35a、35b)的情况下的所述信号接收部(23)中的出厂时信号电平，

[0066] 在工厂出厂后，在所述校正电平输出状态下，所述修正值计算部(6a)将所述第2路径选择部(35)选择了包含所述1个放大器(353)的至少一个放大器路径(35a、35b)的情况下的所述信号接收部(23)中的出厂后信号电平与所述出厂时信号电平之差量，设为用于校正包含所述1个放大器(353)的至少一个放大器路径(35a、35b)的电平变动的修正值。

[0067] 根据该结构，本发明的技术方案7所涉及的试验装置能够校正第2路径选择部的放大器的由经时或温度变化引起的电平变动，能够得到与工厂出厂时同等的信号电平。

[0068] 本发明的技术方案8所涉及的试验装置的校正方法是用于校正技术方案1所述的试验装置的校正方法，

[0069] 所述校正方法包含以下步骤：

[0070] 对所述路径选择部(30)设定所述无放大器路径(30c)的步骤(S12)；

[0071] 在所述输出侧回送部(31)和所述输入侧回送部(34)之间设定所述回送路径(3a)的步骤(S15)；以及

[0072] 在所述校正电平输出状态下，基于所述信号接收部(23)经由所述回送路径(3a)而接收到的信号电平，计算用于校正所述路径选择部(30)具有的各路径的损失的修正值的修正值计算步骤(S18)。

[0073] 根据该结构，在本发明的技术方案8所涉及的试验装置的校正方法中，包含：在校正电平输出状态下，基于信号接收部经由回送路径而接收到的信号电平，计算用于校正路径选择部具有的各路径的损失的修正值的修正值计算步骤，因此，能够实现校正时间的缩短化。

[0074] 本发明的技术方案9所涉及的试验装置的校正方法是用于校正技术方案5所述的试验装置的校正方法，

[0075] 所述校正方法包含以下步骤：

[0076] 对所述第1路径选择部以及所述第2路径选择部(30、35)设定所述无放大器路径(30c、35c)的步骤(S32)；

[0077] 在所述输出侧回送部(31)和所述输入侧回送部(34)之间设定所述回送路径(3a)的步骤(S35)；

[0078] 在所述校正电平输出状态下，基于所述信号接收部(23)经由所述回送路径(3a)而接收到的信号电平，计算用于校正所述第2路径选择部(35)具有的各路径的损失的修正值的修正值计算步骤(S37)。

[0079] 根据该结构，在本发明的技术方案9所涉及的试验装置的校正方法中，包含：在校正电平输出状态下，第2路径选择部选择无放大器路径，基于信号接收部经由回送路径而接收到的信号电平，计算用于校正第2路径选择部具有的各路径的损失的修正值的修正值计算步骤，因此，能够实现校正时间的缩短化。

附图说明

[0080] 图1是本发明所涉及的试验装置的一实施方式中的方框结构图。

[0081] 图2是本发明所涉及的试验装置的一实施方式中的发送接收部以及FE部的方框结构图。

[0082] 图3是本发明所涉及的试验装置的一实施方式中的信号发生部的方框结构图。

[0083] 图4是本发明所涉及的试验装置的一实施方式中的发送FE部的方框结构图。

[0084] 图5是本发明所涉及的试验装置的一实施方式中的接收FE部的方框结构图。

[0085] 图6是本发明所涉及的试验装置的一实施方式中的工厂出厂时校正的主流程图。

[0086] 图7是本发明所涉及的试验装置的一实施方式中的ALC开启(ON)时的发送系统的工厂出厂时校正的流程图。

[0087] 图8是本发明所涉及的试验装置的一实施方式中的ALC关闭(OFF)时的发送系统的工厂出厂时校正的流程图。

[0088] 图9是本发明所涉及的试验装置的一实施方式中的接收系统的工厂出厂时校正的流程图。

[0089] 图10是本发明所涉及的试验装置的一实施方式中的工厂出厂后校正的主流程图。

[0090] 图11是本发明所涉及的试验装置的一实施方式中的发送系统的工厂出厂后校正的流程图。

[0091] 图12是本发明所涉及的试验装置的一实施方式中的接收系统的工厂出厂后校正的流程图。

[0092] 图13是在现有技术中，设置了2个信号发生部的情况下的IF单元的方框结构图。

[0093] 图14是在现有技术中，设置了4个信号发生部的情况下的IF单元的方框结构图。

[0094] 图15是在现有技术中，设置了8个信号发生部的情况下的IF单元的方框结构图。

具体实施方式

[0095] 以下，使用附图来说明本发明的实施方式。

[0096] [试验装置的结构]

[0097] 首先，说明本发明所涉及的试验装置的一实施方式中的结构。

[0098] 如图1所示那样，本实施方式中的试验装置1具备：发送接收部2、FE(前端(front end))部3、存储部4、操作部5、控制装置6、显示部7、输入输出端子8。试验装置1对DUT(被试验装置(Device Under Test))11进行试验。

[0099] 试验装置1包含微型计算机。微型计算机具备：未图示的CPU(中央处理单元(Central Processing Unit))、ROM(只读存储器(Read Only Memor y))、RAM(随机存取存储器(Random Access Memory))、连接各种接口的输入输出电路等。试验装置1通过执行在ROM中预先保存的控制程序，从而使微型计算机作为发送接收部2、FE(前端(front end))部3、存储部4、操作部5、控制装置6、显示部7而发挥作用。另外，关于发送接收部2以及FE部3的结构，在后面进行叙述。

[0100] 存储部4例如由硬盘驱动器构成。存储部4对发送接收部2在校正时取得的各数据进行存储。存储部4用于构成存储部件(存储部)、发送侧出厂时信号电平存储部件(发送侧出厂时信号电平存储部)、接收侧出厂时信号电平存储部件(接收侧出厂时信号电平存储部)。

[0101] 操作部5由如键盘、表盘或者鼠标那样的输入设备、对测定条件等进行显示的显示器、对这些进行控制的控制电路或软件等构成。试验者为了进行各试验条件的输入、显示部7的显示内容的设定等，对操作部5进行操作。

[0102] 控制装置6将信号从操作部5进行输入，对发送接收部2、FE部3、存储部4的动作进行控制。此外，控制装置6具备有：作为计算校正用的修正值的修正值计算部件(修正值计算部)的修正值计算部6a、和作为调整第1电平调整部206(后述)的输出电平的输出调整部件(输出调整部)的输出调整部6b。

[0103] 显示部7根据来自控制装置6的控制信号，显示校正时以及试验时的各种数据。

[0104] 在输入输出端子8中，与DUT11一并，适当地连接了功率计12、频谱分析器13、信号发生器(signal generator)14。

[0105] 另外，本发明所涉及的试验装置1可以通过使用了微型计算机的软件来实现功能，也可以通过硬件来实现功能，也可以组合软件和硬件而实现功能。

[0106] [发送接收部2的结构]

[0107] 接着，使用图2来说明发送接收部2的结构。

[0108] 发送接收部2具备有：作为信号发生部件(信号发生部)的信号发生部20(20a～20d)、作为第2输出侧回送部件(第2输出侧回送部)的发送LB(回送(loop back))切换部21、作为第2输入侧回送部件(第2输入侧回送部)的接收LB切换部22、作为信号接收部件(信号接收部)的信号接收部23(23a～23d)。此外，发送接收部2在发送LB切换部21和接收LB切换部22之间具备有回送路径2a。另外，在本实施方式中，将信号发生部20以及信号接收部23的个数设为各4个，但是，本发明并不限定于此。

[0109] 信号发生部20a基于来自控制装置6的输出调整部6b的控制信号，发生预定的信号(第1信号)。另外，信号发生部20b～20d是与信号发生部20a相同的结构，因此省略说明。

[0110] 具体而言，如图3所示那样，信号发生部20a具备有：信号发生源201、发送信号处理部202、作为电平可变部件(电平可变部)的可变衰减器203、放大器204、电平检测部205、作为第1输出控制部件(第1输出控制部)的第1电平调整部206、运算部207、第2电平调整部208、切换部209、控制电平监视器部210、输出端子211。信号发生部20a与控制装置6进行协作，实现以下状态：将从输出端子211输出的RF(无线频率(Radio Frequency))信号的信号电平自动地控制为一定值的状态(ALC(自动电平控制(Automa tic Level Control))开启(ON)状态)、未自动地进行控制的状态(ALC关闭(OFF)状态)。

[0111] 信号发生源201基于试验者对操作部5进行操作而输入了的信息，发生预定的信号，输出至发送信号处理部202。

[0112] 发送信号处理部202例如具备：基带调制部、正交调制器等，生成要输出至DUT11的RF信号。

[0113] 在可变衰减器203中，在ALC开启状态下来自运算部207的输出信号作为控制信号被输入，在ALC关闭状态下来自第2电平调整部208的输出信号作为控制信号被输入，根据该控制信号的电平(电压)，衰减量能够被改变。

[0114] 放大器204对可变衰减器203的输出信号电平进行放大，输出至电平检测部205以及输出端子211。

[0115] 电平检测部205例如由检波器构成，对放大器204的输出信号进行检波，输出至运算部207。

[0116] 第1电平调整部206例如由DAC(数模转换器(Digital to Analog Con verter))构成，且输出具有基于控制信号的电平的信号，其中，所述控制信号是在ALC开启状态下从输出调整部6b输入的数字值的控制信号。

[0117] 运算部207将电平检测部205的输出信号和第1电平调整部206的输出信号进行加法运算，将表示加法运算结果的信号输出至切换部209以及输出调整部6b。在此，输出调整部6b在ALC开启状态下，输出与来自运算部207的信号相应的控制信号，对第1电平调整部206的输出信号电平进行增减，将从输出端子211输出的信号电平控制为目标电平。

[0118] 第2电平调整部208例如由DAC构成，且输出具有基于控制信号的电平的信号，其中，所述控制信号是在ALC关闭状态下从输出调整部6b输入的数字值的控制信号。

[0119] 切换部209具有接点209a以及209b，对ALC开启状态和ALC关闭状态进行切换。切换部209在ALC开启状态下选择接点209a，在ALC关闭状态下选择接点209b。其结果，在ALC开启状态下可变衰减器203根据运算部207的输出信号而控制衰减量，在ALC关闭状态下可变衰减器203根据第2电平调整部208的输出信号而控制衰减量。

[0120] 控制电平监视器部210例如由ADC(模数转换器(Analog  to  Digital  C onverter))构成，对被输入至可变衰减器203的控制信号的电平进行监视，将表示该电平的数字值的信号输出至输出调整部6b。

[0121] 返回至图2，继续说明发送接收部2的结构。

[0122] 发送LB切换部21通过切换未图示的开关，从而将来自信号发生部20的信号输出至发送FE部30(后述)或者接收LB切换部22(经由回送路径2a)。另外，回送路径2a构成第2回送路径。

[0123] 接收LB切换部22通过切换未图示的开关，从而将来自发送LB切换部21(经由回送路径2a)或者接收FE部35(后述)的信号输出至信号接收部23。

[0124] 如上所述，发送接收部2具备有发送LB切换部21以及接收LB切换部22，因此，通过两者的内部开关的切换，信号接收部23a～23d能够分别经由回送路径2a而接收信号发生部20a～20d的输出信号。

[0125] 信号接收部23能够测定从接收LB切换部22输入的RF信号的电平。此外，信号接收部23例如具备正交解调器、基带解调部等，接收来自DUT11的RF信号(第2信号)并解调为基带信号。

[0126] [FE部3的结构]

[0127] 接着，说明FE部3的结构。FE部3具备有：发送FE部30、发送FEL B(前端回送)切换部31、作为第1切换部件(第1切换部)的发送切换部32、作为第2切换部件(第2切换部)的接收切换部33、接收FELB切换部34、接收FE部35、作为分波部件(分波部)的分波器36、作为输出部件(输出部)的输出端子37(37a～37d)、作为输入部件(输入部)的输入端子38(38a～
38d)、作为输入输出部件(输入输出部)的输入输出端子39(39a～39d)。此外，FE部3在发送FELB切换部31和接收FELB切换部34之间具备有回送路径3a。

[0128] 发送FE部30例如具有图4所示的结构。即，发送FE部30具备有：输入端子301(301a～301d)、可变衰减器302(302a、302b)、切换SW303(303a～303n)、合成器304(304a、304b)、放大器305(305a、305b)、输出端子307(307a～307d)。该发送FE部30用于构成路径选择部件(路径选择部)以及第1路径选择部件(第1路径选择部)。

[0129] 输入端子301a～301d分别经由发送LB切换部21而输入来自信号发生部20a～20d的信号。

[0130] 可变衰减器302a以及302b分别对输入端子301a以及301b输入的信号的信号电平进行衰减。

[0131] 切换SW303a～303n基于来自控制装置6的控制信号，对路径进行切换。另外，用于设定发送FE部30内的全部的路径的信息被存储在存储部4中。控制装置读出该信息，对切换SW303a～303n进行切换。

[0132] 合成器304a将输入端子301a以及301b输入的信号经由可变衰减器302a以及切换SW303a、和可变衰减器302b以及切换SW303b而进行合成。该合成器304a在对与例如通信标准LTE(长期演进(Long Term Evolution))-Advanced中的频率宽带化(CA：载波聚合)对应的DUT进行试验时被使用。合成器304b也与合成器304a是相同的。

[0133] 放大器305a以及305b以预定放大率来对输入信号进行放大。

[0134] 如图4所示那样，发送FE部30至少分别具有1个包含放大器的路径即放大器路径、和1个不包含放大器的路径即无放大器路径，通过切换SW303的切换，选择多个路径之中的其中一个。

[0135] 作为包含1个放大器的放大器路径，例如，存在：输入端子301a～可变衰减器302a～切换SW303a～合成器304a～切换SW303c～放大器305a～切换SW303d～切换SW303g～切换SW303e～切换SW303h～输出端子307a(放大器路径30a)。

[0136] 作为包含2个放大器的放大器路径，例如，对所述的包含1个放大器的放大器路径的切换SW303g进行切换，存在：切换SW303g～合成器304b～切换SW303i～放大器305b～切换SW303j～切换SW303m～切换SW303h～输出端子307a(放大器路径30b)。

[0137] 作为不包含放大器的无放大器路径，例如，存在：输入端子301a～可变衰减器302a～切换SW303a～切换SW303e～切换SW303h～输出端子307a(无放大器路径30c)。

[0138] 另外，虽然省略说明，但是，参照图4，可知通过切换SW303的切换，在输入端子301b和输出端子307b之间、输入端子301c和输出端子307c之间、输入端子301d和输出端子307d之间，也能够分别设定包含1个或者2个放大器的放大器路径或无放大器路径。

[0139] 返回至图2，发送FELB切换部31通过对未图示的开关进行切换，从而将来自发送FE部30的信号输出至发送切换部32或者接收FELB切换部34(经由回送路径3a)。该发送FELB切换部31用于构成输出侧回送部件(输出侧回送部)以及第1输出侧回送部件(第1输出侧回送部)。此外，回送路径3a用于构成第1回送路径。

[0140] 发送切换部32通过对未图示的开关进行切换，从而将来自发送FELB切换部31的信号输出至输出端子37或者分波器36。在此，在发送切换部32中，若DUT11是单向通信(单方向通信)的对应机种，则将来自发送FELB切换部31的信号输出至输出端子37，若DUT11是双工通信(双方向通信)的对应机种，则将来自发送FELB切换部31的信号经由分波器36而输出至输入输出端子39。

[0141] 接收切换部33通过对未图示的开关进行切换，从而将来自分波器36或者输入端子38的信号输出至接收FELB切换部34。在此，在接收切换部33中，若DUT11是单向通信的对应机种，则将来自输入端子38的信号输出至接收FELB切换部34，若DUT11是双工通信的对应机种，则将来自输入输出端子39的信号经由分波器36而输出至接收FELB切换部34。

[0142] 接收FELB切换部34通过对未图示的开关进行切换，从而将来自发送F ELB切换部31(经由回送路径3a)或者接收切换部33的信号输出至接收F E部35。该接收FELB切换部34用于构成输入侧回送部件(输入侧回送部)以及第1输入侧回送部件(第1输入侧回送部)。

[0143] 接收FE部35例如具有图5所示的结构。即，接收FE部35具备有：输入端子351(351a～351d)、切换SW352(352a～352i)、放大器353(353a、353b)、分配器354(354a)、输出端子355(355a～355d)。该接收FE部35用于构成第2路径选择部件(第2路径选择部)。

[0144] 输入端子351a～351d分别输入来自信号发生部20a～20d或者输入端子38a～38d的信号。

[0145] 切换SW352a～352i基于来自控制装置6的控制信号，对路径进行切换。另外，用于设定接收FE部35内的全部的路径的信息被存储在存储部4中，控制装置6读出该信息，对切换SW352a～352i进行切换。

[0146] 分配器354a将输入信号分配为2个。该分配器354a在对与例如通信标准LTE-Advanced中的频率宽带化对应的DUT进行试验时被使用。

[0147] 放大器353a以及353b以预定放大率来对输入信号进行放大。

[0148] 如图5所示那样，接收FE部35至少分别具有1个包含放大器的路径即放大器路径、和1个不包含放大器的路径即无放大器路径，通过切换SW352的切换，选择多个路径之中的其中一个。

[0149] 作为包含1个放大器的放大器路径，例如，存在：输入端子351a～切换S W352a～放大器353a～切换SW352b～切换SW352c～切换SW352d～切换SW352h～输出端子355a(放大器路径35a)。

[0150] 作为包含2个放大器的放大器路径，例如，对上述的包含1个放大器的放大器路径的切换SW352d进行切换，存在：切换SW352d～切换SW352e～切换SW352f～放大器353b～切换SW352g～分配器354a～切换SW352h～输出端子355a(放大器路径35b)。

[0151] 作为不包含放大器的无放大器路径，存在：输入端子351a～切换SW352a～切换SW352b～切换SW352c～切换SW352d～切换SW352h～输出端子355a(无放大器路径35c)。

[0152] 另外，虽然省略说明，但是，参照图5，可知通过切换SW352的切换，在输入端子351b和输出端子355b之间、输入端子351c和输出端子355c之间、输入端子351d和输出端子355d之间，也能够分别设定包含1个或者2个放大器的放大器路径或无放大器路径。

[0153] 返回至图2，分波器36在DUT11是双工通信的对应机种的情况下被使用。分波器36被连接到输入输出端子39，且对从DUT11输入的信号、和输出至DUT11的信号进行分波。

[0154] 输出端子37、输入端子38以及输入输出端子39之中的其中一个通过控制装置6的控制而被进行切换，被连接到输入输出端子8(参照图1)。

[0155] 另外，在图2中，说明了将发送接收部2和发送FE部3分离的结构，但是，也可以设为将它们进行了合体的结构。

[0156] [试验装置1的动作]

[0157] 接着，使用图6～图12，说明本实施方式中的试验装置1的动作。另外，在以下的说明中，将回送路径3a称为第1回送路径3a，将回送路径2a称为第2回送路径2a。

[0158] [试验装置1的工厂出厂时校正]

[0159] 图6是试验装置1的工厂出厂时校正的主流程图。如图6所示那样，试验装置1执行：在ALC开启时的发送系统的工厂出厂时校正(步骤S1)、和在ALC关闭时的发送系统的工厂出厂时校正(步骤S2)、接收系统的工厂出厂时校正(步骤S3)。

[0160] [发送系统的工厂出厂时校正]

[0161] 图7是在图6所示的步骤S1中被执行的在ALC开启时的发送系统的工厂出厂时校正的流程图。另外，在初始状态下，发送LB切换部21被连接到发送FE部30侧，发送FELB切换部31被连接到发送切换部32侧，发送切换部32被连接到输出端子37侧。

[0162] 将功率计12连接到试验装置1的输入输出端子8，控制装置6使切换部209选择接点209a而设为ALC开启状态(步骤S11)。

[0163] 控制装置6将发送FE部30内的路径设定为不包含放大器的无放大器路径(步骤S12)。具体而言，在图4中，例如，控制装置6对相应的切换SW进行切换，以使在传输信号发生部20a的输出信号的路径中，能够形成输入端子301a～可变衰减器302a～切换SW303a～切换SW303e～切换SW303h～输出端子307a的无放大器路径30c。信号发生部20b～20d也与信号发生部20a相同地设定。

[0164] 控制装置6使信号发生部20的信号发生源201发生信号，通过第1电平调整部206反复操作并调整可变衰减器203的衰减量，以使输出端子37的测定电平成为预先决定的校正的发送基准电平(TX_BASE_LEV)。另外，输出端子37的测定电平成为校正的发送基准电平(TX_BASE_LEV)的状态是本发明所涉及的校正电平输出状态。

[0165] 控制装置6将在输出端子37的测定电平成为校正的发送基准电平(TX_BASE_LEV)时的、对于第1电平调整部206的设定值(TX_ALC_ONDAC)的数据存储到存储部4中(步骤S13)。

[0166] 控制电平监视器部210读出在输出端子37的测定电平成为校正的发送基准电平(TX_BASE_LEV)时的可变衰减器203的控制电平，将该数据送出至控制装置6。控制装置6将此时的可变衰减器203的控制电平(TX_ALC_OFFDAC)的数据存储到存储部4中(步骤S14)。另外，以下的步骤S15～S19是使用了在输出端子37的测定电平成为校正的发送基准电平(TX_BASE_LEV)的状态下的信号发生部20的输出信号的处理。

[0167] 控制装置6对发送FELB切换部31以及接收FELB切换部34中包含的各切换SW进行切换，对第1回送路径3a进行设定，以使发送FELB切换部31的输出侧成为接收FELB切换部34，并且接收FELB切换部34的输入侧成为发送FELB切换部31(步骤S15)。

[0168] 控制装置6将接收FE部35内的路径设定为不包含放大器的无放大器路径(步骤S16)。具体而言，在图5中，例如，控制装置6对相应的切换SW进行切换，以使在传输信号发生部20a的输出信号的路径中，能够形成输入端子351a～切换SW352a～切换SW352b～切换SW352c～切换SW352d～切换S W352h～输出端子355a的无放大器路径35c。与信号发生部20b～20d有关的路径也与信号发生部20a相同地设定。

[0169] 信号接收部23对在步骤S16中设定的无放大器路径中的接收电平(TX_FELB_LEV)进行测定。该接收电平(TX_FELB_LEV)的数据通过控制装置6而被存储在存储部4中(步骤S17)。

[0170] 控制装置6适当地切换发送FE部30中包含的各切换SW，信号接收部23对发送FE部30的每个路径的接收电平进行测定，计算它们与接收电平(T X_FELB_LEV)的测定电平差(△TX_FELBx_LEV)。在此，x表示对每个路径预先设定的识别编号，若路径为k种，则x＝1～k。该测定电平差(△TX_F ELBx_LEV)的数据通过控制装置6而被存储到存储部4中(步骤S18)。使用所存储的测定电平差(△TX_FELBx_LEV)的数据而进行发送FE部30的每个路径的修正，则成为试验装置1的输入输出端子8中的校正。即，测定电平差(△TX_FELBx_LEV)是用于校正发送FE部30具有的各路径的损失差的修正值。

[0171] 控制装置6适当地切换发送FE部30中包含的各切换SW，依次设定仅通过1个放大器305的放大器路径。具体而言，在图4中，例如，控制装置6对相应的切换SW进行切换，以使在传输信号发生部20a的输出信号的路径中，能够形成输入端子301a～可变衰减器302a～切换SW303a～合成器304a～切换SW303c～放大器305a～切换SW303d～切换SW303g～切换SW303e～切换S W303h～输出端子307a的放大器路径30a。

[0172] 信号接收部23依次对仅通过1个放大器305的放大器路径的每一个，测定接收电平(TX_AMPn_LEV)。在此，n表示对每个放大器预先设定的识别编号，在图4所示的结构的情况下，由于放大器为3个，因此，n＝1～3。该接收电平(TX_AMPn_LEV)的数据通过控制装置6而被存储到存储部4中(步骤S19)。所存储的接收电平(TX_AMPn_LEV)的数据成为对放大器305的由经时间变化以及温度变动引起的电平变动进行修正时的基准值。

[0173] 图8是在图6所示的步骤S2中被执行的在ALC关闭时的发送系统的工厂出厂时校正的流程图。

[0174] 将频谱分析器13连接到试验装置1的输入输出端子8。控制装置6使切换部209选择接点209b而设为ALC关闭状态(步骤S21)。

[0175] 控制装置6将发送FE部30内的路径设定为不包含放大器的无放大器路径(步骤S22)。

[0176] 控制装置6测定在输出端子37的测定电平为校正的发送基准电平(TX_BASE_LEV)时的、频谱分析器13的测定电平(SPA_REF_LEV)(步骤S23)。

[0177] 控制装置6对一边将控制信号改变其电平一边输出至第2电平调整部208时的输出端子37的测定电平与测定电平(SPA_REF_LEV)的电平差(△S PA_REF_LEV)进行计算，并存储到存储部4中，其中，所述控制信号以预定比特单位在第2电平调整部208的可调整范围的下限至上限进行动作(步骤S24)。在此，作为预定比特单位，也可以是1比特单位，例如在通过10比特单位进行了简易化的测定之后对测定电平进行插值也能够得到1比特单位的结果。

[0178] 控制装置6根据在步骤S24中测定到的数据，制作表示相对于输出端子37中的输出电平的变化(△输出电平)的、至第2电平调整部208的控制信号的电平的变化的表格(OFFDAC_TABLE(TX_ALC_OFFDAC，△输出电平))(步骤S25)。

[0179] 代替频谱分析器13，将功率计12连接到试验装置1的输入输出端子8(步骤S26)。

[0180] 控制装置6将发送FE部30内的路径设定为不包含放大器的无放大器路径。接着，控制装置6对发送切换部32中包含的切换SW进行设定，以使发送切换部32的输出信号成为输出端子37侧，通过功率计12来测定输入输出端子8中的信号电平(TX_SPX)。

[0181] 控制装置6对发送切换部32中包含的切换SW进行设定，以使发送切换部32的输出信号成为分波器36侧。控制装置6通过功率计12来测定经由输入输出端子39从输入输出端子8被输出的信号电平(TX_DPX)。

[0182] 控制装置6对信号电平(TX_SPX)和信号电平(TX_DPX)的电平差(△TX_SPX_DPX)进行计算，并存储到存储部4中(步骤S27)。

[0183] [接收系统的工厂出厂时校正]

[0184] 图9是在图6所示的步骤S3中被执行的接收系统的工厂出厂时校正的流程图。另外，初始状态下，接收LB切换部22被连接到接收FE部35侧，接收FELB切换部34被连接到接收切换部33侧，接收切换部33被连接到输入端子38侧。

[0185] 将功率计12连接到试验装置1的输入输出端子8，控制装置6使切换部209选择接点209a而设为ALC开启状态(步骤S31)。

[0186] 控制装置6将发送FE部30内的路径以及接收FE部35内的路径，设定为不包含放大器的无放大器路径(步骤S32)。

[0187] 控制装置6使信号发生部20的信号发生源201发生信号，通过第1电平调整部206反复操作并调整可变衰减器203的衰减量，以使输出端子37的测定电平成为预先决定的校正的发送基准电平(TX_BASE_LEV)。

[0188] 控制装置6对发送LB切换部21以及接收LB切换部22中包含的各切换SW进行切换，对第2回送路径2a进行设定，以使发送LB切换部21的输出侧成为接收LB切换部22，并且接收LB切换部22的输入侧成为发送LB切换部21(步骤S33)。

[0189] 信号接收部23对上述路径结构中的接收电平(RX_ALC_LEV)进行测定。该接收电平(RX_ALC_LEV)的数据通过控制装置6而被存储到存储部4中(步骤S34)。

[0190] 控制装置6解除第2回送路径2a的设定，对第1回送路径3a进行设定(步骤S35)。即，控制装置6对发送LB切换部21以及接收LB切换部22中包含的各切换SW进行切换，进行设定以使发送LB切换部21的输出侧成为发送FE部30，进而进行设定以使接收LB切换部22的输入侧成为接收F E部35，从而解除第2回送路径2a的设定。此外，控制装置6对发送FELB切换部31以及接收FELB切换部34中包含的各切换SW进行切换，进行设定以使发送FELB切换部31的输出侧成为接收FELB切换部34，进而对第1回送路径3a进行设定以使接收FELB切换部34的输入侧成为发送FELB切换部31。

[0191] 信号接收部23对上述路径结构中的接收电平(RX_FELB_LEV)进行测定。该接收电平(RX_FELB_LEV)的数据通过控制装置6而被存储到存储部4中。(步骤S36)。

[0192] 控制装置6对接收FE部35中包含的各切换SW适当地进行切换，信号接收部23对接收FE部35的每个路径中的接收电平进行测定。计算每个路径的接收电平与接收电平(RX_FELB_LEV)的测定电平差(△RX_FELBx_LE V)。在此，x表示对每个路径预先设定的识别编号，若路径为k种类，则x＝1～k。该测定电平差(△RX_FELBx_LEV)的数据通过控制装置6而被存储到存储部4中(步骤S37)。

[0193] 信号接收部23依次对仅通过1个放大器353的放大器路径的每一个，测定接收电平(RX_AMPn_LEV)。在此，n表示对每个放大器预先设定的识别编号，在图5所示的结构的情况下，放大器为7个，因此，n＝1～7。该接收电平(RX_AMPn_LEV)的数据通过控制装置6而被存储到存储部4中(步骤S38)。

[0194] 将信号发生器14连接到试验装置1的输入输出端子8，控制装置6将输入输出端子8和输入端子38进行连接，设定为从输入端子38进行信号输入的状态(步骤S39)。信号发生器14的输出电平作为输出电平(RX_BASE_L EV)。

[0195] 控制装置6将接收FE部35内的路径，设定为不包含放大器的无放大器路径(步骤S40)。

[0196] 信号接收部23对上述路径结构中的接收电平(RX_BASE_LEV_SPX)进行测定。该接收电平(RX_BASE_LEV_SPX)的数据通过控制装置6而存储到存储部4中(步骤S41)。

[0197] 控制装置6对接收切换部33中包含的切换SW进行设定，以使接收切换部33的输入信号成为分波器36侧(步骤S42)，并且进行设定，以使经由输入输出端子8而从输入输出端子39输入来自信号发生器14的信号(步骤S43)。

[0198] 信号接收部23测定上述路径结构中的接收电平(RX_BASE_LEV_DP X)。该接收电平(RX_BASE_LEV_DPX)的数据通过控制装置6而被存储到存储部4中(步骤S44)。

[0199] [试验装置1的工厂出厂后校正]

[0200] 接着，使用图10～图12来说明用户实施的试验装置1的工厂出厂后校正。

[0201] 图10是试验装置1的工厂出厂后校正的主流程图。如图10所示那样，试验装置1进行发送系统的工厂出厂后校正(步骤S4)、接收系统的工厂出厂后校正(步骤S5)。

[0202] [发送系统的工厂出厂后校正]

[0203] 图11是在图10所示的步骤S4中被执行的发送系统的工厂出厂后校正的流程图。另外，初始状态下，发送LB切换部21被连接到发送FE部30侧，发送FELB切换部31被连接到发送切换部32侧，发送切换部32被连接到输出端子37侧。

[0204] 控制装置6的输出调整部6b使切换部209选择接点209a，设为ALC开启状态(步骤S51)。

[0205] 输出调整部6b从存储部4中读出设定值(TX_ALC_ONDAC)的数据(步骤S52)。

[0206] 输出调整部6将所读出的设定值(TX_ALC_ONDAC)的数据设定到第1电平调整部206(步骤S53)。

[0207] 控制电平监视器部210读出可变衰减器203的控制电平，将该数据输出至输出调整部6b。输出调整部6b将此时的可变衰减器203的控制电平(TX_ALC_OFFDAC)的数据存储到存储部4(步骤S54)。因此，能够修正(校正)信号发生部20的输出端子211中的由经时或温度变化引起的电平变动，能够得到与工厂出厂时同等的信号电平。

[0208] 信号接收部23依次对仅通过1个放大器305的放大器路径的每一个，测定接收电平(TX_AMPn_LEV2)。该接收电平(TX_AMPn_LEV2)的数据通过输出调整部6b而被存储到存储部4中(步骤S55)。

[0209] 控制装置6的修正值计算部6a从存储部4中读出接收电平(TX_AMPn_LEV)以及接收电平(TX_AMPn_LEV2)的数据，计算两者的差量(△TX_AMPn_LEV)，存储到存储部4中(步骤S56)。该差量成为修正值，由此，能够修正(校正)发送FE部30的放大器的由经时或温度变化引起的电平变动，能够得到与工厂出厂时同等的信号电平。

[0210] [接收系统的工厂出厂后校正]

[0211] 图12是在图10所示的步骤S5中被执行的接收系统的工厂出厂后校正的流程图。另外，初始状态下，接收LB切换部22被连接到接收FE部35侧，接收FELB切换部34被连接到接收切换部33侧，接收切换部33被连接到输入端子38侧。

[0212] 控制装置6使切换部209选择接点209a，设为ALC开启状态(步骤S61)。

[0213] 控制装置6对发送LB切换部21以及接收LB切换部22中包含的各切换SW进行切换，对第2回送路径2a进行设定，以使发送LB切换部21的输出侧成为接收LB切换部22，并且接收LB切换部22的输入侧成为发送LB切换部21(步骤S62)。

[0214] 信号接收部23测定上述路径结构中的接收电平(RX_ALC_LEV2)。该接收电平(RX_ALC_LEV2)的数据通过控制装置6而被存储到存储部4中(步骤S63)。

[0215] 控制装置6的修正值计算部6a从存储部4中读出接收电平(RX_ALC_LEV)以及接收电平(RX_ALC_LEV2)的数据，计算两者的差量(△RX_A LC_LEV)，存储到存储部4中(步骤S64)。该差量成为修正值。由此，能够修正(校正)信号接收部23的由经时或温度变化引起的电平变动，能够得到与工厂出厂时同等的信号电平。

[0216] 控制装置6解除第2回送路径2a的设定，对第1回送路径3a进行设定(步骤S65)。即，控制装置6对发送LB切换部21以及接收LB切换部22中包含的各切换SW进行切换，进行设定以使发送LB切换部21的输出侧成为发送FE部30，并且接收LB切换部22的输入侧成为接收FE部35，从而解除第2回送路径2a的设定。此外，控制装置6对发送FELB切换部31以及接收FELB切换部34中包含的各切换SW进行切换，对第1回送路径3a进行设定，以使发送FELB切换部31的输出侧成为接收FELB切换部34，并且接收FELB切换部34的输入侧成为发送FELB切换部31。

[0217] 信号接收部23依次对仅通过1个放大器353的放大器路径的每一个，测定接收电平(RX_AMPn_LEV2)。该接收电平(RX_AMPn_LEV2)的数据通过控制装置6而被存储到存储部4中(步骤S66)。

[0218] 控制装置6的修正值计算部6a从存储部4中读出接收电平(RX_AMPn_LEV)以及接收电平(RX_AMPn_LEV2)的数据，计算两者的差量(△RX_AMPn_LEV)，存储到存储部4中(步骤S67)。该差量成为修正值。由此，能够修正(校正)接收FE部35的放大器的由经时或温度变化引起的电平变动，能够得到与工厂出厂时同等的信号电平。

[0219] [发送系统以及接收系统的修正值]

[0220] 试验装置1应用在所述的各校正时求出的修正值，对试验进行实施。以下，对发送系统以及接收系统的修正值进行整理。

[0221] [发送系统的修正值]

[0222] 以下，通过SPX来表示使用输出端子37而将信号输出至DUT11的情况，通过DPX来表示使用输入输出端子39而将信号输出至DUT11的情况。

[0223] 作为校正的基准路径的SPX无放大器路径(发送FE部30为无放大器路径)中的修正值CMP通过下式表示。

[0224] [数1]

[0225] CMP＝TX_ALC_OFFDAC

[0226] SPX合成器路径(发送FE部30的无放大器路径)中的修正值CMP通过下式表示。

[0227] [数2]

[0228] CMP＝TX_ALC_OFFDAC+OFFDAC_TABLE(TX_ALC_OFFDAC，△T X_FELBx_LEV)[0229] 在将SPX合成器路径和放大器路径进行了组合的路径中的修正值CMP通过下式表示。

[0230] [数3]

[0231] CMP＝TX_ALC_OFFDAC+OFFDAC_TABLE(TX_ALC_OFFDAC，△L EV)

[0232] 其中，△LEV＝△TX_FELBx_LEV+△TX_AMPn_LEV

[0233] DPX无放大器路径(发送FE部30为无放大器路径)中的修正值CMP通过下式表示。

[0234] [数4]

[0235] CMP＝TX_ALC_OFFDAC+OFFDAC_TABLE(TX_ALC_OFFDAC，△T X_SPX_DPX)[0236] DPX合成器路径(发送FE部30的无放大器路径)中的修正值CMP通过下式表示。

[0237] [数5]

[0238] CMP＝TX_ALC_OFFDAC+OFFDAC_TABLE(TX_ALC_OFFDAC，△L EV)

[0239] 其中，△LEV＝△TX_FELBx_LEV+△TX_SPX_DPX

[0240] 在将DPX合成器路径和放大器路径进行了组合的路径中的修正值CMP通过下式表示。

[0241] [数6]

[0242] CMP＝TX_ALC_OFFDAC+OFFDAC_TABLE(TX_ALC_OFFDAC，△L EV)

[0243] 其中，△LEV＝△TX_FELBx_LEV+△TX_AMPn_LEV+△TX_SPX_DPX

[0244] [接收系统的修正值]

[0245] 以下，通过SPX来表示使用输入端子38而从DUT11输入信号的情况，通过DPX来表示使用输入输出端子39而从DUT11输入信号的情况。

[0246] 首先，通过下式定义接收系统的修正值。

[0247] [数7]

[0248] 修正值[dBFS]＝基准电平测定值[dBFS]+由经时/温度变化引起的测定值差[dBFS]+由路径引起的测定值差[dBFS]

[0249] SPX无放大器路径(接收FE部35为无放大器路径)中的修正值CMP通过下式表示。

[0250] [数8]

[0251] CMP＝RX_BASE_LEV_SPX+RX_ALC_LEV-RX_ALC_LEV2

[0252] SPX分配器路径(接收FE部35的无放大器路径)中的修正值CMP通过下式表示。

[0253] [数9]

[0254] CMP＝RX_BASE_LEV_SPX+RX_ALC_LEV-RX_ALC_LEV2+△RX_FE LBx_LEV[0255] 在将SPX分配器路径和放大器路径进行了组合的路径中的修正值CMP通过下式表示。

[0256] [数10]

[0257] CMP＝RX_BASE_LEV_SPX+RX_ALC_LEV-RX_ALC_LEV2+△RX_FE LBx_LEV+△RX_AMPn_LEV

[0258] 在DPX无放大器路径(接收FE部35为无放大器路径)中的修正值C MP通过下式表示。

[0259] [数11]

[0260] CMP＝RX_BASE_LEV_DPX+RX_ALC_LEV-RX_ALC_LEV2

[0261] DPX分配器路径(接收FE部35的无放大器路径)中的修正值CMP通过下式表示。

[0262] [数12]

[0263] CMP＝RX_BASE_LEV_DPX+RX_ALC_LEV-RX_ALC_LEV2+△RX_FE LBx_LEV[0264] 在将DPX合成器路径和放大器路径进行了组合的路径中的修正值CMP通过下式表示。

[0265] [数13]

[0266] CMP＝RX_BASE_LEV_SPX+RX_ALC_LEV-RX_ALC_LEV2+△RX_FE LBx_LEV+△RX_AMPn_LEV

[0267] 如上所述，本实施方式中的试验装置1在校正电平输出状态下，基于信号接收部23经由第1回送路径3a而接收到的信号电平，计算用于校正发送F E部30具有的各路径的损失的修正值，因此，能够实现校正时间的缩短化。

[0268] 另外，在所述的实施方式的步骤S19、步骤S38、步骤S55、步骤S66中，在仅通过1个放大器的路径中求出与无放大器路径的差量而作为修正值，但是，本发明不限定于此。例如，在对试验装置1不要求精密的电平精度的情况下，将通过最多的放大器的路径(在图4所示的结构中经由3个放大器的路径)中的特性的差量进行平均化而作为修正值，从而能够简化所述的步骤且能够缩短校正所花费的时间。

[0269] 如上所述，本发明所涉及的试验装置以及其校正方法具有能够实现校正时间的缩短化的效果，作为对便携终端的电特性进行试验的试验装置以及其校正方法是有用的。

[0270] 另外，本实施方式的试验装置能够表示如下。

[0271] 一种试验装置，具备：

[0272] 信号发生部(20)，发生用于输出至被试验装置(11)的第1信号；

[0273] 输出部(37)，被连接到所述被试验装置(11)；

[0274] 路径选择部(30)，被设置在所述信号发生部(20)和所述输出部(37)之间，且在输入输出间选择包含用于放大所述第1信号的放大器(305)的一个以上的放大器路径(30a、30b)、以及不包含所述放大器(305)的一个以上的无放大器路径(30c)的其中一个；

[0275] 输入部(38)，输入来自所述被试验装置(11)的第2信号；

[0276] 信号接收部(23)，接收所述第2信号；

[0277] 输出侧回送部(31)，被设置在所述路径选择部(30)和所述输出部(37)之间，且被连接到将所述第1信号回送至所述信号接收部(23)侧的回送路径(3a)以及所述输出部(37)的其中一个；

[0278] 输入侧回送部(34)，被设置在所述信号接收部(23)和所述输入部(38)之间，且被连接到所述回送路径以及所述输入部(38)的其中一个；以及

[0279] 修正值计算部(6a)，在所述路径选择部(30)选择了所述无放大器路径时，在表示所述信号发生部(20)发生的所述第1信号的所述输出部(37)中的信号电平成为预先决定的校正的发送基准电平的状态的校正电平输出状态下，基于所述信号接收部(23)经由所述回送路径而接收到的信号电平，计算用于校正所述路径选择部(30)具有的各路径的损失的修正值。

[0280] 本领域技术人员能够容易地进行附加的改进和修正。因此，在更广泛的方面，本发明不限于这里示出并描述的特定的细节和代表性的实施例。因此，能够做出各种的修正而不会脱离附加权利要求所定义的总的发明构思的精神或范围及其等价物。