改善显示面板显示灰阶差的方法

摘要

本发明涉及一种改善显示面板显示灰阶差的方法。所述显示面板包括像素电极和公共电极，且二者均为条状，所述改善显示面板显示灰阶差的方法包括：S1，设置多组模拟参数，所述模拟参数包括像素电极的宽度和公共电极的宽度；S2，在每组模拟参数条件下，测试显示面板的显示灰阶差；S3，确定各组模拟参数条件下，显示面板的显示灰阶差是否符合要求；若步骤S3中确定结果为显示面板的显示灰阶差符合要求，则根据符合要求的一组或多组模拟参数制备显示面板；若步骤S3中确定结果为多组模拟参数条件下显示面板的显示灰阶差均不符合要求，则重新设置模拟参数，重复步骤S1～S3。上述方法能够改善显示面板的显示灰阶差，提高显示均一性。

权利要求

1.一种改善显示面板显示灰阶差的方法，所述显示面板包括像素电极和公共电极，且所述像素电极和公共电极均为条状，其特征在于，所述改善显示面板显示灰阶差的方法包括：S1，设置多组模拟参数，所述模拟参数包括像素电极的宽度和公共电极的宽度；

S2，在每组模拟参数条件下，测试所述显示面板的显示灰阶差；

S3，确定各组模拟参数条件下，所述显示面板的显示灰阶差是否符合要求；

若步骤S3中确定结果为显示面板的显示灰阶差符合要求，则根据所述符合要求的一组或多组模拟参数制备显示面板；

若步骤S3中确定结果为多组模拟参数条件下显示面板的显示灰阶差均不符合要求，则重新设置模拟参数，重复步骤S1～S3。

2.根据权利要求1所述的改善显示面板显示灰阶差的方法，其特征在于，所述多组模拟参数中的像素电极的宽度和公共电极的宽度之间的差值均不相同。

3.根据权利要求1所述的改善显示面板显示灰阶差的方法，其特征在于，所述多组模拟参数中，像素电极的宽度与公共电极的宽度之间的差值的数量小于模拟参数组的数量。

4.根据权利要求1所述的改善显示面板显示灰阶差的方法，其特征在于，所述多组模拟参数分为多个子集，每个子集包括至少两组模拟参数；

每个子集中的各组模拟参数的像素电极的宽度和公共电极的宽度之间的差值相同。

5.根据权利要求3或4所述的改善显示面板显示灰阶差的方法，其特征在于，在步骤S3中，若像素电极的宽度和公共电极的宽度之间的差值相同的多组模拟参数条件下的显示面板的显示灰阶差均符合要求，则根据该多组模拟参数条件中共同的像素电极的宽度和公共电极的宽度之间的差值制备显示面板。

6.根据权利要求1所述的改善显示面板显示灰阶差的方法，其特征在于，在步骤S3之后，若多组模拟参数中，有n组模拟参数条件下所确定结果为显示面板的显示灰阶差符合要求，且该n组模拟参数条件中像素电极的宽度和公共电极的宽度之间的差值不相同，所述n≥1，则进行下述步骤：S4，再次设置多组模拟参数，且该多组模拟参数分为n个子集，分别与上述n组模拟参数对应；每个子集包括至少一组模拟参数，且其中各组模拟参数中像素电极的宽度与公共电极的宽度之间的差值与该子集对应的一组模拟参数中像素电极的宽度和公共电极的宽度之间的差值相同；

S5，在每个子集的每组模拟参数条件下，测试显示面板的显示灰阶差；

S6，确定各组模拟参数条件下，所述显示面板的显示灰阶差是否符合要求；

若步骤S6中，至少一个子集，其包含的各组模拟参数条件下，所确定结果均为显示面板的显示灰阶差符合要求，则根据该至少一个子集中各组模拟参数条件下像素电极的宽度与公共电极的宽度之间的差值制备显示面板；

若步骤S6中，每个子集中如果有至少一组模拟参数条件下，所确定结果为显示面板的显示灰阶差不符合要求，则记录该子集中能够使显示面板的显示灰阶差符合要求的模拟参数组以及与该子集对应的一组模拟参数，并根据所记录的模拟参数组制备显示面板。

7.根据权利要求6所述的改善显示面板显示灰阶差的方法，其特征在于，步骤S4中，每个子集中的模拟参数组的数量不小于3个。

8.根据权利要求1所述的改善显示面板显示灰阶差的方法，其特征在于，所述显示面板的像素中，每个条状公共电极位于两个条状像素电极之间，且其与该两个条状像素电极在水平方向上的间距不等。

9.根据权利要求1或8所述的改善显示面板显示灰阶差的方法，其特征在于，所述显示面板的各像素为双畴结构。

10.根据权利要求9所述的改善显示面板显示灰阶差的方法，其特征在于，所述显示面板的每个像素中，双畴结构沿第一方向至第二方向依次设置；

且在第一方向的一畴中的条状公共电极与位于该条状公共电极第一方向的条状像素电极之间的间距等于在第二方向的另一畴中的条状公共电极与位于该条状公共电极第二方向的条状像素电极之间的间距，以及，在第一方向的一畴中的条状公共电极与位于该条状公共电极第二方向的条状像素电极之间的间距等于在第二方向的另一畴中的条状公共电极与位于该条状公共电极第一方向的条状像素电极之间的间距。

11.根据权利要求1所述的改善显示面板显示灰阶差的方法，其特征在于，符合要求的显示灰阶差小于等于3。

说明书

改善显示面板显示灰阶差的方法

技术领域

[0001] 本发明涉及显示技术领域，具体地，涉及一种改善显示面板显示灰阶差的方法。

背景技术

[0002] 显示装置中，例如，TFT-LCD和AMOLED显示面板，其包括多个电极以及薄膜晶体管等，所述电极以及薄膜晶体管中的栅极、栅极绝缘层、有源层、源极和漏极等分别位于不同层，从而使显示装置具有多层结构。在形成显示装置的每层结构时，一般通过沉积、溅射等方法形成一特定材料层，而后利用掩模板进行曝光、显影，并通过刻蚀使所述特定材料层图案化，从而形成一层结构。

[0003] 在实际制备过程中，由于各层结构的尺寸、图案密度不同及其他因素，通过上述构图工艺所形成的各层结构一般会存在某些工艺偏差。以像素电极和公共电极均为条状的TFT-LCD为例，其条状像素电极和条状公共电极的工艺偏差一般体现在CD bias和每层之间掩模的重叠余量(overlay margin)，这些工艺偏差会导致TFT-LCD的各显示区域存在灰阶差，影响显示均一性。

发明内容

[0004] 本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出一种改善显示面板显示灰阶差的方法，其能够改善显示面板的显示灰阶差，提高显示均一性。

[0005] 为实现本发明的目的而提供一种改善显示面板显示灰阶差的方法，所述显示面板包括像素电极和公共电极，且所述像素电极和公共电极均为条状，所述改善显示面板显示灰阶差的方法包括：

[0006] S1，设置多组模拟参数，所述模拟参数包括像素电极的宽度和公共电极的宽度；

[0007] S2，在每组模拟参数条件下，测试所述显示面板的显示灰阶差；

[0008] S3，确定各组模拟参数条件下，所述显示面板的显示灰阶差是否符合要求；

[0009] 若步骤S3中确定结果为显示面板的显示灰阶差符合要求，则根据所述符合要求的一组或多组模拟参数制备显示面板；

[0010] 若步骤S3中确定结果为多组模拟参数条件下显示面板的显示灰阶差均不符合要求，则重新设置模拟参数，重复步骤S1～S3。

[0011] 其中，所述多组模拟参数中的像素电极的宽度和公共电极的宽度之间的差值均不相同。

[0012] 其中，所述多组模拟参数中，像素电极的宽度与公共电极的宽度之间的差值的数量小于模拟参数组的数量。

[0013] 其中，所述多组模拟参数分为多个子集，每个子集包括至少两组模拟参数；每个子集中的各组模拟参数的像素电极的宽度和公共电极的宽度之间的差值相同。

[0014] 其中，在步骤S3中，若像素电极的宽度和公共电极的宽度之间的差值相同的多组模拟参数条件下的显示面板的显示灰阶差均符合要求，则根据该多组模拟参数条件中共同的像素电极的宽度和公共电极的宽度之间的差值制备显示面板。

[0015] 其中，在步骤S3之后，若多组模拟参数中，有n组模拟参数条件下所确定结果为显示面板的显示灰阶差符合要求，且该n组模拟参数条件中像素电极的宽度和公共电极的宽度之间的差值不相同，所述n≥1，则进行下述步骤：

[0016] S4，再次设置多组模拟参数，且该多组模拟参数分为n个子集，分别与上述n组模拟参数对应；每个子集包括至少一组模拟参数，且其中各组模拟参数中像素电极的宽度与公共电极的宽度之间的差值与该子集对应的一组模拟参数中像素电极的宽度和公共电极的宽度之间的差值相同；

[0017] S5，在每个子集的每组模拟参数条件下，测试显示面板的显示灰阶差；

[0018] S6，确定各组模拟参数条件下，所述显示面板的显示灰阶差是否符合要求；

[0019] 若步骤S6中，至少一个子集，其包含的各组模拟参数条件下，所确定结果均为显示面板的显示灰阶差符合要求，则根据该至少一个子集中各组模拟参数条件下像素电极的宽度与公共电极的宽度之间的差值制备显示面板；

[0020] 若步骤S6中，每个子集中如果有至少一组模拟参数条件下，所确定结果为显示面板的显示灰阶差不符合要求，则记录该子集中能够使显示面板的显示灰阶差符合要求的模拟参数组以及与该子集对应的一组模拟参数，并根据所记录的模拟参数组制备显示面板。

[0021] 其中，步骤S4中，每个子集中的模拟参数组的数量不小于3个。

[0022] 其中，所述显示面板的像素中，每个条状公共电极位于两个条状像素电极之间，且其与该两个条状像素电极在水平方向上的间距不等。

[0023] 其中，所述显示面板的各像素为双畴结构。

[0024] 其中，所述显示面板的每个像素中，双畴结构沿第一方向至第二方向依次设置；且在第一方向的一畴中的条状公共电极与位于该条状公共电极第一方向的条状像素电极之间的间距等于在第二方向的另一畴中的条状公共电极与位于该条状公共电极第二方向的条状像素电极之间的间距，以及，在第一方向的一畴中的条状公共电极与位于该条状公共电极第二方向的条状像素电极之间的间距等于在第二方向的另一畴中的条状公共电极与位于该条状公共电极第一方向的条状像素电极之间的间距。

[0025] 其中，符合要求的显示灰阶差小于等于3。

[0026] 本发明具有以下有益效果：

[0027] 本发明提供的改善显示面板显示灰阶差的方法，其通过设置多组模拟参数，测试该多组模拟参数条件下显示面板的显示灰阶差，确定其是否满足显示均一性的要求，可以获得能够使显示面板的显示灰阶差满足显示均一性要求时像素电极的宽度与公共电极的宽度，或者在进一步优选方案中获得像素电极的宽度与公共电极的宽度之间的差值，从而根据该像素电极的宽度和公共电极的宽度，或者像素电极的宽度与公共电极的宽度之间的差值，制备显示面板，可以使所制备出的显示面板的显示灰阶差较小，从而提高显示面板的显示均一性。

附图说明

[0028] 附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：

[0029] 图1为本发明实施例1中改善显示面板显示灰阶差的方法的流程图；

[0030] 图2为显示面板的示意图；

[0031] 图3为第1～3组模拟参数条件下显示面板的显示灰阶差；

[0032] 图4为第4～7组模拟参数条件下显示面板的显示灰阶差；

[0033] 图5为第8～9组模拟参数条件下显示面板的显示灰阶差；

[0034] 图6为本发明实施例4中改善显示面板显示灰阶差的方法的流程图；

[0035] 图7为显示面板像素的双畴结构的示意图。

[0036] 其中，附图标记：

[0037] 10：像素电极；11：公共电极。

具体实施方式

[0038] 以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。

[0039] 本发明提供一种改善显示面板显示灰阶差的方法，并给出其实施方式。具体地，在所述改善显示面板显示灰阶差的方法的第1个实施例(以下称为实施例1)中，如图1及图2所示，所述显示面板包括像素电极10和公共电极11，且所述像素电极10和公共电极11均为条状。而改善该所述显示面板显示灰阶差的方法包括以下步骤S1～S3。

[0040] 步骤S1，设置多组模拟参数，所述模拟参数包括像素电极的宽度和公共电极的宽度。

[0041] 具体地，以公共电极的宽度为W1，像素电极的宽度为W2，在该步骤S1中，设置多组模拟参数；例如，如下表格所示的9组模拟参数。下面以在步骤S1中设置如下表格所述的9组模拟参数为例对本发明的实施方式进行详细描述。

[0042] 表1设置的9组模拟参数

[0043]

[0044] 如上表格所述，上述9组模拟参数是在工艺精度为8μm的情况下设定的。

[0045] S2，在每组模拟参数条件下，测试所述显示面板的显示灰阶差。

[0046] 具体地，根据步骤S1中设定的9组模拟参数，分别测试显示面板的显示灰阶差，所述测试结果如图3～5所示，其中，第1～3组模拟参数的测试结果显示在图3中，第4～7组模拟参数的测试结果显示在图4中，第8～9组模拟参数的测试结果显示在图5中。

[0047] S3，确定各组模拟参数条件下，所述显示面板的显示灰阶差是否符合要求。

[0048] 具体地，设定显示面板的显示灰阶差不大于3为满足显示均一性要求的条件。如图3所示，在第1～3组模拟参数中，在工艺误差(CD bias)为±0.5μm的范围内，只有在第1组模拟参数条件下，显示面板的显示灰阶差不大于3，符合要求；而第2组和第3组模拟参数条件下，显示面板的显示灰阶差均大于3，因此，该2组模拟参数不符合要求。如图4所示，在第4～
7组模拟参数条件下，在工艺误差为±0.5μm的范围内，显示面板的显示灰阶差均大于3，因此，该4组模拟参数均不符合要求。如图5所示，在第8组模拟参数条件下，在工艺误差为±
0.5μm的范围内，显示面板的显示灰阶差大于3，因此，第8组模拟参数不符合要求；第9组模拟参数条件下，在工艺误差为±0.5μm的范围内，显示面板的显示灰阶差不大于3，因此，第9组模拟参数符合要求。

[0049] 根据上述分析，在工艺精度为8μm时，工艺误差为±0.5μm的范围内，在第1组和第9组模拟参数条件下的显示面板的显示灰阶差符合显示均一性的要求，可以理解的是，在此情况下，根据第1组和第9组模拟参数，制备显示面板，即按照公共电极的宽度W1为1.6μm，像素电极W2的宽度为2.6μm，或者按照公共电极W1的宽度为2.1μm，像素电极W2的宽度为3.1μm制备显示面板，则制备出的显示面板的显示灰阶差会不大于3，能够满足设定的显示均一性条件，从而使显示面板具有良好的显示均一性。

[0050] 反之，如果上述9组模拟参数条件下，显示面板的显示灰阶差均大于3，则也就是说，根据上述9组中的任何一组模拟参数制备出的显示面板，其显示灰阶差均会大于3，从而难以满足显示均一性的要求，这时，就需要重新设定模拟参数，测试该重新设定的模拟参数是否满足要求。

[0051] 总之，在步骤S3中，若有至少一组模拟参数条件下，确定结果为显示面板的显示灰阶差符合显示均一性要求，则根据所述符合要求的一组或多组模拟参数制备显示面板；若确定结果为多组模拟参数条件下显示面板的显示灰阶差均不符合要求，则需要重新设置模拟参数，重复步骤S1～S3，直至获得能够使显示面板的显示灰阶差满足显示均一性要求的模拟参数。

[0052] 具体地，在实施例1中，所述多组模拟参数中的像素电极的宽度W2和公共电极的宽度W1之间的差值均不相同。一般地，W2与W1之间的差值对于显示面板的显示灰阶差具有较大影响，也就是说，只要W2－W1为一定数值时，W2和W1的数值可以在一定范围内自由浮动，而不局限于某一个或几个特定数值，都能够使显示面板的显示灰阶差满足显示均一性的要求。因此，上述设置可以使多组模拟参数中W2与W1之间的差值的数量最多，例如，10组模拟参数中，W2与W1之间的差值均不相同，使W2－W1的数值的数量可以为10个。这样的效果是能够在多组模拟参数中，增加使显示面板的显示灰阶差符合要求的几率，从而可以减少模拟参数组的数量，这样就减少在步骤S2进行测试所消耗的工艺时间；或者，获得更多符合要求的模拟参数组，从而在制备显示面板时，能够具有更大的工艺选择范围；或者可以减少重复步骤S1～S3的几率，甚至不需要重复步骤S1～S3。

[0053] 在本实施方式的另一实施例2中，区别于上述实施例1，所述多组模拟参数中，像素电极10的宽度W2与公共电极11的宽度W1之间的差值的数量小于模拟参数组的数量。这样设置的目的在于使各组模拟参数中，W2－W1的数值出现一个或多个共同差值，所谓共同差值是指W2－W1的数值等于该共同差值的有两个或更多组模拟参数。例如，在实施例1列举的上述9组模拟参数中，第1组模拟参数与第9组模拟参数具有一个共同差值——1μm，而第2组模拟参数则与第4组模拟参数具有另一个共同差值——0.5μm，第3组模拟参数与第5组模拟参数具有第三个共同差值——0μm。

[0054] 在本实施方式的另一实施例3中，区别于上述实施例1和实施例2，所述多组模拟参数分为多个子集，每个子集包括至少两组模拟参数；每个子集中的各组模拟参数的像素电极10的宽度W2和公共电极11的宽度W1之间的差值相同，也就是说，每个子集中的各组模拟参数具有1个共同差值。例如，在步骤S1中，设置12组模拟参数，将该12组模拟参数分为a、b、c三个子集，每个子集包括4组模拟参数，且该3组模拟参数的具体数值如下表格所示：

[0055] 表2设置的4个子集的模拟参数

[0056]

[0057]

[0058] 如上表所示，a子集中的4组模拟参数，其像素电极宽度W2与公共电极宽度W1之间的差值W2－W1均为0.5μm；而b子集中的4组模拟参数，其像素电极宽度W2与公共电极宽度W1之间的差值W2－W1均为﹣0.5μm；而c子集中的4组模拟参数，其像素电极宽度W2与公共电极宽度W1之间的差值W2－W1均为0μm。可以理解的是，如果a子集中的4组模拟参数条件下，显示面板的显示灰阶差均符合显示均一性的要求，经过该4组模拟参数的验证，则至少可以在一定程度上认为只要满足W2－W1＝0.5μm，即a子集中4组模拟参数的共同差值能够使显示面板的显示灰阶差符合显示均一性的要求，并据此根据该共同差值制备显示面板，使所制备的显示面板的显示均一性符合要求；这样可以在制备显示面板时，就不限于a子集中的4组工艺参数，扩大了工艺选择的范围。相反，而如果a子集中有1组或多组模拟参数条件下，显示面板的显示灰阶差不符合显示均一性的要求，则认为该子集的共同差值无法满足显示均一性的要求，需要重新设定其他的共同差值。b子集和c子集与此类似，再次就不再赘述。

[0059] 总之，在上述实施例2和实施例3中，如果步骤S3中像素电极10的宽度W2和公共电极11的宽度W1之间的差值相同的多组模拟参数条件下的显示面板的显示灰阶差均符合要求，则根据该多组模拟参数条件中共同的像素电极的宽度和公共电极的宽度之间的差值制备显示面板；以在制备显示面板时，实现扩大工艺选择范围的目的。

[0060] 在本实施方式的另一实施例4中，区别于上述实施例1～3，还可以通过其他方式实现扩大工艺选择范围的目的。具体地，如图6所示，在步骤S3之后，多组模拟参数中，如果其中有n组模拟参数条件下所确定结果为显示面板的显示灰阶差符合要求，且该n组模拟参数条件中像素电极10宽度W2与公共电极11宽度W1之间的差值不相同，所述n≥1；例如，实施例1中列举出的9组模拟参数，其中有2组模拟参数条件下，显示面板的显示灰阶差符合显示均一性的要求，但该2组模拟参数条件下，W2－W1的数值相同，则确定n的值为1；反之，如果该2组模拟参数条件下，W2－W1的数值不同，即确定n的值为2；在上述情况下，进行下述步骤S4～S6。

[0061] S4，再次设置多组模拟参数，且该多组模拟参数分为n个子集，分别与上述n组模拟参数对应；每个子集包括至少一组模拟参数，且其中各组模拟参数中像素电极10的宽度W2与公共电极11的宽度W1之间的差值与该子集对应的一组模拟参数中像素电极10的宽度W2和公共电极11的宽度W1之间的差值相同。

[0062] S5，在每个子集的每组模拟参数条件下，测试显示面板的显示灰阶差。

[0063] S6，确定各组模拟参数条件下，所述显示面板的显示灰阶差是否符合要求。

[0064] 若步骤S6中，至少一个子集，其包含的各组模拟参数条件下，所确定结果为显示面板的显示灰阶差符合要求，则至少可以在一定程度上认为只要该子集中的共同差值能够使显示面板的显示灰阶差符合显示均一性的要求，从而根据该至少一个子集中各组模拟参数条件下像素电极的宽度与公共电极的宽度之间的差值制备显示面板。反之，若步骤S6中，每个子集中，如果有至少一组模拟参数条件下，所确定结果为显示面板的显示灰阶差不符合要求，则记录该子集中能够使显示面板的显示灰阶差符合要求的模拟参数组以及与该子集对应的一组模拟参数，并根据所记录的模拟参数组制备显示面板。

[0065] 优选地，步骤S4中的每个子集中包括3组以上模拟参数，也就是说，就每个共同差值，至少有4组模拟参数来模拟验证该共同差值下，显示面板的显示灰阶差是否都能满足显示均一性的要求，从而提高模拟验证的准确率。

[0066] 具体地，所述显示面板的像素中，每个条状公共电极11位于两个条状像素电极10之间，且其与该两个条状像素电极10在水平方向上的间距不等，这样设置可以更好地避免工艺偏差的影响，有助于进一步提高显示均一性。此外，所述显示面板的各像素可以为双畴结构，如图7所示，每个像素包括A、B两个畴，双畴结构可以改善像素的色偏，提高显示的准确性。具体地，所述显示面板的每个像素中，双畴结构沿第一方向至第二方向依次设置；且在第一方向的一畴A中的条状公共电极11与位于该条状公共电极11第一方向的条状像素电极10之间的间距等于在第二方向的另一畴B中的条状公共电极11与位于该条状公共电极11第二方向的条状像素电极10之间的间距，以及，在第一方向的一畴A中的条状公共电极11与位于该条状公共电极11第二方向的条状像素电极10之间的间距等于在第二方向的另一畴B中的条状公共电极11与位于该条状公共电极11第一方向的条状像素电极10之间的间距。

[0067] 可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。