触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板

摘要

本申请涉及一种触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板。该检测电路包括：第一至第四晶体管的栅极与开关端子电性连接；第一晶体管电性连接于第一数据端子和第一数据线组节点之间；第二晶体管电性连接于第二数据端子和第二数据线组节点之间；第三晶体管电性连接于第一公共端子和第一公共电极块组节点之间；第四晶体管电性连接于第二公共端子和第二公共电极块组节点之间。本申请的触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板能够减少检测端子的数量，有利于边框的窄边化及走线设计。

权利要求

1.一种触控显示面板的检测电路，其特征在于，包括：开关端子，第一数据端子，第二数据端子，第一晶体管，第二晶体管，第一数据线组节点，第二数据线组节点，第一公共端子，第二公共端子，第三晶体管，第四晶体管，第一公共电极块组节点，第二公共电极块组节点，其中，所述第一至第四晶体管的栅极与所述开关端子电性连接；

所述第一晶体管电性连接于所述第一数据端子和所述第一数据线组节点之间；

所述第二晶体管电性连接于所述第二数据端子和所述第二数据线组节点之间；

所述第三晶体管电性连接于所述第一公共端子和所述第一公共电极块组节点之间；

所述第四晶体管电性连接于所述第二公共端子和所述第二公共电极块组节点之间；

其中所述开关端子在显示检测和触控检测时，均向所述第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管和第四晶体管的栅极提供导通信号。

2.一种基于权利要求1中检测电路的触控显示面板的检测方法，其特征在于，包括：进行显示检测时，

所述开关端子提供导通信号；

向所述第一数据端子施加第一检测电压，向所述第二数据端子施加第二检测电压；

向所述第一公共端子和所述第二公共端子施加公共电压；

进行触控检测时，

所述开关端子提供导通信号；

向所述第一数据端子和所述第二数据端子施加数据电压；

向所述第一公共端子施加第三检测电压，向所述第二公共端子施加第四检测电压，所述第三检测电压与所述第四检测电压不同。

3.一种触控显示面板，包括如权利要求1所述的检测电路。

4.如权利要求3所述的触控显示面板，其特征在于，所述触控显示面板包括显示区与围绕所述显示区的非显示区，所述检测电路设置在所述非显示区。

5.如权利要求4所述的触控显示面板，其特征在于，还包括一数据线层，所述数据线层包括多根数据线，所述多根数据线包括第一数据线组和第二数据线组，所述第一数据线组与所述第一数据线组节点电性连接，所述第二数据线组与所述第二数据线组节点电性连接，所述多根数据线设置在所述显示区。

6.如权利要求4所述的触控显示面板，其特征在于，还包括一公共电极层，所述公共电极层划分为多个公共电极块，所述多个公共电极块包括第一公共电极块组和第二公共电极块组，所述第一公共电极块组与所述第一公共电极块组节点电性连接，所述第二公共电极块组与所述第二公共电极块组节点电性连接，所述公共电极块设置在所述显示区。

7.一种触控显示面板的检测电路，其特征在于，包括：开关端子，第一数据端子，第二数据端子，第一晶体管组，第二晶体管组，第一数据线组节点，第二数据线组节点，公共端子，第三晶体管，第四晶体管，第一公共电极块组节点，第二公共电极块组节点，其中，所述第一晶体管组与所述第二晶体管组结构相同，包括一N型晶体管与一P型晶体管；

所述N型晶体管的源极与所述P型晶体管的源极电性连接，作为晶体管组的输入端；所述N型晶体管的漏极与所述P型晶体管的漏极电性连接，作为晶体管组的输出端；

所述第三晶体管和所述第四晶体管，其中之一为N型晶体管，其中另一为P型晶体管；

所述第一、第二晶体管组中晶体管的栅极和所述第三、第四晶体管的栅极与所述开关端子电性连接；

所述第一晶体管组电性连接于所述第一数据端子和所述第一数据线组节点之间；

所述第二晶体管组电性连接于所述第二数据端子和所述第二数据线组节点之间；

所述第三晶体管的漏极与所述第二数据端子电性连接；

所述第三晶体管的源极和所述第四晶体管的漏极与所述第一公共电极块组节点电性连接；

所述第四晶体管的源极和所述公共端子与所述第二公共电极块组节点电性连接。

8.如权利要求7所述的触控显示面板的检测电路，其特征在于，还包括第五晶体管，所述第五晶体管处于导通状态且串联于所述公共端子与所述第二公共电极块组节点之间。

9.一种触控显示面板的检测电路，其特征在于，包括：开关端子，第一数据端子，第二数据端子，第一N型晶体管，第一P型晶体管，第二N型晶体管，第二P型晶体管，第一数据线组节点，第二数据线组节点，公共端子，第三N型晶体管，第三P型晶体管，第四N型晶体管，第四P型晶体管，第一公共电极块组节点，第二公共电极块组节点，其中，所述第一至第四N型晶体管的栅极和所述第一至第四P型晶体管的栅极与所述开关端子电性连接；

所述第一P型晶体管的漏极和所述第一N型晶体管的漏极与所述第一数据线组节点电性连接；

所述第二P型晶体管的漏极和所述第二N型晶体管的漏极与所述第二数据线组节点电性连接；

所述第三P型晶体管的漏极和所述第三N型晶体管的漏极与所述第一公共电极块组节点电性连接；

所述第四P型晶体管的漏极和所述第四N型晶体管的漏极与所述第二公共电极块组节点电性连接；

所述第一N型晶体管的源极和所述第三P型晶体管的源极与所述第一数据端子电性连接；

所述第二N型晶体管的源极和所述第四P型晶体管的源极与所述第二数据端子电性连接；

所述第三N型晶体管的源极与所述第四N型晶体管的源极、所述第一P型晶体管的源极、所述第二P型晶体管的源极以及所述公共端子电性连接。

说明书

触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板

技术领域

[0001] 本发明总体涉及显示技术领域，具体而言，涉及一种触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板。

背景技术

[0002] 近年来，信息通讯领域的迅速发展，提高了各种类型的显示设备的需求。目前，触控显示装置越来越流行，触控显示装置一般包括触控显示面板，然而，实际生产触控显示面板时，发现存在难以检测触控显示面板上触控引线的断路和/或短路问题。

[0003] 如图1A-1C所示，为现有技术中的一种触控检测方法。参考图1A，公共电极层有多个公共电极块，所述多个公共电极块还用于触控传感器，将上述多个公共电极块以交替间隔的方式分成两个公共电极块组，分别为A公共电极块组和B公共电极块组。参考图1B，A公共电极块组和B公共电极块组分别通过晶体管开关元件与COMA公共端子和COMB公共端子连接，由COMA公共端子和COMB公共端子提供检测信号。晶体管开关元件由COMSW开关端子提供的信号进行开关控制。进行触控检测时，通过给COMA公共端子和COMB公共端子施加不同的检测电压，产生如图1C所示的检测画面。

[0004] 其中，第一帧时，对所有公共电极块组施加第一电位，以使得整个触控显示面板显示白色。第二帧时，通过COMA公共端子对A公共电极块组施加第二电位，B公共电极块组不被施加第二电位，以使得A公共电极块组所在区域显示黑色，B公共电极块组所在区域保持白色，如图1C所示。其中，在A公共电极块组所在区域中，显示为白色的区域所对应的公共电极块的引线发生断路；在B公共电极块组所在区域中，显示为黑色的区域所对应的公共电极块的引线发生短路。

[0005] 上述触控电路中，需要额外增加两个检测端子，即COMSW开关端子和一个公共端子以实现检测，而端子数量的增加对显示边框的宽度减小和走线都会产生不利的影响。并且，在显示时，由于同时给两个公共电压，可能由于公共电压的不均而出现画面质量问题。

[0006] 因此，针对上述问题需要一种新的触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板。

[0007] 在所述背景技术部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

[0008] 本发明提供一种触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板，能够减少检测端子的数量。

[0009] 本发明的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

[0010] 根据本发明的第一方面，一种触控显示面板的检测电路，包括：开关端子，第一数据端子，第二数据端子，第一晶体管，第二晶体管，第一数据线组节点，第二数据线组节点，第一公共端子，第二公共端子，第三晶体管，第四晶体管，第一公共电极块组节点，第二公共电极块组节点，其中，

[0011] 所述第一至第四晶体管的栅极与所述开关端子电性连接；

[0012] 所述第一晶体管电性连接于所述第一数据端子和所述第一数据线组节点之间；

[0013] 所述第二晶体管电性连接于所述第二数据端子和所述第二数据线组节点之间；

[0014] 所述第三晶体管电性连接于所述第一公共端子和所述第一公共电极块组节点之间；

[0015] 所述第四晶体管电性连接于所述第二公共端子和所述第二公共电极块组节点之间。

[0016] 根据本发明的第二方面，一种基于本发明第一方面提供的检测电路的触控显示面板检测方法，包括：

[0017] 进行显示检测时，

[0018] 所述开关端子提供导通信号；

[0019] 向所述第一数据端子施加第一检测电压，向所述第二数据端子施加第二检测电压；

[0020] 向所述第一公共端子和所述第二公共端子施加公共电压；

[0021] 进行触控检测时，

[0022] 所述开关端子提供导通信号；

[0023] 向所述第一数据端子和所述第二数据端子施加数据电压；

[0024] 向所述第一公共端子施加第三检测电压，向所述第二公共端子施加第四检测电压，所述第三检测电压与所述第四检测电压不同。

[0025] 根据本发明的第三方面，一种触控显示面板，包括本发明第一方面提供的检测电路。

[0026] 根据本发明的一实施方式，所述触控显示面板包括显示区与围绕所述显示区的非显示区，所述检测电路设置在所述非显示区。

[0027] 根据本发明的一实施方式，还包括一数据线层，所述数据线层包括多根数据线，所述多根数据线包括第一数据线组和第二数据线组，所述第一数据线组与所述第一数据线组节点电性连接，所述第二数据线组与所述第二数据线组节点电性连接，所述数据线设置在所述显示区。

[0028] 根据本发明的一实施方式，还包括一公共电极层，所述公共电极层划分为多个公共电极块，所述多个公共电极块包括第一公共电极块组和第二公共电极块组，所述第一公共电极块组与所述第一公共电极块组节点电性连接，所述第二公共电极块组与所述第二公共电极块组节点电性连接，所述公共电极块设置在所述显示区。

[0029] 根据本发明的第四方面，一种触控显示面板的检测电路，包括：开关端子，第一数据端子，第二数据端子，第一晶体管组，第二晶体管组，第一数据线组节点，第二数据线组节点，公共端子，第三晶体管，第四晶体管，第一公共电极块组节点，第二公共电极块组节点，其中，

[0030] 所述第一晶体管组与所述第二晶体管组结构相同，包括一N型晶体管与一P型晶体管；所述N型晶体管的源极与所述P型晶体管的源极电性连接，作为晶体管组的输入端；所述N型晶体管的漏极与所述P型晶体管的漏极电性连接，作为晶体管组的输出端；

[0031] 所述第三晶体管和所述第四晶体管，其中之一为N型晶体管，其中另一为P型晶体管；

[0032] 所述第一、第二晶体管组中晶体管的栅极和所述第三、第四晶体管的栅极与所述开关端子电性连接；

[0033] 所述第一晶体管组电性连接于所述第一数据端子和所述第一数据线组节点之间；

[0034] 所述第二晶体管组电性连接于所述第二数据端子和所述第二数据线组节点之间；

[0035] 所述第三晶体管的漏极与所述第二数据端子电性连接；

[0036] 所述第三晶体管的源极和所述第四晶体管的漏极与所述第一公共电极块组节点电性连接；

[0037] 所述第四晶体管的源极和所述公共端子与所述第二公共电极块组节点电性连接。

[0038] 根据本发明的一实施方式，还包括第五晶体管，所述第五晶体管处于导通状态且串联于所述公共端子与所述第二公共电极块组节点之间。

[0039] 根据本发明的第五方面，一种触控显示面板的检测电路，包括：开关端子，第一数据端子，第二数据端子，第一N型晶体管，第一P型晶体管，第二N型晶体管，第二P型晶体管，第一数据线组节点，第二数据线组节点，公共端子，第三N型晶体管，第三P型晶体管，第四N型晶体管，第四P型晶体管，第一公共电极块组节点，第二公共电极块组节点，其中，[0040] 所述第一至第四N型晶体管的栅极和所述第一至第四P型晶体管的栅极与所述开关端子电性连接；

[0041] 所述第一P型晶体管的漏极和所述第一N型晶体管的漏极与所述第一数据线组节点电性连接；

[0042] 所述第二P型晶体管的漏极和所述第二N型晶体管的漏极与所述第二数据线组节点电性连接；

[0043] 所述第三P型晶体管的漏极和所述第三N型晶体管的漏极与所述第一公共电极块组节点电性连接；

[0044] 所述第四P型晶体管的漏极和所述第四N型晶体管的漏极与所述第二公共电极块组节点电性连接；

[0045] 所述第一N型晶体管的源极和所述第三P型晶体管的源极与所述第一数据端子电性连接；

[0046] 所述第二N型晶体管的源极和所述第四P型晶体管的源极与所述第二数据端子电性连接；

[0047] 所述第三N型晶体管的源极与所述第四N型晶体管的源极、所述第一P型晶体管的源极、所述第二P型晶体管的源极以及所述公共端子电性连接。

[0048] 本申请的触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板通过复用触控检测电路和显示检测电路中的开关端子，减少了开关端子数量。通过控制晶体管开关元件的导通/截止，复用数据电压与公共电压，进一步减少了检测端子的数量。这样，减少了在触控显示面板边框区域部分设置的检测端子数量，有利于边框的窄边化及走线设计。同时，也实现了电压的一致性，从而使画面显示更均匀。

附图说明

[0049] 通过参照附图详细描述其示例实施例，本发明的上述和其它目标、特征及优点将变得更加显而易见。

[0050] 图1A示意性示出现有技术中的触控显示面板示意图。

[0051] 图1B示意性示出现有技术中的触控显示面板的检测电路示意图。

[0052] 图1C示意性示出基于图1A的检测示意图。

[0053] 图2示意性示出根据本发明示例实施方式的触控显示面板的检测电路示意图。

[0054] 图3示意性示出根据本发明示例实施方式的触控显示面板的示意图。

[0055] 图4示意性示出根据本发明示例实施方式的另一触控显示面板的检测电路示意图。

[0056] 图5示意性示出根据本发明示例实施方式的另一触控显示面板的检测电路示意图。

[0057] 图6示意性示出根据本发明示例实施方式的另一触控显示面板的检测电路示意图。

具体实施方式

[0058] 现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施方式使得本公开将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。附图仅为本发明的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。

[0059] 此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本发明的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本发明的技术方案而省略所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、方法、装置、实现、材料或者操作以避免喧宾夺主而使得本发明的各方面变得模糊。

[0060] 图2示意性示出根据本发明示例实施方式的触控显示面板的检测电路示意图。

[0061] 如图2所示，触控显示面板的检测电路包括：开关端子200，第一数据端子201，第二数据端子202，第一晶体管203，第二晶体管204，第一数据线组节点205，第二数据线组节点206，第一公共端子207，第二公共端子208，第三晶体管209，第四晶体管210，第一公共电极块组节点211，第二公共电极块组节点212。

[0062] 其中，第一至第四晶体管203、204、209和210的栅极与开关端子200电性连接。第一晶体管203电性连接于第一数据端子201和第一数据线组节点205之间。第二晶体管204电性连接于第二数据端子202和第二数据线组节点206之间。第三晶体管209电性连接于第一公共端子207和第一公共电极块组节点211之间。第四晶体管210电性连接于第二公共端子208和第二公共电极块组212节点之间。

[0063] 本实施方式的检测电路通过复用触控检测电路和显示检测电路的开关端子，减少了检测所需的端子数量，这样，减少了在触控显示面板边框区域部分设置的检测端子数量，有利于边框的窄边化及走线设计。

[0064] 根据一示例实施方式，本公开还提供一种基于图2中检测电路的触控显示面板的检测方法。

[0065] 进行显示检测时，开关端子200提供导通信号；向第一数据端子201施加第一检测电压，向第二数据端子202施加第二检测电压；向第一公共端子207和第二公共端子208施加公共电压。

[0066] 进行触控检测时，开关端子200提供导通信号；向第一数据端子201和第二数据端子202施加数据电压；向第一公共端子207施加第三检测电压，向第二公共端子208施加第四检测电压，第三检测电压与第四检测电压不同。

[0067] 下面详细描述检测过程。

[0068] 触控检测电路和显示检测电路复用同一开关端子200。在进行显示检测时，开关端子200的信号将第一至第四晶体管203、204、209和210全部导通。向第一数据端子201施加第一检测电压，向第二数据端子202施加第二检测电压，向第一公共端子207和第二公共端子208施加公共电压。被施加第一检测电压的部分显示第一色彩，被施加第二检测电压的部分显示第二色彩，根据第一色彩和第二色彩显示的正确与否判断某处是否发生异常。

[0069] 在进行触控检测时，开关端子200的信号将第一至第四晶体管203、204、209和210全部导通。向第一数据端子201和第二数据端子202施加数据电压，向第一公共端子207施加第三检测电压，向第二公共端子208施加第四检测电压。被施加第三检测电压的部分显示第三色彩，被施加第四检测电压的部分显示第四色彩，根据第三色彩和第四色彩显示的正确与否判断某处是否发生异常。

[0070] 本实施方式的检测方法通过复用触控检测电路和显示检测电路中的开关端子，减少了检测所需的端子数量，这样，减少了在触控显示面板边框区域部分设置的检测端子，有利于边框的窄边化及走线设计。

[0071] 图3示意性示出根据本发明示例实施方式的触控显示面板的示意图。

[0072] 如图3所示，触控显示面板可包括显示区310与围绕显示区310的非显示区320。

[0073] 根据一示例实施例，触控显示面板还可包括一数据线层，数据线层包括多根数据线，多根数据线包括第一数据线组311和第二数据线组312。第一数据线组311与第一数据线组节点205电性连接，第二数据线组312与第二数据线组节点206电性连接。上述数据线设置在显示区310。

[0074] 根据一示例实施例，触控显示面板还可包括一公共电极层，公共电极层划分为多个公共电极块，所述多个公共电极块还用于触控传感器，多个公共电极块包括第一公共电极块组313和第二公共电极块组314。第一公共电极块组313与第一公共电极块组节点211电性连接，第二公共电极块组314与第二公共电极块组节点212电性连接。上述公共电极块设置在显示区310。

[0075] 触控显示面板还可包括设置在非显示区320的检测电路。检测电路可以是前面如图2所示的检测电路，此处省略其详细描述。

[0076] 根据本实施方式的触控显示面板，利用前述的检测电路，通过复用触控检测电路和显示检测电路中的开关端子，减少了检测所需的端子数量，这样减少在触控显示面板边框区域部分设置的检测端子数量，有利于边框的窄边化及走线设计。

[0077] 图4示意性示出根据本发明示例实施方式的另一触控显示面板的检测电路示意图。

[0078] 如图4所示，触控显示面板的检测电路包括：开关端子400，第一数据端子401，第二数据端子402，第一晶体管组403，第二晶体管组404，第一数据线组节点405，第二数据线组节点406，公共端子407，第三晶体管408，第四晶体管409，第一公共电极块组节点410，第二公共电极块组节点411。

[0079] 其中，第一晶体管组403与第二晶体管组404结构相同，包括一N型晶体管与一P型晶体管。N型晶体管的源极与P型晶体管的源极电性连接，作为晶体管组的输入端。N型晶体管的漏极与P型晶体管的漏极电性连接，作为晶体管组的输出端。第三晶体管408和第四晶体管409，其中之一为N型晶体管，其中另一为P型晶体管。

[0080] 其中，第一、第二晶体管组中晶体管的栅极和第三、第四晶体管的栅极与开关端子400电性连接。第一晶体管组403电性连接于第一数据端子401和第一数据线组节点405之间。第二晶体管组404电性连接于第二数据端子402和第二数据线组节点406之间。第三晶体管408的漏极与第二数据端子402电性连接。第三晶体管408的源极和第四晶体管409的漏极与第一公共电极块组节点410电性连接。第四晶体管409的源极和公共端子407与第二公共电极块组节点411电性连接。

[0081] 在本实施例中，第三晶体管408可采用P型晶体管，第四晶体管409可采用N型晶体管，也可以是第三晶体管408采用N型晶体管，第四晶体管409采用P型晶体管，本公开不以此为限。

[0082] 在进行显示检测时，开关端子400的信号导通第一晶体管组403和第二晶体管组404中的N型晶体管。向第一数据端子401施加第一检测电压，第一检测电压通过导通的第一晶体管组403中的N型晶体管，施加到第一数据线组节点405，用于给与第一数据线组节点
405连接的数据线提供电压。向第二数据端子402施加第二检测电压，第二检测电压通过导通的第二晶体管组404中的N型晶体管，施加到第二数据线组节点406，用于给与第二数据线组节点406连接的数据线提供电压。开关端子400的信号同时导通第四晶体管409，而第三晶体管408处于截止状态。向公共端子407施加公共电压，该公共电压通过导线施加给第一公共电极块组节点410，以及通过导通的第四晶体管409施加给第二公共电极块组节点411，用于给与第一公共电极块组节点410和第二公共电极块组节点411连接的公共电极块组提供电压。

[0083] 在进行触控检测时，开关端子400的信号导通第一晶体管组403和第二晶体管组404中的P型晶体管。向第一数据端子401和第二数据端子402施加数据电压，通过上述导通的P型晶体管，给与第一数据线组节点405和第二数据线组节点406连接的数据线提供电压。
开关端子400的信号同时导通第三晶体管408，而使第四晶体管409处于截止状态。向公共端子407施加第三检测电压，第三检测电压通过导线施加给第一公共电极块组节点410，用于给与第一公共电极块组节点410连接的公共电极块组提供电压。由于第三晶体管408导通而第四晶体管409截止，数据电压可作为与第三检测电压不同的检测电压，通过导通的第三晶体管408施加给第二公共电极块组节点411，用于给与第二公共电极块组节点411连接的公共电极块组提供电压。

[0084] 本实施方式的检测电路通过复用触控检测电路和显示检测电路中的开关端子，减少了开关端子数量。通过控制晶体管开关元件的导通/截止，将数据电压与其中一个公共电压复用，进一步减少了检测端子的数量。这样，减少了在触控显示面板边框区域部分设置的检测端子数量，有利于边框的窄边化及走线设计。

[0085] 图5示意性示出根据本发明示例实施方式的另一触控显示面板的检测电路示意图。

[0086] 如图5所示，在图4实施例的基础上，触控显示面板的检测电路还可包括第五晶体管412，第五晶体管412处于导通状态且串联于公共端子407与第二公共电极块组节点411之间。

[0087] 本实施例增加第五晶体管412进行阻抗补偿，使第一公共电极块组节点410和第二公共电极块组节点411处的电压尽可能保持一致性，这样有利于画面显示更均匀。

[0088] 图6示意性示出根据本发明示例实施方式的另一触控显示面板的检测电路示意图。

[0089] 如图6所示，触控显示面板的检测电路包括：开关端子600，第一数据端子601，第二数据端子602，第一N型晶体管603，第一P型晶体管604，第二N型晶体管605，第二P型晶体管606，第一数据线组节点607，第二数据线组节点608，公共端子609，第三N型晶体管610，第三P型晶体管611，第四N型晶体管612，第四P型晶体管613，第一公共电极块组节点614，第二公共电极块组节点615。

[0090] 其中，第一至第四N型晶体管603、605、610和612的栅极和第一至第四P型晶体管604、606、611和613的栅极与开关端子600电性连接。第一P型晶体管604的漏极和第一N型晶体管的漏极603与第一数据线组节点607电性连接。第二P型晶体管606的漏极和第二N型晶体管605的漏极与第二数据线组节点608电性连接。第三P型晶体管611的漏极和第三N型晶体管610的漏极与第一公共电极块组节点614电性连接。第四P型晶体管613的漏极和第四N型晶体管612的漏极与第二公共电极块组节点615电性连接。第一N型晶体管603的源极和第三P型晶体管611的源极与第一数据端子601电性连接。第二N型晶体管605的源极和第四P型晶体管613的源极与第二数据端子602电性连接。第三N型晶体管610的源极与第四N型晶体管612的源极、第一P型晶体管604的源极、第二P型晶体管606的源极以及公共端子609电性连接。

[0091] 在进行显示检测时，开关端子600的信号使第一至第四N型晶体管603、605、610和612处于导通状态，使第一至第四P型晶体管604、606、611和613处于截止状态。向第一数据端子601施加第一检测电压，第一检测电压通过导通的第一N型晶体管603施加到第一数据线组节点607，用于给与第一数据线组节点607连接的数据线提供电压。向第二数据端子602施加第二检测电压，第二检测电压通过导通的第二N型晶体管605施加到第二数据线组节点
608，用于给与第二数据线组节点608连接的数据线提供电压。向公共端子609施加公共电压，公共电压分别通过导通的第三N型晶体管610和第四N型晶体管612施加到第一公共电极块组节点614和第二公共电极块组节点615，用于给与第一公共电极块组节点614和第二公共电极块组节点615连接的公共电极块组提供电压。

[0092] 在进行触控检测时，开关端子600的信号使第一至第四N型晶体管603、605、610和612处于截止状态，使第一至第四P型晶体管604、606、611和613处于导通状态。向第一数据端子601施加第一检测电压，第一检测电压通过导通的第三P型晶体管610施加到第一公共电极块组节点614，用于给与第一公共电极块组节点614连接的公共电极块组提供电压。向第二数据端子602施加第二检测电压，第二检测电压通过导通的第四P型晶体管612施加到第二公共电极块组节点615，用于给与第二公共电极块组节点615连接的公共电极块组提供电压。向公共端子609施加公共电压，公共电压分别通过导通的第一P型晶体管604和第二P型晶体管606施加到第一数据线组节点607和第二数据线组节点608，用于给与第一数据线组节点607和第二数据线组节点608连接的数据线提供电压。

[0093] 本实施方式的检测电路通过复用触控检测电路和显示检测电路中的开关端子，减少了开关端子数量。通过控制晶体管开关元件的导通/截止，将数据电压与公共电压互换使用，进一步减少了检测端子的数量。这样，减少了在触控显示面板边框区域部分设置的检测端子数量，有利于边框的窄边化及走线设计。同时，也实现了电压的一致性，这样有利于画面显示更均匀。

[0094] 以上具体地示出和描述了本公开的示例性实施方式。应可理解的是，本发明不限于这里描述的详细结构、设置方式或实现方法；相反，本发明意图涵盖包含在所附权利要求的精神和范围内的各种修改和等效设置。