高压放电灯的点亮方法

摘要

本发明提供一种高压放电灯的点亮方法，根据图像内容的辉度参数确定向高压放电灯的供给功率，即使饱和工作的时间长时间持续，也无需暂时变更为不饱和工作，能总是得到良好的对比度。在根据图像内容的辉度参数改变向高压放电灯(10)的供给功率的高压放电灯(10)的点亮方法中，为使水银(24)的一部分不气化而析出时形成卤素循环，相对于内部空间(16)的容积过剩地封入该高压放电灯(10)的发光管部(12)内封入的卤素(26)，将内部空间(16)的温度维持在比水银(24)的析出温度更低且高于发光管部(12)的内壁产生显著黑化的黑化温度，能够解决上述课题。

权利要求

1.一种高压放电灯的点亮方法，其根据图像内容的辉度参数改变向高压放电灯的供给功率，其特征在于，所述高压放电灯具备具有内部空间的发光管部，在所述内部空间对置配置有一对电极，并且封入有水银和卤素，为使所述水银的一部分不气化而析出时形成卤素循环，相对于所述内部空间的容积过剩地封入所述卤素，将所述内部空间的温度维持在比所述水银的析出温度低且高于超过所述发光管部的内壁整体面积1/3的范围产生黑化的黑化温度。

2.一种高压放电灯的点亮方法，其根据图像内容的辉度参数改变向高压放电灯的供给功率，其特征在于，所述高压放电灯具备具有内部空间的发光管部，在所述内部空间对置配置有一对电极，并且封入有水银和卤素，为使所述水银的一部分不气化而析出时形成卤素循环，相对于所述内部空间的容积过剩地封入所述卤素，通过将供给上述高压放电灯的最小功率设定为相对于所述高压放电灯的额定功率的规定的比例所确定的功率以上，将所述内部空间的温度维持在比所述水银的析出温度低且高于超过所述发光管部的内壁整体面积1/3的范围产生黑化的黑化温度。

3.根据权利要求2所述的点亮方法，其特征在于，

所述高压放电灯的所述水银的封入率为0.27mg/mm3以上且0.45mg/mm3以下，所述卤素的封入率为1×10-4μmol/mm3以上且30×10-4μmol/mm3以下，所述最小功率相对于所述高压放电灯的额定功率为33％以上。

4.根据权利要求2所述的点亮方法，其特征在于，

所述高压放电灯的所述水银的封入率为0.27mg/mm3以上且0.36mg/mm3以下，所述卤素的封入率为5×10-4μmol/mm3以上且20×10-4μmol/mm3以下，所述最小功率相对于所述高压放电灯的额定功率为25％以上。

5.根据权利要求2所述的点亮方法，其特征在于，

所述高压放电灯的所述水银的封入率为0.27mg/mm3以上且0.33mg/mm3以下，所述卤素的封入率为5×10-4μmol/mm3以上且10×10-4μmol/mm3以下，所述最小功率相对于所述高压放电灯的额定功率为21％以上。

6.根据权利要求2所述的点亮方法，其特征在于，

所述高压放电灯的所述水银的封入率为0.33mg/mm3以上且0.36mg/mm3以下，所述卤素的封入率为10×10-4μmol/mm3以上且20×10-4μmol/mm3以下，所述最小功率相对于所述高压放电灯的额定功率为17％以上。

说明书

高压放电灯的点亮方法

技术领域

[0001] 本发明涉及一种能避免发光管部的内壁产生显著黑化的高压放电灯的点亮方法。

背景技术

[0002] 高压放电灯具有由一个灯得到的光量非常多的特性，从而被广泛应用于投影仪等。高压放电灯在石英玻璃制的发光管部的内部空间配设有一对电极，并且在该内部空间封入有水银，通过对电极间施加电压使其产生电弧放电，激励蒸发的水银而发出光。

[0003] 现有技术文献

[0004] 专利文献

[0005] 专利文献1：日本国特表2008－527405号公报

发明内容

[0006] 发明所要解决的课题

[0007] 在专利文献1中，公开了以下技术：出于构成能得到高的对比度的投影仪的目的，根据图像内容的辉度参数来变更向高压放电灯的供给功率，全工作时间的至少一部分时间，对在高压放电灯的发光管部内水银析出(冷凝)的“饱和工作”和在相同发光管部内所有水银蒸发的“不饱和工作”进行切换。

[0008] 必须这样地进行“饱和工作”与“不饱和工作”的切换的理由在于，若在饱和工作方式下发光管部内水银大量析出，则成为发光管部的内壁产生黑化的原因，从电弧放电部分中放出的光被遮挡而造成照度降低，且导致发光管部的局部的温度上升而可能成为所述发光管部破裂或损伤的原因。

[0009] 因此，例如在为了使暗的场景长时间持续，饱和工作长时间持续的情况下，为了防止黑化，需要与图像内容的辉度参数无关地暂时在不饱和工作下驱动高压放电灯。但是，在辉度参数的值小的“暗的场景”下，即使是暂时的，若提高供向高压放电灯的功率，则由于会发生对比度不良的情况，因此期待能够解决这样的问题的技术开发。

[0010] 本发明鉴于这种以往技术的问题点而开发完成。因此本发明的主要课题在于提供一种高压放电灯的点亮方法，其根据图像内容的辉度参数来确定向高压放电灯的供给功率，即使饱和工作的时间长时间持续，也无需暂时变更为不饱和工作，总是可以得到良好的对比度。

[0011] 用于解决课题的技术方案

[0012] (1)

[0013] 根据本发明的一方面，提供一种根据图像内容的辉度参数改变向高压放电灯的供给功率的高压放电灯的点亮方法，其特征在于，

[0014] 上述高压放电灯具备具有内部空间的发光管部，在上述内部空间对置配置有一对电极，并且封入有水银和卤素，

[0015] 为使上述水银的一部分不气化而析出时形成卤素循环，相对于上述内部空间的容积过剩地封入上述卤素，

[0016] 将上述内部空间的温度维持在比上述水银的析出温度更低且高于上述发光管部的内壁产生显著黑化的黑化温度。

[0017] (2)

[0018] 另外，根据本发明的其他方面，提供一种根据图像内容的辉度参数改变向高压放电灯的供给功率的高压放电灯的点亮方法，，其特征在于，

[0019] 上述高压放电灯具备具有内部空间的发光管部，在上述内部空间对置配置有一对电极，并且封入有水银和卤素，

[0020] 为使上述水银的一部分不气化而析出时形成卤素循环，相对于上述内部空间的容积过剩地封入上述卤素，

[0021] 通过将供给上述高压放电灯的最小功率设定为相对于上述高压放电灯额定功率的规定的比例所确定的功率以上，将上述内部空间的温度维持在比上述水银的析出温度更低且高于上述发光管部的内壁产生显著黑化的黑化温度。

[0022] (3)

[0023] 优选地，上述高压放电灯的上述水银的封入率为0.27mg/mm3以上且0.45mg/mm3以-4 3 -4 3下，上述卤素的封入率为1×10 μmol/mm以上且30×10 μmol/mm以下，

[0024] 上述最小功率相对于上述高压放电灯的额定功率为33％以上。

[0025] (4)

[0026] 优选地，上述高压放电灯的上述水银的封入率为0.27mg/mm3以上且0.36mg/mm3以下，上述卤素的封入率为5×10-4μmol/mm3以上且20×10-4μmol/mm3以下，[0027] 上述最小功率相对于上述高压放电灯的额定功率为25％以上。

[0028] (5)

[0029] 优选地，上述高压放电灯的上述水银的封入率为0.27mg/mm3以上且0.33mg/mm3以下，上述卤素的封入率为5×10-4μmol/mm3以上且10×10-4μmol/mm3以下，[0030] 上述最小功率相对于上述高压放电灯的额定功率为21％以上。

[0031] (6)

[0032] 优选地，上述高压放电灯的上述水银的封入率为0.33mg/mm3以上且0.36mg/mm3以下，上述卤素的封入率为10×10-4μmol/mm3以上且20×10-4μmol/mm3以下，[0033] 上述最小功率相对于上述高压放电灯的额定功率为17％以上。

[0034] 发明效果

[0035] 在高压放电灯的发光管部内水银的一部分析出(冷凝)这种点亮状态(饱和工作)下，封入发光管部内的卤素被析出的水银吸入。因此，发光管部的内部空间中能够作用于卤素循环的卤素的量按照析出的水银的量有所减少。因此，由于卤素的量的减少导致卤素循环受到阻碍，成为发光管部的内壁产生显著黑化的原因。

[0036] 关于这种黑化，发明人等发现通过相对于高压放电灯的发光管部的内部空间的容积封入过剩的量的卤素，即使该内部空间的温度成为低于析出温度该水银的一部分析出的状态(饱和工作)，卤素循环也能够维持。而且，还发现在低于该析出温度的温度区域，存在发光管部的内壁产生显著黑化的“黑化温度”。

[0037] 根据本发明，能够提供以下的高压放电灯的点亮方法，通过将封入过剩的量的卤素的高压放电灯的内部空间的温度维持在高于黑化温度，根据图像内容的辉度参数确定向高压放电灯的供给功率，即使内部空间的温度低于水银的析出温度的饱和工作的时间长时间持续，也无需暂时变更为不饱和工作，总是可以得到良好的对比度。

附图说明

[0038] 图1是示出应用本发明的高压放电灯的一例的图。

[0039] 图2是示出应用本发明的点亮高压放电灯的点亮电路的一例的图。

[0040] 图3是示出利用本发明涉及的点亮方法点亮高压放电灯的情况下辉度参数的增减和供给功率的增减的一例的图形。

[0041] 符号说明

[0042] 10…高压放电灯、12…发光管部、14…密封部、16…内部空间、18…箔、20…电极、22…引线棒、24…水银、26…卤素、100…点亮电路、102…电力供给电路、103…电源、104…功率信号发送单元、106…引线、108…功率信号发送线

具体实施方式

[0043] 以下，对应用本发明的高压放电灯10和点亮该高压放电灯10的点亮电路100的实施例进行说明。

[0044] 首先，对高压放电灯10进行说明。如图1所示，高压放电灯10具有由石英玻璃一体形成的发光管部12和从该发光管部12延伸出的一对密封部14，发光管部12内由密封部14封闭而形成内部空间16。另外，各密封部14内埋设有钼制的箔18。此外，虽未图示，对密封部14而言，也可以使用一个高压放电灯。

[0045] 而且，分别设置有一端连接在箔18的一个端部且另一端配置在内部空间16的钨制的一对电极20、一端连接于箔18的另一端部且另一端从密封部14向外部延伸出的一对引线棒22。另外，内部空间16中封入有规定量的水银24和卤素26(例如溴)。

[0046] 当对高压放电灯10中设置的一对引线棒22施加规定的高电压时，在设于发光管部12的内部空间16的一对电极20之间开始的辉光放电向电弧放电转移，从通过该电弧所蒸发/激励的水银24发射光。也就是说，发光管部12的内部空间16也是“放电空间”。此外，在图
1中标号24示出的黑色部分表示析出状态的水银。

[0047] 在此，对在高压放电灯10的发光管部12的内部空间16中所封入的水银24的量和卤素26的量进行说明。在实施例中的高压放电灯10之中，为了在水银24的一部分不气化而析出(凝结)时形成适当的卤素循环，相对于发光管部12的内部空间16的容积封入与以往的高压放电灯的情况相比过剩的卤素26。所述“以往的高压放电灯”是指，在发光管部的内部空间中所封入的所有水银蒸发的状态下，形成适当的卤素循环的量的卤素被封入的高压放电灯。

[0048] 接着，对卤素循环进行简单说明。构成该电极20的钨从因通电而成为高温的电极20升华。升华后的钨在发光管部12的内壁面附近与卤素26化合，从而形成卤化钨。卤化钨维持气化状态不变地返回到电极20附近。返回到电极20附近的卤化钨被过热到1400℃以上时，钨和卤素相互分离。分离后的钨再次返回到电极20。另外，分离后的卤素再次返回到发光管部12的内壁面附近，与别的钨化合。这种卤素循环继续进行，由此，从电极20升华的钨附着于发光管部12的内壁面而产生显著黑化或者电极20消耗的情况受到抑制。换而言之，如果发光管部部12的内部空间16中能与钨结合的卤素26的量不适当，卤素循环受到阻碍，黑化或电极20的消耗迅速发展。

[0049] 然而，水银24在发光管部12的内部空间16中析出时，卤素26被析出的水银24吸入，从而不能像上述那样与升华后的钨结合。因此，若水银的一部分析出，则能与钨结合的卤素的量减少，从而存在卤素循环受到阻碍的可能。

[0050] 在这方面，在本实施例的高压放电灯10中，如上所述，预先过剩地封入卤素26。因此，即使维持发光管部12的内部空间16中水银24的一部分析出状态且同时使高压放电灯10通常点亮，卤素也不会被水银24吸入，只要能与内部空间16中残留的钨结合的卤素的量合适，卤素循环就不会受到阻碍。

[0051] 但是，若内部空间16的温度变得过低，则过剩的量的水银24析出，相应地，能与钨结合的卤素的量也变少。也就是说，即使过剩地封入卤素26，若将内部空间16的温度降低至某种程度，则达到发光管部12的内壁产生显著黑化的“黑化温度”。该黑化温度由向发光管部12内的水银24的封入率和卤素26的封入率的平衡来决定。

[0052] 因此，即使在以依据图像内容的辉度参数确定的输出功率成为内部空间16的温度低于水银24的析出温度的饱和工作的情况下，只要维持该温度高于黑化温度，即使是饱和工作时间长时间持续这种情况，也能够避免该发光管部12的内壁产生显著黑化。此外，对所述“长时间”而言，例如可以考虑后述实验所采用的50小时，但并不限定于此。

[0053] 为确认高压放电灯10的发光管部12的内部空间16的温度高于黑化温度而使用热电偶等实时地对该温度进行直接测定存在现实上比较困难的情况。因此，如使用以下的“实验数据”所述，可见在降低对水银24或卤素26的封入率分别不同的多个高压放电灯10的供给功率后，即使是额定功率互不相同的高压放电灯10，只要水银24和卤素26的封入率相同，相对于内部空间16的温度成为黑化温度的供给功率的额定功率的比例也相同。也就是说，通过将供给高压放电灯10的最小功率设定为相对于高压放电灯10的额定功率的规定的比例所确定的功率以上，能够与高压放电灯10的额定功率无关地，将内部空间16的温度维持在高于黑化温度。

[0054] (实验数据)

[0055] 对在本发明的高压放电灯10中，改变了水银24的封入率、卤素26的封入率、以及向该高压放电灯10的供给功率的情况下的实验结果进行说明。此外，在本说明书中，“水银的封入率”是指，发光管部12中所封入的水银的重量(mg)除以发光管部12的内部空间16的容积(mm3)所得的值(mg/mm3)。另外，“卤素的封入率”是指发光管部12中所封入的卤素的物质量(μmol)除以发光管部12的内部空间16的容积(mm3)所得的值(μmol/mm3)。

[0056] 另外，向高压放电灯10的供给功率用“相对于额定功率的比例(％)”来表示。例如，在额定功率为240W的高压放电灯10的情况下，“输出功率额定的50％”是指供给120W的功率的情况，“输出功率额定的25％”是指供给60W的功率的情况。

[0057] 如表1至表8所示，实验使用额定功率分别为240W或200W的两种高压放电灯10，并分别在13种条件下实施。对用于实验的额定功率为240W的高压放电灯10而言，发光管部12的内部空间16的容积为55mm3，发光管部12的内表面积为81mm2、管壁负载为3.0W/mm2。另外，对用于实验的额定功率为200W的高压放电灯10而言，发光管部12的内部空间16的容积为50mm3，发光管部12的内表面积为77mm2，管壁负载为2.6W/mm2。此外，以往的高压放电灯中一般的卤素封入率为1×10-4μmol/mm3。

[0058] 此外，在本说明书中，“高压放电灯的额定功率”是指，例如，如果高压放电灯10被用于投影仪的情况下，该投影仪对高压放电灯10供给的最大功率。使用投影仪的例子进行具体阐述，例如，如果在该投影仪中准备了“正常模式”与以小于该正常模式的功率点亮高压放电灯10的“节约模式”的情况下，使用“正常模式”投影成整体为纯白色的画面时的供给功率为“高压放电灯的额定功率”。

[0059] 另外，“功率”并非是指与在与供给功率的频率相比短的周期产生的波纹电流的上限或下限的瞬间相对应的功率或、与以抑制从投影仪等投射的光的闪烁或使特定颜色变亮为目的所施加的脉冲电流的上限或下限的瞬间相对应的功率等短时间的功率，而是指包括与这些波纹电流或脉冲电流相对应的功率的一定程度长的期间的平均功率。

[0060] 表1总结如下结果，即，在卤素26的封入率为1×10-4μmol/mm3、额定功率为240W的高压放电灯10中，使水银24的封入率和供给功率发生变化时的结果。

[0061] 表2总结如下结果，即，在卤素26的封入率为5×10-4μmol/mm3、额定功率为240W的高压放电灯10中，使水银24的封入率和供给功率发生变化时的结果。

[0062] 表3总结如下结果，即，在卤素26的封入率为10×10-4μmol/mm3、额定功率为240W的高压放电灯10中，使水银24的封入率和供给功率发生变化时的结果。

[0063] 表4总结如下结果，即，在卤素26的封入率为20×10-4μmol/mm3或30×10-4μmol/mm3、额定功率为240W的高压放电灯10中，使水银24的封入率和供给功率分别发生变化时的结果。

[0064] 表5总结如下结果，即，在卤素26的封入率为1×10-4μmol/mm3、额定功率为200W的高压放电灯10中，使水银24的封入率和供给功率发生变化时的结果。

[0065] 表6总结如下结果，即，在卤素26的封入率为5×10-4μmol/mm3、额定功率为200W的高压放电灯10中，使水银24的封入率和供给功率发生变化时的结果。

[0066] 表7总结如下结果，即，在卤素26的封入率为10×10-4μmol/mm3、额定功率为200W的高压放电灯10中，使水银24的封入率和供给功率发生变化时的结果。

[0067] 表8总结如下结果，即，在卤素26的封入率为20×10-4μmol/mm3或30×10-4μmol/mm3、额定功率为200W的高压放电灯10中，使水银24的封入率和供给功率分别发生变化时的结果。

[0068] 在各个条件下将各高压放电灯10连续点亮50小时，确定发光管部12的内壁是否产生显著黑化。在连续点亮时间达到50小时时，将未产生显著黑化的情况表示为“OK”，将产生显著黑化的情况表示为“NG”。此外，在本说明书中，“显著黑化”是指，超过发光管部12的内壁整体面积1/3的范围发生黑化。若超过发光管部12的内壁整体面积的1/3的范围发生黑化，则黑化的部分引起发光管部12的局部温度上升，存在成为该发光管部12的破裂或损伤的原因的可能。

[0069] 水银24以如下方法封入发光管部12的内部空间16中，即，用密封部14将发光管部12的一端密封后，用填充水银24的注射器将既定量的水银24压出而注入到发光管部12的内部空间16，使用另一密封部14密封该内部空间16。另外，实际封入的水银24的重量以如下方法确认，即，在测定水银24已注入状态的管体(bulb)(形成一个的密封部14的状态下的发光管部12)的重量之后，通过将该管体加热使水银24完全蒸发排出，再次测定不含水银24的状态下的管体的重量，作为水银24的重量，算出使水银24蒸发前后的重量差的方法。

[0070] 卤素26使用溴(Br)。该卤素26以如下方法封入发光管部12的内部空间16，即，用密封部14将发光管部12的一端密封后，将卤素26注入发光管部12的内部空间16，利用另一密封部14密封该内部空间16。另外，实际封入卤素26的量，以离子色谱法(Ion Chromatography)进行确认。

[0071] 【表1】

[0072]

[0073] 【表2】

[0074]

[0075] 【表3】

[0076]

[0077] 【表4】

[0078]

[0079] 【表5】

[0080]

[0081] 【表6】

[0082]

[0083] 【表7】

[0084]

[0085] 【表8】

[0086]

[0087] 根据实验的结果可知，在额定功率为240W和200W的两种高压放电灯10中，通过使3 3 -4
水银24的封入率为0.27mg/mm 以上且0.45mg/mm以下，且使卤素26的封入率为1×10 μmol/mm3以上且30×10-4μmol/mm3以下，并且使供给各高压放电灯10的最小功率为额定功率的33％以上进行点亮，能够避免发光管部12的内部空间16的温度变为黑化温度以下，长时间不会产生显著黑化。

[0088] 另外还可知，在额定功率为240W和200W的两种高压放电灯10中，通过使水银24的封入率为0.27mg/mm3以上且0.36mg/mm3以下，且使卤素26的封入率为5×10-4μmol/mm3以上且20×10-4μmol/mm3以下，并且使供给各高压放电灯10的最小功率为额定功率的25％以上进行点亮，能够避免发光管部12的内部空间16的温度变为黑化温度以下，长时间不会产生显著黑化。

[0089] 另外也可知，在额定功率为240W和200W的两种高压放电灯10中，通过使水银24的封入率为0.27mg/mm3以上且0.33mg/mm3以下，且使卤素26的封入率为5×10-4μmol/mm3以上且10×10-4μmol/mm3以下，并且使供给各高压放电灯10的最小功率为额定功率的21％以上进行点亮，能够避免发光管部12的内部空间16的温度变为黑化温度以下，长时间不会产生显著黑化。

[0090] 另外也可知，在额定功率为240W和200W的两种高压放电灯10中，通过使水银24的封入率为0.33mg/mm3以上且0.36mg/mm3以下，且使卤素26的封入率为10×10-4μmol/mm3以上且20×10-4μmol/mm3以下，并且使供给各高压放电灯10的最小功率为额定功率的17％以上进行点亮，能够避免发光管部12的内部空间16的温度变为黑化温度以下，长时间不会产生显著黑化。

[0091] 而且也可知，在额定功率为240W和200W的两种高压放电灯10中，通过使水银24的封入率为0.27mg/mm3以上且0.33mg/mm3以下，且使卤素26的封入率为1×10-4μmol/mm3以上且10×10-4μmol/mm3以下，并且使供给各高压放电灯10的最小功率为额定功率的29％以上进行点亮，能够避免发光管部12的内部空间16的温度变为黑化温度以下，长时间不会产生显著黑化。

[0092] 另外也可知，在额定功率为240W和200W的两种高压放电灯10中，通过使水银24的封入率为0.33mg/mm3以上且0.40mg/mm3以下，且使卤素26的封入率为10×10-4μmol/mm3以上且30×10-4μmol/mm3以下，并且使供给各高压放电灯10的最小功率为额定功率的21％以上进行点亮，能够避免发光管部12的内部空间16的温度变为黑化温度以下，长时间不会产生显著黑化。

[0093] 另外也可知，在额定功率为240W和200W的两种高压放电灯10中，通过使水银24的封入率为0.36mg/mm3以上且0.45mg/mm3以下，且使卤素26的封入率为20×10-4μmol/mm3以上且30×10-4μmol/mm3以下，并且使供给各高压放电灯10的最小功率为额定功率的17％以上进行点亮，能够避免发光管部12的内部空间16的温度变为黑化温度以下，长时间不会产生显著黑化。

[0094] 另外也可知，在额定功率为240W和200W的两种高压放电灯10中，通过使水银24的封入率为0.27mg/mm3以上且0.33mg/mm3以下，且使卤素26的封入率为10×10-4μmol/mm3以上且30×10-4μmol/mm3以下，并且使供给各高压放电灯10的最小功率为额定功率的15％以上进行点亮，能够避免发光管部12的内部空间16的温度变为黑化温度以下，长时间不会产生显著黑化。

[0095] 另外也可知，在额定功率为240W和200W的两种高压放电灯10中，通过使水银24的封入率为0.27mg/mm3以上且0.36mg/mm3以下，且使卤素26的封入率为20×10-4μmol/mm3以上且30×10-4μmol/mm3以下，并且使供给各高压放电灯10的最小功率为额定功率的15％以上进行点亮，能够避免发光管部12的内部空间16的温度变为黑化温度以下，长时间不会产生显著黑化。

[0096] 然而，水银24的封入率设为0.27mg/mm3以上的理由在于，若使水银24的封入率小于0.27mg/mm3，则当用作投影仪用的光源时，存在不能满足高压放电灯10所要求的发光量的可能。

[0097] 另外，水银24的封入率设为0.45mg/mm3以下的理由在于，若使水银24的封入率大于0.45mg/mm3，则在点亮灯时，气化的水银24的量变多，内部空间16的压力变得过大，存在发光管部12无法承受该压力的可能性。

[0098] 卤素26的封入率设为1×10-4μmol/mm3以上的理由在于，若使卤素26的封入率小于1×10-4μmol/mm3，即使将水银24的封入率设为最低的0.27mg/mm3，也存在在水银24的一部分析出的饱和工作下不会形成卤素循环的可能性。

[0099] 另外，卤素26的封入率设为30×10-4μmol/mm3以下的理由在于，若使卤素26的封入率大于30×10-4μmol/mm3，则存在会发生高压放电灯10制造时成品率恶化、或者过剩的卤素26腐蚀电极20等其他问题的可能性。

[0100] 而且，根据实验结果可知，在以上述各最小功率点亮高压放电灯10时，发光管部12的温度在从650℃到小于750℃的范围。因此，优选在各条件下将发光管部12的最低温度设定为650℃以上且小于750℃。

[0101] 此外，因为难以直接测定发光管部12的内部空间16的温度，在上述实验中，使用热电偶对发光管部12的上表面(点亮高压放电灯10时的、发光管部12的铅直上部的外表面)的温度进行测定。在本说明书中，将如上所测定的发光管部12的上表面的温度称为“发光管部温度”。

[0102] 接着，对根据图像内容的辉度参数改变供给本实施例的高压放电灯10的功率，点亮该高压放电灯10的示例进行说明。如图2中所作的例示，可实施这种点亮方法的点亮电路100至少具备电力供给电路102、功率信号发送单元104。

[0103] 电力供给电路102为用于在将从电源103接收的电力变换为适合高压放电灯10点亮的电压和电流的基础上，并经由一对引线106供给该高压放电灯10的电路。

[0104] 功率信号发送单元104从外部接收辉度参数信号P，来确定与辉度参数信号P相对应的功率。然后，生成与确定的功率相对应的功率信号R，并经由功率信号发送线108，将该功率信号R发送给电力供给电路102。

[0105] 接收到功率信号R的电力供给电路102根据该功率信号R的指示，改变或维持供给高压放电灯10的电流值A。

[0106] 如图3所示，若这样根据图像内容的辉度参数改变供给高压放电灯10的功率，则辉度参数的增减与供给功率的增减一致。

[0107] 在功率信号发送单元104中，设定有根据封入高压放电灯10的水银24和卤素26的封入率预先确定的最小功率，对功率信号发送单元104而言，即使在辉度参数的值要求最暗的画面的情况下，与发送给电力供给电路102的功率信号R相对应的功率不会变为该最小功率以下。

[0108] 由此，由于能够将封入过剩的量的卤素26的高压放电灯10的内部空间16的温度维持在高于黑化温度，因此总是能够根据图像内容的辉度参数确定向高压放电灯10的供给功率，即使内部空间16的温度低于水银24的析出温度的饱和工作的时间长时间持续，也无需暂时变更为不饱和工作，因此总是可以得到良好的对比度。

[0109] (变形例)

[0110] 在上述实施例中，使得根据水银24和卤素26的封入率设定供给高压放电灯10的最小功率，但代替该方式，通过测定及监控点亮中的高压放电灯10的发光管部12的温度，也可以避免发光管部12的内部空间16的温度变为黑化温度以下。

[0111] 另外，在上述的实验中，使用了额定功率为240W和200W的高压放电灯10，但高压放电灯10的额定功率并不限定于此，例如，可以考虑从180W至400W的额定功率。

[0112] 可以知晓的是，本次公开的实施方式的所有点均为例示，并不具有限制性。本发明的范围并非为上述说明，而是由权利要求书所示，其包含与权利要求书均等含义及范围内的所有变更。