显示装置及显示装置的驱动方法

摘要

公开了一种显示装置及其驱动方法。所述显示装置包括具有子像素的显示面板，所述子像素设置在数据线与栅极线交叉的点处。数据驱动器向数据线提供对应于具体输入数据的数据电压。模拟‑数字转换器(ADC)感测提供给至少一条数据线的数据电压，并将感测的数据电压转换为数字感测数据。时序控制器向所述数据驱动器提供补偿数据，所述补偿数据是基于所述数字感测数据而被补偿的，由此补偿数所述据驱动器的偏差。

权利要求

1.一种显示装置，包括：

显示面板，在该显示面板上设置有子像素和与一个或多个子像素连接的感测线；

数据驱动器，所述数据驱动器适于向至少一条数据线提供数据电压；

至少一个模拟-数字转换器，所述至少一个模拟-数字转换器将通过与所述感测线对应的一个或多个感测通道测量的电压转换为第一数字感测数据，感测通过所述数据驱动器提供给至少一条数据线的对应于测试图案数据的至少一个数据电压，并将感测的数据电压转换为第二数字感测数据；和控制器，所述控制器适于向与至少一条数据线连接的数据驱动器提供补偿数据，所述补偿数据是基于所述第一数字感测数据和所述第二数字感测数据而产生的，其中所述控制器包括ADC补偿电路和偏差补偿单元，所述ADC补偿电路基于所述第一数字感测数据补偿所述模拟-数字转换器的偏差，所述偏差补偿单元基于所述第二数字感测数据补偿所述数据驱动器的偏差，其中所述控制器适于通过基于对应于所述感测通道的用于同一电压的所述第一数字感测数据与对应于所述感测通道的参考数据之间的差(Δch1，Δch2，Δch3)更新查找表，进行模拟-数字转换器补偿。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述数据驱动器包括至少两个数据驱动IC，所述至少两个数据驱动IC适于向与所述至少两个数据驱动IC连接的至少一条数据线提供数据电压，且其中所述至少一个模拟-数字转换器适于自所述至少两个数据驱动IC的每一个感测对应于所述测试图案数据的至少一个数据电压，并将感测的数据电压转换为所述第二数字感测数据。

3.根据权利要求2所述的显示装置，其中向与所述至少两个数据驱动IC连接的数据线提供相同的测试图案数据。

4.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述测试图案数据提供给第一数据驱动IC的一条数据线并提供给第二数据驱动IC的一条数据线，其中所述两条数据线彼此相邻且所述第一数据驱动IC和所述第二数据驱动IC彼此相邻，且其中所述至少一个模拟-数字转换器适于感测提供给所相邻的两个数据驱动IC的相邻数据线的数据电压。

5.根据权利要求2所述的显示装置，其中所述模拟-数字转换器包括在所述至少两个数据驱动IC的一个中或者包括在所述控制器中，或者每个数据驱动IC包括一个模拟-数字转换器。

6.根据权利要求1所述的显示装置，其中每个数据驱动IC包括多个数字-模拟转换器，所述多个数字-模拟转换器对应于与相应数据驱动IC连接的数据线的数量。

7.根据权利要求3所述的显示装置，其中所述至少两个数据驱动IC的每一个的至少一个输出端子与所述数据驱动IC的模拟-数字转换器连接。

8.根据权利要求6所述的显示装置，其中所述模拟-数字转换器适于感测提供给与所述多个数字-模拟转换器中的一个数字-模拟转换器连接的数据线中的至少一条数据线的数据电压，和/或适于将感测的电压转换为感测数据。

9.根据权利要求1所述的显示装置，其中每个数据驱动IC的至少一个最外侧输出端子与一个模拟-数字转换器连接；或者，数据驱动IC的两个最外侧输出端子分别与所述数据驱动IC中包含的模拟-数字转换器连接。

10.根据权利要求1所述的显示装置，还包括存储器，

其中所述控制器适于将所述第二数字感测数据的至少一个以及差值存储在所述存储器中，所述差值表示在基于所述测试图案数据的参考值与所述第二数字感测数据之间的差，且其中所述补偿数据是基于所述差值计算的。

11.根据权利要求10所述的显示装置，其中所述控制器适于将对应于数据驱动IC的输出误差存储在所述存储器中，所述输出误差是在基于所述测试图案数据的参考数据与所述第二数字感测数据之间的差，且所述控制器适于将所述补偿数据提供给每个数据驱动IC，其中所述补偿数据是通过利用对应于所述数据驱动IC的输出误差来补偿所述数据电压而产生的。

12.根据权利要求10所述的显示装置，其中所述控制器适于将所述数据驱动IC的输出误差存储在所述存储器中，所述输出误差是所述数据驱动IC的感测数据与所述第二数字感测数据的平均值之间的差，且所述控制器适于将所述补偿数据提供给所述数据驱动IC，其中所述补偿数据是通过利用对应于所述数据驱动IC的输出误差来补偿所述数据电压而产生的。

13.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述控制器适于在所述模拟-数字转换器补偿之后通过参考所更新的查找表来补偿每个子像素内的晶体管的阈值电压。

14.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述控制器适于在所述模拟-数字转换器补偿之后和/或在正常驱动期间补偿所述数据驱动器中的偏差。

15.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述测试图案数据对应于单色图案。

16.一种显示装置的驱动方法，所述显示装置包括具有多个子像素和与一个或多个子像素连接的感测线的显示面板和数据驱动器，所述数据驱动器包括模拟-数字转换器和控制器，所述方法包括：将通过与所述感测线对应的一个或多个感测通道测量的电压转换为第一数字感测数据；

向多条数据线提供对应于测试图案数据的数据电压；

感测通过所述数据驱动器提供给至少一条数据线的对应于测试图案数据的数据电压；

将感测的数据电压转换为第二数字感测数据；以及

向至少一条数据线提供补偿数据，所述补偿数据是基于所述第一数字感测数据和所述第二数字感测数据而被补偿的，其中所述控制器基于所述第一数字感测数据补偿所述模拟-数字转换器的偏差，其中所述控制器通过基于对应于所述感测通道的用于同一电压的所述第一数字感测数据与对应于所述感测通道的参考数据之间的差(Δch1，Δch2，Δch3)更新查找表，进行模拟-数字转换器补偿。

说明书

显示装置及显示装置的驱动方法

[0001] 本申请要求享有于2014年12月24日提交的韩国专利申请No.10-2014-0188194的优先权，在此援引该专利申请作为参考。

技术领域

[0002] 本发明涉及一种显示图像的显示装置。

背景技术

[0003] 随着信息社会的发展，对能够显示图像的各种显示装置的需求逐渐增加。当前使用了各种显示装置，如液晶显示器(LCD)、等离子体显示面板(PDP)和有机发光二极管(OLED)显示装置。

[0004] 这种显示装置包括显示面板，在显示面板上数据线和栅极线彼此交叉且在数据线和栅极线的交叉点处限定子像素。显示装置进一步包括用于向数据线提供数据信号的数据驱动器和用于向栅极线提供栅极信号的栅极驱动器。

[0005] 在显示面板上限定的每个子像素中设置有晶体管。每个子像素内的晶体管的特性可能根据操作时间而变化或者可能与其他子像素内的晶体管的特性不同。此外，当显示装置是OLED显示装置时，子像素内的OLED可能以不同的速率劣化。此现象可能导致子像素中的非均匀的亮度，由此降低图像质量。

[0006] 因此，为了解决子像素的非均匀亮度的问题，已提出了用于补偿电路内的装置(例如晶体管或OLED)的特性变化或特性差异的像素补偿技术。

[0007] 该像素补偿技术是旨在防止或减小在子像素间的亮度方面发生非均匀性的技术。

[0008] 然而，尽管提供了此像素补偿功能，但仍可能存在每个子像素的亮度或者子像素间的亮度水平差异没有被补偿的现象。

[0009] 此外，数据驱动器可能具有输出误差，或者当数据驱动器包括两个或更多个数据驱动集成电路(DIC)时，DIC可能具有输出差异。

发明内容

[0010] 本发明的各方面旨在克服尽管提供了像素补偿功能，但每个子像素的亮度或者子像素间的亮度水平差异仍没有被补偿的问题。

[0011] 本发明还旨在解决数据驱动器的输出误差，或者当数据驱动器包括两个或更多个数据驱动集成电路(DIC)时，DIC的输出差异的问题。

[0012] 在本发明的一个方面中，提供了一种显示装置，包括：具有子像素的显示面板，所述子像素设置在数据线与栅极线交叉的点处；数据驱动器，所述数据驱动器向所述数据线提供对应于具体输入数据的数据电压；模拟-数字转换器(ADC)，所述ADC感测提供给至少一条数据线的数据电压，并将感测的数据电压转换为数字感测数据；和时序控制器，所述时序控制器向所述数据驱动器提供补偿数据，所述补偿数据是基于所述数字感测数据而被补偿的，由此补偿数所述据驱动器的偏差。

[0013] 在本发明的另一个方面中，提供了一种数据驱动器，包括：两个或更多个数字-模拟转换器(DAC)，所述两个或更多个DAC与数据线电连接，以向所述数据线提供数据电压；以及ADC，所述ADC传输感测数据，所述感测数据是通过感测提供给与所述两个或更多个数字-模拟转换器中的一个数字-模拟转换器连接的数据线中的一条数据线的数据电压而获得的。

[0014] 根据如上所述的本发明，可克服尽管提供了像素补偿功能，但每个子像素的亮度或者子像素间的亮度水平的差异仍没有被补偿的问题。

[0015] 根据本发明的一个方面，一种显示装置包括：显示面板，在该显示面板上设置有子像素；数据驱动器，所述数据驱动器适于向至少一条数据线提供对应于测试图案数据的数据电压；至少一个模拟-数字转换器，所述至少一个模拟-数字转换器感测提供给至少一条数据线的至少一个数据电压，并将感测的数据电压转换为数字感测数据；和控制器，所述控制器适于向与至少一条数据线连接的数据驱动器提供补偿数据，所述补偿数据是基于所述数字感测数据而产生的，其中所述控制器包括数据驱动器偏差补偿单元，所述数据驱动器偏差补偿单元基于所述数字感测数据补偿所述数据驱动器的偏差。

[0016] 所述数据驱动器可包括至少两个数据驱动集成电路(IC)，所述至少两个数据驱动IC适于向与所述至少两个数据驱动IC连接的至少一条数据线提供对应于所述测试图案数据的数据电压，且其中所述至少一个模拟-数字转换器适于感测所述至少两个数据驱动IC的每一个的至少一个数据电压，并将感测的数据电压转换为数字感测数据。

[0017] 可向与所述至少两个数据驱动IC连接的数据线提供相同的测试图案数据。

[0018] 所述测试图案数据可提供给第一数据驱动IC的一条数据线并提供给第二数据驱动IC的一条数据线，其中所述两条数据线彼此相邻且所述第一数据驱动IC和所述第二数据驱动IC彼此相邻，且其中所述至少一个模拟-数字转换器适于感测提供给所相邻的两个数据驱动IC的相邻数据线的数据电压。

[0019] 所述模拟-数字转换器可包括在所述至少两个数据驱动IC的一个中或者包括在所述控制器中，或者每个数据驱动IC包括一个模拟-数字转换器。

[0020] 每个数据驱动IC可包括多个数字-模拟转换器，所述多个数字-模拟转换器对应于与相应数据驱动IC连接的数据线的数量。

[0021] 所述至少两个数据驱动IC的每一个的至少一个输出端子可与所述数据驱动IC的模拟-数字转换器连接。

[0022] 所述模拟-数字转换器可适于感测提供给与所述多个数字-模拟转换器中的一个数字-模拟转换器连接的数据线中的至少一条数据线的数据电压，和/或适于将感测的电压转换为感测数据。

[0023] 每个数据驱动IC的至少一个最外侧输出端子可与一个模拟-数字转换器连接；或者，数据驱动IC的两个最外侧输出端子分别与所述数据驱动IC中包含的模拟-数字转换器连接。

[0024] 优选地，所述显示装置还包括存储器，其中所述控制器可适于将所述感测数据的至少一个以及差值存储在所述存储器中，所述差值表示在基于所述测试图案数据的参考值与所述感测数据之间的差。

[0025] 所述控制器可适于将对应于数据驱动IC的输出误差存储在所述存储器中，所述输出误差是在基于所述测试图案数据的参考数据与所述感测数据之间的差，且所述控制器适于将所述补偿数据提供给每个数据驱动IC，其中所述补偿数据是通过利用对应于所述数据驱动IC的输出误差来补偿所述感测数据而产生的。

[0026] 所述控制器可适于将所述数据驱动IC的输出误差存储在所述存储器中，所述输出误差是所述数据驱动IC的感测数据与所述感测数据的平均值之间的差，且所述控制器可适于将所述补偿数据提供给所述数据驱动IC，其中所述补偿数据是通过利用对应于所述数据驱动IC的输出误差来补偿所述感测数据而产生的。

[0027] 所述显示面板可包括用于一个或多个子像素的一条感测线，所述感测线与所述一个或多个子像素连接，所述至少一个模拟-数字转换器将通过与所述感测线对应的一个或多个感测通道测量的感测电压转换为所述数字感测数据。

[0028] 所述控制器可适于通过将从所述至少一个模拟-数字转换器获得的多个感测数据进行平均化来获得对应于所述数据驱动IC的平均感测数据，以通过更新查找表进行模拟-数字转换器补偿，其中所述至少一个模拟-数字转换器的每一个包括在两个或更多个数据驱动IC的相应数据驱动IC中，所述查找表是基于在对应于所述数据驱动IC的用于同一电压的平均感测数据与对应于所述数据驱动IC的参考数据之间的差而产生的。

[0029] 所述控制器可适于在所述模拟-数字转换器补偿之后通过参考所更新的查找表来补偿每个子像素内的晶体管的阈值电压。

[0030] 所述控制器可适于在所述模拟-数字转换器补偿之后和/或在正常驱动期间补偿所述数据驱动器中的偏差。

[0031] 所述测试数据图案可对应于单色图案。

[0032] 根据本发明的另一个方面，提供一种显示装置的驱动方法，所述显示装置包括具有多个子像素的显示面板和数据驱动器，所述数据驱动器包括模拟-数字转换器和控制器，所述方法包括：向多条数据线提供对应于测试图案数据的数据电压；感测提供给至少一条数据线的数据电压；将感测的数据电压转换为数字感测数据；以及向至少一条数据线提供补偿数据，所述补偿数据是基于所述数字感测数据而被补偿的。

[0033] 优选地，所述单色图案包括灰色图案。

[0034] 所述模拟-数字转换器可包括在所述数据驱动器中。

[0035] 此外，数据驱动器能够包括两个或更多个数字-模拟转换器，所述两个或更多个数字-模拟转换器与数据线电连接，以向所述数据线提供数据电压。所述数据驱动器进一步包括传输感测数据的模拟-数字转换器，所述感测数据是通过感测提供给与所述两个或更多个数字-模拟转换器中的一个数字-模拟转换器连接的数据线中的一条数据线的数据电压而获得的。

[0036] 所述两个或更多个数字-模拟转换器中的一个数字-模拟转换器的输出端子可与所述模拟-数字转换器的输入端子连接。

[0037] 所述数据驱动器可包括两个或更多个数据驱动集成电路，每个数据驱动集成电路包括所述两个或更多个数字-模拟转换器和所述模拟-数字转换器，其中，在每个数据驱动集成电路中，所述两个或更多个数字-模拟转换器的一个数字-模拟转换器的输出端子与所述模拟-数字转换器的输入端子连接。

[0038] 在所述数据驱动集成电路的一个中，其输出端子与所述模拟-数字转换器的输入端子连接的数字-模拟转换器可与另一数据驱动集成电路相邻，且当其他数据驱动集成电路与一个数据驱动集成电路的两端相邻时，与所述其他数据驱动集成电路相邻的两个数字-模拟转换器的输出端子与所述模拟-数字转换器的输入端子连接。

[0039] 此外，根据本发明，可补偿数据驱动器的输出误差，或者当数据驱动器包括两个或更多个DIC时，可补偿DIC的输出差异。

附图说明

[0040] 本发明的上述和其它目的、特征和优点将从下面结合附图的详细描述变得更加容易理解，其中：

[0041] 图1是图解根据本发明典型实施方式的显示装置的系统构造的示意图；

[0042] 图2是图解根据本发明典型实施方式的显示装置中的数据驱动器的DIC之一的示意图；

[0043] 图3和图4是图解根据本发明典型实施方式的显示装置中的像素补偿的概念图；

[0044] 图5是图解根据本发明典型实施方式的显示装置中的ADC的感测和转换功能的概念图；

[0045] 图6是图解根据本发明典型实施方式的显示装置中的ADC的输入电压的范围以及输出数据的范围的示图；

[0046] 图7是图解根据本发明典型实施方式的显示装置中的ADC的输入-输出关系以及特性信息的图表；

[0047] 图8是图解根据本发明典型实施方式的显示装置(100)中的包括三个DIC的数据驱动器的示图；

[0048] 图9是图解根据本发明典型实施方式的显示装置中的ADC特性变化的示图；

[0049] 图10是图解根据本发明典型实施方式的显示装置中的用于补偿ADC特性变化的构造的示意图；

[0050] 图11是图解在根据本发明典型实施方式的显示装置100中应用ADC补偿的像素补偿的概念图；

[0051] 图12A和图12B是图解根据本发明典型实施方式的显示装置中的两个ADC补偿方法的示图；

[0052] 图13是图解当根据本发明典型实施方式的显示装置为OLED显示装置时，子像素结构、ADC和感测线的示图；

[0053] 图14是图解根据本发明典型实施方式的显示装置的DIC输出补偿的示图；

[0054] 图15是图解图8中所示的包括三个DIC的数据驱动器的详细构造图；

[0055] 图16图解了根据本发明典型实施方式的显示装置中的DIC之间的差异；

[0056] 图17是图解在补偿了ADC特性变化之后，对根据本发明典型实施方式的显示装置中的DIC之间的差异进行补偿的示意性构造图；以及

[0057] 图18是图解其中在ADC补偿之后对DIC之间的差异进行补偿的根据本发明典型实施方式的显示装置中的像素补偿的概念图。

具体实施方式

[0058] 现在将详细描述本发明，附图中图解了本发明的一些实施方式。在整个文件中，在对附图赋予标记时，在整个不同的附图中可使用相同的参考标记和符号指代相同或相似的组件。在本发明下面的描述中，在可能使本发明的主题变得不清楚的情形中，将省略本文所涉及的对已知功能和组件的详细描述。

[0059] 还将理解到，尽管在此可能使用诸如“第一”、“第二”、“A”、“B”、“(a)”和“(b)”之类的术语描述各要素，但这些术语仅用于区分一要素与其他要素。这些术语不限制这些要素的本质、顺序、等级或编号。将理解到，当称一要素与另一要素“连接”或“结合”时，该要素不仅能够与该另一要素“直接连接”或“直接结合”，而且该要素还能够经由“中间要素”与该另一要素“间接连接”或“间接结合”。在相同的背景下，将理解到，当称一要素形成在另一要素“上”或“下”时，该要素不仅能够直接形成在该另一要素上或下，而且该要素还能够经由中间要素间接形成在该另一要素上或下。

[0060] 图1是图解根据本发明典型实施方式的显示装置100的系统构造的示意图。下面根据本发明所有实施方式描述的各显示装置的所有组件操作性地结合并配置。

[0061] 参照图1，根据典型实施方式的显示装置100包括显示面板110、数据驱动器120、栅极驱动器130和时序控制器140。

[0062] 在显示面板110上形成有数据线DL1，DL2，…，和DLm以及栅极线GL1，GL2，…，和GLn，且在数据线DL1到DLm与栅极线GL1到GLn交叉的点处分别形成有子像素(SP)。

[0063] 数据驱动器120向数据线DL1到DLm提供对应于测试图案数据的数据电压。数据驱动器120包括两个或更多个数据驱动集成电路(DIC)(200，见图2)。

[0064] 栅极驱动器130向栅极线GL1到GLn依次提供扫描信号。

[0065] 时序控制器140控制数据驱动器120和栅极驱动器130。

[0066] 此外，形成在显示面板110上的每个子像素设置有包括至少一个晶体管的电路。除了至少一个晶体管以外，根据电路的设计或显示装置的类型，每个子像素内的电路还可进一步包括其他装置，如至少一个电容器和至少一个有机发光二极管(OLED)。

[0067] 根据典型实施方式的显示装置100提供了“像素补偿功能”，以补偿由于子像素内的晶体管间的特性(例如阈值电压或迁移率)变化或差异导致的子像素间的亮度差异。

[0068] 此外，当即使提供了像素补偿功能，但像素补偿的感测结果仍不准确时，根据典型实施方式的显示装置100提供了用于补偿感测结果的“感测单元补偿功能”，以便获得准确的像素补偿。

[0069] 此外，根据典型实施方式的显示装置100提供了用于补偿数据驱动器的输出误差的“DIC输出补偿功能”、或“针对每个DIC的偏差补偿功能”，其中当数据驱动器包括两个或更多个DIC时，“针对每个DIC的偏差补偿功能”通过监控每个DIC的输出来补偿输出偏差。

[0070] 下文中，将首先描述“像素补偿功能”，随后将参照附图详细描述“感测单元补偿功能”的必要性及其操作。

[0071] 根据典型实施方式的显示装置100具有用于感测子像素内的电路的晶体管特性的构造，以便提供像素补偿功能。

[0072] 因此，显示面板110设置有与子像素内的电路连接的感测线(SL)。针对一行或多行的子像素设置单条感测线。

[0073] 感测线可设置成与数据线平行。此外，单条感测线可设置在一个子像素行或者两个或更多个子像素行上。

[0074] 例如，当应用其中对两个或更多个子像素行设置单条感测线的共享结构时，可针对三个子像素行(红色子像素行、绿色子像素行和蓝色子像素行)设置单条感测线。当单个像素由三个子像素(红色子像素(R)、绿色子像素(G)和蓝色子像素(B))组成时，能够认为是针对每一像素行设置单条感测线。

[0075] 对于另一个示例，可针对四个子像素行(红色子像素行、白色子像素行、绿色子像素行和蓝色子像素行)设置单条感测线。就是说，当单个像素由四个子像素(红色子像素(R)、白色子像素(W)、绿色子像素(G)和蓝色子像素(B))组成时，能够认为是针对每一像素行设置单条感测线。

[0076] 此外，除了感测线以外，根据典型实施方式的显示装置100还能够进一步包括感测单元和像素补偿单元，以便提供像素补偿功能。感测单元将通过感测线SL测量的感测电压VSEN转换为数字感测数据DSEN。像素补偿单元基于由感测单元感测并从其输出的感测数据来转换要提供给子像素的数据，以进行像素补偿。

[0077] 下文中，上述感测单元还将称为模拟-数字转换器(ADC)。尽管ADC可设置在显示装置100内的任意位置处，但在整个说明书和附图中将通过示例的方式描述并举例说明ADC分别设置在DIC内。

[0078] 此外，尽管上述像素补偿单元可设置在显示装置100内的任意位置处，但在整个说明书和附图中将通过示例的方式描述并举例说明像素补偿单元设置在时序控制器140内。

[0079] 图2是图解根据典型实施方式的显示装置100中的数据驱动器120的DIC 200之一的示意图。

[0080] 参照图2，每个DIC 200包括向DIC 200所控制的多个子像素提供数据电压VDATA的驱动部以及用于多个子像素的感测部。

[0081] 每个DIC 200包括数字-模拟转换器(DAC)210，DAC 210将从时序控制器140输入的数据转换为模拟数据VDATA。

[0082] 每个DIC 200进一步包括ADC 220。ADC 220通过两条或更多条感测线(其在概念上可与感测通道相同)感测ADC 220所控制的多个子像素内的电路的感测节点中的电压VSEN，将感测电压VSEN转换为数字感测数据DSEN，然后输出数字感测数据DSEN。

[0083] 如图2中所示，一个DIC 200包括一个ADC 220。因此，当显示装置100具有两个或更多个DIC 200时，在显示装置100中设置有两个或更多个ADC 220。

[0084] 一个DIC 200的单个ADC 220与两条或更多条感测线SL连接，并通过感测线感测电压VSEN。

[0085] 在此，一条感测线SL将ADC 220连接至一个或多个子像素。具体地说，与一个ADC 220连接的两条或更多条感测线中的每一条感测线可以是感测位于一个子像素内的电路的感测节点中的电压的线，或者在共享结构中，每一条感测线可以是同时或依次感测位于两个或更多个子像素内的电路的感测节点中的电压的线。

[0086] 一个DIC 200的ADC 220输出由通过一个或多个感测通道测量的一个或多个感测电压VSEN转换而来的数字感测数据DSEN，其中一个或多个感测通道对应于两条或更多条感测线。

[0087] 图3是图解根据典型实施方式的显示装置100中的像素补偿的概念图。

[0088] 参照图3，DIC 200内的ADC 220通过与子像素SP内的电路连接的感测线SL感测子像素SP内的电路上的感测节点(例如晶体管的源极或漏极节点)中的电压VSEN，将感测的电压转换为数字感测数据，然后输出数字感测数据。

[0089] 时序控制器140使用感测数据DSEN改变要提供给子像素SP的数据DATA，且随后输出改变后的数据DATA’，以便补偿子像素SP内的晶体管TR的特性(例如阈值电压Vth或迁移率μ)。

[0090] 因而，DIC 200中的DAC 210将改变后的数据DATA’转换为数据电压VDATA’且随后输出数据电压VDATA’。

[0091] 因此，能够补偿晶体管TR的特性的数据电压VDATA’通过数据线DL提供给子像素SP，由此能够防止或减小子像素SP的亮度非均匀性。

[0092] 将参照图4和图5更详细地描述已参照图3简要描述的像素补偿。

[0093] 图4是图解根据典型实施方式的显示装置100中的像素补偿的图，图5是图解根据典型实施方式的显示装置100中的ADC 220的感测和转换功能的概念图。

[0094] 如图4中所示，一个ADC 220具有三个感测通道CH1，CH2和CH3。三个感测通道CH1，CH2和CH3与三条感测线SL1，SL2和SL3以一一对应的关系连接。三个感测通道CH1，CH2和CH3的每一个与四个子像素SP连接。具体地说，感测通道CH1和相应感测线SL1与子像素SP1，SP2，SP3和SP4连接并被子像素SP1，SP2，SP3和SP4共享。感测通道CH2和相应感测线SL2与子像素SP5，SP6，SP7和SP8连接并被子像素SP5，SP6，SP7和SP8共享。感测通道CH3和相应感测线SL3与子像素SP9，SP10，SP11和SP12连接并被子像素SP9，SP10，SP11和SP12共享。四个子像素SP组成单个像素P。

[0095] 例如，四个子像素SP可包括红色子像素(R)、白色子像素(W)、绿色子像素(G)和蓝色子像素(B)。例如，子像素SP1，SP5和SP9可以是红色子像素(R)，子像素SP2，SP6和SP10可以是白色子像素(W)，子像素SP3，SP7和SP11可以是绿色子像素(G)，且子像素SP4，SP8和SP12可以是蓝色子像素(B)。

[0096] 参照图4，ADC 220在一个时间点处通过三条感测线SL1，SL2和SL3感测每个子像素SP内的感测节点处的电压VSEN。

[0097] 例如，在第一时间点处，ADC 220能够通过感测线SL1感测一个子像素，例如与感测线SL1连接的四个子像素SP1，SP2，SP3和SP4之中的子像素SP1内的电路的感测节点处的电压VSEN1。

[0098] 此外，ADC 220能够通过感测线SL2感测一个子像素，例如与感测线SL2连接的四个子像素SP5，SP6，SP7和SP8之中的子像素SP5内的电路的感测节点处的电压VSEN2。而且，ADC 220能够通过感测线SL3感测一个子像素，例如与感测线SL3连接的四个子像素SP9，SP10，SP11和SP12之中的子像素SP9内的电路的感测节点处的电压VSEN3。在第一时间点之后，在第二时间点处，ADC 220能够通过感测线SL1感测另一个子像素，例如与感测线SL1连接的四个子像素SP1，SP2，SP3和SP4之中的子像素SP2内的电路的感测节点处的电压VSEN1。

[0099] 此外，ADC 220能够通过感测线SL2感测另一个子像素，例如与感测线SL2连接的四个子像素SP5，SP6，SP7和SP8之中的子像素SP6内的电路的感测节点处的电压VSEN2。

[0100] 而且，ADC 220能够通过感测线SL3感测另一个子像素，例如与感测线SL3连接的四个子像素SP9，SP10，SP11和SP12之中的子像素SP10内的电路的感测节点处的电压VSEN3。

[0101] 换句话说，在第一时间点处，ADC 220能够通过感测线SL1，SL2和SL3同时感测与红色子像素(R)对应的子像素SP1，SP5和SP9的电路内的感测节点处的电压VSEN1，VSEN2和VSEN3。在第二时间点处，ADC220能够通过感测线SL1，SL2和SL3同时感测与白色子像素(W)对应的子像素SP2，SP6和SP10的电路内的感测节点处的电压VSEN1，VSEN2和VSEN3。此外，在第三时间点处，ADC 220能够通过感测线SL1，SL2和SL3同时感测与绿色子像素(G)对应的子像素SP3，SP7和SP11的电路内的感测节点处的电压VSEN1，VSEN2和VSEN3。而且，在第四时间点处，ADC 220能够通过感测线SL1，SL2和SL3同时感测与蓝色子像素(B)对应的子像素SP4，SP8和SP12的电路内的感测节点处的电压VSEN1，VSEN2和VSEN3。

[0102] 参照图4和图5，锁存器L1，L2和L3分别与三条感测线SL1，SL2和SL3连接。在相应子像素内的感测节点处感测的电压VSEN存储在锁存器L1，L2和L3中。

[0103] 具体地说，与感测线SL1连接的四个子像素SP1，SP2，SP3和SP4之中要被感测的子像素内的感测节点处感测的电压VSEN1存储在与感测线SL1连接的锁存器L1中。与感测线SL2连接的四个子像素SP5，SP6，SP7和SP8之中要被感测的子像素内的感测节点处感测的电压VSEN2存储在与感测线SL2连接的锁存器L2中。与感测线SL3连接的四个子像素SP9，SP10，SP11和SP12之中要被感测的子像素内的感测节点处感测的电压VSEN3存储在与感测线SL3连接的锁存器L3中。上述锁存器L1，L2和L3的每一个可由电容器实现，如图4中所示。

[0104] 参照图4和图5，ADC 220通过读取存储在三个锁存器L1，L2和L3中的电压VSEN1，VSEN2和VSEN3，能够经由三个感测通道CH1，CH2和CH3同时或依次测量感测电压VSEN1，VSEN2和VSEN3。

[0105] ADC 220将通过感测通道CH1，CH2和CH3感测的电压VSEN1，VSEN2和VSEN3转换为数字感测数据，输出转换后的感测数据DSEN1，DSEN2和DSEN3，然后将数据DSEN1，DSEN2和DSEN3存储在存储器400中。

[0106] 参照图4，时序控制器140读取如上所述由ADC 220感测并存储在存储器400中的感测数据DSEN1，DSEN2和DSEN3，将待提供给子像素的数据DATA改变为数据DATA’，然后将改变后的数据DATA’输出至DIC 200。

[0107] 因而，DIC 200接收改变后的数据DATA’，将改变后的数据DATA’转换为模拟数据电压VDATA’，然后经由输出缓存器(未示出)将模拟数据电压VDATA’提供给相应子像素。

[0108] 图6是图解根据典型实施方式的显示装置100中的ADC 220的输入电压VSEN的范围以及输出数据DSEN的范围的示图。

[0109] 参照图6，例如，ADC 220的输入电压范围从0V到3V，ADC 220的输出数据范围对应于10比特而从0到1023。就是说，ADC 220将范围从0V到3V的输入电压内的电压VSEN转换为范围从0到1023的能够由10比特表示的输出数据内的数字数据DSEN。

[0110] ADC 220的输入-输出关系能够表示在图表(x轴：输入电压，y轴：输出电压)上，如图7中所示。

[0111] 图7是图解根据典型实施方式的显示装置100中的ADC 220的输入-输出关系以及特性信息的图表。

[0112] 参照图7，ADC 220的输入-输出关系能够被理想地定义为沿着连接点(0，0)与点(3，1023)的直线700，其中在点(0，0)处，输入电压为0V且输出数据为0；在点(3，1023)处，输入电压为3V且输出数据为1023。

[0113] 此理想的ADC 220能够具有理想的线性ADC特性，其中对应于斜率的增益为k(＝1023/3V)，对应于x截距(x-intercept)的偏移为0。

[0114] 此外，尽管ADC 220具有线性ADC特性，但ADC 220的线性ADC特性可能与直线700的理想线性特性不同。实践中，ADC 220的线性ADC特性可由其中对应于斜率的增益大于k的直线710表示。

[0115] 实践中，ADC 220的线性ADC特性可由其中对应于斜率的增益小于k的直线(未示出)表示。

[0116] 此外，实践中，ADC 220可具有由直线720表示而不是由表现出理想线性特性的直线700表示的线性ADC特性，在直线720中对应于x截距的偏移大于0。

[0117] 实践中，ADC 220的线性ADC特性可由其中对应于x截距的偏移小于0的直线(未示出)表示。

[0118] 实际中，ADC 220可具有由图7中所示的曲线730表示的非线性ADC特性，而不是具有由上述直线700，710和720定义的与输入-输出关系的趋势对应的线性ADC特性。

[0119] 如上所述，对于ADC 220的ADC特性来说，这样的现象，即增益与理想增益(＝k)不同、偏移与理想偏移(＝0)不同或者线为非线性，可以是不具有任何外部因素而发生的实际现象或者由外部因素导致的现象。

[0120] ADC 220的ADC特性可由于外部因素(例如ADC 220或者包括ADC 220的DIC 200或显示装置100在延长的时间段进行操作；ADC 220或者包括ADC 220的DIC 200或显示装置100的温度增加；或者，ADC 220或者包括ADC 220的DIC 200或显示装置100经历高压)而变化。

[0121] 如上所述，当存在ADC 220的ADC特性变化时，每个ADC 220的ADC特性可能按照感测通道而不同，或者一个ADC 220的ADC特性可能不同于其他ADC 220的ADC特性。

[0122] 就是说，ADC特性变化可包括ADC 220之间的特性差异、每个ADC 220的感测通道之间的特性差异的至少之一。

[0123] 将参照图8和图9再次描述ADC特性的这种变化。

[0124] 图8是图解根据典型实施方式的显示装置100中的包括三个DIC 200a，200b和200c的数据驱动器120的示图。图9是图解根据典型实施方式的显示装置100中的ADC特性变化的示图。

[0125] 为了研究ADC特性变化，如图8中所示，将通过示例的方式将数据驱动器120描述为包括三个DIC 200a，200b和200c。

[0126] 三个DIC 200a，200b和200c的每一个包括一个ADC 220(ADCa，ADCb，ADCc)。具体地说，第一DIC 200a(DICa)包括ADC 220a(ADCa)，第二DIC 200b(DICb)包括ADC 220b(ADCb)，且第三DIC 200c(DICc)包括ADC 220c(ADCc)。

[0127] 参照图8，例如，ADC 220a(ADCa)具有对应于三条感测线的三个感测通道CH1，CH2和CH3，ADC 220b(ADCb)具有对应于三条感测线的三个感测通道CH4，CH5和CH6，且ADC 220c(ADCc)具有对应于三条感测线的三个感测通道CH7，CH8和CH9。

[0128] 参照图9，向ADC 220a(ADCa)的三个感测通道CH1，CH2和CH3输入同一电压V1，且响应于同一电压V1，从三个感测通道CH1，CH2和CH3提取出输出数据DSEN。同样地，向三个感测通道CH4，CH5和CH6输入同一电压V1，且响应于同一电压V1，从三个感测通道CH4，CH5和CH6提取出输出数据DSEN。以同样的方式，向三个感测通道CH7，CH8和CH9输入同一电压V1，且响应于同一电压V1，从三个感测通道CH7，CH8和CH9提取出输出数据DSEN。

[0129] 当如上所述从九个感测通道CH1到CH9提取出的输出数据DSEN如图9中那样表示时，很显然来自九个感测通道CH1到CH9的输出数据DSEN彼此不同。换句话说，每个ADC 220的感测通道输出不同的数据，且ADC 220也输出不同的数据。

[0130] 在图9中，具有输出数据D1的直线表示当输入电压为V1时具有理想线性ADC特性的输出数据。

[0131] 如上所述，当由于任何原因而存在ADC特性变化时，产生了被感测用来像素补偿的电压VSEN没有转换成准确的感测数据DSEN的问题。因而，不会正确地进行像素补偿，由此不能克服子像素的非均匀亮度问题。

[0132] 因此，本实施方式提供了一种用于补偿ADC特性变化的功能(下文称为“ADC补偿功能”)，通过该功能，不管ADC特性是否变化，均能获得准确的感测数据。

[0133] 下面将更详细地描述其中不管ADC特性是否变化，均能获得准确的感测数据的ADC补偿功能。

[0134] 图10是图解根据典型实施方式的显示装置100中的用于补偿ADC特性变化的构造的示意图，图11是图解在根据典型实施方式的显示装置100中应用ADC补偿的像素补偿的概念图。

[0135] 参照图10，根据典型实施方式的显示装置100包括ADC补偿电路1000和像素补偿电路1010。ADC补偿电路1000和像素补偿电路1010能够是时序控制器140的组件。然而，它们可由单个单元实现并可在另一个单元中位于时序控制器外部，或可由分离的单元实现。

[0136] 当存在ADC特性变化时，ADC补偿电路1000通过按照感测通道更新包含ADC特性信息的查找表(LUT)1020来进行ADC补偿，从而能够补偿ADC特性变化，ADC特性变化包括ADC 220之间的特性差异和每个ADC 220内的感测通道之间的特性差异的至少之一。

[0137] 参照图10和图11，时序控制器140的像素补偿电路1010进行像素补偿，从而基于改变后的感测数据DSEN’来补偿每个子像素内的晶体管的特性(例如，阈值电压Vth或迁移率μ)，其中改变后的感测数据DSEN’是感测数据DSEN根据由ADC补偿电路1000更新的查找表1020而改变后的数据。

[0138] 因此，基于根据由ADC补偿电路1000更新的查找表1020而改变后的感测数据DSEN’，时序控制器140将待提供给子像素SP的数据DATA改变为数据DATA’，并输出改变后的数据DATA’。然后，DIC 200内的DAC 210将改变后的数据DATA’转换为数据电压VDATA’且随后输出数据电压VDATA’。转换后的数据电压VDATA’被提供给相应子像素SP。

[0139] 参照图10和图11，即使由于ADC特性变化，从ADC 220输出的感测数据DSEN不准确，感测数据DSEN也可得到补偿，并使用已被补偿的改变后的感测数据DSEN’进行像素补偿。因此，可消除由ADC特性变化而导致的感测数据和像素补偿的不准确性。

[0140] 如果由两个或更多个ADC 220获得的感测数据DSEN不同于存储器中预先存储的参考数据，则上述ADC补偿电路1000感测ADC特性变化(ADC特性信息变化)。在此情形中，ADC补偿电路1000通过进一步考虑从传感器(未示出)接收的温度变化信息和压力变化信息的至少之一，能够提高感测ADC特性变化的准确性。

[0141] 在感测了ADC特性变化之后，ADC补偿电路1000能够进行ADC补偿，以通过改变查找表1020中包含的对应于感测通道的ADC特性信息(例如偏移或增益)之中的至少一条信息(例如偏移)来更新查找表1020，以便补偿ADC特性变化。

[0142] 此ADC补偿能够响应于表示显示装置100断电的信号来进行或者在显示装置100开启的同时实时地进行。

[0143] 在此，“ADC补偿”被称为实时数据驱动IC感测(下文称为“RTDS”)。

[0144] 可选择地或附加地，可实时进行像素补偿，以补偿子像素内的晶体管的迁移率μ。

[0145] 在此，用以在显示装置100开启的同时实时补偿迁移率的像素补偿称为实时(下文称为“RT”)补偿。

[0146] 对于上述RT补偿，时序控制器140能够在垂直同步信号Vsync的空白时间中控制像素补偿(RT补偿)，以补偿每个子像素的晶体管的迁移率。

[0147] 此外，时序控制器140响应于表示显示装置100断电的信号来控制ADC补偿(即RTDS)，且随后控制像素补偿，以补偿每个子像素内的晶体管的阈值电压。

[0148] 用于响应于表示显示装置100断电的信号来补偿每个子像素内的晶体管的阈值电压的像素补偿称为“非实时感测”(下文称为“OFF RS”)。

[0149] 尽管如上所述能够响应于表示显示装置100断电的信号进行ADC补偿(即RTDS)，但能够在显示装置100开启的同时实时进行ADC补偿。

[0150] 如此，当在显示装置100开启的同时实时进行ADC补偿时，需要控制与在显示装置100开启的同时实时进行的像素补偿对应的RT补偿的时序以及与ADC补偿对应的RTDS的时序。

[0151] 因此，时序控制器140控制时序，使得在产生显示装置100的断电信号之前，即在显示装置100开启的同时进行像素补偿(RT补偿)和ADC补偿(RTDS)二者。

[0152] 例如，时序控制器140可控制在产生显示装置100的断电信号之前的单个帧中，在垂直同步信号Vsync上的几个空白时间之中的至少一个空白时间中进行ADC补偿，并可控制在其余空白时间中进行像素补偿。

[0153] 如此，当在显示装置100开启的同时已实时进行ADC补偿(RTDS)时，时序控制器140控制进行像素补偿，使得当产生断电信号时补偿每个子像素内的晶体管的阈值电压(OFF RS)，而不进行ADC补偿(即RTDS)。

[0154] 此外，上述查找表1020包含与两个或更多个ADC 220的每一个的感测通道对应的偏移和增益，所述偏移和增益包含在定义输入-输出关系的ADC特性信息中。

[0155] 当通过ADC补偿电路1000更新查找表1020时，能够改变ADC特性信息的偏移和增益的至少之一(例如偏移)。

[0156] 在感测阈值电压的同时在ADC 220处感测的电压VSEN高于在感测迁移率的同时在ADC 220处感测的电压VSEN。阈值电压感测期间ADC 220的输入电压VSEN高于迁移率感测期间ADC 220的输入电压VSEN。因此，用于阈值电压感测而参考的查找表1020必须与用于迁移率感测而参考的查找表1020不同。

[0157] 因此，存储器400中存储的查找表1020包括用于阈值电压感测模式的第一查找表和用于迁移率感测模式的第二查找表，第二查找表与第一查找表分离。

[0158] 如上所述，ADC特性变化可以是ADC 220之间的特性变化或每个ADC220内的感测通道之间的特性变化。

[0159] 在此，作为补偿ADC特性变化的ADC补偿，公开了两个补偿方法。一个方法按照DIC补偿ADC特性变化(下文称为“DIC专用ADC补偿”或“第一ADC补偿”)。另一个方法按照感测通道补偿ADC特性变化(下文称为“CH专用补偿”或“第二ADC补偿”)。

[0160] 图12A和图12B是图解根据典型实施方式的显示装置100中的两个ADC补偿方法的示图。

[0161] 图12A是概念性地图解按照DIC 200补偿ADC特性变化的第一ADC补偿的示图。

[0162] 参照图12A，即使感测数据按照一个DIC的感测通道而不同，基于通过将对应于感测通道的感测数据平均化所获得的一个平均感测数据DSEN_avg与预设参考数据DREF之间的差△，对一个DIC 200的所有感测通道将感测数据DSEN改变相同的补偿量。

[0163] 参照图12A，将描述第一数据DIC 200a(DICa)，即ADC 220a(ADCa)中的ADC补偿。第一DIC 220a(DICa)的ADC 220a(ADCa)接收同一电压作为三个感测通道CH1，CH2和CH3的输入，输出三组不同的感测数据Dch1，Dch2和Dch3，并将感测数据中的至少一个例如三组不同的感测数据Dch1，Dch2和Dch3存储在存储器400中。

[0164] ADC补偿电路1000通过将三组不同的感测数据Dch1，Dch2和Dch3平均化来获得平均感测数据DSEN_avg_a，并计算平均感测数据DSEN_avg_a与预先存储在存储器400中的参考数据DREF之间的差△a。

[0165] ADC补偿电路1000通过对存储于查找表1020中的ADC 220a(ADCa)的三个感测通道CH1，CH2和CH3的每一个的ADC特性特性(例如偏移)加上或减去相同的补偿量△a，更新查找表1020。

[0166] 即使三组感测数据Dch1，Dch2和Dch3彼此不同，仍通过相同的补偿量△a来补偿ADC 220a(ADCa)的三个感测通道CH1，CH2和CH3的三组感测数据Dch1，Dch2和Dch3也是有帮助的。然而，这没有反映出感测通道之间的特性差异，这是有问题的。

[0167] 参照图12A，在作为第二DIC 200b(DICb)的组件的ADC 220b(ADCb)中，与第一DIC 200a(DICa)的ADC 220a(ADCa)中的ADC补偿一样，即使三组感测数据Dch4，Dch5和Dch6彼此不同，仍通过相同的补偿量△a来补偿ADC 220b(ADCb)的三个感测通道CH4，CH5和CH6的三组感测数据Dch4，Dch5和Dch6。

[0168] 此外，在作为第三DIC 200c(DICc)的组件的ADC 220c(ADCc)中，即使三组感测数据Dch7，Dch8和Dch9彼此不同，也仍通过相同的补偿量△a来补偿三个感测通道CH7，CH8和CH9的三组感测数据Dch7，Dch8和Dch9。

[0169] 在图12A中，假设对于所有感测通道CH1到CH9来说所有参考数据DREF相同。

[0170] 第一ADC补偿方法的优点在于，因为对于每个DIC仅需要存储一条参考数据，所以减小了数据量，且因为按照DIC进行用于更新查找表的数据比较，所以减小了计算量。就是说，第一ADC补偿方法实现高效的ADC补偿。

[0171] 与第一ADC补偿方法不同，第二ADC补偿方法按照感测通道进行ADC补偿，将在下面参照图12B进行描述。

[0172] 参照图12B，第二ADC补偿方法不按照感测通道将感测数据平均化，而是通过基于感测通道的预定参考数据DREF之间的差△确定每个感测通道的补偿量，由此按照感测通道单独改变感测数据DSEN。

[0173] 参照图12B，将描述第一数据DIC 200a(DICa)，即ADC 220a(ADCa)中的ADC补偿。作为第一DIC 220a(DICa)的组件的ADC 220a(ADCa)接收用于三个感测通道CH1，CH2和CH3的同一电压，输出三组不同的感测数据Dch1，Dch2和Dch3，并将感测数据中的至少一个例如三组不同的感测数据Dch1，Dch2和Dch3存储在存储器400中。

[0174] ADC补偿电路1000计算三组不同的感测数据Dch1，Dch2和Dch3与预先存储在存储器400中的参考数据DREF之间的差△ch1，△ch2和△ch3。

[0175] ADC补偿电路1000通过对存储于查找表1020中的ADC 220a(ADCa)的三个感测通道CH1，CH2和CH3的ADC特性信息(例如偏移)加上或减去相应的补偿量△ch1，△ch2和△ch3，更新查找表1020。

[0176] 通过单独的补偿量△ch1，△ch2和△ch3补偿三个感测通道CH1，CH2和CH3的三组感测数据Dch1，Dch2和Dch3是有帮助的。

[0177] 因此，与第一ADC补偿方法不同，第二ADC补偿方法能够通过反映感测通道之间的特性差异更准确地补偿感测数据，由此能够更精确地进行像素补偿。

[0178] 参照图13，当根据典型实施方式的显示装置100为OLED显示装置时，每个子像素包括OLED、驱动晶体管DT、第一晶体管T1、第二晶体管T2和电容器Cst。驱动晶体管DT驱动OLED。第一晶体管T1由通过第一栅极线GL1提供的第一扫描信号SENSE控制，且第一晶体管T1连接在线SL与驱动晶体管DT的N1节点(源极节点或漏极节点)之间，线SL用作感测线或提供参考电压的参考电压线。第二晶体管T2由通过第二栅极线GL2提供的第二扫描信号SCAN控制，且第二晶体管T2连接在数据线DL与驱动晶体管DT的N2节点(栅极节点)之间。电容器Cst连接在驱动晶体管DT的N1节点和N2节点之间。

[0179] 当第二晶体管T2导通时，第二晶体管T2将通过DIC 200提供的数据电压VDATA施加给驱动晶体管DT的N2节点(栅极节点)。

[0180] 当第一晶体管T1导通时，第一晶体管T1将通过线SL提供的参考电压VREF施加给驱动晶体管DT的N1节点(源极节点或漏极节点)。在此，线SL用作参考电压线。

[0181] 此外，第一晶体管T1根据开关操作SW导通，并使驱动晶体管DT的N1节点中的电压施加给线SL，使得DIC 200内的ADC 220能够感测驱动晶体管DT的N1节点中的电压。在此，线SL用作感测线，且驱动晶体管DT的N1节点用作感测节点。

[0182] 如图13中所示，在四个子像素行(R，W，G和B)的每一行中能够设置一条线SL。

[0183] 根据如上所述的本发明的实施方式，可克服尽管提供了像素补偿功能，但每个子像素的亮度没有被补偿或者子像素间的亮度水平的差异没有被补偿的问题。

[0184] 此外，根据本发明的实施方式，尽管每个子像素内的感测节点的感测结果不准确，但感测结果被补偿为具有准确的值。因而，这能够防止或减小亮度的非均匀性，由此提高显示装置100的图像质量。

[0185] 此外，根据本发明的实施方式，提供了一种能够补偿ADC特性变化的ADC补偿技术。当对应于感测单元的ADC 220的特性变化时，能够使用ADC感测结果进行准确的像素补偿。

[0186] 此外，根据本发明的实施方式，当ADC特性变化时，ADC补偿功能按照DIC有效地补偿ADC特性变化。

[0187] 此外，根据本发明的实施方式，当ADC特性变化时，ADC补偿功能按照感测通道准确地补偿ADC特性变化。

[0188] 上文中，已参照附图详细描述了感测单元补偿功能的必要性以及其构造和操作。即使在ADC的任何初始偏差被补偿的情形中，仍不能补偿由外部因素导致的ADC特性变化。
因此，DIC的输出差异可能导致源区块暗淡(source block dim)。当不正确地提取出用于补偿ADC的初始偏差的偏移或增益时也可能发生源区块暗淡。

[0189] 下面将详细描述用于补偿数据驱动器的输出误差的“DIC输出补偿功能”。之后，将详细描述当数据驱动器包括两个或更多个DIC时通过监控每个DIC的输出来补偿输出偏差的“用于每个DIC的偏差补偿功能”

[0190] 图14是图解根据典型实施方式的显示装置100的DIC输出补偿的示图。

[0191] 如图14中所示，DIC 200包括一个ADC 220和对应于数据线的DAC 210。DIC 200通过十二条数据线向三个像素P的十二个子像素SP提供模拟数据电压VDATA，每个像素包括四个子像素。DAC 210的数量与数据线的数量相同，且DAC 210将数字数据DATA转换为模拟数据电压VDATA。

[0192] 当DIC 200的特性由于外部因素而变化时，DIC可能不会完成将数据DATA转换为准确的数据电压VDATA并通过输出缓存器将数据电压VDATA提供给每个子像素的过程。

[0193] 如图14中所示，DAC 210(DAC1到DAC12)中的一个DAC DAC 12的输出端子例如最外侧输出端子(当设置输出缓存器时为输出缓存器的输出端子)与ADC 220的输入端子连接。因为DAC 210(DAC1到DAC12)中的一个DAC DAC 12的输出端子与ADC 220的输入端子连接，所以ADC 220能够将待提供给一个子像素(例如SP12)的模拟数据电压VDATA12转换为数字感测数据DDATA。

[0194] 在执行DIC输出补偿功能时使用的数据可以是具有单色图案(例如灰色图案)的数据。因为在低色调时人们识别到DIC的输出误差，所以可使用低色调的单色图案作为数据来执行基于低色调的DIC输出补偿功能。例如，当用于执行DIC输出补偿功能的数字数据为对应于3V的值时，提供给子像素的感测数据可能是对应于2.8V的值。

[0195] 当在前述例子中，DIC 200的特性变化且对应于3V的数据作为2.8V的数据电压提供给具体子像素SP9时，ADC 220将2.8V的数据电压转换为数字感测数据DDATA，并将数字感测数据DDATA提供给时序控制器140。时序控制器140将原始数据与感测数据之间的差(对应于0.2V的值)作为DIC 200的输出误差△存储在存储器400中。

[0196] 当在实际驱动期间向DIC 200提供数据时，时序控制器140通过反映存储于存储器400中的输出误差△(在前述例子中为对应于0.2V的值)而向DIC 200提供补偿DIC 200的输出误差的补偿数据DATA”。

[0197] DIC 200从时序控制器400接收补偿数据DATA”，并向子像素SP1到SP12提供模拟数据电压VDATA”。在前述例子中，DIC 200向每个子像素提供补偿数据DATA”(＝原始数据+△)。

[0198] 前述例子描述了提供给一个子像素SP12的模拟数据电压VDATA12被感测并作为输出误差存储在存储器400中，并且在驱动期间向每个子像素提供通过对数据加上输出误差△而获得的补偿后数据DATA”。然而，可感测提供给两个或更多个子像素的数据电压，将感测的数据电压的平均值作为DIC 200的输出误差存储在存储器400中，并在驱动期间执行DIC的输出误差补偿功能。

[0199] 尽管在前述例子中，作为感测数据电压的感测单元，举例说明了执行像素补偿功能的ADC 220，但可在显示装置100中单独设置感测数据电压的感测单元。

[0200] 尽管在前述例子中举例说明了数据驱动器120具有单个DIC 200，但数据驱动器120可包括两个或更多个DIC，例如图8中所示的三个DIC 200a，200b和200c。

[0201] 图15是图解图8中所示的包括三个DIC 200a，200b和200c的数据驱动器120的详细构造图。

[0202] 参照图8和图15，数据驱动器120被显示为包括三个DIC 200a，200b和200c。

[0203] 例如，三个DIC 200a，200b和200c的每一个包括至少一个ADC 220以及对应于数据线的两个或更多个DAC 210。

[0204] 第一DIC 200a包括一个ADC 220a和对应于数据线的DAC 210a。第二DIC 200b包括一个ADC 220b和对应于数据线的DAC 210b。第三DIC 200c包括一个ADC 220c和对应于数据线的DAC 210c。三个DIC 200a，200b和200c的每一个的构造和操作与上面参照图14所示的DIC 200的构造和操作相同。

[0205] 如上所述，外部因素可能改变每个DIC的特性并导致DIC 200a，200b和200c的输出差异。

[0206] 与两个相邻DIC中的相应DIC相邻的每个DAC的输出端子与相应DIC中的ADC的输入端子连接。

[0207] 例如，相邻DIC中的第一DIC 200a的最后一个DAC 210a的输出端子与ADC 220a的输入端子连接，且相邻DIC的第二DIC 200b的第一DAC 210b的输出端子与ADC 220b的输入端子连接。第一DIC 200a的ADC 220a能够将提供给一个子像素的模拟数据电压VDATA转换为数字感测数据DDATA1。第二DIC 200b的ADC 220b能够将提供给一个子像素的模拟数据电压VDATA转换为数字感测数据DDATA2且将提供给另一个子像素的另一个模拟数据电压VDATA转换为数字感测数据DDATA3。

[0208] 相邻DIC中的第二DIC 200b的最后一个DAC 210b的输出端子与ADC200b的输入端子连接，且第三DIC 200c的第一DAC 210c的输出端子与ADC 220c的输入端子连接。第三DIC 200c能够将提供给一个子像素的模拟数据电压VDATA转换为数字感测数据DDATA4。

[0209] 具体地说，数据驱动器120包括与数据线电连接以向数据线提供数据电压的两个或更多个DAC、以及ADC，ADC用于传输通过感测提供给与一个DAC连接的一条数据线的数据电压而获得的感测数据。在此，设置了一个ADC以及两个或更多个DIC，每个DIC包括两个或更多个DAC，且每个DIC的多个DAC中的一个DAC的输出端子能够与ADC的输入端子连接。此外，每个DIC中的、其输出端子与ADC的输入端子连接的DAC能够与另一个DIC相邻。当其他DIC与一个DIC的两端相邻时，与其他DIC相邻的两个DAC的输出端子能够与ADC的输入端子连接。

[0210] 在执行用于补偿DIC之间的差异的补偿功能时使用的数据可具有单色图案(例如灰色图案)。因为在低色调时人们识别到DIC之间的输出差异，所以可使用低色调单色图案作为数据，基于低色调执行用于补偿DIC之间的输出差异的补偿功能。

[0211] 图16图解了根据典型实施方式的显示装置100中的DIC之间的差异。

[0212] 如图16中所示，当各DIC 200a，220b和200c的每一个向相应子像素施加对应于3V的输入数据DATA(DATA＝3V)时，由于由外部因素导致的DIC 200a，220b和200c之间的差异，ADC 220a，220b，220c和220d能够感测数据，即DDATA1＝3.2V，DDATA2＝2.8V，DDATA3＝2.8V且DDATA4＝3.6V。

[0213] 如图16中所示，各ADC 220a，220b和220c将感测数据，即DDATA1＝3.2V，DDATA2＝2.8V，DDATA3＝2.8V且DDATA4＝3.6V提供给时序控制器140。例如，如上面参照图14所述，原始数据与感测数据之间的差能够作为DIC 200a，220b和200c的每一个的输出误差△而存储在存储器400中。在此情形中，可同时补偿DIC的输出误差，还可补偿DIC之间的输出差异。

[0214] 表1

[0215]  第一DIC 第二DIC 第三DIC
输出误差Δ 对应于+0.2V的值 对应于-0.2V的值 对应于+0.6V的值

[0216] 对于另一个例子，不管原始输入数据如何，时序控制器140能够将感测数据与感测数据的平均值之间的差作为DIC 200a，220b和200c的输出误差△存储在存储器400中。换句话说，因为在前述例子中感测数据的平均值为3.2V，所以时序控制器140能够将感测数据与感测数据的平均值之间的差作为DIC 200a，220b和200c的输出误差△存储在存储器400中，如下面的表2中所示。因为仅使用感测数据计算各DIC 200a，220b和200c的输出误差△并将其存储在存储器400中，所以不需要在存储器400中单独存储在感测时使用的输入数据。因此，可将存储器的使用最小化，并可减小补偿DIC之间的差异所需的时间段。

[0217] 表2

[0218]  第一DIC 第二DIC 第三DIC
输出误差Δ 对应于0V的值 对应于-0.4V的值 对应于+0.4V的值

[0219] 尽管前述例子描述了DIC 200a，220b和200c的每一个向相应子像素施加相同的输入数据且ADC 220a，220b和220c分别感测数据，但DIC 200a，220b和200c可施加不同的输入数据，或者DIC 200a，220b和200c的每一个的DAC可施加不同的数据。例如，在实际驱动期间，ADC 220a，220b和220c在具体帧中感测数据，并将实际的输入数据与感测数据进行比较，由此计算DIC的输出误差。

[0220] 当在实际驱动期间时序控制器140向DIC 200a，220b和200c提供输入数据时，时序控制器140通过反映如表1或表2中所示的存储于存储器400中的输出误差△(在前述例子中为对应于0.2V的值)补偿DIC 200a，220b和200c的输出误差，由此向DIC 200a，220b和200c提供补偿数据DATA”。

[0221] DIC 200a，220b和200c的每一个从时序控制器400接收补偿数据DATA”，并向子像素提供模拟数据电压(VDATA”＝原始输入数据+△)。

[0222] 图17是图解在补偿了ADC特性变化之后，对根据本发明典型实施方式的显示装置100中的DIC之间的差异进行补偿的示意性构造图。图18是图解其中在ADC补偿之后对DIC之间的差异进行补偿的根据本发明典型实施方式的显示装置100中的像素补偿的概念图。

[0223] 参照图17，除了图10中所示的ADC补偿电路1000和像素补偿电路1010以外，根据典型实施方式的显示装置100还包括数据驱动器偏差补偿单元例如偏差补偿电路1030。偏差补偿电路1030与ADC补偿电路1000和像素补偿电路1010一起包含在时序控制器140中。

[0224] 存储于存储器140中的查找表1020包括用于阈值电压感测模式的第一查找表、用于迁移率感测模式的第二查找表、以及包含对应于感测通道的ADC特性信息的第三查找表，第一到第三查找表彼此分离。查找表1020进一步包括包含DIC的输出误差的第四查找表。

[0225] 由ADC补偿电路1000执行的ADC补偿操作和由像素补偿电路1010执行的像素补偿操作可与上面参照图10和图11描述的相同。

[0226] 偏差补偿电路1030独立于ADC补偿电路1000的ADC补偿和像素补偿电路1010的像素补偿或与ADC补偿电路1000的ADC补偿和像素补偿电路1010的像素补偿相配合地，补偿DIC之间的输出偏差。

[0227] 如上面参照图10和图11所述的，ADC补偿电路1000更新查找表1020，查找表1020包含对应于感测通道的ADC特性信息。

[0228] 时序控制器140的像素补偿电路1010进行像素补偿，以基于改变后的感测数据DSEN’来补偿每个子像素中的晶体管的特性(例如，阈值电压Vth或迁移率μ)，其中改变后的感测数据DSEN’是感测数据DSEN根据由ADC补偿电路1000更新的查找表而改变后的数据。

[0229] 如上面参照图15所述，偏差补偿电路1030将DIC的输出误差存储在查找表1020中。

[0230] 因而，基于根据由ADC补偿电路1000更新的查找表1020而改变后的感测数据DSEN’，时序控制器140将待提供给子像素SP的数据DATA改变为改变后的数据DATA’，并输出补偿数据DATA”，其中补偿数据DATA”是通过根据由偏差补偿电路1030存储的查找表1020，基于每个DIC的输出误差来补偿改变后的数据DATA’而获得的。因此，DIC 200a，200b和200c中的DAC 210a，210b和210c的每一个将补偿数据DATA”转换为数据电压VDATA”，并将数据电压VDATA”提供给相应子像素SP。

[0231] DIC输出误差补偿和用于DIC之间的输出偏差的补偿可在产生断电信号时进行，或者可在开启的同时实时进行。

[0232] 可在进行初始像素补偿和/或ADC补偿的同时进行DIC输出误差补偿或用于DIC之间的输出偏差的补偿。此外，可在显示装置开启的同时进行DIC输出误差补偿或用于DIC之间的输出偏差的补偿。此外，可在正常驱动期间输出灰色图案的同时进行DIC输出误差补偿或用于DIC之间的输出偏差的补偿。

[0233] 可在ADC补偿之后进行DIC输出误差补偿或用于DIC之间的输出偏差的补偿。

[0234] 当在开启的同时在ADC补偿(即RTDS)之后实时进行DIC输出误差补偿或用于DIC之间的输出偏差的补偿时，必须控制在显示装置100开启的同时实时进行的与像素补偿对应的RT补偿、与ADC补偿对应的RTDS、DIC输出误差补偿、以及用于DIC之间的输出偏差的补偿的时序。因此，时序控制器140能够控制时序，使得必须在产生显示装置100的断电信号之前，即在显示装置100正在开启时进行像素补偿(RT)、ADC补偿(RTDS)、DIC输出误差补偿、以及用于DIC之间的输出偏差的补偿等所有补偿。

[0235] 可在显示装置100正在开启的同时，在ADC补偿之后且在正常驱动之前进行DIC输出误差补偿或用于DIC之间的输出偏差的补偿。

[0236] 此外，根据本发明的实施方式，能够补偿数据驱动器的输出误差。当数据驱动器包括两个或更多个DIC时，可通过监控DIC的输出来补偿输出偏差。

[0237] 此外，根据本发明的实施方式，因为数据驱动器的输出误差和DIC的输出偏差被补偿，所以防止或减小了亮度非均匀性，由此使显示装置具有出色的图像质量。

[0238] 尽管根据本发明典型实施方式的显示装置100被描述为OLED显示装置，但显示装置100可由任何显示装置，如液晶显示器(LCD)或等离子体显示面板(PDP)实现。

[0239] 为了解释本发明的具体原理而给出了前面的描述和附图。在不背离本发明的原理的情况下，本发明所属领域的技术人员能够通过组合、分割或替换要素来进行诸多变形和变化。在此公开的前述实施方式应当解释为仅是举例说明，而不应解释为对本发明的原理和范围的限制。应当理解，本发明的范围应由所附权利要求书限定，所有它们的等同物均落入本发明的范围内。