本发明公开了一种光电传感器测试设备及其测试方法，包括机构底座、测试轨道和测试暗室，所述机构底座具有斜坡；所述测试轨道沿斜坡铺设，使得待测光电传感器能够利用自身重力沿着所述测试轨道的一斜边由上而下滑动；所述测试暗室位于测试轨道上，测试暗室内设置有支撑装置、反射板和标准光源：所述支撑装置将测试暗室分隔为第一暗室和第二暗室，第一暗室和第二暗室沿测试轨道由上往下依次设置，用于支撑所述反射板和标准光源；所述反射板设置于第一暗室和第二暗室的顶部；所述标准光源设置于第一暗室或第二暗室顶部的反射板上。本发明具有节能、误差小、测试时间短、效率高等诸多优点。
1.一种光电传感器测试设备，其特征在于，包括机构底座、测试轨道和测试暗室，其中：
所述测试轨道沿所述斜坡铺设，使得待测光电传感器能够利用自身重力沿着所述测试轨道的一斜边由上而下滑动；
所述测试暗室位于所述测试轨道上，所述测试暗室内设置有支撑装置、反射板和标准光源：
所述支撑装置将所述测试暗室分隔为第一暗室和第二暗室，所述第一暗室和第二暗室位于测试轨道的中间区域，且沿所述测试轨道由上往下依次设置，用于支撑所述反射板和标准光源；
所述标准光源设置于第一暗室或第二暗室顶部的反射板上；
所述第一暗室入口处设有第一弹性挡片，所述第一弹性挡片对应的测试轨道在垂直于所述待测光电传感器运动方向上设置有第一伸缩挡片；
所述支撑装置设有第二弹性挡片，所述第二弹性挡片对应的测试轨道在垂直于所述待测光电传感器运动方向上设置有第二伸缩挡片；
所述第二暗室出口处设有第三弹性挡片，所述第三弹性挡片对应的测试轨道在垂直于所述待测光电传感器运动方向上设置有第三伸缩挡片。
2.如权利要求1所述的一种光电传感器测试设备，其特征在于，所述支撑装置为间隔板，所述间隔板的尺寸大小与所述测试暗室的大小相匹配，用于支撑所述反射板和标准光源。
3.如权利要求1所述的一种光电传感器测试设备，其特征在于，所述测试轨道垂直于所述待测光电传感器运动方向的横截面为内凹型结构，所述测试轨道底部还设有一凹槽，所述凹槽的宽度与所述待测光电传感器的宽度相匹配，所述待测光电传感器能够放置于所述凹槽内。
4.如权利要求3所述的一种光电传感器测试设备，其特征在于，所述凹槽与所述测试轨道两侧的内侧壁各具有一间隙，形成一四周中空的空间区域，使得所述待测光电传感器的上表面四周没有反射面。
5.如权利要求1所述的一种光电传感器测试设备，其特征在于，所述测试轨道上设置有两个测试底座，两个所述测试底座分别位于所述第一暗室和第二暗室对应的测试轨道上，两个所述测试底座内嵌设有多组测试探针，所述测试探针与待测光电传感器电性接触，测试所述待测光电传感器的电学性能。
6.如权利要求1所述的一种光电传感器测试设备，其特征在于，所述第一暗室和第二暗室的所有内壁喷涂为经过特殊处理的没有漫反射的全黑色。
7.如权利要求1所述的一种光电传感器测试设备，其特征在于，所述第一暗室和/或第二暗室的高度大于所述待测光电传感器的反射板的高度，能够忽略不计所述待测光电传感器所发射光线经由所述第一暗室和/或第二暗室的各个内侧面所反射的光强度。
8.一种光电传感器测试设备的测试方法，其特征在于，利用权利要求1所述光电传感器测试设备进行测试，包括以下步骤：步骤1：多个待测光电传感器依次放置于测试轨道的起始端，并依次沿测试轨道下滑；
步骤2：沿测试轨道下滑的第一个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第二个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
步骤3：第一个待测光电传感器完成环境光响应功能测试后，通过第二弹性挡片和第二伸缩挡片进入第二暗室，并被第三伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第二个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第三个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
步骤4：第一个待测光电传感器完成接近传感器的测试后，通过第三弹性挡片和第三伸缩挡片滑出第二暗室；第二个待测光电传感器完成接近传感器的测试后，通过第二弹性挡片和第二伸缩挡片进入第二暗室，并被第三伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第三个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第四个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
步骤5：依次测试剩余待测光电传感器，直至所有待测光电传感器测试完毕。
9.一种光电传感器测试设备的测试方法，其特征在于，利用权利要求1所述光电传感器测试设备进行测试，包括以下步骤：步骤1：多个待测光电传感器依次放置于测试轨道的起始端，并依次沿测试轨道下滑；
步骤2：沿测试轨道下滑的第一个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第二个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
步骤3：第一个待测光电传感器完成接近传感器功能测试后，通过第二弹性挡片和第二伸缩挡片进入第二暗室，并被第三伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第二个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第三个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
步骤4：第一个待测光电传感器完成环境光响应功能测试后，通过第三弹性挡片和第三伸缩挡片滑出第二暗室；第二个待测光电传感器完成接近传感器的测试后，通过第二弹性挡片和第二伸缩挡片进入第二暗室，并被第三伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第三个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第四个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
步骤5：依次测试剩余待测光电传感器，直至所有待测光电传感器测试完毕。
10.如权利要求8或9所述的一种光电传感器测试设备的测试方法，其特征在于，每个所述待测光电传感器的运动均是同时运动或具有相同的时间差，用以避免相邻的两个所述待测光电传感器同时位于第一暗室或第二暗室中。
一种光电传感器测试设备及其测试方法
技术领域
[0001] 本发明属于光电传感器测试设备技术领域，尤其是涉及一种光电传感器测试设备及其测试方法。
背景技术
[0002] 光电传感器是一种目前普遍使用于手机、平板以及可穿戴装置中的无源器件。光电传感器集成了红外发射芯片和感光芯片于一体的光学器件。光电传感器外形尺寸小，适配性强，被广泛应用。
[0003] 测试光电感应器的测试机，需要测试光电感应器的两项主要功能，即环境光响应功能和接近传感器的功能。测试机需要迅速而准确的探测产品的主要电性能和光学性能。电性能方面比较容易实现，但是光学性能的测试存在很多难以实现的部分。
[0004] 其中，光电传感器上接近传感器的原理在于：光电传感器自身发射红外信号，通过外部反射来判定物体的接近程度，并可通过接收到的反射信号将手机屏幕关闭，防止误操作，影响通话。光电传感器的另外一个主要功能是响应外部环境光的强弱，来调整手机屏幕的亮度，达到与人眼相匹配的程度，提高使用的舒适度。
[0005] 目前已有的测试机通过转盘转到固定位置，该固定位置有反射板，反射板的位置和高度固定，反射板上有特殊固定反射率的反射灰卡，该待测光电感应器在通电之后，感光芯片探测反射的光线强度并通过I2C方式输出。由于感光芯片的灵敏度非常高，感光芯片常常会探测到由四周反射回来的光线，而非有固定反射灰卡反射回来的光线。
[0006] 目前的光电感应器件都使用近红外的发射芯片，发出不可见的红外光。但是近红外部分作为环境光的一部分，感光芯片在探测环境光强度的同时一样会探测到自身发射芯片发出的红外部分光线，这些情况对测试都会造成很大的困难。
[0007] 现有的光电传感器测试机台存在以下技术上的缺陷：
[0008] 1.需要订制昂贵的转盘，只能运送特殊大小尺寸的产品；
[0009] 2.由于测试环境光响应功能和测试接近传感器功能的区域都需要在黑色的区域中进行，但是即使转盘喷黑漆之后，仍会有一定的反射。这对光学性能的测试精准度造成较大的影响。
发明内容
[0010] 鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种光电传感器测试设备及其测试方法，通过简单而快捷的方式测量光学性能，测试机构容易制造，测试机构的价格可以大幅度降低，测试的速度可以大幅度提升，并且可以在很大程度上降低外界反射的影响，有效提高测试精准度。
[0011] 为了达到上述发明目的，解决其技术问题所采用的技术方案如下：
[0012] 本发明公开了一种光电传感器测试设备，包括机构底座、测试轨道和测试暗室，其中：
[0013] 所述机构底座具有斜坡；
[0014] 所述测试轨道沿所述斜坡铺设，使得待测光电传感器能够利用自身重力沿着所述测试轨道的一斜边由上而下滑动；
[0015] 所述测试暗室位于所述测试轨道上，所述测试暗室内设置有支撑装置、反射板和标准光源：
[0016] 所述支撑装置将所述测试暗室分隔为第一暗室和第二暗室，所述第一暗室和第二暗室沿所述测试轨道由上往下依次设置，用于支撑所述反射板和标准光源；
[0017] 所述反射板设置于所述第一暗室和第二暗室的顶部；
[0018] 所述标准光源设置于第一暗室或第二暗室顶部的反射板上。
[0019] 优选的，所述支撑装置为间隔板，所述间隔板的尺寸大小与所述测试暗室的大小相匹配，用于支撑所述反射板和标准光源。
[0020] 进一步的，所述第一暗室入口处设有第一弹性挡片，所述第一弹性挡片对应的测试轨道在垂直于所述待测光电传感器运动方向上设置有第一伸缩挡片；
[0021] 所述支撑装置设有第二弹性挡片，所述第二弹性挡片对应的测试轨道在垂直于所述待测光电传感器运动方向上设置有第二伸缩挡片；
[0022] 所述第二暗室出口处设有第三弹性挡片，所述第三弹性挡片对应的测试轨道在垂直于所述待测光电传感器运动方向上设置有第三伸缩挡片。
[0023] 进一步的，所述测试轨道垂直于所述待测光电传感器运动方向的横截面为内凹型结构，所述测试轨道底部还设有一凹槽，所述凹槽的宽度与所述待测光电传感器的宽度相匹配，所述待测光电传感器能够放置于所述凹槽内。
[0024] 优选的，所述凹槽与所述测试轨道两侧的内侧壁各具有一间隙，形成一四周中空的空间区域，使得所述待测光电传感器的上表面四周没有反射面。
[0025] 进一步的，所述测试轨道上设置有两个测试底座，两个所述测试底座分别位于所述第一暗室和第二暗室对应的测试轨道上，两个所述测试底座内嵌设有多组测试探针，所述测试探针与待测光电传感器电性接触，测试所述待测光电传感器的电学性能。
[0026] 进一步的，所述第一暗室和第二暗室的所有内壁喷涂为经过特殊处理的没有漫反射的全黑色。
[0027] 进一步的，所述第一暗室和第二暗室位于测试轨道的中间区域。
[0028] 进一步的，所述第一暗室和/或第二暗室的高度大于所述待测光电传感器的反射灰卡的高度，能够忽略不计所述待测光电传感器所发射光线经由所述第一暗室和/或第二暗室的各个内侧面所反射的光强度。
[0029] 本发明另外公开了一种光电传感器测试设备的测试方法，利用上述光电传感器测试设备进行测试，包括以下步骤：
[0030] 步骤1：多个待测光电传感器依次放置于测试轨道的起始端，并依次沿测试轨道下滑；
[0031] 步骤2：沿测试轨道下滑的第一个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第二个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
[0032] 步骤3：第一个待测光电传感器完成环境光响应功能测试后，通过第二弹性挡片和第二伸缩挡片进入第二暗室，并被第三伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第二个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第三个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
[0033] 步骤4：第一个待测光电传感器完成接近传感器的测试后，通过第三弹性挡片和第三伸缩挡片滑出第二暗室；第二个待测光电传感器完成接近传感器的测试后，通过第二弹性挡片和第二伸缩挡片进入第二暗室，并被第三伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第三个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第四个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
[0034] 步骤5：依次测试剩余待测光电传感器，直至所有待测光电传感器测试完毕。
[0035] 本发明还公开了一种光电传感器测试设备的测试方法，利用上述光电传感器测试设备进行测试，包括以下步骤：
[0036] 步骤1：多个待测光电传感器依次放置于测试轨道的起始端，并依次沿测试轨道下滑；
[0037] 步骤2：沿测试轨道下滑的第一个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第二个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
[0038] 步骤3：第一个待测光电传感器完成接近传感器功能测试后，通过第二弹性挡片和第二伸缩挡片进入第二暗室，并被第三伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第二个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第三个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
[0039] 步骤4：第一个待测光电传感器完成环境光响应功能测试后，通过第三弹性挡片和第三伸缩挡片滑出第二暗室；第二个待测光电传感器完成接近传感器的测试后，通过第二弹性挡片和第二伸缩挡片进入第二暗室，并被第三伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第三个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第四个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
[0040] 步骤5：依次测试剩余待测光电传感器，直至所有待测光电传感器测试完毕。
[0041] 进一步的，每个所述待测光电传感器的运动均是同时运动或具有相同的时间差，用以避免相邻的两个所述待测光电传感器同时位于第一暗室或第二暗室中。
[0042] 本发明由于采用以上技术方案，使之与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果：
[0043] 1.本发明测试轨道的斜坡式设计，利用了待测光电传感器自身的重力作为动力传输，可以有效减少传动装置，有利于节能环保；
[0044] 2.本发明测试暗室中的特殊结构，尤其是测试轨道的特殊设计结构，可以有效减少光学干扰，将机械测试误差降低到最小程度，并将原有的光学干扰值降低50％-80％；
[0045] 3.本发明中由黑色间隔板将光电传感器的功能测试部分一分为二，互不干扰，且两个暗室能同时测试，测试的时间大幅度降低，测试效率大幅度提升。
附图说明
[0046] 为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。附图中：
[0047] 图1为本发明一种光电传感器测试设备中的光电传感器的剖面结构示意图；
[0048] 图2为本发明一种光电传感器测试设备中包含测试暗箱外箱的测试设备侧视图；
[0049] 图3为本发明一种光电传感器测试设备中测试暗箱打开后的测试设备侧视图；
[0050] 图4为本发明一种光电传感器测试设备中测试轨道特殊结构的剖视图；
[0051] 图5为本发明一种光电传感器测试设备中测试轨道特殊结构的俯视图；
[0052] 图6为本发明一种光电传感器测试设备的测试方法中其中一种实施例的流程图；
[0053] 图7为本发明一种光电传感器测试设备的测试方法中另外一种实施例的流程图。
[0054] 【主要符号说明】：
[0055] 1-发光源；
[0056] 2-光信号接收芯片；
[0057] 3-机构底座；
[0058] 4-测试轨道；
[0059] 5-测试暗室；
[0060] 6-反射板；
[0061] 7-支撑装置；
[0062] 8-标准光源；
[0063] 9-待测光电传感器；
[0064] 10-测试底座；
[0065] 11-测试探针；
[0066] 12-空间区域。
具体实施方式
[0067] 以下将结合本发明的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述和讨论，显然，这里所描述的仅仅是本发明的一部分实例，并不是全部的实例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明的保护范围。
[0068] 图1为需要测试的光电传感器的剖面结构图，该光电传感器的主要结构包括有发光源1和用于光学响应的光信号接收芯片2。该光电传感器的主要功能：
[0069] 一是用于测试环境光的强弱，根据环境光的强弱来调整应用电子产品的屏幕亮度。
[0070] 二是用于测试接近传感器的功能，光电传感器自身的发光源发射出特定光强的光，根据反射光的强弱判断反射物接近程度，并根据响应判断关闭应用的电子产品，比如手机屏幕的按键，避免在通话中的误操作。
[0071] 下面即通过具体的实施例来阐述本发明中光电传感器测试设备的改进结构及其测试方法。
[0072] 实施例一
[0073] 如图2-5所示，本发明公开了一种光电传感器测试设备，包括机构底座3、测试轨道4和测试暗室5，其中：
[0074] 所述机构底座3具有斜坡，本实施例中，不对所述机构底座3作具体形状上的限制，可以是三角形或梯形，只需满足具有一斜边即可；
[0075] 所述测试轨道4沿所述斜边由上而下铺设，使得待测光电传感器9能够利用自身重力沿着所述测试轨道4的一斜边由上而下滑动；
[0076] 所述测试暗室5位于所述测试轨道4上，本实施例中，所述测试暗室5用于遮挡外界的环境光对待测光电传感器9测试造成光学部分的干扰，其内部设置有支撑装置7、反射板6和标准光源8：
[0077] 所述支撑装置7将所述测试暗室5分隔为第一暗室和第二暗室，所述第一暗室和第二暗室沿所述测试轨道4由上往下依次设置，用于支撑所述反射板和标准光源；
[0078] 所述反射板6设置于所述第一暗室和第二暗室的顶部，所述反射板6的作用在于测试光电传感器9的接近功能；
[0079] 所述标准光源8设置于第一暗室或第二暗室顶部的反射板6上，所述标准光源8的作用在于测试光电传感器9的环境光响应功能。
[0080] 其中，所述支撑装置7可以是只起到支撑作用的中间有镂空部分的支撑件，而经过优化设计，本实施例中，所述支撑装置7采用全黑色的间隔板，所述间隔板的尺寸大小与所述测试暗室5的大小相匹配，一来用于区分第一暗室和第二暗室，二来用于支撑所述反射板6和标准光源8。既可以实现多种测试功能又可以有效节约测试空间。
[0081] 本实施例中，所述第一暗室入口处设有第一弹性挡片(未图示)，所述第一弹性挡片对应的测试轨道4在垂直于所述待测光电传感器9运动方向上设置有第一伸缩挡片(未图示)；
[0082] 所述支撑装置7设有第二弹性挡片(未图示)，所述第二弹性挡片对应的测试轨道4在垂直于所述待测光电传感器9运动方向上设置有第二伸缩挡片(未图示)；
[0083] 所述第二暗室出口处设有第三弹性挡片(未图示)，所述第三弹性挡片对应的测试轨道4在垂直于所述待测光电传感器9运动方向上设置有第三伸缩挡片(未图示)。
[0084] 本实施例中，两个暗室分别用于检测待测光电传感器9的环境光响应功能和接近传感器功能，其中，在测试环境光响应功能部分，其内部装有标准光源，用于检测待测光电传感器9的环境光响应功能；在测试接近传感器功能部分，是通过安装在测试暗室5顶部的反射板6的光反射来测试待测光电传感器9的对应功能；而此处间隔板的作用在于避免两个暗室中测试之间的光学干扰，该测试设备设计测试待测光电传感器9的优越部分在于将待测光电传感器9的性能测试一分为二，并且可以实现同时测试。因此测试的时间可以大幅度降低，测试效率大幅度提升。由于第一部分的测试须有开启标准光源，如果没有间隔板，第一部分的发光源必然会影响到第二部分的光学性能测试，反之亦然。
[0085] 进一步的，所述测试轨道4垂直于所述待测光电传感器9运动方向的横截面为内凹型结构，所述测试轨道4底部还设有一凹槽，所述凹槽的宽度与所述待测光电传感器9的宽度相匹配，所述待测光电传感器9能够放置于所述凹槽内，使得所述待测光电传感器9沿所述测试轨道4运动。此外，所述凹槽与所述测试轨道4两侧的内侧壁各具有一间隙，形成一四周中空的空间区域，使得所述待测光电传感器9的上表面四周没有反射面，只有顶部的反射板6可以反射光，从而得到精准的测试结果。本实施例中，考虑到测试轨道4即使在测试暗室5中，也会有微弱的光反射存在，同样会影响到待测光电传感器9的实际测试值的准确性，而上述的空间区域12的特殊设计可以有效减少测试中的机械误差，将原有的光学干扰值降低
50％-80％。
[0086] 优选实施例中，所述测试轨道4的底部具有一与所述待测光电传感器9宽度相等的凹槽，所述待测光电传感器9沿所述凹槽下滑。该设计的作用在于，所述凹槽在可以支持待测光电传感器9的同时，也可以引导待测光电传感器9的运动方向，使之不会偏离测试轨道4而影响最后的测试结果。
[0087] 进一步的，所述测试轨道4上设置有两个测试底座10，两个所述测试底座10分别位于所述第一暗室和第二暗室对应的测试轨道4上，两个所述测试底座10内嵌设有多组测试探针11，所述测试探针11与待测光电传感器9电性接触，测试所述待测光电传感器9的电学性能，并将测试结果传输到测试设备的软件部分，进行读数和运算判定。
[0088] 优选实施例中，所述第一暗室和第二暗室的所有内壁喷涂为经过特殊处理的没有漫反射的全黑色。本实施例中，由于需要测试的产品为光电传感器，该光电传感器的主要功能具有接近光响应的功能。为了减少周围环境的光反射干扰，测试暗室5和测试轨道4都需要使用表面处理，喷涂黑漆，将光反射减小到最低。即使是固定的螺丝和螺帽都需要进行同样的表面处理。
[0089] 进一步的，所述第一暗室和第二暗室位于测试轨道4的中间区域，即所述机构基座1一斜边的中间位置。
[0090] 此外，所述第一暗室和/或第二暗室的高度远大于待测光电传感器9的反射灰卡的高度。因此测试暗室5的反射效应远小于测试用的待测光电传感器9的反射灰卡的反射效应。所述测试暗室5的空间非常大，远大于感光芯片可以探测的范围，能够忽略不计所述待测光电传感器9所发射光线经由所述第一暗室和/或第二暗室的各个内侧面所反射的光强度。
[0091] 实施例二
[0092] 如图6所示，本发明另外公开了一种光电传感器测试设备的测试方法，利用上述光电传感器测试设备进行测试，包括以下步骤：
[0093] 步骤1：多个待测光电传感器依次放置于测试轨道的起始端，并依次沿测试轨道下滑；
[0094] 步骤2：沿测试轨道下滑的第一个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第二个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
[0095] 步骤3：第一个待测光电传感器完成环境光响应功能测试后，通过第二弹性挡片和第二伸缩挡片进入第二暗室，并被第三伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第二个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第三个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
[0096] 步骤4：第一个待测光电传感器完成接近传感器的测试后，通过第三弹性挡片和第三伸缩挡片滑出第二暗室；第二个待测光电传感器完成接近传感器的测试后，通过第二弹性挡片和第二伸缩挡片进入第二暗室，并被第三伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第三个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第四个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
[0097] 步骤5：依次测试剩余待测光电传感器，直至所有待测光电传感器测试完毕。
[0098] 实施例三
[0099] 如图7所示，本发明还公开了一种光电传感器测试设备的测试方法，利用上述光电传感器测试设备进行测试，包括以下步骤：
[0100] 步骤1：多个待测光电传感器依次放置于测试轨道的起始端，并依次沿测试轨道下滑；
[0101] 步骤2：沿测试轨道下滑的第一个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第二个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
[0102] 步骤3：第一个待测光电传感器完成接近传感器功能测试后，通过第二弹性挡片和第二伸缩挡片进入第二暗室，并被第三伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第二个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第三个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
[0103] 步骤4：第一个待测光电传感器完成环境光响应功能测试后，通过第三弹性挡片和第三伸缩挡片滑出第二暗室；第二个待测光电传感器完成接近传感器的测试后，通过第二弹性挡片和第二伸缩挡片进入第二暗室，并被第三伸缩挡片截停，进行环境光响应功能测试；第三个待测光电传感器在自身重力作用下通过第一弹性挡片和第一伸缩挡片进入第一暗室，并被第二伸缩挡片截停，进行接近传感器功能测试；第四个待测光电传感器被第一伸缩挡片截停，且尚未通过第一弹性挡片进入第一暗室之内；
[0104] 步骤5：依次测试剩余待测光电传感器，直至所有待测光电传感器测试完毕。
[0105] 本实施例与实施例二的区别在于，实施例二中，所述标准光源位于第一暗室顶部的反射板上，而实施例三则是位于第二暗室顶部的反射板上。两者并无实质区别，只是先进行环境光响应功能的测试还是接近传感器功能的测试上的选择，本发明将上述两种可能存在的情况均予以保护。
[0106] 此外，实施例二和实施例三种，每个所述待测光电传感器的运动均是同时运动或具有相同的时间差，用以避免相邻的两个所述待测光电传感器同时位于第一暗室或第二暗室中。其中，尤以同时运动的较佳，相应的待测光电传感器的测试效率高。
[0107] 由于采用了以上的改进结构和测试方法，本发明达到了以下的有益效果：
[0108] 1.本发明测试轨道的斜坡式设计，利用了待测光电传感器自身的重力作为动力传输，可以有效减少传动装置，有利于节能环保；
[0109] 2.本发明测试暗室中的特殊结构，尤其是测试轨道的特殊设计结构，可以有效减少光学干扰，将机械测试误差降低到最小程度，并将原有的光学干扰值降低50％-80％；
[0110] 3.本发明中由黑色间隔板将光电传感器的功能测试部分一分为二，互不干扰，且两个暗室能同时测试，测试的时间大幅度降低，测试效率大幅度提升。
[0111] 以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
