一种可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置转让专利

申请号 : CN201610288449.1

文献号 : CN105976688B

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发明人 : 李震彪宗天元朱青成柳子逊杨晓铖魏江黄靖

申请人 : 华中科技大学

摘要 :

本发明公开了一种可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置,包括光学面包板、反力弹簧、电磁铁、绝缘块、动触点夹具、静触点夹具、绝缘子、第一力传感器、第一直角转接板、四根第三支撑杆、薄金属片、两个直线导轨、三个角码、第三转接板、第一X轴滑台、第一Z轴滑台、第二X轴滑台、第一Y轴滑台、第二Z轴滑台、第一R轴滑台、第四转接板、光轴、动触点、静触点、滑块和限位器。本发明能实现四个方向调整动触点的位置,能够调节动静触点之间的间隙大小、接触力大小、分断力等参数,能实现动触点位移、静触点位移、触点电压、触点电流、接触力等参数的动态实时测量,方便分析影响动熔焊的关键因素,为抗熔焊长寿命触点系统提供依据。

权利要求 :

1.一种可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置,其特征在于,包括:光学面包板(1)、反力弹簧(5)、电磁铁(6)、绝缘块(7)、动触点夹具(8)、静触点夹具(9)、绝缘子(10)、第一力传感器(11)、第一直角转接板(15)、四根第三支撑杆(16)、薄金属片(17)、两个直线导轨(18)、三个角码(19)、第三转接板(20)、第一X轴滑台(21)、第一Z轴滑台(22)、第二X轴滑台(23)、第一Y轴滑台(24)、第二Z轴滑台(25)、第一R轴滑台(26)、第四转接板(27)、光轴(33)、动触点(34)、静触点(35)、滑块(36)和限位器(37);

所述第二X轴滑台(23)安装在光学面包板(1)的上端面上,第一Y轴滑台(24)安装在第二X轴滑台(23)的上端面上,第二Z轴滑台(25)安装在第一Y轴滑台(24)的上端面上,第一R轴滑台(26)安装在第二Z轴滑台(25)的上端面上,第四转接板(27)安装在第一R轴滑台(26)的上端面上,第四转接板(27)上沿着其长度方向依次安装有电磁铁(6)和左右对称的两个导轨(18),两个导轨(18)上都配置有滑块(36),所述绝缘块(7)安装在两个滑块(36)的上端面上,每个导轨(18)的前后两端都配置有限位器(37),所述光轴(33)贯穿所述电磁铁(6)的中心,所述光轴(33)后端与电磁铁之间配置所述反力弹簧(5),所述光轴(33)的前端与所述绝缘块(7)的一端连接,所述动触点夹具(8)与所述绝缘块(7)的另一端连接,所述动触点夹具(8)加持有所述动触点(34);

所述第一X轴滑台(21)安装在光学面包板(1)的上端面上,所述第一Z轴滑台(22)安装在第一X轴滑台(21)的上端面上,三个角码(19)的一个直角边并排固装在所述第一Z轴滑台(22)的上端面上,所述薄金属片(17)的下端与三个角码(19)的另一直角边连接,所述第三转接板(20)安装在在所述光学面包板(1)的上端面上,四根第三支撑杆(16)的下端安装在所述第三转接板(20)的上端面上,所述第一直角转接板(15)的一个直角边与四根第三支撑杆(16)的上端连接,所述第一直角转接板(15)的另一个直角边与所述第一力传感器(11)的一端连接,所述第一力传感器(11)的另一端与所述薄金属片(17)连接,所述绝缘子(10)的一端与静触点夹具(9)连接,所述绝缘子(10)的另一端与所述薄金属片(17)连接,所述绝缘子(10)与所述第一力传感器(11)相连接,所述静触点夹具(9)加持有所述静触点(35),且所述光轴(33)、所述动触点夹具(8)、所述动触点(34)、所述静触点(35)、所述静触点夹具(9)、所述绝缘子(10)与所述第一力传感器(11)设置在同一条直线上。

2.如权利要求1所述的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置,其特征在于,还包括:四根第一支撑杆(2)、第一转接板(3)、第一激光位移传感器(4)、第二转接板(12)、第二激光位移传感器(13)和四根第二支撑杆(14);

所述四根第一支撑杆(2)安装在所述光学面包板(1)的上端面上,第一转接板(3)与四根第一支撑杆(2)的顶端固定,所述第一激光位移传感器(4)安装在所述第一转接板(3)侧面,所述四根第二支撑杆(14)安装在所述光学面包板(1)的上端面上,所述第二转接板(12)与四根第二支撑杆(14)的顶端固定,所述第二激光位移传感器(13)安装在所述第二转接板(12)侧面。

3.如权利要求2所述的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置,其特征在于,所述第一激光位移传感器(4)的激光点打在所述绝缘块(7)上,能够实现对所述动触点(34)位移的动态测量,所述第二激光位移传感器(13)的激光点打在绝缘子(10)上,能够实现对静触点(35)位移的动态测量。

4.如权利要求1所述的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置,其特征在于,还包括四根第四支撑杆(28)、第三X轴滑台(29)、第三Z轴滑台(30)、第五转接板(31)和第二力传感器(32);

所述四根第四支撑杆(28)安装在光学面包板(1)的上端面上,第三X轴滑台(29)固装在四根第四支撑杆(28)的上端,第三Z轴滑台(30)安装在第三X轴滑台(29)的上端面上,第五转接板(31)安装在第三X轴滑台(29)的上端面上,第二力传感器(32)与第五转接板(31)中心处连接,且光轴(33)与第二力传感器(32)同轴设置。

5.如权利要求1-4任一项所述的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置,其特征在于,所述电磁铁(6)为圆柱形。

6.如权利要求1-4任一项所述的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置,其特征在于,所述电磁铁(6)通电时光轴(33)在电磁铁(6)的吸力下向靠近静触点(35)的方向移动,进而带动滑块(36)、绝缘块(7)和动触点(34)移动,直到动、静触点稳定接触,电磁铁(6)断电时光轴(33)在反力弹簧(5)的弹力下向远离静触点(35)的方向移动,进而带动滑块(36)、绝缘块(7)和动触点(34)移动,直到回到初始位置,从而实现模拟电磁继电器触点系统的闭合和分断功能。

说明书 :

一种可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置

技术领域

[0001] 本发明属于直流继电器技术领域,更具体地,涉及一种可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置。

背景技术

[0002] 高电压、小型化、大容量、长寿命是直流继电器等开关电器更新换代的发展方向,特别是航天航空电器在这方面的要求更加突出和迫切。目前制约此类高指标电器研发与应用的核心瓶颈问题之一是触点易于动熔焊及所导致的电寿命短。例如美国GIGAVAC公司研制的高端G系列直流继电器/接触器在体积仅约128mm×Φ61mm的情况下,可在直流25kVdc/30A—110A大容量下实现通断操作,但其电寿命很短,无法满足系统及用户要求。我国目前更无法独立自主制造出如此高指标的开关电器。
[0003] 目前专家学者们对于动熔焊现象的研究至今存在着不足,主要原因是实验测量条件比较局限和简单。比如实验中直流电压均是14Vdc—28Vdc,电流为10A—85A,接触压力值小且单一(如0.5N),没有考虑更大范围的电压、电流,没有考虑触点分离速度、分断力、材料类型等复杂条件的影响,在测量参数选择上也进行了简化,没有同时检测触点位移、接触力、电压、电流等多状态实时特征,导致熔焊时刻判断的精准性不高。该局限条件下所得动熔焊现象的结论不能指导抗熔焊长寿命开关电器设计和触点材料的选择,进而制约了高指标新型开关电器的发展。

发明内容

[0004] 针对现有技术的缺陷,本发明的目的在于提供一种可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置,旨在解决电磁继电器触点动熔焊特性实验测量条件比较局限和简单,导致该局限条件下所得动熔焊现象的结论不能指导抗熔焊长寿命开关电器设计和触点材料的选择的技术问题。
[0005] 为实现上述目的,本发明提供了一种可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置,包括:光学面包板、反力弹簧、电磁铁、绝缘块、动触点夹具、静触点夹具、绝缘子、第一力传感器、第一直角转接板、四根第三支撑杆、薄金属片、两个直线导轨、三个角码、第三转接板、第一X轴滑台、第一Z轴滑台、第二X轴滑台、第一Y轴滑台、第二Z轴滑台、第一R轴滑台、第四转接板、光轴、动触点、静触点、滑块和限位器;所述第二X轴滑台安装在光学面包板的上端面上,第一Y轴滑台安装在第二X轴滑台的上端面上,第二Z轴滑台安装在第一Y轴滑台的上端面上,第一R轴滑台安装在第二Z轴滑台的上端面上,第四转接板安装在第一R轴滑台的上端面上,第四转接板上沿着其长度方向依次安装有电磁铁和左右对称的两个导轨,两个导轨上都配置有滑块,所述绝缘块安装在两个滑块的上端面上,每个导轨的前后两端都配置有限位器,所述光轴贯穿所述电磁铁的中心,所述光轴后端与电磁铁之间配置所述反力弹簧,所述光轴的前端与所述绝缘块的一端连接,所述动触点夹具与所述绝缘块的另一端连接,所述动触点夹具加持有所述动触点;所述第一X轴滑台安装在光学面包板的上端面上,所述第一Z轴滑台安装在第一X轴滑台的上端面上,三个角码的一个直角边并排固装在所述第一Z轴滑台的上端面上,所述薄金属片的下端与三个角码的另一直角边连接,所述第三转接板安装在在所述光学面包板的上端面上,四根第三支撑杆的下端安装在所述第三转接板的上端面上,所述第一直角转接板的一个直角边与四根第三支撑杆的上端连接,所述第一直角转接板的另一个直角边与所述第一力传感器的一端连接,所述第一力传感器的另一端与所述薄金属片连接,所述绝缘子的一端与静触点夹具连接,所述绝缘子的另一端与所述薄金属片连接,所述绝缘子与所述第一力传感器相连接,所述静触点夹具加持有所述静触点,且所述光轴、所述动触点夹具、所述动触点、所述静触点、所述静触点夹具、所述绝缘子与所述第一力传感器设置在同一条直线上。
[0006] 更进一步地,还包括:四根第一支撑杆、第一转接板、第一激光位移传感器、第二转接板、第二激光位移传感器和四根第二支撑杆;所述四根第一支撑杆安装在所述光学面包板的上端面上,第一转接板与四根第一支撑杆的顶端固定,所述第一激光位移传感器安装在所述第一转接板侧面,所述四根第二支撑杆安装在所述光学面包板的上端面上,所述第二转接板与四根第二支撑杆的顶端固定,所述第二激光位移传感器安装在所述第二转接板侧面。
[0007] 更进一步地,第一激光位移传感器的激光点打在所述绝缘块上,能够实现对所述动触点位移的动态测量,所述第二激光位移传感器的激光点打在绝缘子上,能够实现对静触点位移的动态测量。
[0008] 更进一步地,还包括四根第三支撑杆、第三X轴滑台、第三Z轴滑台、第五转接板和第二力传感器;所述四根第三支撑杆安装在光学面包板的上端面上,第三X轴滑台固装在四根第三支撑杆的上端,第三Z轴滑台安装在第三X轴滑台的上端面上,第五转接板安装在第三X轴滑台的上端面上,第二力传感器与第五转接板中心处连接,且光轴与第二力传感器同轴设置。
[0009] 更进一步地,所述电磁铁为圆柱形。
[0010] 更进一步地,所述电磁铁通电时光轴在电磁铁的吸力下向靠近静触点的方向移动,进而带动滑块、绝缘块和动触点移动,直到动、静触点稳定接触,电磁铁断电时光轴在反力弹簧的弹力下向远离静触点的方向移动,进而带动滑块、绝缘块和动触点移动,直到回到初始位置,从而实现模拟电磁继电器触点系统的闭合和分断功能。
[0011] 本发明的可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置能够模拟电磁继电器触点系统的动作过程,并能方便地实现四个方向调整动触点的位置,能够调节动静触点之间的间隙大小、接触力大小、分断力等参数,能够实现动触点位移、静触点位移、触点电压、触点电流、接触力等参数的动态实时测量,方便分析影响动熔焊的关键因素,比如动熔焊到底发生在什么阶段,动熔焊的发生与燃弧时间的关系等等,为抗熔焊长寿命触点系统的设计提供依据。

附图说明

[0012] 图1是本发明的可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置位移测量部分的立体图;
[0013] 图2是本发明的可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置位移测量部分的主视图;
[0014] 图3是本发明的可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置分断力测量部分的立体图。

具体实施方式

[0015] 为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
[0016] 本发明提供了一种可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置,可以为触点动熔焊现象及其机理研究提供手段,可以解决电磁继电器触点动熔焊特性实验测量条件比较局限和简单,导致该局限条件下所得动熔焊现象的结论不能指导抗熔焊长寿命开关电器设计和触点材料的选择的技术问题。
[0017] 本发明的可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置包括光学面包板1、反力弹簧5、电磁铁6、绝缘块7、动触点夹具8、静触点夹具9、绝缘子10、第一力传感器11、第一直角转接板15、四根第三支撑杆16、薄金属片17、两个直线导轨18、三个角码19、第三转接板20、第一X轴滑台21、第一Z轴滑台22、第二X轴滑台23、第一Y轴滑台24、第二Z轴滑台25、第一R轴滑台26、第四转接板27、光轴33、动触点34、静触点35、滑块36和限位器37;
[0018] 其中,第二X轴滑台23安装在光学面包板1的上端面上,第一Y轴滑台24安装在第二X轴滑台23的上端面上,第二Z轴滑台25安装在第一Y轴滑台24的上端面上,第一R轴滑台26安装在第二Z轴滑台25的上端面上,第四转接板27安装在第一R轴滑台26的上端面上,第四转接板27上沿着其长度方向依次安装有电磁铁6和左右对称的两个导轨18,两个导轨18上都配置有滑块36,绝缘块7安装在两个滑块36的上端面上,每个导轨18的前后两端都配置有限位器37,光轴33贯穿圆柱形电磁铁6的中心,光轴33后端与电磁铁之间配置反力弹簧5,光轴33的前端与绝缘块7的一端连接,动触点夹具8与绝缘块7的另一端连接,动触点夹具8加持有动触点34;
[0019] 第一X轴滑台21安装在光学面包板1的上端面上,第一Z轴滑台22安装在第一X轴滑台21的上端面上,三个角码19的一个直角边并排固装在第一Z轴滑台22的上端面上,薄金属片17的下端与三个角码19的另一直角边连接,所述第三转接板20安装在在光学面包板1的上端面上,四根第三支撑杆16的下端安装在第三转接板20的上端面上,第一直角转接板15的一个直角边与四根第三支撑杆16的上端连接,第一直角转接板15的另一个直角边与第一力传感器11的一端连接,第一力传感器11的另一端与薄金属片17连接,绝缘子10的一端与静触点夹具9连接,绝缘子10的另一端与薄金属片17连接,绝缘子10与第一力传感器11相连接,静触点夹具9加持有静触点35,且光轴33、动触点夹具8、动触点34、静触点35、静触点夹具9、绝缘子10与第一力传感器11设置在同一条直线上;
[0020] 绝缘块7由尼龙制成;
[0021] 电磁铁6通电时光轴33在电磁铁6的吸力下向靠近静触点35的方向移动,进而带动滑块36、绝缘块7和动触点34移动,直到动、静触点稳定接触,电磁铁6断电时光轴33在反力弹簧5的弹力下向远离静触点35的方向移动,进而带动滑块36、绝缘块7和动触点34移动,直到回到初始位置,如此设计能够模拟电磁继电器触点系统的闭合和分断;
[0022] X轴与装置工作时动触点前后移动的方向同轴,所述Y轴在装置的水平面上与X轴垂直,所述Z轴垂直于装置的水平面,所述R轴的方向为装置水平面的360度旋转方向。
[0023] 在本发明实施例中,通过调节电磁铁6的通电电流的大小可以改变动、静触点之间接触力的大小,改变反力弹簧5的种类可以改变动、静触点之间分断力的大小。
[0024] 本发明能够实现动触点34在四个方向的位置调整,具体步骤为:通过旋转所述第一R轴滑台26的微分头能够实现动触点34在平面旋转方向上的位置调整;通过旋转所述第二Z轴滑台25的微分头能够实现动触点34在Z轴方向上的位置调整;通过旋转所述第一Y轴滑台24的微分头能够实现动触点34在Y轴方向上的位置调整;通过旋转所述第二X轴滑台23的微分头能够实现动触点34在X轴方向上的位置调整;
[0025] 通过调节限位器37在X轴上的位置和调节所述第二X轴滑台23的位置之间相互配合能够调节动触点34和静触点35之间的间隙大小;
[0026] 第一力传感器11可以测量动、静触点之间的接触力;
[0027] 调节第一Z轴滑台22能够实现薄金属片17在Z轴方向的移动,使得静触点35、静触点夹具9、绝缘子10与薄金属片17之间受力平衡,如此设计能够调节第一力传感器11所测量的初始压力为零值;
[0028] 本发明的电源为大功率直流稳压电源,负载为大功率电阻,通过在动、静触点两端接入电压表,电源回路中接入电流表可以测量动、静触点两端的电压和电流;
[0029] 本发明通过四根第一支撑杆2、第一转接板3、第一激光位移传感器4、第二转接板12、第二激光位移传感器13、四根第二支撑杆14能够对动、静触点的位移进行测量;四根第一支撑杆2安装在光学面包板1的上端面上,第一转接板3与四根第一支撑杆2的顶端固定,第一激光位移传感器4安装在第一转接板3侧面,所述四根第二支撑杆14安装在光学面包板
1的上端面上,第二转接板12与四根第二支撑杆14的顶端固定,第二激光位移传感器13安装在第二转接板12侧面。
[0030] 本发明第一激光位移传感器4的激光点打在绝缘块7上,能够实现对动触点34位移的动态测量,第二激光位移传感器13的激光点打在绝缘子10上,能够实现对静触点35位移的动态测量。
[0031] 本发明通过四根第四支撑杆28、第三X轴滑台29、第三Z轴滑台30、第五转接板31、第二力传感器32能够对动、静触点之间的分断力进行测量;四根第四支撑杆28安装在光学面包板1的上端面上,第三X轴滑台29固装在四根第四支撑杆28的上端,第三Z轴滑台30安装在第三X轴滑台29的上端面上,第五转接板31安装在第三X轴滑台29的上端面上,第二力传感器32与第五转接板31中心处连接,且光轴33与第二力传感器32同轴设置。
[0032] 本发明的可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置能够模拟电磁继电器触点系统的动作过程,并能方便地实现四个方向调整动触点的位置,能够调节动静触点之间的间隙大小、接触力大小、分断力等参数,能够实现动触点位移、静触点位移、触点电压、触点电流、接触力等参数的动态实时测量,方便分析影响动熔焊的关键因素,比如动熔焊到底发生在什么阶段,动熔焊的发生与燃弧时间的关系等等,为抗熔焊长寿命触点系统的设计提供依据。
[0033] 为了更进一步的说明本发明实施例,现结合具体实例和附图详述如下:
[0034] 如图1~3所示,本实施方式的可调参数的电磁继电器触点动熔焊特性模拟实验装置的核心部分包括光学面包板1、反力弹簧5、电磁铁6、绝缘块7、动触点夹具8、静触点夹具9、绝缘子10、第一力传感器11、第一直角转接板15、四根第三支撑杆16、薄金属片17、两个直线导轨18、三个角码19、第三转接板20、第一X轴滑台21、第一Z轴滑台22、第二X轴滑台23、第一Y轴滑台24、第二Z轴滑台25、第一R轴滑台26、第四转接板27、光轴33、动触点34、静触点
35、滑块36和限位器37;
[0035] 第二X轴滑台23安装在光学面包板1的上端面上,第一Y轴滑台24安装在第二X轴滑台23的上端面上,第二Z轴滑台25安装在第一Y轴滑台24的上端面上,第一R轴滑台26安装在第二Z轴滑台25的上端面上,第四转接板27安装在第一R轴滑台26的上端面上,第四转接板27上沿着其长度方向依次安装有电磁铁6和左右对称的两个导轨18,两个导轨18上都配置有滑块36,绝缘块7安装在两个滑块36的上端面上,每个导轨18的前后两端都配置有限位器
37,光轴33贯穿圆柱形电磁铁6的中心,光轴33后端与电磁铁之间配置反力弹簧5,光轴33的前端与绝缘块7的一端连接,动触点夹具8与绝缘块7的另一端连接,动触点夹具8加持有动触点34;
[0036] 第一X轴滑台21安装在光学面包板1的上端面上,第一Z轴滑台22安装在第一X轴滑台21的上端面上,三个角码19的一个直角边并排固装在第一Z轴滑台22的上端面上,薄金属片17的下端与三个角码19的另一直角边连接,所述第三转接板20安装在在光学面包板1的上端面上,四根第三支撑杆16的下端安装在第三转接板20的上端面上,第一直角转接板15的一个直角边与四根第三支撑杆16的上端连接,第一直角转接板15的另一个直角边与第一力传感器11的一端连接,第一力传感器11的另一端与薄金属片17连接,绝缘子10的一端与静触点夹具9连接,绝缘子10的另一端与薄金属片17连接,绝缘子10与第一力传感器11相连接,静触点夹具9加持有静触点35,且光轴33、动触点夹具8、动触点34、静触点35、静触点夹具9、绝缘子10与第一力传感器11设置在同一条直线上;
[0037] 其中,绝缘块7可以由尼龙制成。
[0038] 电磁铁6通电时光轴33在电磁铁6的吸力下向靠近静触点35的方向移动,进而带动滑块36、绝缘块7和动触点34移动,直到动、静触点稳定接触,电磁铁6断电时光轴33在反力弹簧5的弹力下向远离静触点35的方向移动,进而带动滑块36、绝缘块7和动触点34移动,直到回到初始位置,如此设计能够模拟电磁继电器触点系统的闭合和分断;
[0039] X轴与装置工作时动触点前后移动的方向同轴,所述Y轴在装置的水平面上与X轴垂直,所述Z轴垂直于装置的水平面,所述R轴的方向为装置水平面的360度旋转方向;
[0040] 调节所述电磁铁6的通电电流的大小可以改变动、静触点之间接触力的大小,改变所述反力弹簧5的种类可以改变动、静触点之间分断力的大小。
[0041] 本发明能够实现动触点34在四个方向的位置调整,具体步骤为:通过旋转所述第一R轴滑台26的微分头能够实现动触点34在平面旋转方向上的位置调整;通过旋转所述第二Z轴滑台25的微分头能够实现动触点34在Z轴方向上的位置调整;通过旋转所述第一Y轴滑台24的微分头能够实现动触点34在Y轴方向上的位置调整;通过旋转所述第二X轴滑台23的微分头能够实现动触点34在X轴方向上的位置调整。
[0042] 通过调节所述限位器37在X轴上的位置和调节所述第二X轴滑台23的位置之间相互配合能够调节动触点34和静触点35之间的间隙大小。
[0043] 第一力传感器11可以测量动、静触点之间的接触力。
[0044] 调节第一Z轴滑台22能够实现薄金属片17在Z轴方向的移动,使得静触点35、静触点夹具9、绝缘子10与薄金属片17之间受力平衡,如此设计能够调节第一力传感器11所测量的初始压力为零值。
[0045] 本发明的电源为大功率直流稳压电源,负载为大功率电阻,通过在动、静触点两端接入电压表,电源回路中接入电流表可以测量动、静触点两端的电压和电流。
[0046] 本发明通过四根第一支撑杆2、第一转接板3、第一激光位移传感器4、第二转接板12、第二激光位移传感器13、四根第二支撑杆14能够对动、静触点的位移进行测量;四根第一支撑杆2安装在光学面包板1的上端面上,第一转接板3与四根第一支撑杆2的顶端固定,第一激光位移传感器4安装在第一转接板3侧面,所述四根第二支撑杆14安装在光学面包板
1的上端面上,第二转接板12与四根第二支撑杆14的顶端固定,第二激光位移传感器13安装在第二转接板12侧面。
[0047] 本发明第一激光位移传感器4的激光点打在绝缘块7上,能够实现对动触点34位移的动态测量,第二激光位移传感器13的激光点打在绝缘子10上,能够实现对静触点35位移的动态测量。
[0048] 本发明通过四根第四支撑杆28、第三X轴滑台29、第三Z轴滑台30、第五转接板31、第二力传感器32能够对动、静触点之间的分断力进行测量;所述四根第四支撑杆28安装在光学面包板1的上端面上,第三X轴滑台29固装在四根第四支撑杆28的上端,第三Z轴滑台30安装在第三X轴滑台29的上端面上,第五转接板31安装在第三X轴滑台29的上端面上,第二力传感器32与第五转接板31中心处连接,且光轴33与第二力传感器32同轴设置。
[0049] 本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。