家电电机绕组温升在机测试装置及方法转让专利
申请号 : CN201510694502.3
文献号 : CN105988052B
文献日 : 2019-02-22
发明人 : 丁海涛 , 方俊
申请人 : 安徽中认倍佳科技有限公司
摘要 :
权利要求 :
1.一种家电电机绕组温升在机测试装置,其特征在于:包括器具、MCU、电源板、绕组采样单元、开关组单元、液晶显示单元、按键单元、报警单元、转速传感器以及温度传感器;所述的电源板通过全桥整流电路以及降压电路与MCU器相连,为MCU供电;所述的电源板通过第一开关组给器具相连,MCU与第一开关组相连,控制器具与电源板之间的通断;所述的器具包括电机以及其他元器件,电机与其他元器件之间通过第二开关组相连,MCU与第二开关组相连,控制电机与其他元器件的通断;所述的绕组采样单元通过第二开关组与电机相连;
所述的转速传感器感受电机转速,转速传感器与MCU相连,将信号送入MCU;所述的液晶显示单元与MCU相连,显示输出信息;所述的按键单元与MCU相连,用于设置控制参数;所述的MCU与报警单元相连,提示测试结束的信息;所述的温度传感器与MCU相连,将测得的温度信号传输到MCU;该测试装置的测试方法,包括如下步骤:(1)将各部分的连接线路接好,并设置器具运行时间、采样间隔、采样个数这些参数;
(2)通过MCU控制第一开关组断开电源板与器具的连接,控制第二开关组断开电机与其他元器件的连接,控制绕组采样单元与电机相连,进行冷态绕组的采样;
(3)通过MCU控制第一开关组使电源板给器具供电,控制第二开关组使电机与其他元器件连接,断开绕组采样单元与电机的连接,电机与其他元器件处于连接状态下器具进行工作,工作时间达到设定的时间后通过MCU控制电源板断开器具的供电以及控制第二开关组断开电机与其他元器件的连接;
(4)转速传感器感应电机的转速,传感器传送电机停转信号给MCU,MCU收到信号电机停转后,控制第二开关组使电机与绕组采样单元连接,进行热态绕组的取样,根据采样时间的间隔时间,进行多组采样,多组热态绕组阻值 R1…..Rn;
(5)测试结束后蜂鸣器会进行一段时间报警提示,测试结束,从液晶显示器中读取所要数据。
2.根据权利要求1所述的一种家电电机绕组温升在机测试装置,其特征在于:所述的电机与其他元器件的连接通过四个连接端口来控制。
说明书 :
家电电机绕组温升在机测试装置及方法
技术领域
背景技术
要求的时间后,器具内电机绕组温升不能超过标准中的规定值,所以选取合适的、正确的方
法来测量电机绕组温升是十分必要的。装有电机的器具有电动器具(装有电动机而不带有
电热元件的器具)、组合型器具(装有电动机和电热元件的器具)。对于电动器具和组合型器
具,绕组温升的测量一般有两种形式: 1、绕组均匀,通过绕组阻值法即在测量电机在冷态
下的绕组阻值和器具工作一定时间之后电机的绕组阻值,并经过相关计算得出绕组温升
值。2、绕组不均匀,可以直接通过热电偶法直接进行测量温升。此专利中测试方法对应的绕组均匀。目前测试绕组阻值的器具如带电绕组测试仪:需要将电机从器具上拆下来,用带电
绕组测试仪给电机供电, 进行实时测量电机绕组的热态阻值,测试结束后并能计算出绕组
温升值。但这种方法有不足之处:器具中的电机在器具内部工作与取出后单独工作, 工作
相同时间,绕组的阻值会有差别。 特别是带有发热元件的组合型器具,电机绕组的阻值会
受到周围温度影响,把电机取出后单独供电测绕组阻值法更不可取。
发明内容
连,为MCU供电;所述的电源板通过第一开关组给器具相连,MCU与第一开关组相连,控制器
具与电源板之间的通断;所述的器具包括电机以及其他元器件,电机与其他元器件之间通
过第二开关组相连,MCU与第二开关组相连,控制电机与其他元器件的通断;所述的绕组采
样单元通过第二开关组与电机相连;所述的转速传感器感受电机转速,转速传感器与MCU相
连,将信号送入MCU;所述的液晶显示单元与MCU相连,显示输出信息;所述的按键单元与MCU相连,用于设置控制参数;所述的MCU与报警单元相连,提示测试结束的信息;所述的温度传感器与MCU相连,将测得的温度信号传输到MCU。
工作,工作时间达到设定的时间后通过MCU控制电源板断开器具的供电以及控制第二开关
组断开电机与其他元器件的连接;
一键式操作,且若电动器具或组合器具 测量时间不同,可通过设置测试时间对测试过程进
行控制。 (3)本发明中所采用转速传感器能够更有效的确保电机停转后对热态绕组的测
量,避免 电机未停止转动即开始测量,使测量不够准确。
相关计算,计算电机的绕组温升。
附图说明
具体实施方式
的器具包括电机以及其他元器件,电机与其他元器件之间通过第二开关组相连,MCU与第二
开关组相连,控制电机与其他元器件的通断;所述的绕组采样单元通过第二开关组与电机
相连;所述的转速传感器感受电机转速,转速传感器与MCU相连,将信号送入MCU;所述的液
晶显示单元与MCU相连,显示输出信息;所述的按键单元与MCU相连,用于设置控制参数;所
述的MCU与报警单元相连,提示测试结束的信息;所述的温度传感器与MCU相连,将测得的温
度信号传输到MCU。
相连,通过调节1键、调节2键设置器具运行时间、采样个数、采样间隔等参数,按下测试按钮进行测试。
值RL。
工作时间达到设定的时间后通过MCU控制电源板断开器具的供电以及控制第二开关组断开
电机与其他元器件的连接。
开关组使电机与绕组采样单元连接,进行热态绕组的取样,根据采样时间的间隔时间,进行
多组采样,多组热态绕组阻值 R1…..Rn。
境温度t1,结束环境温度t2, 测试所得十组数据值为(T,R1)、(T+1,R2)、(T+2,R3)、(T+3,R4)、(T+4,R5)、(T+5,R6)、(T+6,R7)、(T+7,R8)、(T+8,R9)、(T+9,R10)。温度下降如抛物线,绕组阻值的变化也一样,10组数据通过曲线拟合得到二次多项式的, x=0,即对应 0 时刻
即停止对器具供电时刻,得到 y 值为 Rr 为 0 时刻绕组阻值。 如下例,测得风扇电机绕
组组值如下。
RL-(t2-t1) ,得到温升值, k 对于铜绕组等于 234.5,对于铝绕组等于 225.若 t1=21.0
℃, t2=21.5℃, RL=168.8W , Rr=211.71W , 铜绕组。 代如上公式得到△t=64.45。