半导体器件转让专利
申请号 : CN201610109054.0
文献号 : CN106024783B
文献日 : 2019-02-22
发明人 : 江间泰示 , 安田真 , 藤田和司
摘要 :
一种半导体器件,包括连接至同一电源的第一晶体管和第二晶体管。第一晶体管和第二晶体管的每一个,在设置在第一导电类型的源极区与漏极区之间的低浓度沟道区下方包括第二导电类型的浓度较高的杂质区。使第一晶体管和第二晶体管之一的栅极绝缘膜的厚度大于另一个的栅极绝缘膜的厚度。根据本公开,可以将晶体管中的截止电流抑制得较低。