镀锡制程能力测试方法转让专利

申请号 : CN201610566653.5

文献号 : CN106028665B

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基本信息:

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法律信息:

相似专利:

发明人 : 马卓李成

申请人 : 深圳市迅捷兴科技股份有限公司

摘要 :

本发明提供了一种镀锡制程能力测试方法,包括:使用钻孔机钻不同孔径的若干通孔和盲孔;使用化学沉积的方式将所述通孔和盲孔的孔壁金属化,再使用整板电镀的方式将孔铜及面铜加厚5‑8um;形成线路;在板件上施加电压,测试铜层的导通性;计算通孔的板厚与直径之比、以及盲孔的直径与深度之比,选择通孔中导通的孔的板厚与直径之比作为锡层通孔的蚀刻能力,选择盲孔中导通的孔的直径与深度之比作为锡层盲孔的蚀刻能力。通过上述技术方案,本发明可以通过多个不同孔径的通孔和盲孔的导通状况,判断出锡层的蚀刻能力,克服了现有技术中通过切片方式测试时,单节片取点单一没有代表性的问题,具有测试结果准确可靠的特点。

权利要求 :

1.一种镀锡制程能力测试方法,其特征在于,包括:步骤1,通过开料机将铜板裁切成预定尺寸;

步骤2,将铜板贴上一层感光性干膜,使用图形菲林进行选择性曝光;

步骤3,通过弱碱性药水显影出图形,将不要的铜层裸露出来,通过酸性药水将不需要的铜层去掉,然后通过碱性药水将干膜退掉;

步骤4,通过氧化剂使铜板的表面铜生成一层棕色的有机金属膜;

步骤5,在经过步骤4处理后的基板与铜箔之间加入一层半固化片,在高温高压和真空的环境,使半固化片完成从半固化状态-液态-固态的转变,最终将基板与铜箔粘合到一起;

步骤6,使用钻孔机钻不同孔径的若干通孔和盲孔;

步骤7,使用化学沉积的方式将所述通孔和盲孔的孔壁金属化,再使用整板电镀的方式将孔铜及面铜加厚5-8um;

步骤8,将步骤7处理后的板件上贴上一层感光性干膜,使用图形菲林进行选择性曝光,形成所需要的图形,再通过弱碱性药水进行显影;

步骤9,使用电镀的方式,对图形转移后的板件进行电镀铜加厚,然后电镀上一层锡做为抗蚀层;

步骤10,用强碱药水将板电上的干膜去掉,并使用强氧化性的药水将露出来的铜去掉;

再使用带酸性的药水去掉抗蚀层的锡,最终形成线路;

步骤11,在板件上施加电压,测试铜层的导通性;

步骤12,计算通孔的板厚与直径之比、以及盲孔的直径与深度之比,选择通孔中导通的孔的板厚与直径之比作为锡层通孔的蚀刻能力,选择盲孔中导通的孔的直径与深度之比作为锡层盲孔的蚀刻能力。

说明书 :

镀锡制程能力测试方法

技术领域

[0001] 本发明涉及电路板制造领域,特别涉及一种镀锡制程能力测试方法。

背景技术

[0002] 线路板在制作过程中,会用电镀纯锡做为抗蚀层保护客户需要的线路图形。不同的板子难度各异,当板子上钻孔的深度与孔径的比值较大时,孔内的锡层抗蚀能力会变差,在蚀刻过程中,药水会透过锡层蚀断铜层导致报废,所以我们需要了解电镀锡的制程能力,再去评审接单及制作。
[0003] 锡层的抗蚀性能主要由锡层厚度与锡层的致密性来决定,目前行业内较为通用的测试方法是制作最小孔的切片,测试孔内锡层的厚度,单切片取点单一没有代表性,且锡层的致密性通过切片的方法并不能测试出来。

发明内容

[0004] 本发明提供了一种镀锡制程能力测试方法,以解决现有技术采用切片方式测试时,单节片取点单一没有代表性的问题。
[0005] 为解决上述问题,作为本发明的一个方面,提供了一种镀锡制程能力测试方法,包括:步骤1,通过开料机将覆铜板裁切成预定尺寸;步骤2,将铜板贴上一层感光性干膜,使用图形菲林进行选择性曝光;步骤3,通过弱碱性药水显影出图形,将不要的铜层裸露出来,通过酸性药水将不需要的铜层去掉,然后通过碱性药水将干膜退掉;步骤4,通过氧化剂使铜板的表面铜生成一层棕色的有机金属膜;步骤5,在经过步骤4处理后的基板与铜箔之间加入一层半固化片,在高温高压和真空的环境,使半固化片完成从半固化状态-液态-固态的转变,最终将基板与铜箔粘合到一起;步骤6,使用钻孔机钻不同孔径的若干通孔和盲孔;步骤7,使用化学沉积的方式将所述通孔和盲孔的孔壁金属化,再使用整板电镀的方式将孔铜及面铜加厚5-8um;步骤8,将步骤7处理后的板件上贴上一层感光性干膜,使用图形菲林进行选择性曝光,形成所需要的图形,再通过弱碱性药水进行显影;步骤9,使用电镀的方式,对图形转移后的板件进行电镀铜加厚,然后电镀上一层锡做为抗蚀层;步骤10,用强碱药水将板电上的干膜去掉,并使用强氧化性的药水将露出来的铜去掉;再使用带酸性的药水去掉抗蚀层的锡,最终形成线路;步骤11,在板件上施加电压,测试铜层的导通性;步骤12,计算通孔的板厚与直径之比、以及盲孔的直径与深度之比,选择通孔中导通的孔的板厚与直径之比作为锡层通孔的蚀刻能力,选择盲孔中导通的孔的直径与深度之比作为锡层盲孔的蚀刻能力。
[0006] 通过上述技术方案,本发明可以通过多个不同孔径的通孔和盲孔的导通状况,判断出锡层的蚀刻能力,克服了现有技术中通过切片方式测试时,单节片取点单一没有代表性的问题,具有测试结果准确可靠的特点。

具体实施方式

[0007] 以下对本发明的实施例进行详细说明,但是本发明可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
[0008] 本发明提供了一种镀锡制程能力测试方法,包括:
[0009] 步骤1,通过开料机将覆铜板裁切成预定尺寸;
[0010] 步骤2,将铜板贴上一层感光性干膜,使用图形菲林进行选择性曝光;
[0011] 步骤3,通过弱碱性药水显影出图形,将不要的铜层裸露出来,通过酸性药水将不需要的铜层去掉,然后通过碱性药水将干膜退掉;
[0012] 步骤4,通过氧化剂使铜板的表面铜生成一层棕色的有机金属膜;
[0013] 步骤5,在经过步骤4处理后的基板与铜箔之间加入一层半固化片,在高温高压和真空的环境,使半固化片完成从半固化状态-液态-固态的转变,最终将基板与铜箔粘合到一起;
[0014] 步骤6,使用钻孔机钻不同孔径的若干通孔和盲孔;
[0015] 步骤7,使用化学沉积的方式将所述通孔和盲孔的孔壁金属化,再使用整板电镀的方式将孔铜及面铜加厚5-8um;
[0016] 步骤8,将步骤7处理后的板件上贴上一层感光性干膜,使用图形菲林进行选择性曝光,形成所需要的图形,再通过弱碱性药水进行显影;
[0017] 步骤9,使用电镀的方式,对图形转移后的板件进行电镀铜加厚,然后电镀上一层锡做为抗蚀层;
[0018] 步骤10,用强碱药水将板电上的干膜去掉,并使用强氧化性的药水将露出来的铜去掉;再使用带酸性的药水去掉抗蚀层的锡,最终形成线路;
[0019] 步骤11,在板件上施加电压,测试铜层的导通性;
[0020] 步骤12,计算通孔的板厚与直径之比、以及盲孔的直径与深度之比,选择通孔中导通的孔的板厚与直径之比作为锡层通孔的蚀刻能力,选择盲孔中导通的孔的直径与深度之比作为锡层盲孔的蚀刻能力。
[0021] 例如,为了准确性地反映锡层抗蚀能力,选择不同直径的钻咀来钻通孔和盲孔,诠释不同的制程能力。比如,板厚3.0mm,通孔的直径选择0.2mm、0.25mm、0.3mm,分别代表的通孔能力为15:1、12:1和10:1;盲孔的深度选择0.2mm,盲孔的直径分别选择0.1mm、0.15mm、0.2mm,分别代表的盲孔能力为1:2、1:1.33和1:1,然后制作成线路图形通过电测试。
[0022] 假如0.25的通孔没有开路,证明锡层的蚀刻能力能做到通孔的12:1。假如0.15mm的盲孔没有开路,证明锡层的抗蚀能力能做到盲孔的1:1.33。
[0023] 可见,通过上述技术方案,本发明可以通过多个不同孔径的通孔和盲孔的导通状况,判断出锡层的蚀刻能力,克服了现有技术中无法通过切片方式测试时,单节片取点单一没有代表性的问题,具有测试结果准确可靠的特点。
[0024] 以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。