智能卡软件使用寿命测试方法

摘要

本发明涉及一种智能卡软件使用寿命测试方法，其特点是：通过使用byte数组模拟flash，使用socket协议，替代7816协议进行数据收发。可通过脚本工具模拟智能终端，模拟具体使用方式和环境，最终输出到文件中即可。由此，能够在基于PC模拟环境下的，通过软件模拟智能卡的硬件环境。可通过测试脚本来模拟用户在既定时间既定场合的使用环境，实现多中使用环境的模拟，节省测试成本。可以直观的看到每一块flash中有什么文件以及擦写的次数，从而能快速和准确的定位软件处理不合理的地方，便于及时调整模拟参数。

权利要求

1.智能卡软件使用寿命测试方法，其特征在于包括以下步骤：

步骤一，通过使用byte数组模拟flash，将读写flash的hal层接口，定向解析为读写byte数组，同时定义long数组，用于统计模拟flash每页的擦写次数；

步骤二，使用socket协议，替代7816协议进行数据收发，将7816接口的hal层接口，定向解析为socket数据，进行收发；

步骤三，通过脚本工具模拟智能终端，使用带有socket功能的脚本工具，模拟智能终端；

步骤四，模拟具体使用方式和环境，通过定制脚本工具，进行交互情况统计，将之编写成相应的脚本来模拟使用场景；

步骤五，输出到文件中，统计出软件在特定时间和特定场合下，和智能终端的交互情况，以此来编写脚本，定义私有指令，将long数组打印或者定向输出到文件中。

说明书

智能卡软件使用寿命测试方法

技术领域

[0001] 本发明涉及一种智能卡寿命测试方法，尤其涉及一种智能卡软件使用寿命测试方法。

背景技术

[0002] 智能卡在我们的生活中随处可见，比如银行卡、公交卡、手机卡、身份证等，它具有安全性、便携性等等优点，它确实方便了我们的生活。

[0003] 众所周知，智能卡的使用也是有寿命的。从硬件角度来说，存储芯片具有一定的擦写次数。从软件角度来说，在既定的时间内，在使用智能卡的过程，只要保证芯片的擦写次数不超过一定的次数，就可以认定软件是正常的。

[0004] 为此，提高软件使用寿命，也是可以提高智能卡本身的使用寿命的，所以如何快速和准确地测试智能卡软件使用寿命也是非常必要的。

[0005] 有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种智能卡软件使用寿命测试方法，使其更具有产业上的利用价值。

发明内容

[0006] 为解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种智能卡软件使用寿命测试方法。

[0007] 本发明的智能卡软件使用寿命测试方法，其包括以下步骤：步骤一，通过使用byte数组模拟flash。步骤二，使用socket协议，替代7816协议进行数据收发。步骤三，通过脚本工具模拟智能终端。步骤四，模拟具体使用方式和环境。步骤五，输出到文件中。

[0008] 进一步地，上述的智能卡软件使用寿命测试方法，其中，所述步骤一中，将读写flash的hal层接口，定向解析为读写byte数组，同时定义long组数组，用于统计模拟flash每页的擦写次数。

[0009] 更进一步地，上述的智能卡软件使用寿命测试方法，其中，所述步骤二中，将7816接口的hal层接口，定向解析为socket数据，进行收发。

[0010] 更进一步地，上述的智能卡软件使用寿命测试方法，其中，所述步骤三中，使用带有socket功能的脚本工具，模拟智能终端。

[0011] 更进一步地，上述的智能卡软件使用寿命测试方法，其中，所述步骤四中，通过定制脚本工具，进行交互情况统计，将之编写成相应的脚本来模拟使用场景。

[0012] 更进一步地，上述的智能卡软件使用寿命测试方法，其中，所述步骤四中，统计出软件在特定时间和特定场合下，和智能终端的交互情况，以此来编写脚本。

[0013] 再进一步地，上述的智能卡软件使用寿命测试方法，其中，所述步骤五中，定义私有指令，将long数组打印或者定向输出到文件中。

[0014] 借由上述方案，本发明至少具有以下优点：

[0015] 1、能够在基于PC模拟环境下的，通过软件模拟智能卡的硬件环境。

[0016] 2、能够通过测试脚本来模拟用户在既定时间既定场合的使用环境，实现多中使用环境的模拟，节省测试成本。

[0017] 3、可以直观的看到每一块flash中有什么文件以及擦写的次数，从而能快速和准确的定位软件处理不合理的地方，便于及时调整模拟参数。

[0018] 4、实施便利，能够利用不同脚本，满足模拟调试的需要。

[0019] 上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例详细说明如后。

具体实施方式

[0020] 下面结合实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

[0021] 智能卡软件使用寿命测试方法，其与众不同之处在于包括以下步骤：

[0022] 首先，通过使用byte数组模拟flash。具体来说，将读写flash的hal层接口，定向解析为读写byte数组。在此期间，为了针对擦写次数实现较为精确的统计，可定义long组数组，用于统计模拟flash每页的擦写次数。

[0023] 之后，使用socket协议，替代已有的7816协议，比如7816T0协议进行数据收发。在此期间，可将7816接口的hal层接口，定向解析为socket数据，并以此进行收发。

[0024] 接着，通过脚本工具模拟智能终端。在实际实施的时候，为了便于配合PC机的模拟来实现，使用定制的带有socket功能的脚本工具，模拟智能终端。之后，模拟具体使用方式和环境。在此期间，为了能够实现与现实使用状态相同的模拟，可通过定制脚本工具(该脚本工具也可以带有socket功能)，进行交互情况统计。最终，将之编写成相应的脚本来模拟使用场景。并且，能够统计出软件在特定时间和特定场合下，和智能终端的交互情况，以此来编写脚本。

[0025] 最终，输出到文件中。具体来说，可定义私有指令，将long数组打印或者定向输出到文件中。

[0026] 结合本发明的实际实施来看，可通过win32程序模拟智能卡的硬件环境、通信协议、智能终端等。在此期间，可使用byte数组模拟flash。将读写flash的hal层接口定向解析为读写byte数组，同时定义long组数组用来统计模拟flash每页的擦写次数。

[0027] 通过上述的文字表述可以看出，采用本发明后，拥有如下优点：

[0028] 1、能够在基于PC模拟环境下的，通过软件模拟智能卡的硬件环境。

[0029] 2、能够通过测试脚本来模拟用户在既定时间既定场合的使用环境，实现多中使用环境的模拟，节省测试成本。

[0030] 3、可以直观的看到每一块flash中有什么文件以及擦写的次数，从而能快速和准确的定位软件处理不合理的地方，便于及时调整模拟参数。

[0031] 4、实施便利，能够利用不同脚本，满足模拟调试的需要。

[0032] 以上所述仅是本发明的优选实施方式，并不用于限制本发明，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。